Дефекты диафрагм

Неравномерность протекания электролита через диафрагму может быть вызвана различной плотностью диафрагмы на разных ее участках и наличием дефектов диафрагмы. Кроме того, протекание жидкости по порам диафрагмы происходит с различной скоростью. [c.105]

Особое внимание следуе уделять аналитическому контролю содержания водорода в хлоргазе. Отбор контрольных проб необходимо начинать сразу по заполнении коллектора хлором. Случаи образования взрывоопасных смесей хлора с водородом крайне редки и вызываются нарушениями режима разрежения в анодном и катодном пространстве электролизеров, дефектами диафрагмы или ее оголением при понижении уровня анолита. Выявлять и устранять причины проникания водорода в. лор следует немедленно. [c.203]

Первые две причины возможного проникания водорода в хлор устраняются соответствующей подготовкой и проверкой катодов перед нанесением диафрагмы, тщательным выполнением операций по монтажу и насасыванию диафрагмы и предотвращением ее повреждения при сборке электролизера (глава IV). При наличии значительных дефектов диафрагмы протекаемость ее в первые часы после пуска электролизеров может резко повыситься. Уменьшение протекаемости диафрагмы достигается введением суспензии асбестового волокна в анодное пространство электролизера. [c.242]

Известен случай разрушения трубопровода этилена на участке. после диафрагмы. Как показала экспертиза, разрущение трубопровода произошло за короткий промежуток времени и было вызвано плохим качеством сварного шва (обнаружены непровары, газовые пузыри). Трубопровод сваривали в период монтажа оборудования при строительстве цеха. Своевременно дефекты, которые невозможно было обнаружить при визуальном осмотре, не были выявлены. Разрыв дефектного сварного шва, по заключению экспертов, произошел под воздействием вибрации. Поэтому необходим 100%-ный контроль сварных швов. [c.86]

Анализ причин аварии показал, что, помимо этого, былп и другие нарушения диафрагмы не были утеплены, так как предусмотренные проектом типовые шкафы на месте конструктивно не вписывались диафрагма расхода технологического пара, поступающего в трубчатую печь, была изготовлена с отступлением от проекта — с одной парой импульсных трубок вместо двух обвязка данной диафрагмы была проведена с отступлением от монтажных схем проекта теплоизоляция импульсных трубок от диафрагмы расхода технологического пара, поступающего в трубчатую печь, была выполнена некачественно. Положение усугубилось еще и тем, что длительное время небыли выяснены причины нарушения процесса. Для предупреждения подобных аварий были приняты меры устранены дефекты размещения диафрагмы расхода газа и пара на трубчатую печь, воздуха и пара в конвертор метана внесены необходимые изменения в импульсные линии налажен обогрев и улучшена изоляция систем КИПиА. [c.315]

В одном случае коррозионное разрушение литых деталей, расположенных после газоохладителя. Основные разрушения на участках литейных дефектов и по границам наплавленного металла, которым устранялись дефекты литья. В другом случае межкристаллитное разрушение диафрагм между третьей и четвертой ступенями Причина коррозии — наличие лик-вационных зон и неоднородность химического состава на различных участках поверхности. Все роторные детали в рабочем состоянии [c.37]

После хранения в течение не менее 4 ч сырые покрышки по цепному конвейеру подают на вулканизацию. Предварительно покрышки автоматически надеваются на два патрона 14 форматора-вулканиза-тора 13, которые разжимаются и удерживают покрышки. В это время открываются паровые камеры с верхними полуформами. Затем каждый патрон с покрышкой поворачивается на 180° вниз. В момент фиксирования покрышек строго над диафрагмами патроны сжимаются, а покрышки падают вниз на диафрагмы. Патроны в сжатом состоянии возвращаются в исходное положение. Затем паровые камеры закрываются и в диафрагмы подается формующий пар под давлением 0,25 МПа. После окончания формования в диафрагму подается пар под давлением 1,0—1,6 МПа для ее подогрева в течение 5— 10 мин. Греющий пар заменяется перегретой водой с температурой 145—175 °С. Давление в диафрагме поддерживается равным 1,6—2,8 МПа. Вулканизация осуществляется автоматически по заданному режиму с помощью командно-электронного прибора. По окончании вулканизации форматор-вулканизатор открывается, покрышка вынимается механизмом управления диафрагмы и сбрасывается на рольганг 15. Далее отборочным транспортером 16 она направляется на участок браковки и обрезки заусенцев. Легковые покрышки и покрышки для автобусов подают на станок 17 для определения дисбаланса. После осмотра покрышки, не имеющие дефектов, направляют на участок комплектации шин. [c.24]

Повышенный расход масла очень часто вызывается износом или механическими дефектами двигателя, тогда качество масла существенно не изменяет его потребление. Очень часто повышенный расход масла получается не в результате угара масла в камере сгорания, а вследствие утечки масла через поврежденные илп износившиеся сальники коленчатого вала. Другой причиной потери масла, часто резко увеличивающей его расход, являются поломка или неплотная посадка диафрагмы топливного вакуумного насоса. Иногда потери масла бывают столь велики, что в картере двигателя его совсем не оказывается в этих случаях повреждение двигателя может произойти раньше, чем обнаружится интенсивная убыль масла. Если расход масла в двигателе резко увеличивается, следует немедленно проверить работу топливного насоса. Переполнение картера двигателя маслом является наиболее частой причиной высокого расхода масла. Лучше поддерживать уровень масла в картере несколько ниже верхней метки на масломерном щупе, чем заливать масло в картер выше этой метки. [c.284]

Таблица 13.1. Основные дефекты вулканизационных диафрагм

При изготовлении диафрагм могут возникать различные дефекты (табл. 13.1). [c.176]

Вулканизация велопокрышек в форматорах-вулканизаторах осуществляется аналогично вулканизации автопокрышек. На форматорах-вулканизаторах производится формование велопокрышек на диафрагме, затем собственно вулканизация и выемка диафрагмы из велопокрышек. Благодаря механизации всех операций процесса вулканизации велопокрышек повышается производительность форматоров-вулканизаторов. После вулканизации на специальном станке с помощью ножей обрезают на вращающейся покрышке выпрессовки по беговой дорожке и бортам в течение 4—5 с. Далее покрышки разбраковываются для определения качества и выявления дефектов (табл. 17.1). [c.225]

Дефекты корпуса, диафрагм, секций корпуса и других неподвижных деталей устраняют наплавкой с последующей обработкой. В стальных отливках иногда появляются сквозные микроскопические отверстия, которые можно устранить путем засверловки и последующей запрессовки медной заклепки с применением герметика. В случае обнаружение трещин необходимо выполнить засверловку по концам трещины, а трещину ликвидировать с помощью герметика. Такие приемы ремонта допустимы для насосов, работающих при давлении не выше 0,6 МПа, перекачивающих неядовитые и невзрывоопасные жидкости. [c.407]

Диапазон наблюдения устанавливается при помощи органов управления Начало диафрагмы и Ширина диафрагмы . Для Диафрагмы дефекта область ожидания, как правило, настраивается так, что начало диафрагмы устанавливается вскоре за посылаемым импульсом или входным эхо-импульсом. Конец диафрагмы устанавливается таким образом, чтобы как раз. не захватывалось отражение от задней стенки. Для наблюдения отражения от задней стенки вводится вторая диафрагма, которая ставится как раз над отражением от задней стенки (рис. 10.19). [c.211]

Рис. 10.19. Диафрагма отражения от дефекта (/) и от задней стенки (2)

Некоторые приборы допускают работу в так называемом режиме ведомого . При этом вторая диафрагма управляется концом первой. Поскольку, как уже описывалось выше, первая диафрагма во многих случаях используется для обнаружения дефектов, а вторая — для обнаружения отражения от задней стенки, при изменениях толщины образца в таком случае достаточно изменить только ширину первой диафрагмы. Диафрагма отражения (эхо-импульса) от задней стенки автоматически остается в правильном положении, примыкая к концу первой диафрагмы. [c.213]

Амплитуды эхо-импульсов от дефекта и от задней стенки, как правило, настолько различны, что при линейных усилениях точная их оценка ввиду ограниченной динамичности невозможна. Поэтому в высококачественных дефектоскопах предусматривается так называемое снижение эхо-импульса от задней стенки. При помощи этого устройства можно снижать усиление основного усилителя в пределах диафрагмы эхо-импульса от задней стенки на некоторую настраиваемую величину (в пределах 10— 40 дБ) по сравнению с усилением в остальной области. Отражения от дефекта и от задней стенки при этом получают почти одинаковую амплитуду, и становится возможной точная настройка пороговых значений обеих диафрагм. Естественно, что такое переключение усиления должно происходить очень быстро (за несколько десятков наносекунд) и при этом не должны возникать никакие импульсы помех (см. разд. 22.3, рис. 22.14). [c.215]

Усиление управляется в зависимости от глубины с таким расчетом, чтобы одинаковые отражатели (дефекты независимо от глубины их расположения в материале давали бы одинаковые эхо-импульсы (показания). Порог оценки может быть принят фиксированным. Перед способом выбора порогового значения диафрагмы в зависимости от глубины этот способ имеет преимущество большего диапазона настройки (около 40 дБ). [c.217]

Простой метод подавления помех в расшифровывающем устройстве основывается на том, что сигналы помех поступают, как правило, в нерегулярной последовательности, и в частности несинхронно с частотой следования импульсов импульсного прибора. Если увеличить время срабатывания монитора, так чтобы он пропускал сигнал дальше только тогда, когда в нескольких следующих один за другим периода появляется один импульсный сигнал в пределах диафрагмы, то будет обеспечено эффективное подавление помех. Чтобы такая же последовательность импульсов возникла от помех, статистически совершенно невероятно. По такому же принципу работают и дополнительные модули (приставки), известные под названием счетчики дефектов , предлагаемые теперь большинством изготовителей. Такие счетчики дефектов тоже пропускают сигнал дальше лишь в том случае, если в течение заранее заданного числа периодов один эхо-импульс располагается в пределах диафрагмы монитора. Счетчик дефектов имеет перед простым увеличением времени [c.375]

С вводом управляющих ЭВМ в различные производственные. .линии было естественно использовать преимущества этого вспомогательного оборудования также и для совершенствования установок контроля. Здесь ЭВМ первоначально использовали для оценки результатов контроля. Первичные данные о дефектах ультразвуковой электроники перерабатывались по заданной программе и затем в уплотненной форме передавались для сортировки, маркировки или документирования дефектов. В на--стоящее время микропроцессоры уже берут на себя и важные задачи в самой ультразвуковой электронике. Это стало возможным благодаря продвижению цифрового представления (дигитализации) амплитуды эхо-сигналов и времени прохождения в системе далеко в-перед (по направлению к искателям) и благодаря тому, что диафрагмы и пороги в цифровых схемах формировались тоже в цифровом виде, в равной мере как и необходимые во многих случаях кривые регрессии, выражающие зависимость амплитуды эхо-сигнала от расстояния до отражателя. [c.407]

Миниатюризация электрических схем позволила применить новый вариант способа локализации — светящуюся масштабную линейку по Лунду (рис. 28.12 [944]). Стержень, прикрепленный к искателю, имеет 100 светоизлучающих диодов, расположенных в ряд. Каждый диод относится к одному отрезку цепной диафрагмы, состоящей из 100 делений (раздел 10.3.1). Если в одном из отрезков будет получено показание от дефекта, то соответ- [c.529]

Ствующий диод засветится, а если зхо-импульс от дефекта перекроет несколько диафрагм, то засветятся несколько диодов. Начало и протяженность ценной диафрагмы позволяет откалибровать светящуюся линейку в единицах расстояния между проекциями для определенного угла ввода звука. Эхо-импульс от дефекта вызовет засвечивание только тех диодов, которые при данном мгновенном расположении стержня находятся точно над. местом дефекта. Благодаря этому оператор может непосред- [c.530]

Трубы В диапазоне диаметров 20—80 мм контролируют иммерсионным методом или с использованием небольшого резервуара с водой, перемещаемого по трубе на участке охлаждения после сварочной машины. При диаметрах, превышающих примерно 70 мм, для контроля применяют наклонные искатели X акустическим контактом через слой проточной воды. Расстоя-яие от места ввода луча до сварного шва выбирается таким, чтобы звуковое поле под влиянием дивергенции охватывало бы всю толщину стенки. Это расстояние не является критическим фактором, потому что диафрагма обнаружения дефектов может быть настроена на достаточно большую ширину. [c.535]

На рис. 5,а приведено распределение по размерам для полн-стирольного латекса Dow LS-057-A в таком виде, как оно получается на выходе многоканального анализатора при использовании параллельно поляризованного света. Картина типична для получаемых как при параллельно, так и при перпендикулярно поляризованном падающем свете при относительно низких коэффициентах усиления, т. е. ниже 5000 (на входе многоканального анализатора необходимо иметь напряжение до 10 В). Большое число частиц малого размера, якобы регистрируемых слева от главного максимума, на самом деле представляет собой световой тон, обусловленный частицами, проходящими вблизи диафрагмы окуляра, но вне поля наблюдения. Дефекты стекла кюветы также проявляются как частицы малого размера. Часто смещение кюветы на несколько сотых долей миллиметра существенно снижает фон. Резонно предположить, что интенсивность рассеяния симметрична относительно главного максимума. При составлении программы для вычислений исходят именно из этого предположения. Диапазон изменения аргумента при измерении распределения интенсивностей делят приблизительно на 30 интервалов и номер канала умножают на соответствующую величину к. [c.256]

Для реального спектрального прибора, обладающего аберрациями, дефектами изготовления и конечными размерами выходной диафрагмы имеет место отклонение от этого соотношения. Это отклонение тем больше, чем больше величина А. [c.25]

Для реального прибора вместо бЯ (определяемого только дифракцией) мы должны взять АЯ, кроме дифракции определяемое еще и аберрациями, дефектами изготовления, а также размерами зерен фотоэмульсии (для спектрографов) и размерами выходной диафрагмы. Формула (2.14) уже неприменима. Теперь [c.25]

Рис. 4.51. Схема рентгеновского контроля изделий фотографическим методом 1 — рентгеновская трубка 2 — свинцовая диафрагма 3 — рентгеновские лучи 4 — просвечиваемый объект 5 — рентгеновская пленка 6 — пластина из листового свинца 7 — дефект Р — расстояние от анода до пленки

С целью повышения чувствительности контроля и выявляемости дефектов при просвечивании сварных соединений толщиной свыше 50—70 мм применяют ограничение пучка лучей свинцовой диафрагмой, устанавливаемой со стороны источника излучения на контролируемый участок сварного шва (рис, 4.62) или на источник излучения. [c.308]

В приведенных выше рассуждениях мы исходили из условий равномерности протекания электролита и равной плотности тока по всей поверхности диафрагмы. На практике в процессе электролиза эти условия могут нарушаться. Плотность тока может существенно изменяться на различных участках диафрагмы, особенно к концу тура работы электролизера, когда аноды уже изношены. Неравномерность протекания электролита через диафрагму может быть вызвана ее неодинаковой плотностью на разных участках и какими-либо дефектами диафрагмы. Сильное загрязнение ее солями кальция, магния и другими примеся- [c.76]

После выгрузки диафрагм из пресса обрезают выпрессовки, подшлифовывают и проверяют на отсутствие дефектов на специальном станке, рабочей частью которого является резиновая камера. Диафрагму надевают на камеру, в которую подается сжатый воздух. Камера раздувается и растягивает диафрагму, что позволяет обнаружить в ней трещины и другие дефекты. [c.176]

Эти покрышки (например, 12—38 и др.) собирают послойным способом на станке ЯМО-325 на барабане с резиновой диафрагмой в две стадии обычными приемами. При эксплуатации боковины сельскохозяйственных радиальных шин подвергаются растяжению на 20—30%, что примерно вдвое выше, чем деформации боковин диагональных шин. Поэтому необходимо повышать прочность стыка боковин. Для подпрессовки поперечных стыков было разработано устройство. Оно представляет собой прессующую металлическую пластину, приводимую в действие пневмоцилиндром, установленную под барабанами сборочных станков ЯМО-325 и СПДА-65. Чтобы опрессовать стыки деталей сборочный барабан поворачивается до совмещения стыков с осью устройства прессовки. Благодаря наличию упругого элемента металлические пластины устройства воспроизводят профиль покрышки, обеспечивая равномерное прессование стыков деталей протектора. При этом давление сжатого воздуха 0,5—0,6 МПа, давление прессовки 0,3—0,7 МПа, усилие подпрессовки, развиваемое пневмоцилиндром 3,И—16 кН, продолжительность прессовки 45 с. Применение этого устройства при сборке покрышек 530—6ЮР дало возможность ликвидировать их производственный дефект расхождение поперечного стыка . [c.198]

Дефектоскопы обычно могут переключаться по каждой диафрагме на индикацию совпадения или противосовнадения. Индикация совпадения применяется при диафрагмах дефекта. Сигнал тревоги посылается в том случае, если амплитуда эхо-импульса превышает установленное предельное значение. Противосовпаде-ние настраивается при диафрагмах отражения от задней стенки. [c.211]

Еще одним применением цепной диафрагмы, задуманным в первую очередь специально для контроля сварных швов, является светящаяся масштабная линейка ([944], раздел 28.1.3, рис. 28.12). Это цепная диафрагма с единой высотой порогов при ширине в несколько миллиметров стали для поперечных волн. Эхо-сигналы вводятся один за другим в сдвиговой регистр а затем продвигаются далее по импульсам интервалов времени от.диафрагм. Сигнал остановки (команда стоп ) заканчивает дальнейшее продвижение-в каждом периоде и передает содержимое ячейки (да или нет) на одну из строк светящегося элемента (масштабной линейки). При использований очень малых светодиодов вся совокупность показаний на отрезке в таком, случае отображает действительный путь прохождения звука. При контроле сварных швов светящаяся масштабная линейка непосредственно соединяется-.с наклонным искателем. Частота сдвигового регистра принимается такой, что масштабная линейка изображает в точном масштабе проекцию пути звука на. ррверх-ность. Поскольку изображение светящегося диода для каждого импульса возникает заново, показания безынерционно следуют за передвижениями искателей, так что показание дефекта остается в месте его проекции, на поверхность До тех пор, пока дефектный участок еще выявлятся- жвуковым. лучом с достаточно большой высотой эхо-импульса. [c.214]

SNUP , строятся фирмой Крауткремер-Джапан (в Японии) с повышенной степенью автоматизации для использования у японских производителей труб большого диаметра. В этих установках искатели позиционируют механическим способом в соответствии с имеющейся толщиной стенки в точном положении по отношении к шву, а соответствующие позиции диафрагмы для выявления дефектов настраивают цифровым способом и автоматически. [c.541]

Форму и размеры графитированных блоков и аморфных прослоек можно непосредственно наблюдать на изображении частиц. Особенно отчетливо каждый графитированный блок может быть выделен на частном темнопольпом изображении частицы (фото 70, ), полученном электронным пучком базисного рефлекса, указанного стрелкой на фото 70, / (положение апертурной диафрагмы показано на фото 70, / кружком). Линейный размер наиболее крупных блоков составляет — 1500 А, средняя толщина прослойки 200—300 А. На электронограммах графитированных блоков характерна вытянутость рефлексов с индексами 100, 101, 102, 110, 112 и другими вдоль экватора с образованием слоевых линий. Это свидетельствует о несовершенной азимутальной ориентации базисных плоскостей кристаллической решетки графита. Детальное изучение азимутальной упорядоченности и дефектов кристаллической решетки в графитированных блоках связано с дальнейшими количественными исследованиями положений, формы и интенсивности рефлексов на электронограммах. [c.232]

Предел разрешения бЯ, обусловленный волновой природой света и физическими свойствами диспергирующего элемента, мы назовем теоретическим пределом разрешения. Наряду с ним необходимо ввести реальный предел разрешения АХ помимо величины ЬХ определяемый полушириной аберрационного пятна рассеяния ДЯдб, полушириной пятна рассеяния АХд ф, вызванного дефектами изготовления и различными деюстировками прибора, геометрической шириной АХ еам ВХОДНОЙ И ВЫХОДНОЙ диафрагм и уширением вызванным инерционностью приемно-реги- [c.20]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология