Эмиссионный фотографические

Фотографический атомно-эмиссионный спектральный анализ [c.25]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Вывести основное уравнение фотографических методов количественного эмиссионного анализа. [c.127]

Основы фотографического метода эмиссионного количественного анализа [c.227]

Спектрографы служат, главным образом, для работы с эмиссионными спектрами. В абсорбционной спектроскопии фотографические методы регистрации применяют в настоящее время сравнительно редко. Тем не менее любой спектрограф может быть легко использован для получения спектров поглощения, если только имеются источник сплошного излучения и кюветы для работы в соответствующей области спектра. Обычно все спектрографы снабжаются комплектом приспособлений, которые рассчитаны для работы со спектрами испускания, однако для некоторых из них выпускают и абсорбционные комплекты. [c.125]

Фотографический метод регистрации спектра и измерения относительной интенсивности спектральных линий является даже в настоящее время основным при качественном и количественном эмиссионном анализе. [c.157]

На этом приборе удобно также проверять микро- и макронеоднородность фотографических пластинок. Для обычного эмиссионного анализа в большинстве случаев более удобно работать с микрофотометром МФ-2. [c.178]

Фотографические методы. Эти методы регистрации применяются в настоящее время наиболее широко. Они имеют ряд характеристик, ценных для эмиссионного количественного анализа 1) возможность одновременно определять большое число элементов 2) усреднение интенсивности спектральных линий за все время экспозиции 3) обеспечение высокой чувствительности анализа. Кроме того, при фотографической регистрации обычно не требуется никакой перестройки приборов при переходе от одного анализируемого объекта к другому. [c.266]

Для определения содержания олова в руде применили методику эмиссионного анализа с фотографической регистрацией, которая предусматривает построение калибровочного графика по методу трех эталонов , а также трехкратное сжигание пробы и эталонов. При концентрациях от 10"3 до ко- [c.127]

На рисунке представлены калибровочные графики для определения одного и того же элемента в сплаве методом эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией. [c.136]

Фотографическая пластинка. Приборы с фотографической регистрацией излучений более удобно использовать в эмиссионном спектральном анализе. Хотя приборы такого типа могут быть использованы и для спектрофотометрического анализа. Для этого следует заменить дугу или искру каким-либо более стабильным источником излучения. Для получения зависимости поглощения от длины волны необходимо [c.239]

Все количественные методы атомно-эмиссионного анализа по способу регистрации спектров разделяют на визуальные, фотографические и фотоэлектрические. [c.675]

Положение градуировочного графика, его угловое или параллельное смещение определяются в первую очередь фактором контрастности, в сильной степени зависящим от свойств фотографической пластинки, условий экспонирования и проявления. Фактор контрастности является трудноконтролируемой величиной и наиболее частой причиной погрешности в фотографических методах атомно-эмиссионного анализа. На положении градуировочного графика отражаются также процессы в облаке разряда и на поверхности электродов, которые описываются эмпирическими константами а, Ь. Однако их влияние можно устранить или уменьшить, применив хорошо отрегулированные генераторы и источники возбуждения спектра, обеспечив стабильный режим их работы, форму заточки постоянных электродов, подготовку стандартных и анализируемых образцов и т. д. [c.681]

В эмиссионном спектральном анализе с фотографической регистрацией градуировочные графики обычно линейны, если их строят в координатах [c.27]

Пример 5. Для количественного определения содержания элемента Z в пробе использован метод эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией спектра. Плотность почернения аналитической линии элемента Z на фотопластинке Sz = 0,5. На этой же пластинке снят спектр эталона, содержащего искомый элемент Z в концентрации Сэт = 10 %. Плотность почернений линии элемента Z в эталоне S = 0,32. Приняв предельную относительную погрешность в определении концентрации эталона р = 0,03 (3%), а предельные абсолютные погрешности определения значений плотности почернения С2, пр J,, пр 0,03, оценить относительную предельную погрешность ре [c.123]

По методу регистрации спектра различают несколько видов эмиссионного спектрального анализа. При визуальном анализе качественный состав определяют непосредственным наблюдением видимого спектра. Более точен фотографический анализ, по которому спектр фотографируют на фотопластинку, которую затем рассматривают на спектро-проекторе при качественных определениях или фотометри-руют с помощью микрофотометра при количественных определениях. На фотографической пластинке получают фиксированный ряд линий, соответствующих спектральным линиям исследуемого образца, степень почернения которых пропорциональна интенсивности этих линий. [c.243]

Нагибина И. М., Михайловский Ю.К. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионной спектроскопии. Л. Машиностроение, 1981. [c.426]

Одним из наиболее распространенных методов является количественный эмиссионный спектральный анализ. Он основан на фотографической или фотометрической регистрации интенсивностей характеристических спектральных линий элементарных веществ с последующим преобразованием интенсивность — содержание элемента с учетом калибровочных коэф- [c.66]

Принцип и основы методики эмиссионного спектрального анализа. Принцип методики спектрального анализа заключается в том, что на фотографических снимках спектра изучаемой пробы,.а также спектров железа и эталонов с известным содержанием элементов путем сравнения интенсивности почернения линий можно сделать заключение о качественном и количественном составе пробы для 40—50 химических элементов. [c.78]

Наблюдение и изучение спектра производятся одним из четырех методов визуальным, фотографическим, фотоэлектрическим и термоэлектрическим. В эмиссионном спектральном анализе наиболее распространен фотографический метод. Этот метод позволяет за один прием получить полный спектр сложного материала. Каждый элемент имеет большое количество линий. Невозможно [c.178]

Качественный анализ с использованием дуги постоянного тока. Спектрометрия с дугой постоянного тока является одним из наиболее чувствительных методов элементного анализа. Почти 70 элементов могут быть обнаружены одновременно при концентрации от млн до млрд- С целью проведения качественного анализа, использующего возбуждение дугой постоянного тока и фотоэлектрическую регистрацию, шкала длин волн на фотографической эмульсии должна быть калибрована. Для этого на верхней половине фотопластинок фотографируют эмиссионный спектр известного элемента (например, железа), а на нижней — эмиссионный спектр пробы. Как отмечали ранее, железо имеет очень богатый спектр в дуге, состоящий из большого числа линий, длины волн которых известны с достаточно высокой правильностью. Спектр железа служит в качестве калибровочной шкалы, с помощью которой можно идентифицировать спектральные линии химической пробы, определяя их длины волн. [c.710]

Разработана установка для атомно-эмиссионного анализа жидких проб с генератором индуктивно связанной плазмы в качестве источника возбуждения спектров. Генератор создан на основе серийного высокочастотного генератора. Мощность плазменного разряда 1,5—2,5 кВт. В состав установки, помимо источника возбуждения спектров, входят устройства фотоэлектрической и фотографической регистрации, а также автоматизированный микрофотометр. Установка снабжена мини-ЭВМ, что позволяет оперативно полу- [c.10]

Фотографические методы эмиссионного спектрального анализа детально описаны в монографии [4] применяемая при этом аппаратура описана в гл. V этой книги, поэтому здесь мы на фотографическом методе анализа останавливаться не будем. [c.289]

Следует заметить, что для точных измерений метод двух линий недостаточен, так как даже непрерывный фон с обеих сторон аналитической линии не всегда бывает одинаковым. Он может иметь заметный наклон. Это хорошо видно при эмиссионном анализе с фотографической регистрацией спектра. Нередко при решении. задачи, с какой стороны линии измерить фон, аналитик приходит к выводу, что нужно измерить с двух сторон и полученные результаты усреднить. Кстати, ИЮПАК рекомендует сигнал фона интерполировать по отсчетам фона с обеих сторон аналитической линии и вычитать из отсчета в пике линии, [26]. Таким образом получается метод трех линий . [c.134]

Эффективным средством идентификации параметров и автоматизированного построения моделей пористых сред являются вычислительные комплексы, оснащенные средствами автоматического анализа изображения (ААИ). Принципиальная схема одного из таких вычислительных комплексов показана на рис. 3.3. При помощи передающего телевизионного сканирующего устройства изображение объекта может быть введено в цветном или чернобелом варианте непосредственно с плоскости наблюдения во всех ее видах, т. е., например, с фокальной плоскости окуляра оптического микроскопа, с экрана электронного микроскопа, с экрана телевизора, а также фотографических репродукций и др. Соответственно в схему ААИ может быть включен оптический микроскоп, электронный микроскоп (просвечивающий, эмиссионный или растровый), приемное телевизионное устройство, эпидиаскоп и т. п. Скорость работы современных ААИ более чем на 5 порядков превышает скорость работы человеческого глаза при значительно более высокой чувствительности (свыше 200 точек на [c.125]

Измерения интенсивности спектральных линий в эмиссионном спектральном анлизе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. В первом случае приемником излучения служит глаз, во втором —фотоэмульсия, в третьем — фотоэлемент или фотоэлектронный умножитель (ФЭУ). Каждый метод имеет свои преимущества, недостатки и оптимальную область применения. [c.74]

Фотографические способы регистрации спектров применяют в атомно-эмиссионном спектральном анализе наиболее широко. Они достаточно просты по технике и общедоступны. Основные достоинства фотографической ре гистрации — документальность анализа, одновременность реги страции и низкие пределы обнаружения многих элементов В автоматизированном варианте этот способ регистрации при обретает новое дополнение —огромную информативность. Ни какими другими методами пока невозможно одновременно оп ределять по 300—500-ти линиям до 70 элементов в одной пробе Фотографический эффект определяется полным числом свето вых квантов, поглощенных эмульсией. Это позволяет создавать фотографическое изображение при малой освещенности за счет увеличения времени экспозиции. Немаловажным достоинством [c.75]

Фотометрирование спектральных линий и обработка получаемых данных представляют собой один из наиболее трудоем ких этапов фотографического атомно-эмиссионного спектрального анализа, который к тому же часто сопровождается возникновением субъективных ошибок. С развитием вычислительной техники стала возможной автоматизация этого процесса. Основой такой автоматизации является создание автоматизи-рованных микрофотометров с микропроцессорным управлением, снабженных шаговыми двигателями, и математического обеспечения для обработки результатов измерений. Однако работы в этом направлении находятся пока еще на начальном этапе. [c.78]

Атомный (элементный) анализ яаиболее часто проводят по спектрам испускания - эмиссионный опсктральный анализ. Исследуемое вещество вводят в источник излучения, где вещество диссоциирует иа атомы, которые переходят в возбужденное состояние. Испускаемое ими излучение разлагается в спектр, для чего его пропускают через призму из стекла или из кварца. Спектр регистрируют на фотографической пластинке или другими способами. Для возбуждения спектра и его регистрации применяют спектральные приборы - спектрографы (рис. 1.1). [c.11]

Это означает, что принцип релятивизации, или разностного измерения, позволяет исключить в криоскопии как систематическую погрешность градуировки, так и систематическую реактивную (примесную) ошибку. Принцип вычитания аналитического сигнала холостой пробы или фона используется во всех инструментальных методах. Такая коррекция фона исключительно важна при прямом анализе млогокомпонентных смесей (без предварительнога разделения), особенно при работе вблизи предела обнаружения, где сигналы фона и определяемого компонента соизмеримы. Коррекцию фона проводят либо непосредственно в ходе измерения сигнала анализируемого компонента, регистрируя интенсивность фонового сигнала рядом с основным, как это делается, например, в эмиссионном спектральном анализе. Так, при фотографической регистрации измеряют разность почернений [c.40]

Например в ходе количественного эмиссионного спектрального определения с конечной фотографической регистрацией спектра осуществляются следующие основные процессы и операции а) испарение и перенос пробы из канала угольного электрода в плазму разряда б) возбуждение атомов элементов в плазме и излучение характеристических спектральных линий элементов в) отбор определенной доли светового потока из общего потока, излучаемого плазмой, с помощью дозирующей щели спектрографа г) пространственное разложение полихроматического излучения на соответствующие характеристические частоты (развертка спектра) с помощью призмы илн дифракционной решетки д) фотохимическое взаимодействие светочувствительного материала с квантами электромагнитного излучения (образование скрытого изображения спектра на фотопластинке или фотопленке) е) химические реакции восстановления ионов серебра до металла и растворения галогенидов серебра в комплексующих агентах (проявление и фиксирование) ж) поглощение света спектральными линиями на фотографической пластинке при измерении плотности почернения спектральных линий определяемого элемента и фона с помощью микрофотометра а) сравнение полученных значений интенсивностей спектральных линий с илтен-сивностью соответствующих линий эталонов или стандартов и интерполяция искомого содержания элемента в пробе по градиуровочному графику. [c.42]

TI3-33 изменения межэлектродного промежутка при выгорании электродов. Эф--фективность конечных этапов эмиссионногв анализа в большой степени зависит не только от степени однородности светочувствительных слоев, химических особенностей фотографических реагентов и способов обработки фотографических материалов, но и от принципиальных деталей структуры спектра, которая определяется как химическим составом пробы, так и качеством спектральной аппаратуры. Путь от анализируемой пробы к метрологическому образу — фотогра--фическому изображению спектра — сложен и тернист, поэтому суммарная ошибка эмиссионно-спектрального определения может достигать больших значений. [c.43]

Фотографические способы регистрации спектров до недавнего времени применялись в атомно-эмиссион-ном спектральном анализе наиболее широко. Они достаточно просты и общедоступны. Основные достоинства фотографической регистрации — документальность анализа, одновременность регистрации и низкие пределы обнаружения многих элементов. В автоматизированном варианте этот способ регисфации приобретает новое качество — огромную информативность никакими другими способами пока невозможно одновременно определять по 300-500 линиям до 70 элементов в одной пробе. [c.391]

Фотометрирова1ше спектральных линий и обработка полученных данных представляют собой один из наиболее трудоемких этапов фотографического атомно-эмиссионного спектрального анализа, который к тому же часто сопровождается возникновением субъективных ошибок. С развитием вычислительной техники стала возможной автоматизация этого процесса. Основой такой автоматизации является создание микрофотометров с микропроцессорным управлением и математического обеспечения для обработки результатов измерений. [c.393]

В 30-40-х Г.Г. XX века некоторое распространение имел лишь анализ по первичным эмиссионным спектрам с фотографической регистрацией (РСА). В 50-е г.г. появление новых типов детекторов рентгеновского излучения позволило создать аппаратуру, обеспечившую принципиальные преимущества другому направлению рентге-носнектрального анализа — методу рентгенофлуоресцентного анализа (РФА), хотя первичные рентгеновские спектры обладают лучшими аналитическими характеристиками в области легких элементов (от бора до алюминия). [c.3]

Таким образом, в эмиссионном спектральном анализе фотографическая пластинка является элементом памяти , отсчетно-наблюдающим устройством.. Эта память быстро фиксирует многочисленные потоки информации затем имеется возможность выбрать из многих записей именно те, которые нужны и наиболее достоверны в данных условиях. [c.179]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология