Эмиссионные спектральные методы фотографический

Рис. 1. Схема эмиссионного спектрального анализа вещества 1 — Источник света (проба) 2, 4, 6 — линзы 3 — входная щель спектрального прибора 5 — призма 7 — фокальная плоскость (регистрация спектра) 8 — визуальное наблюдение видимой области спектра при помощи окуляра 9 — фотографический метод регистрации спектра 10 — фотоэлектрический метод регистрации спектра (а — фотоумножитель, б — усилитель, в — самописец)

Метод анализа, основанный на фотометрировании излучения элементов в пламени, фотометрия пламени , или, как его еще называют, пламенная фотометрия — это быстрый метод анализа, позволяющий определять ряд элементов с точностью 2—4%, достаточной для практических целей, а иногда даже с точностью до 0,5—1%. Фотометрия пламени представляет собой один из видов эмиссионного спектрального анализа, в котором техника фотографирования спектра или же визуального сравнения интенсивностей спектральных линий заменена более точным, прямым способом с применением фотоэлементов и гальванометра. Это приводит к улучшению воспроизводимости и повышению точности, так как исключаются ошибки, связанные с неоднородностью фотографической эмульсии, условиями проявления и т. д. [c.9]

По методу регистрации спектра различают несколько видов эмиссионного спектрального анализа. При визуальном анализе качественный состав определяют непосредственным наблюдением видимого спектра. Более точен фотографический анализ, по которому спектр фотографируют на фотопластинку, которую затем рассматривают на спектро-проекторе при качественных определениях или фотометри-руют с помощью микрофотометра при количественных определениях. На фотографической пластинке получают фиксированный ряд линий, соответствующих спектральным линиям исследуемого образца, степень почернения которых пропорциональна интенсивности этих линий. [c.243]

На рисунке представлены калибровочные графики для определения одного и того же элемента в сплаве методом эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией. [c.136]

Рассмотрим на простейшем примере применение таблицы случайных чисел для рандомизации условий эксперимента. Допустим, наиример, что с помощью эмиссионного спектрального анализа фотографическими методами регистрации изучается какой-нибудь эффект, например влияние третьих элементов при анализе растворов, или неоднородность какого-нибудь слитка и пр. Часто эксперименты в таких случаях ставятся так, что сначала экспонируется несколько спектрограмм при каком-нибудь одном уровне изучаемого фактора, затем экспонируется такое же число спектрограмм при каком-нибудь другом уровне и т. д. [c.327]

Фотографический эмиссионный спектральный метод — метод измерения относительной интенсивности линий путем фотографирования спектров. На фотопластинке после проявления получают ряд линий, степень почернения которых измеряют при помощи микрофотометра. Последняя пропорциональна интенсивности излучения, значит и концентрации соответствующего элемента [41,42]. [c.14]

Пример 5. Для количественного определения содержания элемента Z в пробе использован метод эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией спектра. Плотность почернения аналитической линии элемента Z на фотопластинке Sz = 0,5. На этой же пластинке снят спектр эталона, содержащего искомый элемент Z в концентрации Сэт = 10 %. Плотность почернений линии элемента Z в эталоне S = 0,32. Приняв предельную относительную погрешность в определении концентрации эталона р = 0,03 (3%), а предельные абсолютные погрешности определения значений плотности почернения С2, пр J,, пр 0,03, оценить относительную предельную погрешность ре [c.123]

Одним из наиболее распространенных методов является количественный эмиссионный спектральный анализ. Он основан на фотографической или фотометрической регистрации интенсивностей характеристических спектральных линий элементарных веществ с последующим преобразованием интенсивность — содержание элемента с учетом калибровочных коэф- [c.66]

Наблюдение и изучение спектра производятся одним из четырех методов визуальным, фотографическим, фотоэлектрическим и термоэлектрическим. В эмиссионном спектральном анализе наиболее распространен фотографический метод. Этот метод позволяет за один прием получить полный спектр сложного материала. Каждый элемент имеет большое количество линий. Невозможно [c.178]

Обзор литературы по спектральному анализу показывает, что до сих пор нет четкого определения понятий чувствительности и предела обнаружения при определении малых количеств элементов разными аналитическими методами. В фотографических методах эмиссионного спектрального анализа результаты анализа получают на основании измерений почернений линий определяемого элемента и фона. По разности этих двух сигналов определяют количество искомого элемента. Для объективной оценки величин сигналов (почернение линии определяемого элемента и почернение фона возле этой линии) применяют статистические методы. В соответствии с этим при оценке чувствительности рассматриваемого метода мы пользовались известным критерием Кайзера - л+ф Зоф. [c.31]

Фотографические методы эмиссионного спектрального анализа детально описаны в монографии [4] применяемая при этом аппаратура описана в гл. V этой книги, поэтому здесь мы на фотографическом методе анализа останавливаться не будем. [c.289]

Качественный анализ с использованием дуги постоянного тока. Спектрометрия с дугой постоянного тока является одним из наиболее чувствительных методов элементного анализа. Почти 70 элементов могут быть обнаружены одновременно при концентрации от млн до млрд- С целью проведения качественного анализа, использующего возбуждение дугой постоянного тока и фотоэлектрическую регистрацию, шкала длин волн на фотографической эмульсии должна быть калибрована. Для этого на верхней половине фотопластинок фотографируют эмиссионный спектр известного элемента (например, железа), а на нижней — эмиссионный спектр пробы. Как отмечали ранее, железо имеет очень богатый спектр в дуге, состоящий из большого числа линий, длины волн которых известны с достаточно высокой правильностью. Спектр железа служит в качестве калибровочной шкалы, с помощью которой можно идентифицировать спектральные линии химической пробы, определяя их длины волн. [c.710]

Имеющийся пока весьма ограниченный опыт по объективному установлению пределов обнаружения элементов в эмиссионном спектральном анализе не позволяет дать всеобъемлющих рекомендаций для всех случаев анализа. Тем не менее, некоторые предварительные заключения применительно к методам анализа с фотографической регистрацией спектров все же могут быть сделаны. [c.29]

К недостаткам атомно-абсорбционного метода принято относить и необходимость последовательного измерения концентраций для группы определяемых элементов по сравнению с одновременным определением этих элементов в эмиссионном спектральном анализе. Это мнение основано на сопоставлении наиболее распространенных до настоящего времени фотографического [c.380]

ФОТОГРАФИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА. СПЕКТРАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА ФОТОПЛАСТИНКИ [1-8] [c.80]

При определении щелочных, щелочноземельных и некоторых других элементов метод фотометрии пламени имеет преимущество перед фотографическими методами эмиссионного спектрального анализа в быстроте, простоте анализа, сравнительно несложной [c.214]

Фотографические способы регистрации спектров применяют в атомно-эмиссионном спектральном анализе наиболее широко. Они достаточно просты по технике и общедоступны. Основные достоинства фотографической регистрации— документальность анализа, одновременность регистрации и низкие пределы обнаружения многих элементов. В автоматизированном варианте этот способ регистрации приобретает новое дополнение—огромную информативность. Никакими другими методами пока невозможно одновременно определять по 300—500-ти линиям до 70 элементов в одной пробе. Фотографический эффект определяется полным числом световых квантов, поглощенных эмульсией. Это позволяет создавать фотографическое изображение при малой освещенности за счет увеличения времени экспозиции. Немаловажным достоинством [c.75]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Для определения интенсивности линий и интенсивности сплошного фона вблизи линий применялись обычные методы фотографической фотометрии. Как и во всех работах по эмиссионному спектральному анализу редких земель, тщательно изучались мешающие линии. Для анализа подбирались пары линий, по возможности свободные от наложений. В качестве линий сравнения использовались малоинтенсивные линии основного компонента пробы. Предел чувствительности определения для разных редких земель различен от 0,005—0,001% (Га, Ей, УЬ) до 0,1—0,05% (Рг, N(1, ТЬ). Содержания редких земель больше [c.293]

Во время и после второй мировой войны считали, что предела возмоншо-стям эмиссионного спектрального анализа не существует. Полагали, что увеличение рабочего интервала длин волн позволит, помимо металлов, определять галогены и газы считали, что повышением дисперсии спектрографа, созданием сложных электрических источников света, использованием уравнений с большим числом поправочных членов и улучшением фотографических методов измерения интенсивности линий можно будет определить любую концентрацию любого элемента в любой основе. Однако все эти надежды не оправдались. Оказалось, что при содержании элементов выше нескольких процентов точность спектрального метода уже недостаточна для удовлетворения все возрастающих требований промышленности. Так, если в нержавеющей стали содержание никеля по техническим условиям должно составлять 8—9%, производитель, естественно, ради экономии будет ориентироваться на нин ний предел. Следовательно, чем точнее определено содержание никеля, тем ближе можно подойти к 8%, надежно удовлетворяя техническим условиям. [c.147]

Сравнительно с другими разделами прикладной спектроскопии эмиссионный спектральный анализ получил особенно широкое практическое примепение и развивается по различным направлениям. Нет необходимости рассматривать их здесь подробно, но следует отметить, что как по аппаратуре, так и по аналитическим возможностям существенно различаются между собой визуальные и фотографические методы анализа. Фотографическим путем можно зарегистрировать любую область спектра, наибольшее же распространение фотографические методы анализа получили для ультрафиолетовой области, поскольку там располо/кены чувствительные линии большинства химических элементов. [c.9]

Измерения интенсивности спектральных линий в эмиссионном спектральном анлизе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. В первом случае приемником излучения служит глаз, во втором —фотоэмульсия, в третьем — фотоэлемент или фотоэлектронный умножитель (ФЭУ). Каждый метод имеет свои преимущества, недостатки и оптимальную область применения. [c.74]

Фотографический метод регистрации спектра и измерения относительной интенсивности спектральных линий является даже в настоящее время основным при качественном и количественном эмиссионном анализе. [c.157]

Фотографические методы. Эти методы регистрации применяются в настоящее время наиболее широко. Они имеют ряд характеристик, ценных для эмиссионного количественного анализа 1) возможность одновременно определять большое число элементов 2) усреднение интенсивности спектральных линий за все время экспозиции 3) обеспечение высокой чувствительности анализа. Кроме того, при фотографической регистрации обычно не требуется никакой перестройки приборов при переходе от одного анализируемого объекта к другому. [c.266]

Вопрос о преимуществах фотографической или фотоэлектрической регистрации при обнаружении очень слабых спектральных линий в случае анализа достаточно однородных материалов нельзя считать практически окончательно решенным. Теоретически преимущество должно принадлежать фотоэлектрическим приемникам, квантовый выход которых на порядок и более превосходит эквивалентный квантовый выход фотографических эмульсий. Соответствующие расчеты, выполненные в работах [748, 429], указывают, что с помощью фотоэлектрической регистрации, производящейся в оптимальных условиях, можно обнаруживать в 3—5 раз менее интенсивные спектральные линии, чем с помощью фотографической регистрации. Оптимальные условия для фотоэлектрической регистрации в некоторых методах- спектрального анализа (эмиссионный анализ растворов методом пламенной фотометрии, атомно-абсОрбционный анализ и др.) часто реализуются непосредственно (в первую очередь благодаря высокой стабильности аналитического сигнала во времени), либо легко могут быть созданы с помощью простых технических средств (например, модуляции сигнала). Именно поэтому фотоэлектрическая регистрация широко применяется в перечисленных методах анализа, обеспечивая не только удобство, экспрессность и высокую точность определений, но и возможность обнаружения очень малых содержаний искомых элементов. (Правда, нет сравнительных экспериментальных данных, из которых следовало бы, что применение в этих методах анализа фотографической регистрации не может обеспечить достижения таких же или меньших пределов обнаружения.) [c.67]

Это означает, что принцип релятивизации, или разностного измерения, позволяет исключить в криоскопии как систематическую погрешность градуировки, так и систематическую реактивную (примесную) ошибку. Принцип вычитания аналитического сигнала холостой пробы или фона используется во всех инструментальных методах. Такая коррекция фона исключительно важна при прямом анализе млогокомпонентных смесей (без предварительнога разделения), особенно при работе вблизи предела обнаружения, где сигналы фона и определяемого компонента соизмеримы. Коррекцию фона проводят либо непосредственно в ходе измерения сигнала анализируемого компонента, регистрируя интенсивность фонового сигнала рядом с основным, как это делается, например, в эмиссионном спектральном анализе. Так, при фотографической регистрации измеряют разность почернений [c.40]

Рассмотрим следующий пример методом эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией спектров производится изучение влияния термообработки на результаты анализа. Заключение о влиянии термообработки будет сделано па основании сравнения двух средних значений разности почернений аналитических линий для двух частей одного п того же образца, одна из которых была подвергнута закалке, другая находится в равновесном состоянии. Из предыдущих опытов известно, что ошибка воспроизводимости для определения, сделанного по одной спектрограмме, равна 0 = 0,020. При плапировании эксперимента мы хотим выбрать число спектрограмм так, чтобы риск отбросить пулевую гипотезу (отсутствие влияния термообработки) тогда, когда она верна, был не более а = 0,10, а риск принять нулевую гипотезу, когда она неверна (под влиянием термообработки имеется расхождение, равное квадратичной ошибке воспроизводимости 6 = 0 = 0,02), был не более Р = 0,05. Под влиянием термообработки может быть как завышение результатов анализа, так и их занижение, поэтому мы должны воспользоваться двухсторонним критерием. Производя вычисления, получаем [c.336]

Один из наиболее существенных недостатков метода атомной абсорбции, как, впрочем, и других химических методов, по сравнению с методами эмиссионного спектрального анализа — это необходимость последовательного определения отдельных элементов. Поэтому в тех случаях, когда сравнительно просто получить градуировочную характеристику, не опасаясь внесения систематической погрешности, выгоднее использовать квантометрические методы (оптические или рентгено-флуоресцентные), например при массовом анализе многокомпонентных сплавов стандартного состава и т. п. При необходимости одновременного определения многих элементов, когда не требуется высокая точность анализа, например при анализе высокочистых продуктов, часто даже фотографический вариант эмиссионного спектрального анализа оказывается предпочтительнее атомно-абсорбционного и других химических методов. [c.9]

Нельсон и Куеблер [16] успешно испаряли твердые пробы, приготовленные в виде тонких нитей или йолос, интенсивным импульсом света разрядной лампы, питаемой от конденсатора, Абсорбционные спектры паров регистрировали фотографическим методом в качестве источника поглощаемого излучения применяли лампу типа Лаймана. Хотя какие-либо количественные измерения не проводили, тем не менее чувствительность абсорбционного определения была оценена методом взрывного испарения примесей из вольфрамовой проволоки. Сравнение интенсивности абсорбционного спектра этих паров с известным содержанием примесей в проволоке (по данным эмиссионного спектрального анализа) показало, что таким путем можно обнаружить до 10 % и да5ке менее А1, Си, и Ъхл. Абсорбционные спектры были измерены па образцах вольфрамовой проволоки, весящей всего 5,5 мг. Поэтому этот метод можно назвать микрометодом. Необходимо добавить, что абсорбционный метод анализа почти пе требует или вообще не требует предварительной обработки проб, вследствие чего опасность загрязнения проб почти отсутствует. [c.188]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология