Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Измерения по методу отражения

    Если система неоднородна, то при взаимодействии электромагнитного излучения с веществом помимо процесса поглощения будет происходить также рассеяние лучистой энергии. На этом основаны такие методы количественного анализа, как нефелометрия (измерение в отраженном потоке) и турбидиметрия (измерение в проходящем потоке), которые в настоящей главе рассматриваться не будут. [c.458]


    Для измерения толщины используют эхометод и методы локальных колебаний (резонансные). В редких случаях используют метод прохождения. При контроле методами отражения и прохождения измеряют время пробега импульса в ОК. Иногда измеряют амплитуду прошедшего сигнала или его фазу. При контроле методом колебаний измеряют резонансные частоты. Различают три вида задач при измерении толщины, которым соответствуют три группы приборов А, Б, В. [c.234]

    Методы анализа, основанные на отражении Р-частиц, в общем менее точны, чем методы, основанные на их поглощении. Однако принцип отражения Р-частиц веществом положен в основу измерения толщины металлических покрытий. При этом можно, например, определить толщину слоя цинка, нанесенного на железо, хрома, нанесенного на алюминий, и т. д. Методы, основанные на отражении Р-частиц, применяют в металлургии для анализа бинарных систем. Ошибка анализа при этом тем меньше, чем больше различаются заряды ядер компонентов смеси. Метод применим для непрерывного контроля содержания ниобия в хроме или вольфрама в железе. Средняя квадратичная ошибка определения содержания (3% и более) ниобия в хроме составляет 2%. На рис. 6.8 приведена схема установки для проведения определений по методу отражения Р Частиц. [c.320]

    Интерферометрический метод. В этом оптическом методе применен луч монохроматического света, который направлен на границу между покрытием и основным слоем точно таким же образом, как в микроскопическом методе исследования с помощью светового потока. Но вместо измерения отношения отраженного луча микроскоп используется для установления количества интерференционных колец, создаваемых при рассеивании света под действием уступа на границе покрытия. Число колец, умноженное на половину длины волны использованного светового луча, составляет толщину покрытия. [c.140]

    Метод измерения прямого отражения (метод Лауэ) (рис. 28.8). Плоскую пленку помещают на расстоянии нескольких [c.118]

Рис. 111-39. Измерение меж-фазной поверхности методом отражения света Рис. 111-39. Измерение меж-фазной <a href="/info/4444">поверхности методом</a> отражения света

    При измерениях по методу пропускания получают пики с большей высотой, чем по методу отражения (рис. 8.5). В методе пропускания свет проходит через слой сорбента. Изменения толщины сорбента в значительной степени влияют на интенсивность пропущенного света, что приводит к достаточно большим колебаниям пулевой линии. Практическое значение имеет соотношение между величиной полезного сигнала и величиной фоновых помех в измерениях по методу отражения это соотношение всегда больше (рис. 8.5). Именно поэтому при измерениях по методу отражения предел обнаружения ниже, а воспроизводимость выше, чем в методе пропускания, и количественные измерения можно проводить в более широких пределах. [c.183]

    Метод измерения отражения и гашения флуоресценции можно применить также для определения ТСХ-пятен веществ, поглощающих УФ-излучение. Последний метод можно рекомендовать для проявления пятен веществ, поглощающих УФ-излучение. Однако с точки зрения количественного детектирования метод гашения флуоресценции имеет ряд недостатков и ограничений по сравнению с методом отражения. [c.187]

    Как показано на рис. 8.9 (II и IV), при сканировании по отражению излучения ртутного источника с длиной волны 254 нм и по ослаблению флуоресценции при той же длине волны получаются пики одинаковой высоты. Однако по сравнению с методом отражения метод ослабления флуоресценции характеризуется более высоким уровнем фона, связанного с неоднородным распределением индикатора в слое сорбента. Именно поэтому, несмотря на одинаковые высоты пиков, отношение высоты пиков к уровню фона в методе отражения выше, чем в методе ослабления флуоресценции. Даже при измерении отражения на ВЭТСХ-пластинках с флуоресцентным индикатором фон значительно больше электрических помех фотометра. [c.188]

    Оптические методы. В связи с быстрым развитием ВЭТСХ, которая позволила стандартизировать многие стадии хроматографического процесса и привела к получению воспроизводимых результатов, стало возможным использовать точные количественные методы оценки разделенных веществ на тонкослойных хроматограммах. Этому также способствовали создание и выпуск рядом фирм специальных приборов для количественных определений в ТСХ. Оптические сканирующие методы основаны на измерении исходного излучения, прошедшего через слой сорбента (поглощение), отраженного от него (отражение), сочетании поглощения и отражения, флуоресценции, гашении флуоресценции. Возможно измерение пропускания света с длиной волны только больше 325 нм, так как стекло (подложка) и слой адсорбента поглощают УФ-излучение. Измерение по методу отражения можно проводить по всей области спектра от 196 до 2500 нм (ив области УФ-излучения). [c.370]

    Здесь изложены измеряемые характеристики, получаемые при контроле методами отражения, получившими наибольшее распространение. Рекомендации по измерению относятся к различным металлическим изделиям, включая сварные соединения. [c.346]

    В [422, с. 983] исследовано изменение скорости продольных и поперечных волн и связанных с ними модулей упругости при температурах до 3000 . Измерение выполнено импульсными методами отражения и прохождения. На первых этапах применяли излучение и прием через графитовые акустические задержки, но далее перешли на лазерный способ излучения и приема. [c.736]

    Акустические способы измерения твердости основаны на методе контактного импеданса и корреляции твердости со скоростью распространения упругих волн, измеряемой методами отражения, прохождения или интегральным методом собственных колебаний. [c.777]

    Зеркально-теневой метод основан на измерении амплитуды донного сигнала. На рис. 23, а отраженный луч условно смещен в сторону. По технике выполнения (фиксирует эхо-сигнал) его относят к методам отражения, а по физической сущности контроля (измеряют ослабление сигнала, дважды прошедшего изделие в зоне дефекта) он близок к теневому методу. [c.211]

    Ниже на примере гидридов Та и КЬ мы покажем, что использование метода статических концентрационных волн при расшифровке сверхструктур позволяет избежать измерения интенсивностей отражений и ограничиться только геометрическим анализом взаимного расположения структурных и сверхструктурных отражений или же только анализом межплоскостных расстояний. [c.153]

    Штейнер и Доти [34] описывают метод определения мутности исследуемого раствора сравнением его интенсивности рассеяния под углом 90° с интенсивностью падающего света, измеренной по отражению от поверхности пластинки из карбоната магния. На место рабочего раствора помещают призму из карбоната магния, вмонтированную в стеклянную кювету под углом 45° к падающему свету. Показатель барабана нефелометра для призмы соответствует интенсивности отражения от нее [c.99]


    Рассмотрим более детально область частот от 0,2 до 250 МГц. Единственный известный в настоящее время метод исследования жидкостей и мягких каучукоподобных тел в этой области частот основан на измерении коэффициента отражения [2]. Однако возможности применения этого метода ограничены двумя существенными обстоятельствами [3]. Во-первых, его можно применять только при частотах выше 5 МГц, так что довольно [c.203]

    При измерении коэффициента отражения волна сдвиговых колебаний распространяется в кварцевом стержне и отражается от оптически гладкой поверхности, на которую помещен исследуемый образец. В первых работах, в которых использовали этот метод, направление распространения волны было нормальным к поверхности. Однако было установлено, что чувствительность метода возрастает, если увеличить угол между направлением распространения волны и нормалью к поверхности 3]. Наиболее подходящий угол равен -- 77° именно такую схему (рис. 1) наиболее часто используют в настоящее время. [c.204]

    Высокая чувствительность предлагаемого метода иллюстрируется приведенными выше результатами исследования механических свойств раствора полистирола. Для получения количественной меры чувствительности метода следует сравнить формулу (22) с основным расчетным выражением, применяемым в методе измерения коэффициента отражения [2, 5] [c.211]

    В аппаратуре, обычно используемой в методе измерения коэффициента отражения, длина пути волны между последовательными отражениями составляет 8 см. Поэтому чувствительность метода, основанного на использовании линии задержки, оказывается в 16 раз выше, чем метода отражений. Именно этот факт позволяет проводить измерения свойств образцов, вязкость которых составляет всего несколько сантипуаз. [c.211]

    В последнее время применяют метод, основанный на измерении коэффициента отражения пятен хроматограммы. Однако этот вариант трудно осуществить в условиях учебной лаборатории, так как необходимо получить пятна очень правильной формы, что требует большого опыта. Поэтому можно пользоваться вариантом, не требующим предварительной подготовки. Для этого вырезают окрашенные пятна, переносят кусочки бумаги в пробирки и заливают 50%-ным спиртом. При слабом нагревании окрашенное соединение переходит в раствор, который можно фотометрировать, сравнивая со стандартами известного содержания. [c.67]

    Современные спектральные приборы хорошо оснащены автоматикой (подготовка образцов, программирование режимов работы, обработка результатов с приведением их к наиболее удобной форме) и дополнительными принадлежностями, которые состоят в основном из различного рода приставок (для проведения измерений в отраженном и рассеянном свете, по методу нарушенного полного внутреннего отражения, для локального анализа и т. д.), из специальных камер (для исследования образцов в различных тепловых и прочих режимах) и различного рода вспомогательных приспособлений. [c.16]

    Уравнения (2) и (3) служат для определения величины расклинивающего давления П в пленке. Необходимое для получения изотерм значение толщины пленки определяется путем измерений интенсивности отраженного пленкой света, а также эллипсометрически, взвешиванием на пьезокварце, методом размазывания или по поглощению излучения. [c.286]

    При решении целого ряда задач (определение типа твердых растворов н концентрации в них компонентов, величины коэффициента термического расширения и т. д.) измерения параметров элементарной ячейки должны быть выполнены с максимально возможной точностью. Необходимое условие для этого — минимальная погрешность при измерении углов отражения и межплоскостных расстояний, Существуют различные методы прецизионного измерения параметров элементарной ячейки. При исследовании высокосимметричных веществ для этой цели можно использовать, например, метод графической экстраполяции. Этот метод основан на том, что большинство систематических ошибок, приводящих к смещению дифракционных линий от положения, соотиетствующего истииному углу отражения, уменьшается ири увеличении угла О, Следовательно, для прецизионного измерения параметров решетки необходимо использовать линии с максимально возможными углами 0. Однако линии с углами 0>85° очень широки, что с1П1жает точность определения. Поэтому на практике для измерения используют линии с углами в области 6О°<0<84°, а затем результаты определения по этим линиям параметров решетки графически экстраполируют до значений, соответствующих углу 0 = 90°, что позволяет устранить или существенно уменьшить ошибки измерения. [c.97]

    Книга посвящена акустическим методам и средствам неразрушающего контроля и охватывает задачи дефектоскопии, контроля физико-механических свойств материалов, измерения размеров объектов контроля. Для обоснованного изложения методов и средств контроля в книге рассмотрены физические основы излучения, приема, распространения, отражения, преломления и дифракции акустических волн. Главное внимание уделено физике процессов, не применяется сложный математический аппарат. Основное внимание уделено методу отражения, получившему наиболее широкое распространение в практике неразрушающего контроля. Более кратко изложены методы прохождения, свободных и вынужденных колебаний, акустической эмиссии. Расшохредо-, использование методов контроля металлов и сплавов (литья, поковок, проката, сварных соединений), неметаллов и шюгослойиых канг.трукций. Для двух последних отмечается во можность использования специфических низкочастотных ме-"тодов,. г [c.3]

    При измерении углов отражения дифрактометрическим методом необходимо знать положение нуля счетчика, так как, в отличие от метода поликристалла с фотографической регистрацией, в дифрактометре регистрируется только одна половина дифракционного спектра. В хорошо отъюстированном дифрактометре плоскость образца совпадает с осью гониометрического устройства и с прямой линией, проходящей через центры коллимирующих щелей, формирующих первичный пучок, фокус трубки и центр приемной щели счетчика. Существует несколько методов калибровки дифрактометра по эталонам, по максимуму пучка, проходящего через узкую щель, установленную на оси гониометра, и т. д. [10]. Применение для калибровки эталонных веществ не обеспечивает наилучшей точности. В настоящее время широкое распространение получил метод калибровки, предложенный Турна-рп. Использование метода Турнари дает возмонгность определить положение нуля счетчика с точностью не хуже, чем 0,01°. [c.121]

    Изучение Т.п. разл. тшюв, в частности определение их ТОЛЩ1П1Ы, обычно проводят методами, основанными на измерении шггенсивности отраженного света (см. Э.ии.псо-метрия). При наблюдении жидких Т. п. в отраженном свете обнаруживаются интерференц. полосы в окружающем пленку пространстве-области вдоль стыка пленок, наз. каналом Гиббса-Плато (см. рис.) расположение этих полос [c.607]

    Тиабензазол, как известно, является исключительно чувствительным к свету [10, 14], однако ири условиях эксперимента его фотохимического разложения не наблюдалось [10]. Формы иятен чистого вещества и пробы заметно отличались друг от друга, что приводило к искажению результатов ири измерениях по методу отражения. При [c.205]

    Сущность метода заключается в приготовлении спв1(иальной краски — ласты, нанесении ее на бумагу и последующем определении коэффициента отражения слоя нанесенной краски до и после облучения под ртутно-кварцевой лампой. За условную светостойкость (в процентах) принимается разность значений измеренных козффи1шентов отражения. [c.40]

    Сущность метода определения укрывистости пигментов по коэффициенту контрастности заключается в приготовлении быстросохнущей краски с испытуемым пигментом, последовательном нанесении ее на стеклянные пластинки с нарастающими по толщине высушенными слоями, измерении. коэффициентов отражения света (яркости) П1)и наложении пленок на белый и черный фон и последующем расчете коэффи1у1ента контрастности. [c.52]

    В едком натре малые содержания мышьяка (0,1—0,8 мкг в пробе) рекомендуется определять методом [407], включающим выделение мышьяка в виде арсина металлическим цинком в солянокислом растворе, поглощение арсина бромиднортутной бумагой и измерение интенсивности отраженного света образовавшимся окрашенным пятном. Метод пригоден для определения мышьяка в солях щелочных и щелочноземельных металлов. [c.176]

    Возможно выделение мышьяка непосредственно из анализируемой морской воды в виде арсина, поглош ение его бромиднортутной индикаторной бумагой и измерение интенсивности отраженного окрашенным пятном света. По калибровочному графику, построенному аналогично, находят содержание мышьяка в пробе. Метод позволяет определять 0,1—0,8 мкг As. [c.184]

    Вследствие высокого поглощения н невозможности полного растворения более удобен для исследования углей метод отражения, поэтому было использовано измерение зеркального отражения в двух разных средах н вычислены псказатели преломления и поглощения, диэлектрическая проницаемость в электропроводность (II]. Трудоемкость и недс>статочная воспроизводимость методов получения опти-<кских спектров углей обусловили утрату интереса к их применению для изучения угпей в течение длительного времени. В 80-е годы Поповым и Ждановым (12, 13] была разработана методика получения спектров диффузного отражения углей и Ждановым (13] проведены систематические исследования углей различных бассейнов. [c.68]

    Определению концентрации соединений на поверхности методами диффузного отражения и люминесценции посвящены обзоры [9, 10], в которых рассмотрены преимущества и недостатки методов, перспективы их развития. Большое влияние на чувствительность определения обоими методами оказывает тип применяемого прибора. Для измерения диффузного отражения часто используют отечествешшй прибор Спектротон , а для измерения интенсивности люминесценции — флуори-метр Квант . При отражательной спектроскопии поверхности, согласно [9], исключительное значение имеет контрастность реакции рекомендуется применять  [c.335]

    Зеркально-теневой (ЗТ) метод основан на измерении амплитуды донного сигнала. На рис. 2.6, а отраженный луч показан смещенным в сторону. По технике выполнения (фиксируется эхосигнал) - это метод отражения, а по физической сущности (измеряют ослабление дефектом сигнала, дважды прошедщего ОК) он близок к теневому методу, поэтому его относят не к методам прохождения, а к комбинированным методам. [c.136]

    По видимому, данный метод особенно пригоден для определения воды в рудах, содержащих элементы с большим сечением захвата тепловых нейтронов (бор, литий, ртуть, редкоземельные элементы). Определение воды в тонких слоях может быть проведено с помощью метода отражения нейтронов. При выполнении таких измерений Кзом и Бенедек [16] понижали энергию нейтронов, испускаемых источником, с помощью железного модератора энергия нейтронов, поступающих в счетчик, повышалась, если между счетчиком и пробой помещали слой парафина. Вада [54а] описал метод определения воды (общего количества водорода) в малых пробах с использованием америциево-бернллиевого источника нейтронов и детектора тепловых нейтронов. При времени счета 1 мин с помощью счетчика тепловых нейтронов можно определять около 0,5% воды в асбестовых плитах. [c.532]

    Зтп наблюдения контролировались другим методом, основанным на измерении доли тех молекул, которые отражались от умеренно охлажденной твердой поверхности ртути. Получающиеся таким образом значения лежат между 0,9 и 0,94. Значения, найденные методом отражения, несколько больше, чем найденные методом испарения, и ввпду простоты метода заслуживают предпочтения. [c.34]

Рис. I. Схема, иллюстрирующая принцип опоеделеиия механических свойств вязкоупругих материалов по методу измерения коэффициента отражения. Направление смещения перпендикулярно плоскости рисунка. Рис. I. Схема, <a href="/info/1722351">иллюстрирующая принцип</a> опоеделеиия <a href="/info/1644039">механических свойств вязкоупругих</a> материалов по <a href="/info/278722">методу измерения коэффициента</a> отражения. <a href="/info/1591877">Направление смещения</a> <a href="/info/617887">перпендикулярно плоскости</a> рисунка.
    Пайк и Бокрис [ 468] обсуждали уравнения для точных значений эллипсометрических параметров при отражении от поглощающих пленок без дополнительных измерений. Метод основывается на абсолютной оценке относительных интенсивностей падающего и отраженного света, а также на обычных измерениях д и ц/. Исследование сопротивления пленочных электродов выполнено Шимицу [ 469]. [c.552]


Смотреть страницы где упоминается термин Измерения по методу отражения: [c.10]    [c.6]    [c.6]    [c.184]    [c.191]    [c.218]    [c.371]    [c.79]    [c.392]    [c.96]   
Смотреть главы в:

Количественная хроматография на бумаге и в тонком стекле -> Измерения по методу отражения




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Отражения методы



© 2025 chem21.info Реклама на сайте