Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Сканирование оптимальные условия

    Во-вторых, следует выбрать оптимальные условия анализа. Для этого — записать спектры каждой составной части образца, чтобы выбрать аналитические полосы и подобрать толщину кюветы и концентрацию образца. В качестве аналитических длин волн (волновых чисел) обычно используют максимумы полос при условии, что полосы, характерные для индивидуальных компонентов, перекрываются в минимальной степени. Соотношение концентрации и толщины слоя должно быть таким, чтобы поглощением растворителя можно было пренебречь, а пропускание аналитических полос компонентов смеси при средних концентрациях попадало в оптимальный интервал 20 % < Т < 60 %. Необходимо подобрать лучшее соотношение сигнал/шум, может быть, завысив ширину щели и скорость сканирования. [c.475]


    Выбирая закон сканирования, можно создать оптимальные условия выделения слабой аналитической линии на сильном фоне. [c.22]

    Пока что частотно-селективные спектрально-аналитические установки позволяют вести определение элементов последовательно по заданной программе. Можно, однако, полагать, что в дальнейшем будут реализованы условия и для определения элементов группами. При последовательном определении элементов значительно легче создать оптимальные условия формирования сигнала фотоумножителя в процессе сканирования спектра с учетом особенностей аппаратурного профиля аналитической линии. Особенно важно учитывать этот параметр при использовании аналитических линий, склонных к самообращению.  [c.23]

    Последний эффект достигается при условии правильного выбора частоты сканирования, отвечающего уровню флуктуаций в приемнике и частотному распределению флуктуаций в источнике света [748, 750]. Это положение иллюстрируется рис. 17 для дуги постоянного тока. (Аналогичная картина имеет место для дуги переменного тока н ряда других источ- ников.) Из рис. 17 видно, что величина флуктуаций в, источнике спадает с увеличением частоты, шум же в приемнике является белым и уровень его зависит от светового потока, падающего на приемник. Это обстоятельство дает возможность в каждом конкретном случае выбрать такую частоту сканирования, при которой флуктуации в источнике будут значительно меньше флуктуа ций в приемнике света. Таким образом, общая случайная ошибка анализа будет определяться в основном статистическими свойствами приемника излучения, т. е. будут созданы оптимальные условия для обнаружения слабых спектральных линий (см. 2.1.3). Следовательно, метод периодического, сканирования позволяет приблизиться к наименьшему пределу обнаружения аналитического сигнала, достижимому с помощью данного фотоэлектрического приемника. [c.64]

    Однако очень часто, особенно при определении ультрамалых абсолютных содержаний элементов, условия для фотоэлектрической регистрации весьма далеки от оптимальных. Поэтому применяют, как правило, фотографическую регистрацию, обеспечивающую при интегральном приеме близкую к теоретической возможность обнаружения слабых флуктуирующих линий на флуктуирующем сплошном фоне. По-видимому, с помощью периодического сканирования спектра можно было бы создать оптимальные условия для фотоэлектрической регистрации и в этих случаях анализа. Но неизвестно, окупится ли при этом значительное техническое усложнение метода тем выигрышем в пределе обнаружения по сравнению с фотографической регистрацией, который предсказывается теорией [748, 429], тем более, что теоретические расчеты пока не подтверждены непосредственными сравнительными экспериментами. [c.67]


    Однако очень часто, особенно при определении ультрамалых абсолютных содержаний элементов, условия для фотоэлектрической регистрации весьма далеки от оптимальных. Поэтому применяют, как правило, фотографическую регистрацию, обеспечивающую при интегральном приеме близкую к теоретической возможность обнаружения слабых флуктуирующих линий на флуктуирующем сплошном фоне. По-видимому, с помощью периодического сканирования спектра можно было бы создать оптимальные условия для фотоэлектрической регистрации и в этих случаях анализа. [c.67]

    Лучшие образцы ИК спектрофотометров снабжены ЭВМ, которые автоматически подбирают и устанавливают оптимальные условия записи спектра. Например, оператор выбирает определенную скорость сканирования спектра, а ЭВМ автоматически устанавливает соответствующую ей оптимальную ширину щелей и усиление. В табл. 21 приведены основные характеристики некоторых марок ИК спектрофотометров и спектрометров, используемых в научных и производственных лабораториях. [c.296]

    Оптимальные условия сканирования [c.53]

    Оптимальные условия регистрации спектра. При измерении спектров поглощения обычно получают кривые, на которых по оси абсцисс откладывается длина волны или волновое число, а по оси ординат — пропускание или оптическая плотность. Спектр должен быть записан в таких условиях, чтобы оптимальным образом использовать возможности прибора, сведя до минимума случайные ошибки и систематические искажения спектра прибором. Систематические искажения заключаются в том, что монохроматический сигнал, подающийся на вход прибора, по выходе из него имеет другую форму и определяется аппаратной функцией монохроматора и инерционностью приемно-усилительной части (см. стр. 203). Случайные ошибки спектрометра определяются в основном величиной сигнала по сравнению с уровнем шумов приемника радиации. Главные причины систематических искажений— слишком большая ширина щелей прибора и слишком большая скорость сканирования. [c.81]

    Показано, что оптимальное значение скорости сканирования удовлетворяет условию  [c.21]

    Дополнительные ограничения на независимые переменные по существу не усложняют процедуры использования метода сканирования, так как в этом случае точки, которые не удовлетворяют заданным условиям, просто исключаются из рассмотрения и значения критерия оптимальности в них не вычисляются. Наличие дополнительных [c.509]

    Опыт показывает, что при измерении инфракрасных спектров жидких веществ оптимальное значение спектральной ширины щели удовлетворяет условию Аг < 0,2 Ау, ", где АУ " — полуширина самой узкой полосы в спектре. Скорость сканирования определяется величиной спектрального интервала проходящего за время Аг перед выходной щелью монохроматора = —. Очевидно, что увеличение скорости А1 [c.433]

    Были исследованы факторы, влияющие на сканирование радиоактивных хроматограмм в тонком слое для последующего количественного анализа. Было показано, что для получения оптимальных результатов необходимо соблюдать следующие основные условия применять низкую скорость сканирования, чтобы иметь возможность регистрировать максимальное число импульсов для максимального разделения пиков следует использовать узкую щель, и, кроме того, расстояние между хроматограммой и детектором должно быть минимальным, чтобы улучшить разрешение и повысить эффективность детектора. [c.166]

    При оптимальных условиях измерения оптической плотности, обеспечивающих получение максимальной точности, систематическая ошибка из-за инерции приемно-регистрирующей системы должна быть в 4 раза меньше ошибки, обусловленной аппаратной функцией причем случайная ошибка должна быть в 1,25 раза меньше общей систематической ошибки [2,3]. Эти соотношения не зависят ни от свойств прибора, ни от исследуемого спектра они являются следствием того, что в выражения для систематических и случайных ошибок ширина щелей прибора и постоянная времени регистрирующей системы входят в соответствующих степенях. Скорость сканирования спектра постоянная времени приемнорегистрирующей системы т и оптимальная спектральная полуширина щелей АХопт связаны зависимостью [c.214]

    Некоторые работы посвящены проблемам и техническим средствам сканирования хрохматограмм радиоактивных веществ. Оригинальны и весьма полезны конструкции искровых камер для локализации зон радиоактивных веществ па хроматограммах. Заслуживают внимания данные, относящиеся к оптимальным условиям количественного сканирования хроматограмм радиоактивных веществ. [c.6]

    Названием методы нелинейного программирования объединяется большая группа численных методов, многие из которых приспособлены для репгения оптимальных задач соответствующего класса. Выбор того или иного метода обусловлен сложностью вычисления критерия оптимальности и сложностью ограничивающих условий, необходимой точностью решения, мощностью имеющейся машины и т. д. Ряд методов нелинейного программирования практически постоянно используется в сочетании с другими методами оптимизации, как, например, метод сканирования (см. главу IX, стр. 551) в динамическом программировании. Кроме того, эти методы служат основой построения систем автоматической оптими- [c.33]


    Масс спектры компонентов смесей, получаемые в условиях ХМС, могут отличаться от спектров полученных при анализе соответствующих чистых соединении на аналитическом масс спектрометре На вид масс спектров влияют следующие факто ры 1) температура хроматографической колонки, интерфейса и соединительных линий, которая определяет возможность раз ложения или термических превращений анализируемых ве ществ 2) температура ионного источника оказывает наиболь шее влияние на вид масс спектров, вызывая изменение вероят ности различных путей распада, влияние температуры особен но заметно при ХИ, повышение температуры ионного источника уменьшает относительное количество ионов с большими масса ми 3) условия ионизации, которые часто отличаются от приня тых в аналитической масс спектрометрии, например, в ГХ—МС ионизация осуществляется электронами с энергиями порядка 15—20 эВ, тогда как в обычной масс спектрометрической ана литической практике — либо электронами высоких энергий (50—70 эВ), либо в близпороговой области (8—12 эВ), 4) дав тение в ионном источнике может быть выше оптимального, что приводит к увеличению вклада продуктов ионно молекулярных реакций даже при ЭУ ионизации, следует иметь в виду, что не смотря на большую скорость сканирования, давление в ионном источнике изменяется за время элюирования хроматографиче ского пика, это приводит к изменению относительных интенсив ностей регистрируемых пиков по сравнению с пиками в обыч ном масс спектре [c.127]

    В работах [79, 80] изучался спектр (см. разд. 1.16.3) преимущественно синдиотактического полиметилметакрилата (аналогичного полимеру /, см. разд. 3.4 и 3.5). Условия регистрации спектра не позволяли получить оптимальное разрещение, так как из-за низкой чувствительности и малого естественного содержания использовался 50%-ный раствор полимера в хлорбензоле спектр снимали при i 60° . Тем не менее, вследствие малого значения магнитного момента линии не слишком широки и можно получить полезные результаты. На рис. 3.8, а представлен спектр всех атомов углерода, за исключением углерода карбонильной группы на рис. 3.8, б — спектр карбонильного углерода. Спектры сняты на частоте 25,14 МГц (напряженность поля 23,4 КГс) и представляют собой накопление свыше 200 сканирований (на накопителе спектров САТ ). Химические сдвиги выражены в м. д. относительно внешнего эталона СЗг (см. разд. 1.17.2). Спин-спи-новые взаимодействия С—Н непосредственно связанных атомов углерода и водорода, составляющие около 125 Гц, вызывают расщепление некоторых сигналов i сигнал СНг должен быть триплетом, СНз — квадруплетом, а сигналы С=0 и четвертич- [c.92]

    Однако при выполнении серийных анализов с целью экономии времени и материальных затрат, а также при использовании аппаратуры среднего класса с достаточно медленной разверткой спектра, при отсутствии компьютерных систем сбора данных, возникает вопрос о выборе оптимального режима работы аппаратуры для корректного получения масс-спектра многокомпонент-пого образца необходимо определить температурные условия испарения смеси в ионный источник и минимальное число сканирований, достаточное для воспроизводимого получения спектра с приемлемыми для группового анализа погрешностями. [c.115]


Смотреть страницы где упоминается термин Сканирование оптимальные условия: [c.114]    [c.114]    [c.316]    [c.316]    [c.224]    [c.266]    [c.176]   
Прикладная ИК-спектроскопия (1982) -- [ c.54 ]

Прикладная ИК-спектроскопия Основы, техника, аналитическое применение (1982) -- [ c.54 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Оптимальные условия



© 2024 chem21.info Реклама на сайте