Длина волны края поглощения

Элемент Энергия края поглощения, кэВ Длина волны края поглощения, А [c.61]

Флуоресцентное излучение элементов, энергия квантов которых превосходит энергию возбуждения аналитической линии (1 < Хкд где >-Кд — длина волны края поглощения элемента А), способно дополнительно возбуждать флуоресценцию элемента А. Из схемы (рис. 14.82) видно, что излучение элемента 8, возбужденное в объеме с1У шарового слоя г, г + с1г, распространяясь во всех направлениях, возбуждает излучение атомов А в центре гипотетической сферы О. Общий эффект избирательного возбуждения получим суммированием отдельных вкладов по всему объему образца. Приращение интенсивности, обусловленное эффектом избирательного возбуждения, может достигать в некоторых случаях 30-50 %. [c.9]

Эффект избирательного поглощения излучения аналитической линии (например, К — спектральной линии элемента А) заключается в уменьшении ее интенсивности вследствие способности атомов других элементов избирательно поглощать излучение с данной длиной волны. К таким элементам В относятся те, у которых длины волн -краев поглощения несколько больше, чем длина волны К-края [c.10]

Эффекты избирательного поглощения первичного излучения, возбуждающего атомы элемента А, будут вызывать атомы элемента В, длина волны (/-края поглощения которого незначительно отличается от [c.10]

Длина волны края поглощения для элемента сравнения должна быть по возможности ближе к длине волны края поглощения определяемого элемента. Кроме того, следует стремиться к тому, чтобы между краями поглощения сравниваемых элементов не находились линии третьего элемента М, так как в противном случае линии элемента М будут дополнительно возбуждать флуоресценцию элемента А или В в зависимости от того, чей край поглощения окажется наиболее длинноволновым. [c.32]

При анализе материалов с небольшим содержанием искомого компонента за внутренний стандарт можно брать элемент, длина волны края поглощения которого больше длины волны края определяемого элемента. [c.32]

Значения длин волн краев поглощения химических элементов необходимы для определения массовых коэффициентов ослабления рентгеновского излучения. Основная масса данных по длинам волн и энергиям краев поглощения взята из работы [2], недостающие значения длин волн Ь-краев — из работы [3]. [c.93]

При достижении определенной длины волны края поглощения мас- [c.250]

В ряде справочников имеются таблицы, где для каждого элемента приводятся основные аналитические линии, диапазон поглощаемых длин волн (край поглощения), а также-коэффициент поглощения для падающего излучения различной длины волны, рассчитанный на единицу массы или на моль вещества. [c.105]

Рентгеновское излучение, возникающее на различной глубине, частично поглощается на пути к поверхности, при этом интенсивность выходящего излучения ослабевает. Наиболее важным механизмом поглощения являются электронные переходы внутри атома. Эти переходы, инициированные рентгеновским излучением, ведут к флуоресцентному, вторичному рентгеновскому излучению. В то время как интенсивность первичного рентгеновского излучения падает вследствие поглощения, интенсивность излучения атомов поглощающего элемента растет. Условием возникновения рентгеновской флуоресценции является значение длины волны X первичного излучения, меньшее чем длина волны края поглощения Ак. Поскольку в непрерывном спектре Я изменяется в широких пределах, некоторая часть спектра имеет Ж Як. [c.222]

Характер зависимости коэффициента поглощения от длины волны определяет в известной мере выбор излучения при структурном исследовании того или иного кристалла. Сильное поглощение в кристалле значительно уменьшает интенсивности дифрагированных кристаллом лучей (а следовательно, увеличивает экспозицию при съемке на фотопленку) кроме того, излучение флюоресценции, распространяющееся от кристалла во все стороны, вуалирует пленку, затрудняя оценку интенсивностей дифракций. Поэтому работать при длинах волн, несколько меньших Хкр, невыгодно следует избегать такого положения, когда длина волны лучей немного меньше длины волны края поглощения любого из элементов, входящих в состав исследуемого соединения. [c.157]

Длины волн краев поглощения элементов, расположенные в порядке возрастания [c.44]

Если построить зависимость интенсивности рентгеновского излучения от длины волны вблизи К-края поглощения элемента, то получится кривая типа приведенной на рис. 11-7. Скачок при длине волны края поглощения Хе не является строго вертикальным, а немного искривлен (как показано на рисунке) из-за того, что щель имеет конечную ширину. Количество определяемого элемента пропорционально расстоянию по вертикали между точками пересечения X и Y, которые находят путем экстраполяции. Для того чтобы оценить высоту скачка с хорошей точностью, нужно провести измерения на двух равноудаленных от границы поглощения длинах волн Я и Яг. Математические детали и обоснование этой методики дано в работе [9], где показано, что для многих элементов вплоть до концентраций 0,1 % относительная погрешность не превышает 1 %. [c.232]

Край поглощения хлора в этих соединениях смещается в коротковолновую сторону на величину, зависящую от химической природы адепта, располагающегося в молекуле в цис-положе-нии к атомам хлора. Природа транс-заместителя, как правило, мало влияет на положение границы поглощения хлора в молекуле. Наличие двойной связи между атомами углерода в молекуле также ведет к изменению длины волны края поглощения хлора, связанного с атомом углерода. Переход от соединения, в котором атомы углерода связаны простой связью, к молекуле с двойной связью вызывает небольшое смещение границы края поглощения в сторону коротких волн. Так, если длина волны С1 С1 [c.150]

На основании результатов исследования органических соединений, содержащих серу, можно такн е установить некоторые средние значения длин волн, характерные для ионов серы разной валентности. Эти величины отличаются от соответствующих значений длин волн, характеризующих атом серы той же валентности в неорганических соединениях. Такое различие, возможно, отражает большую степень чистоты гомеополярно связи между атомами в молекулах органических соединений. Единообразие в характере сил связи серы в органических соединениях обусловливает, повидимому, значительно большую устойчивость величин длин волн краев поглощения для двухвалентного иона серы в различных органических соединениях по сравнению с неорганическими. [c.151]

Большинство значений длин волн краев поглощения фосфитов и эфиров фосфористой кислоты, приведенных в табл. 30, близки к значению X = 5754,1 X. Исключение составляет лишь диэтилфосфит серебра, длина волны края поглощения фосфора в котором равна 5760,1 X. Для решения вопроса о структурной формуле каждого из этих соединений, а значит, для решения [c.154]

Рис. 35. Зависимость длины волны края поглощения 8 от междуатомного расстояния в соединениях.

Здесь проявляется следующая квантовая закономерность длина волны края поглощения соответствует наименьшему кванту излучения, необходимому для возбуждения характеристической линии, связанной с этим краем. [c.30]

Характеристические линии мишени иногда мешают возбуждению спектра рентгеновскими лучами. Эти линии полезны, если их длины волн короче (но лишь не на много) длины волны края поглощения, соответствующего возбуждаемой линии. В этом случае характеристические линии мишени очень эффективны, так как в возбуждающем пучке интенсивность их велика и они исключительно сильно поглощаются в образце. Такой благоприятный случай бывает не всегда. Иногда возбуждение линий мишени отнимает от непрерывного спектра энергию, которая могла бы пойти на возбуждение характеристической линии образца. В других случаях линия может накладываться на аналитическую линию образца. Такое наложение, возникающее в результате рассеяния образцом линии мишени, происходит не только при близости длин волн обеих линий, но и в случае, когда отра- [c.116]

Длина волны края поглощения 1,61 А, /С-край кобальта. [c.120]

На рис. 3 представлена зависимость т от X (поглотитель — сурьма). Заметно большое сходство этой зависимости с зависимостью, изображенной на рис. 2. При постоянном I с ростом % увеличивается т, причем до тех пор, пока К не превысит длины волны /(-края поглощения сурьмы (0,041 нм). После скачкообразного уменьшения массового коэффициента поглощения его величина снова начинает возрастать с ростом %. После того как % превысит длину волны /-края поглощения сурьмы (0,26 нм), происходит вновь скачкообразное уменьшение т, затем опять его возрастание с ростом % и т. д. [c.14]

Новые интересные области применения открываются перед, дифференциальной рентгеновской абсорбциометрией также с использованием тормозного рентгеновского излучения в связи с появившейся возможностью эффективно работать с полихроматическим излучением. Описан [178, 179] оригинальный способ абсорбционного рентгеновского анализа по скачкам поглощения определяемых элементов многокомпонентных смесей с непосредственным использованием тормозного рентгеновского излучения. В данном способе сравнивают ослабление излучения эталонным и исследуемым образцом, причем для того и другого измерения проводят повторно, изменив напряжение на рентгеновской трубке. Полученные при этом спектры излучения имеют граничные длины волн, располагающиеся на волновой шкале по разные стороны от длины волны края поглощения определяемого элемента. В качестве эквивалентного образца используется набор двойных клиньев. При просвечивании исследуемого образца полихроматическим излучением, спектр которого ограничен с коротковолновой стороны краем поглощения наименьшего по атомному номеру определяемого элемента, перемещением одинарного клина добиваются уравнивания интенсивностей рентгеновского излучения, прошедшего соответственно через анализируемый образец и одинарный клин. Затем, просвечивая исследуемый образец полихроматическим излучением, спектр которого ограничен с коротковолновой стороны краем поглощения элемента, присутствующего в образце и следующего по атомному номеру за определяемым (коротковолновая граница спектра ле- [c.134]

Следует выбрать самые интенсивные пики в коротковолновой области сканирования кристалла LiF и найти их длины волн. Используя полный справочник рентгеновских лучей, например [113], определить возможные элементы, которые могут дадать рассматриваемые пики в излучении Kai, 2 или Lai, 2-В параллель, используя данные о серии линий, полученные при качественном анализе с помош,ью спектрометра с дисперсией пО энергии, если какой-либо элемент уже предварительно связан с пиком Kai,2(n= ), исследователь должен сразу же отыскать сопутствующий им пик И снова отнощение интенсивностей Ка и должно равняться приблизительно 10 1. Однако из-за изменений в эффективности кристалла и детектора ожидаемое отношение может выполняться не всегда. Например, в спектре d (рис. 6.12) эффективность детектора с коротковолновой стороны Л"-края поглощения аргона приблизительно 2 раза выше. Следовательно, пик L i, интенсивность которого должна составлять примерно 60% от интенсивности La, на самом деле больше. Удвоение эффективности до /(-края поглощения аргона обусловлено тем, что в проточном пропорциональном детекторе рентгеновского излучения этого спектрометра используется газ Р-10 (90% Аг—10% метана). При заданных размерах детектора и давлении газа Р-10 некоторая часть рентгеновского излучения с длиной волны, большей, чем длина волны края поглощения, проходит через газ, не взаимодействуя с ним. Для рентгеновского излучения с длинами волн короче длины волны края поглощения большая часть (приблизительно в 2 раза) будет взаимодействовать с газом и, следовательно, будет обнаружена. Следует также отметить, что разрешения кристалл-ди-фракцнонного спектрометра с некоторыми кристаллами, например LiF и кварцем, дое-таточно, чтобы продемонстрировать по крайней мере некоторое разделение пика Ка на Kai и Ка.2 с отношением интенсивностей Ка. Ка2=2 . Если подобно этому рассматривать пик La, то следует искать полную L-серию. Необходимо отметить, что кроме тех L-линий, которые указаны на рис. 6.1 (т. е. Lai, 2, Lfiu L 2, L 3, L u Lyz, Li, Lv), благодаря прекрасному разрешению и отношению пик/фон можно обнаружить их больше. При идентификации серии линий возможна ситуация, когда из-за ограничений использования кристаллов по длине волны может быть обнаружен только главный пик (например, Gex с LiF, а Ge/ g лежит за пределами диапазона кристалла). С учетом этого факта в спектре, полученном с по- [c.294]

Длины волн краев поглощения, приводимые в таблицах, в основном, базируются на работах [30-33]. Недостающие значения длин волн -краев взяты из [34], М-краев рассчитаны по интерполяционной формуле [35] = ж где 2 — атомное число химического элемента, аиЬ — коэффициенты. Полученные по этой формуле данные отличаются от экспериментально измеренных значений не более, чем на 3 %. Длины волн УУгкраев поглощения < 10 А заимствованы из [36]. [c.356]

На рис. 35.2 приведена построенная по экспериментальным данным номограмма, позволяющая определять Нот в зависимости от 2 — атомного номера поглощающих атомов и Я. — длины волны излучения. Следует иметь в виду, что коэффициент поглощения как функция длины волны % испытывает скачки при X, равной X и т. д., гдeX, f,. .. —длины волн краев поглощения К-, -серий. Край поглощения определяется переходом из данного уровня на первый из незаполненных уровней, для которого выполняется условие дипольного поглощения. Значения краев поглощения для различных элементов приведены в табл. 35.2—35.4. Физически эти скачки в связаны с тем, что при А, < X. [c.809]

Значения длин волн краев поглощения для четырех- и шестивапент-иой серы в органических молекулах оказались равными 5001,9 и 4993,9 X соответственно. [c.151]

При обсуждении причин непостоянства длины волны края поглощения аниопов в этих соединениях следует учитывать, конечно, и некоторые специфические особенности последних, проявляющиеся, папрпмер, б виде их аномальных элоктрк-ческпх и магнитных свойств. [c.156]

Из соотношения (38) видно, что в ряде соединений серы и хлора, в которых остаются неизменными валентность этих элементов и тип кристаллической решетки в твердом состоянии, длина волны края поглощения аниона связана с междуатом-ным расстоянием г соотношением [c.159]

Здесь т — характерная для данного типа кристаллической решетки постоянная, проиорпиональпая поляризуемости ионов в соединении X — длина волны края поглощения атома в решетке, а Хда — длина волны края поглощения аниона при бесконечном удалении его от катиона. Величина отран ает те остаточные изменения в структуре электронной оболочки атома в соединении, которые отличают его от свободного и обусловлены характером воздействия па него со стороны соседей по решетке. Вообще говоря, эта величина должна быть различной для разных типов кристаллических структур. [c.159]

Рис. 34. Зависимость длины волны края поглощения С1 от междуатомного расстояния в соединениях со структурой типа Na l.

Сейчас еще преждевременно оценивать возможности, связанные с использованием намечающейся связп между значениями длин волн краев поглощения элемента в его соединениях и структурой молекул. Нам представляется, что успешное применение описанных закономерностей вряд лп окажется возможным без соблюдения сугубой осторожности в выводах и в трактовке следствий, вытекающих из обработки результатов эксперимента. Примеры таких поспешных и поэтому неверных выводов приведены и в настоящей работе (см., например, стр. 152). Однако использование своеобразных возможностей разобранного метода в сочетании с очевидной его простотой и доступностью в условиях современных рентгеновских лабораторий может оказаться полезным при разрсотении некоторых вопросов структурной химии, часто с трудом поддающихся разрешению другими методами, уже получившими широкое распространение. [c.163]

Рентгеновские фильтры. Для повышения спектральной избирательности в рентгеноспектральном анализе широко используются селективные фильтры, которые представляют собой тонкие слои из различных химических элементов. Действие их основано на различии в ослаблении излучений с энер-, гией фотонов меньше и больше энергии К- или Ь/л-краев поглощения элемента фильтра (см. рис. 2, 3). Подобрав подходящий материал фильтра и его толщину, можно достаточно полно отделить излучение с длиной волны больше длины волны 9-края поглощения фильтра от излучения с длиной волны меньше длины волны -края поглощения фильтра. Селективные фильтры — важная составная часть бескристальной аппаратуры, повышающая ее разрешающую способность. Примером применения селективных фильтров может служить отделение аналитических линий определяемых элементов от флуоресценции элементов с близкими, но более высокими атомными номерами в бескристальном рентгенофлуоресцентном анализе, когда дискриминационной способности сцинтилляционных или пропорциональных счетчиков в сочетании с дифференциальным амплитудным дискриминатором оказывается недостаточно. [c.45]

Аналогичные изложенным выше выводы могут быть сделаны и относительно селективного поглощения лучей. В тех случаях, когда длины волн края поглощения мешающего элемента и аналитической линии "ь определяемого близки, эффект селективного поглощения может достигать заметной величины. При большей разности длин волн его влияние резко уменьшается. Так, например, несмотря па то, чтoLIl— край поглощения бария (/- = 2200, [c.115]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология