Край полосы поглощения

В спектрах поглощения рентгеновского излучения наблюдаются скачки, так называемые края полос поглощения, которые и соответствуют длинам волн излучения с энергией, необходимой для того, чтобы выбить электроны (в основном с [c.9]

Таблица 5.1. Длины волн основных линий /(-серии, края полосы поглощения и потенциал возбуждения некоторых элементов

Вблизи краев полос поглощения атомный фактор изменяется [c.183]

И рост В замедляется и затем В начинает уменьшаться (соляризация). Этот эффект наблюдается либо в месте попадания первичного пучка рентгеновских лучей, либо в случае сильно переэкспонированных пленок. Зависимость I) от П показана на рис. 5, она различается для различных сортов пленки, но общий вид зависимости сохраняется. Зависимость от длины волны регистрируемого излучения определяется степенью поглощения и на ней выделяются края полос поглощения брома и серебра (рис. 6). При фотографической регист- [c.18]

Как уже отмечалось, закон Фриделя нарушается, если рентгеновские лучи попадают в область аномального рассеяния атомами одного из (или ряда) элементов, входящих в состав кристалла. Эта область определяется близостью длины волны рентгеновских лучей к краю К- или -полосы их поглощения элементом если Л, края полосы поглощения элементом несколько больще, чем X лучей, то рассеяние лучей атомами этого элемента сопровождается небольщим изменением их начальной фазы. Этот дополнительный сдвиг по фазе отражается, естественно, и на результирующей амплитуде дифракционного луча. [c.98]

Метод аномального рассеяния, основанный на сопоставлении амплитуд F(hkl) и F(hkl), не равных друг другу в условиях, когда длина волны рентгеновского излучения близка к краю полосы поглощения одного из атомов исследуемого кристалла . [c.147]

Спектр PbS был измерен в области 1000—10 000 см- . Замечено, что при изменении температуры изменяется край полосы поглощения и порог фотопроводимости. [c.133]

Изучение оптических свойств полупроводниковых монокристаллов показало, что край полосы поглощения при скорости их роста не более 1,7-Ю-з м/с соответствует диапазону длин волн от 240 до 350 мм и зависит от типа и концентрации примеси. В ИК спектрах кристаллов, легированных бором, наблюдались полосы поглощения с максимумами 2,3—2,8 мкм, которые связывают с одиночными атомами бора, а также системы полос 7,8 и 7,4 мкм, обусловленные примесью азота в комплексной и парамагнитной формах соответственно. [c.460]

Льюис [59] исследовал с помощью различных методов, в том числе адсорбции водорода, рентгеновской спектроскопии края полосы поглощения и уширения рентгеновских дифракционных линий, катализатор с 0,5% Р1, восстановленный (после обмена с цеолитом Са2+-13 ) при 570 К. Исследования показали, что около 60% платины в виде частиц диаметром - 1,0 нм, по-видимому, располагаются в основных полостях цеолита, в то время [c.202]

Рентгеновская спектроскопия края полосы поглощения. Явление краевого поглощения элемента возникает в том случае, когда энергия падающего фотона достаточна, чтобы выбить электрон с атомного уровня. Наблюдаемая тонкая структура краевого поглощения зависит от свойств возбужденного электрона. Например, для Ьз-края полосы поглощения платины — одного из трех Ь-краев полосы поглощения, которые связаны с возбуждением 2р-электрона — тонкая структура в длиноволновой области (поглощение Косселя) обусловлена переходом электрона на неполностью заполненные Ъй- и б5-уровни (правила отбора Д/= = 1), в то время как тонкая структура в коротковолновой области (поглощение Кронига) обусловлена взаимодействием электрона с соседними атомами. Поэтому характер тонкой структуры становится зависимым от химического окружения атома. [c.375]

В — постоянная, определяемая скачком поглощения анализируемого элемента и массовым коэффициентом поглощения фотонов с энергией выше /(-края полосы поглощения анализируемого элемента [c.158]

Книга представляет собой очередной том серии Катализ , хорошо известной советскому читателю. В настоящий, двенадцатый, том включено шесть обзорных статей, посвященных новым теоретическим и экспериментальным методам изучения катализа. В них рассматриваются следующие вопросы использование краев полосы поглощения К-серии рентгеновского спектра для изучения каталитически активных твердых веществ, применение нового метода дифракции электронов для изучения катализаторов, молекулярная специфичность в физической адсорбции. Весьма интересна статья, посвященная технике магнитного резонанса в каталитическом исследовании автор рассматривает отдельно ядерный магнитный резонанс и электронный парамагнитный резонанс — методы, которые позволяют получить ценные сведения о микроскопических свойствах твердых тел. [c.4]

Для любого вещества существует такое значение длины волны Як края полосы поглощения, когда коэффициент поглощения начинает скачкообразно возрастать при уменьшении длины волны. Это обусловлено тем, что к поглощению рентгеновских..лучей, связанному с определенной электронной оболочкой, добавляется погло щение, обязанное электронам более глубоких внутренних слоев. Особенно значителен скачок, вызванный поглощением электрона ми К-серии. [c.155]

Метод анализа по характеристическому излучению был применен, например, для установления ядерной изомерии брома [279]. Чтобы отличить рентгеновское излучение брома от излучения селена и криптона, необходимы две системы характеристических фильтров. Для анализа излучения брома и селена используются фильтры из селена и мышьяка. Сравнение полос поглощения селена и мышьяка с длиной волны (/Са, и Ка ) селена показывает, что последняя больше длины волны края полосы поглощения селена и мышьяка. Вследствие этого рентгеновские лучи селена должны поглощаться в этих фильтрах почти одинаково. В случае же брома длина волны (/Са, и Ка,) брома больше, чем длина волны края полосы поглощения селена и меньше, чем длина волны края полосы поглощения мышьяка. При этом рентгеновские лучи брома будут сравнительно слабо поглощаться селеном и сильно — мышьяком. Более сильное поглощение исследуемых лучей в мышьяке свидетельствует о принадлежности их либо брому, либо криптону. Что- [c.156]

Абсорбционный вариант метода основан на использовании зависимости коэффициента поглощения для фотонов с энергией, близкой к К- или -краю полосы поглощения, от порядкового номера элемента. При этом проба последовательно облучается пучками фотонов монохроматического излучения с энергией, несколько меньшей и большей К- или Ь-края полосы поглощения анализируемого элемента, и по степени поглощения каждого из этих излучений в пробе определяется содержание анализируемого элемента. Пучки фотонов нужной энергии получают, облучая определенные элементы первичным излучением от радиоактивного изотопа. Интенсивность излучения, прошедшего через образец, измеряется с помощью сцинтилляционного спектрометра. Анализ [c.157]

Край полосы поглощения. Частота, соответствующая нарушению непрерывности или пределу спектра поглощения. [c.91]

Инфракрасное поглощение германия около края полосы поглощения решеткой. [c.155]

Тонкая структура края полосы поглощения германия. [c.181]

Если электрон выбивается с /5-уровня, то говорят о/Г-крае полосы поглощения, если же с уровня 2 - 2р-тоо6 LJ - л -краях. В интервалах между краями полос поглощения коэффициент поглощения зависит от длины волны Л и порядкового номера поглощающего элемента г [c.10]

Атомную структуру в-ва можно исследовать с помощью т. наз. EXAFS-метода (рентгеновской спектроскопии на краю поглощения), в к-ром исследуемое в-во облучают синхротронным излучением с длиной волны, соответствующей краю полосы поглощения к.-л. атома (или атомов) в структуре. Тогда по полученному спектру поглощения получают данные о расположении атомов в окрестности выбранного атома (атомов). [c.100]

Серьезным ограничением использования моментов для характери-стнкн спектров поглощения являются трудности с определением пределов интегрирования, а также необходимость точного измерения спектра на крыльях полосы, т. е. при весьма низких значениях оптической плотности. Последнее обстоятельство связано с тем, что моменты высших порядков (/ > 2) определяются в основном краями полосы поглощения. [c.7]

Значительное внимание уделено фотохромным свойствам висмутсодержащих соединений. Фотохромный эффект наблюдается в германате висмута, допированном галлием. Это одна из нескольких добавок, которая электронно компенсирует глубокие донорные центры, ответственные за желтое окрашивание германата висмута светом. Серию допированных галлием кристаллов, выращенных методом Чохральского, облучали светом возле края полосы поглощения при низкой температуре. Глубокие донорные центры исчезали при концентрациях галлия на уровне 3—4 %. Возбуждение при 10 К светом с энергией 3,3 эВ приводило к появлению фотохромных полос [c.292]

Суть метода ИКС для определения коэффициентов перенапряжения состоит в следующем [3.7—3.12]1 Для определения напряжений на межатомных связях используется эффект смещения собственных частот валентных колебаний под действием нагрузки (рис. 3.1). Почти все опыты проводились на кристаллических полимерах (волокнах, пленках). Наименее перегруженные цепи находятся в кристаллических областях полимеров и считается, что нагрузка в кристаллах примерно равна внешней (т. е. коэффициент перенапряжения х=1). Отсюда следует, что смещение максимума полосы поглощения Дут1п пропорционально приложенному к образцу напряжению растяжения. Смещение края полосы поглощения А тах соответствует самым перегруженным цепям, которые в отсутствие микротрещин находятся в аморфных областях кристаллического полимера, а при наличии микротрещин — в областях концентрации напряжений в их вершинах. Так как %о зависит от структуры полимера, а Р — от длины начальных микротрещин, то результаты различных авторов практически не сопоставимы. [c.43]

UTO край полосы поглощения заметно сдвигается при изменении температуры, в то время как положение длинноволнового хвоста изменяется оченр мало. При экстраполяции температуры к Т = 0° К ширина запрещенной зоны равна 0,775 эв. Для AlSb острый край полосы поглощения расположен при 12 220 см-. При комнатной температуре это соответствует ширине запрещенной зоны 1,52 эв. [c.57]

Для определения среднего размера частиц в основном применяют два рентгенографических метода а) уширение дифракционных линий, в котором используются данные о форме пика одной или нескольких дифракционных линий исследуемого вещества (следовательно, метод специфичен для определенного компонента) б) малоугловое рассеяние (в принципе все частицы дисперсного твердого тела дают вклад в рассеяние, но практически рассеивающая способность компонента зависит от химической природы, поэтому возможна некоторая специфичность, которую молчно увеличить специальными приемами). Спектроскопия края полосы поглощения и метод радиального распределения [193, 194] могут дать дополнительные сведения о дисперсности металлического катализатора, но для количественного определения размера частиц они непригодны. Подробно технику рентгенографических измерений описали Клуг и Александер [195]. [c.369]

Известно, что на вид края полосы поглощения влияет толщина поглощающей среды [219, 220]. В то же время Льюис [221, 222] наблюдал изменение Ьз-края полосы поглощения платины в катализаторах Р1/т1-Л120з, Р1/цеолит X и Pt/цeoлит У, обусловленное частицами небольшого размера. Тем не менее систематически эффект размера частиц на рентгеновскую спектроскопию края полосы поглощения, по-видимому, не исследовался, хотя в принципе метод может оказаться ценным для выявления природы влияния размера частиц на электронные свойства. Сообщалось также о влиянии адсорбции газа на К-край полосы поглощения никеля в некоторых нанесенных катализаторах [223, 224]. [c.375]

Определяется она по изме 1ению сопротивления с ростом температуры или оптическими методами (край полосы поглощения, длинноволновая граница фотопроводимости). Значение Eg зависит от температуры и давления эта зависимость определяется коэффициентами ./.= йЕ /йТ и ар = dEg/dP (коэффициенты изменения ширины запрещенной зоны с изменением температуры и давления соответственно). [c.341]

Если выбрать два элемента — стандарта, удовлетворяющих условию Як, < Я < Я.К2 (где Як, и Як — края полос поглощения, а Я — длина волны исследуемого излучения), и из таких веществ сделать фильтры для рентгеновских лучей, то очевидно, что исследуемый элемент будет поглощать рентгеновские лучи сильнее, чем элемент с Як. На рис. 46 изображен характер изменения коэффициентов поглощения в двух веществах (линии А и В), у кототых скачок поглощения происходит при длинах волн Як, и Як,. Если длина волны края полосы поглощения исследуемого элемента лежит между Як, и Як2, то коэффициенты поглощения исследуемого излучен ния в обоих стандартных образцах будут отличаться на величину М М. В случае, если Я < Я , < Як или Я>Як, > Як,, различия в [c.156]

В таблице значений ширины запрещенной зоны приводятся сведения о характере объектов, на которых производились измерения. Термический метод дает величину запрещенной зоны при абсолютном нуле, в то время как оптический — при температуре измерения. Если в таблице указано значение, определенное оптическим методом при абсолютном нуле, это означает, что производились измерения температурной зависимости края полосы поглощения и результаты экстраполировались на нулевую температуру. Для гомеополярных веществ, к которым относятся все элементы, оптическая и тер1мическая ширина зоны должна совпадать. Вследствие влияния температурной подвижности на термическую ширину зоны,. что не всегда может быть правильно учтено, более надежными являются оптические измерения. [c.7]

Стеклянные фильтры типа ЖС, ОС, КС также обязаны своими свойствами присутствию мельчайших полупроводниковых кристалликов Сс18—С(18е. Положение края полосы поглощения этих стекол определяется относительным содержанием серы и селена в смешанных кристаллах. [c.238]

Поскольку большая часть п— я полос полициклических азинов проявляется только в виде плеча на длинноволновом склоне я->я полос (например, рис. 10), то та частота, при которой коэффициент экстинкции имеет небольшое значение на краю полосы поглощения, может быть приближенно принята за экспериментальную меру энергии п- п перехода для ряда азинов в целом. Эту экспериментальную частоту я— я перехода в азинах можно связать с переменными величинами правой части равенства (10) Е и выразив величины Даля в единицах эмпирического инте- [c.344]

Недавние структурные работы в Клермонте были посвящены исследованию некоторых иодидных комплексов ртути(П) с ионом тропплия. Необходимо было работать с рентгеновской трубкой под напрян<ением, при котором получалось бы жесткое излучение с энергией, недостаточной, чтобы вызвать флуоресценцию атомов иода. Вычислите приближенно край полосы поглощения для иода, а также длину волны /< . Какое напряжение на рентгеновской трубке будет удовлетворять указанным выше условиям (У 30000 В.) [c.50]

Образцы р- и / -тииа антимонида галлия [164] и аити-монида алюминия [163] не проявляют того аномального поведения в изменении края полосы поглощения от образца к образцу, которое наблюдалось для образцов антимонида индия. Для GaSb край полосы поглощения находится в области 5556—6667 слг . Измерения, проведенные при температурах 10, 80 и 300° К, показывают, [c.56]

Длины волн, при которых происходит скачкообразный подъем кривой (край полосы поглощения), равны, как показывает опыт, длинам волн у границы возбуждения /С-серии германия и серебра (/С-скачок) Xk=12,AJUq. [c.149]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология