Ширина спектральных дублетов

ШИРИНА СПЕКТРАЛЬНЫХ ДУБЛЕТОВ 139 [c.139]

Ширина спектральных дублетов [c.139]

ШИРИНА СПЕКТРАЛЬНЫХ ДУБЛЕТОВ [c.141]

Сравнение с табл. 33 показывает, что обратная пропорциональность ширины спектральных дублетов кубу эффективных квантовых чисел выполняется гораздо лучше, чем обратная пропорциональность кубу главных квантовых чисел. [c.144]

Таким образом, надо считать, что эмпирический материал подтверждает обратную пропорциональность ширины спектральных дублетов кубу эффективных квантовых чисел. [c.144]

Для измерений абсорбции используют резонансный дублет алюминия 309,3 нм. При этом спектральная ширина щелей должна быть не более 0,7 нм (для отделения измеряемой линии от соседней линии с длиной волны 308,2 нм). В указанных выще условиях может быть достигнут предел обнаружения алюминия, равный 2 пг. [c.167]

Помимо размеров кристаллитов и микронапряжений расширение линий на рентгенограммах вызывается дублетностью Ка-излучения и рядом факторов, зависящих от условий съемки (например, при съемке на дифрактометре экспериментальная ширина линии зависит от размеров щели счетчика и т. д.). Для учета этого расширения (инструментальной ширины Ь) применяют съемку со стандартом, для которого расширение линии обусловлено только условиями съемки и спектральной шириной дублета Ка, а,- Достаточно ТОЧНО ВЫЧИСЛИТЬ истинную ширину линии по экспериментально найденной ширине В и ширине линии стандарта Ь можно только, зная функции, описывающие распределение интенсивности дифракционной линии исследуемого вещества F(х) и стандарта f x), так как [c.149]

Для практического применения описываемого метода построения характеристической кривой нет необходимости полного воспроизведения контура исследуемой спектральной линии. При использовании микрофотометра (например, типа МФ-2) необходимые для построения кривой экспериментальные данные могут быть получены гораздо проще и точнее, если придерживаться следующей методики измерения. После проверки параллельности линии на рассматриваемой спектрограмме и щели фотометра измеряют величину Г, характеризующую ее неискаженный профиль в шкале интенсивности. Для этого можно воспользоваться, например, линией спин-дублета (или одним из других, изложенных выше методов) и найти ширину /С 1-линии как разность двух показаний нониуса микро метрического винта, осуществляющего перемещение каретки фотометра, несущей спектрограммы. Измерение ширины линии проводится на том уровне почернения, который соответствует почернению пика /(аг-линии. При работе с приборами обычной дисперсии эта величина оказывается порядка 0,1—0,2 мм и может быть измерена на фотометре с точностью 2—3%, Как показывает опыт, изменение ширины прецизионной щели фотометра в пределах 0,2—0,5 мм не приводит к заметным изменениям результатов измерения. Поэтому имеет смысл пользоваться более широкими щелями, использование которых делает результаты фотометрирования мало зависящими от неравномерности распределения зерен фотоэмульсии. В наших опытах применялась щель шириной 0,4 мм при увеличении р двадцать раз. [c.53]

Ландэ дал несколько иную формулу для ширины спектральных дублетов, чем формула (3) При выводе своей формулы он исходил из модельных представлений о проникающих орбитах. Проникающие орбиты, как было указано, состоят из двух петель, каждая из которых представляет почти замкнутый эллипс. Принимая эти петли за вполне замкнутые эллипсы, имеем, что один из них, лежащий вне атомного остова, характеризуется главным квантовым числом и соответствует кулонову полю от точечного заряда - -Zдe другой — лежащий внутри атомного остова, характеризуется другим главным квантовым числом л и соответствует полю от заряда Эти [c.142]

Процессы самопоглощения часто приводят к изменению формы и ширины спектральной линии. Края линии поглощаются в меньшей степени, чем центральная часть. При возрастании концентрации элемента центральная часть линии может быть полностью поглощена. Такая линия принимает вид дублета и называется самообращепной. [c.28]

Для целей рентгеноспектрального анализа метод ширины спектральной линии был впервые использован И. Б. Боровским [73], который применил его для анализа свинца, вольфрама и никеля. В качестве линий сравнения использовались 2-линии висмута и золота, а также /< 1,2-дублет цинка. Так же, как и в работе Коннера, Боровский осуществлял анализ при помощи градуировочной кривой, представляющей зависимость ширины линии эле- [c.90]

НИИ тантала по сравнению с линиями сравнения (5п/,-) х может быть использован любой из В большинстве случаев особенно удобно применение метода ширины спектральной линии . Для нахождения полуширины а -линии тантала и используемых для проведения анализа линий олова удобно воспользоваться методом ложного дублета , роль которого играет Л ьз-дублет меди, располагающийся во втором порядке отражения рядом с аналитическими линиями элементов. При этом существенпо, что фон рентгенограммы во всей рассматриваемой области спектра остается практически неизменным. Ввиду этого возможно, подобрав условия опыта таким образом, чтобы почернение каждой из упомянутых линий олова или тантала последовательно оказалось на спектрограммах равным почерне- [c.199]

Рассмотрим теперь вкратце влияние нестационарных магнитных полей на относительную интенсивность спектральных линий в случае комбинированного магнитного и электрического сверхтонких взаимодействий [119, 123]. Пусть, например, из-за релаксационных процессов величина магнитного поля на ядре скачком меняется с +/г на —Н. Если предположить, что направление магнитного поля с точностью до знака совпадает с направлением оси градиента электрического поля, то такие флуктуации не вызовут переходов между ядерными подуровнями [123]. Если частота флуктуации магнитного поля мала по сравнению с частотой прецессии ядерного спина в поле /г , то картина расщепления будет соответствовать рис. 1.30,а, а относительные интенсивности компонент для изотропных поликристаллических образцов определятся выражением (1.147). С другой стороны, если частота флуктуаций поля Л много больше частоты прецессии ядерного спина, то ядра чувствуют некоторое среднее значение поля ко, которое равно нулю в случае вырожденного состояния электронной оболочки иона. При этом сверхтонкая структура спектра обнаруживает чистый дублет (переход /г -> /г), т. е. спектр становится квадрупольным (рис. 1.30, ), с равной интенсивностью обеих линий. Как уже указывалось выше (рис. 1.29), в мессбауэровском спектре поглощения одна из линий квадрупольного дублета соответствует переходам /г -> V2, а вторая — переходам /г -> V2, TV2 -> V2. Частота прецессии ядерного спина I = /г с /и = /г втрое больше частоты прецессии ядерного спина / = /2 с т = /г. Отсюда следует, что при уменьшении среднего значения поля Ъо на ядре скорость группировки линий магнитной структуры, соответствующей переходам /г и /2 2, +V2 -> /2, около положений двух линий чисто квадрупольного спектра будет различной. Учитывая конечную ширину спектральных линий, получаем, что в некотором интервале величин средних полей йо (а следовательно, частот флуктуаций поля Н) интенсивности линий в наблюдаемом спектре перестанут подчиняться выражениям (1.147) и (1.148). При этом линии, соответствующие переходам dьV2 V2, -> Уг, быстрее, чем для перехода /2 V2, группируются с уменьшением ко около их центра тяжести (положение которого определяет одну из линий квадрупольного спектра). В результате возникает различие в пиковой величине двух компонент квадрупольного расщепления при равенстве площадей под обеими пиками. Поскольку флуктуирующие [c.80]

Однако в противоположность УФС естественная ширина линий обычных источников рентгеновских лучей РФС довольно значительна и играет большую роль в определении полуширины экспфиментально наблюдаемых спектральных линий [27]. В РФС обычно используют рентгеновский дублет 011 2, а это рентгеновское излучение образуется в том случае, когда электроны падают из оболочек Ьц и Ьщ (спин-орбитальное расщепление 2р-атомных уровней) в дырку оболочки К (1.5-атомный уровень). Естественная ширина линий, связанная либо с переходом Ь,1 -> К, либо с переходом Ьщ К, составляет 0,7 эВ для рентгеновского излучения А1 в этом случае дублеты перекрываются, приводя к эффективной ширине 1,0 эВ. Магниевое рентгеновское излучение Хо(1а2 состоит из дублета шириной 0,8 эВ. Источники рентгеновских лучей с большими энергиями (например, Сг, Си или Мо) характеризуются шириной дублетной компоненты, превьппающей 1,0 эВ. Таким образом, эффективный предел ширины линий РФС устанавливается естественной шириной источника рентгеновского излучения, несколько модифицированной естественной шириной, связанной с уровнем, с которого происходит фотоионизация. Некоторые вклады обусловлены также недостатками приборов. При изучении твердых веществ экспфиментально наблюдаемая полуширина спектральных линий РФС для пиков С15, N5 , Рзр, 82 и подобных им составляет 1,5 эВ. Эксперименты РФС с газообразными веществами дают значительно более узкие линии. Например, полуширина линии Ые для газообразного неона составляет 0,8 эВ [27]. Разница в полуширине линий для газообраз- [c.335]

Помимо размеров кристаллитов и микронапряжений расширение линий на рентгенограммах вызывается дублет-ностью Kd -излучения и рядом факторов, завис51щих от условий съемки (например, при съемке на дифрактометре экспериментальная ширина линии зависит от размеров щели счетчика и Т.Д.). Для учета этого расширения (инструментальной ширины 3 ) применяют съемку со стандартом, для которого расширение линии обусловлено только условиями (Уьемки и спектральной шириной дублета Ко(. Достаточно точно вычислить истинную ширину линии по экспериментально найден- [c.230]

В этой области, будет соответствовать более широкая спектральная полоса, чем ширина линии поглощения атомов, окружающих дугу. В этих условиях центральная часть полосы излучения, испускаемого атомами в дуге, поглощается теми атомами, которые окружают дугу. Этот экстремальный пример самопоглощения, называемый самообращением, может усложнить качественный анализ. Самообращенная линия, такая как показана на рис. 20-20, состоит как бы из двух отдельных линий по каждой стороне от истинного положения эмиссионной линии (сравните эту самообращенную линию с дублетом линий натрия при 589 нм на рис. 19-5). [c.711]

В качестве примера покажем результат совместного действия эффектов Эберхардта и рассеяния света на вид инструментального контура спектрографа при разной ширине щели (рис. 12.9, в). Мы видим, что эти эффекты могут не только исказить измеряемую яркость спектральной линии, но и, подобно соляризации, превратить одиночную спектральную линию в дублет или изменить расстояние между составляющими мультинлета. [c.301]

Для выделения из непрерывного спектра линий Ка,а, применяют отражение от монокристаллической пластинки значительных размеров, вырезанной параллельно одной из хорошо отражающих атомных плоскостей. Луч, отраженный от подобной пластинки, состоит из монохроматизированного излучения, спектральная ширина которого лишь ненамного превышает спектральную ширину двух составляющих дублета Ка а, (обычно пользуются линией KaiOL,, так как это наиболее яркая линия /(-спектра). В качестве примесного излучения присутствуют лучи с длинами волн, меньшими основной в целое число раз, т. е. гармоники Х/2, i/3 и т. д. (с длиной волны больше Хмин по уравнению (2)). [c.31]

Наблюдающиеся в действительности рентгеновские Kai,2-линии атомов переходных элементов представляют собой результат наложения слегка смещенных друг относительно друга двух или большего числа линий спин-дублета. Эти линии появляются вследствие электронных переходов в атомах этих элементов, находящихся в различных валентных состояниях, соответствующих, например, различным окислам этих элементов в пределах единого испытуемого образца. Нетрудно поэтому понять, какое влияние будет оказывать на дублетное расстояние частичное восстановление или дальнейшее окисление вещества в процессе эксперимента. Такое воздействие должно будет неизбежно приводить к перемещению центра тяжести линий (грубо говоря, их максимума) в сторону того компонента суммарной кривой, интенсивность которого растет в пропессе частичного восстановления или окисления вещества. При этом, из-за неодинаковости взаимных смещений- компонентов в пределах каждой из линий Ка з-Дублета, в одном случае может наблюдаться кажущийся рост дублетного расстояния, а в другом — его уменьшение. Степень чувствительности Kai,2-линий различных элементов группы железа к внешним воздействиям, способным изменять валентное состояние элемента, должна быть, естественно, тем значительнее, чем большую склонность к образованию устойчивых разновалентных окислов проявляет элемент (марганец, железо в опытах Красникова) и чем дальше отстоят друг от друга соответствующие этим окислам комноненты суммарной линии испускания. С этой точки зрения не вызывают никаких недоумений и наблюдавшиеся Красниковым колебания в ширине соответствующих линий испускания. Ширина суммарной линии испускания, измеряемая экспериментально, не является, повидимому, для этой группы элементов истинной шириной индивидуальной спектральной линии и может весьма сильно изменяться вследствие выпадания большего или меньшего числа компонентов линии, зависящего от степени химической (в рассматриваемом смысле) однородности изучаемого вещества. Интенсивность же каждого из компонентов сложной по своему составу линии испускания пропорциональна числу атомов переходного элемента, участвующих в образовании того или иного окисла. [c.71]

На рис, 79 внизу схематически представлена структура резонансной линии 6707,8 А, а вверху дана схема переходов, объясняющая эту структуру. Исходя из рисунка, видно, что помимо изотопического смещения каждая спектральная линия изотопов Ы и расщепляется в результате мультиплетного расщепления верхнего терма на две компоненты а и Ь, с и ё. Однако вследствие равенства величин изотопиче- ского смещения и ширины расщепления коротковолновая компонента изотопа Ы совпадает с длинноволновой компонентой изотопа Поэтому в структуре линии 6707,8 А наблюдаются вместо четырех компонент три компоненты, из которых две крайние а и й принадлежат изотопам Ы и а средняя является суммарной компонентой Ь- -с тех же изотопов. Поскольку теоретическое отношение интенсивности дублетов 1а -1ь и с - равно 1 2, то при отсутствии самопоглощения соотношение интенсивности трех наблюдаемых компонент в естествен- ном литии выражается следующим образом [c.161]

Идентифицировать линии в спектрах ЯМР для гомодимеров или гомоолигомеров большей длины значительно сложнее. В спектре АрА имеются четыре пика от протонов ароматических колец и два дублета от Н-Г. Использование метода дейтериевого обмена позволяет отличить два пика, отвечающих Н-8, от двух пиков Н-2, а химические сдвиги протонов Н-Г различаются достаточно сильно, чтобы можно было их идентифицировать по положению в мономерах. Однако один серьезный вопрос остается нерешенным необходимо разграничить линии от протонов, принадлежащих 5 -аденозину (рА) и 3 -аденозину (Ар). Наиболее эффективный подход состоит в добавлении парамагнитных ионов Мп , которые, как известно, связываются прежде всего с фосфатными группами олигонуклеотидов. Парамагнитные ионы обладают большим собственным магнитным дипольным моментом, связанным со спином электрона. Этот диполь взаимодействует с ядерным диполем, что приводит к уширению спектральных линий соседних протонов. Эффект очень сильно зависит от расстояния, поскольку вероятности переходов, вызванных диполь-дипольным взаимодействием, изменяются обратно пропорционально шестой степени расстояния. Таким образом, проанализировав влияние Мп на ширину всех линий, можно оценить относительное удаление соответствующих протонов от фосфатной группы. [c.256]

При малых величинах (меньше 500 А) кристаллитов (точнее, блоков когерентного рассеяния) начинает появляться заметное расширение линий на рентгенограммах. Микронапряжения также вызывают расширение линий. Для дальнейшего рассмотрения следует дать определение ширины линии. Шириной линии называется ширина линии прямоугольного профиля, у которой максимальная и интегральная величина интенсивности равны интегральной и максимальной интенсивности экспериментальной линии, т. е. Р=/интДмах— отношению площади дифракционной линии к ее высоте (в радианах). Помимо размеров кристаллитов и микронапряжений расширение линий на рентгенограммах вызывается дублетностью К -излучения и рядом факторов, зависящих от условий съемки (например, при съемке на дифрактометре экспериментальная ширина линии зависит от размеров щели счетчика и т. д.). Для учета этого расширения (инструментальной ширины Ь) применяют съемку со стандартом, для которого расширение линии обусловлено только условиями съемки и спектральной ширины дублета К а, г- Достаточно точно вычислить истии- ную ширину линии р по экспериментально найденной ширине S и ширине линии стандарта Ь можно только, зная функции, описывающие распределение интенсивности дифракционной линии йв ледуемого вещества F(x) и стандарта )(х), так как [c.133]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология