Условия проведения анализа и аналитические линии

При анализе металлов широко применяются метод трех эталонов, метод постоянного графика, а также метод фотометрического интерполирования. Большое внимание уделяется подготовке пробы. На результаты анализа влияют форма, размеры и степень обработки поверхности площадки, которая подвергается действию искры, форма самого об )азца, его механические и физические свойства. Кроме того, для получения точных результатов должны более строго соблюдаться условия гомологичности аналитических линий. Как правило, элементом сравнения служит основной компонент сплава. Градуировочные графики строятся большей частью в координатах относительная интенсивность или относительное почернение — логарифм концентрации. На положение и наклон градуировочных графиков влияют состав сплава и условия проведения анализа. [c.116]

При открытии определенного элемента в пробе следует брать его наиболее чувствительную линию и затем соответственно выбирать другие условия проведения анализа. При полном анализе источник света и другие условия анализа подбирают таким образом, чтобы они подходили для большинства элементов. Тогда в качестве аналитической выбирают линию, которая наиболее чувствительна при этих условиях. [c.219]

Для обнаружения какого-нибудь элемента в неизвестном объекте обычно не требуется никакой предварительной подготовки если не нужна очень высокая чувствительность, качественный анализ можно проводить сразу. Совсем по-другому обстоит дело при проведении количественного анализа. Состав и структура анализируемой пробы оказывают очень сильное влияние на интенсивность спектральных линий. Поэтому не удается отыскать универсальные условия проведения анализа, пригодные для точного определения, заданного элемента в любых образцах. Для каждого вида анализируемой продукции приходится разрабатывать отдельную аналитическую методику, которая точно определяет все условия проведения анализа. [c.225]

Специальные наборы эталонов для анализа легированных сталей и сплавов цветных металлов выпускает лаборатория стандартных образцов. Эталоны готовят в специальных условиях, обеспечивающих их высокую однородность, и очень тщательно проверяют химическими и спектральными методами. К комплектам эталонов прилагают свидетельства, в которых указан химический состав эталонов по определяемым примесям с примерно одинаковым суммарным их содержанием. Приведена инструкция по применению комплекта эталонов с указанием условий проведения. анализа и длин волн аналитических пар линий, градуировочные графики для определения указанных в свидетельстве примесей элементов. Кроме того, эталоны могут быть подобраны из проб, взятых для текущих анализов. [c.107]

Использование характеристической кривой фотоэмульсии. Спектр эталона или образца фотографируется через ступенчатый ослабитель. На этой же фотопластинке фотографируются спектры эталонов и образцов в условиях проведения анализа. Величину у определяют, построив характеристическую кривую, используя аналитические линии или соседние с ними. Далее для эталонов и образцов находят значения lg- [c.110]

При подборе аналитической пары гомологичных линий фотографируют при выбранных условиях анализа спектры с. о. и находят в них достаточно интенсивные линии для каждого из определяемых элементов. Фотомет-рируя эти линии, строят графики в координатах интенсивность— концентрация. Не обращая внимания иа разброс точек, для каждого из элементов выбирают но две-три линии, которые при данных условиях анализа имеют наибольшую концентрационную чувствительность, т. е. дают наибольший наклон графика. Затем по таблицам спектральных линий и спектру находят подходящие для них линии сравнения, близкие по потенциалам возбуждения, длинам волн и интенсивности. Последнее желательно иметь для концентрации определяемой примеси на середине интервала его возможных значений в анализируемых образцах. Степень гомологичности проверяют экспериментально для каждой из выбранных пар линий. Незначительные изменения условий проведения анализа не должны влиять на величину относительной интенсивности гомологичных линий, поскольку их интенсивности в этом случае должны изменяться одинаково и синхронно. [c.173]

Спектральный анализ. Определение содержания примесей, сконцентрированных на графитовом коллекторе, производят спектральным методом трех эталонов. Условия проведения анализа описаны в общей части. Калибровочные графики строят в координатах почернение аналитической линии —логарифм концентрации. Содержание примесей в пробе в процентах (С) вычисляют по формуле [c.68]

В тех редких случаях, когда можно проводить анализ без применения эталонов, они, все же, необходимы для разработки метода анализа и контрольных определений. Безэталонные методы применяются тогда, когда зависимость между интенсивностью линий и концентраций элемента может быть представлена в простой аналитической форме, которая оказывается достаточно устойчивой к изменениям условий проведения анализа. Это имеет место в некоторых случаях изотопного анализа (см. часть 3). [c.29]

Условия проведения анализа и аналитические линии [c.151]

Если ступенчатый ослабитель поставить перед шелью спектрографа, то спектральные линии в спектре разделятся на участки (ступени). Интенсивность каждого участка будет выражаться произведением пропускаемости соответствующей ступени ослабителя на интенсивность линии / = а/о. Для того чтобы получить характеристическую кривую, необходимо сфотографировать спектр какой-нибудь пробы или спектр железных электродов при условиях возбуждения, тождественных условиям проведения анализа. Особое внимание обращается на равномерность освещения щели спектрографа и равномерность освещения вдоль спектральных линий в спектре. Пластинка тщательно проявляется с соблюдением условий возможно однородного проявления. При помощи микрофотометра МФ-2 фотометрируются спектральные линии, лежащие вблизи аналитической пары, используемой для анализа. Для построения характеристической кривой целесообразно выбрать линии различных яркостей, чтобы почернения различных ступенек этих линий охватывали значения 5 от 2,00 до 0,05. [c.84]

Составление инструкции является конечным этаном разработки методики. Необходимо четко указать условия проведения анализа, оговорить порядок операций, перечислить специфические для данной методики обстоятельства. Для отыскания аналитических линий надо приготовить фотографии или схемы области спектра, видимой в окуляр. Устанавливая очередность определения элементов, необходимо принимать во внимание различие во времени предварительного обыскривания. Например, при анализе на хром и кремний целесообразно вначале определять хром с меньшим временем обыскривания, а уже потом кремний, учитывая время действия искры при определении хрома. [c.218]

При предварительной подготовке пробы к анализу и введении ее в разряд необходимо соблюдать большую аккуратность, чтобы случайно не загрязнить анализируемую пробу. Необходимо проверить применяемые реактивы и электроды на отсутствие открываемых элементов. Обычно делают холостой опыт, при котором сохраняют неизменными все условия предварительной подготовки пробы и проведения анализа, но анализируемый образец вообще не вводят или вместо него вводят образец достаточно высокой чистоты. При холостом опыте в спектре должны отсутствовать аналитические линии открываемых элементов. Особенно тщательно производят проверку, когда открывают такие обычные элементы, как кальций, железо, натрий и т.д. [c.220]

Для определения ЗЬ в олове наиболее часто используются спектральные методы [782, 812, 900, 1684]. При проведении анализа с возбуждением спектров в дуге постоянного тока в атмосфере Аг, при большой скорости испарения предел обнаружения ЗЬ составляет 5-10 % [1684]. Описано [812] определение ЗЬ с использованием литых и порошкообразных образцов. Наряду с ЗЬ метод предусматривает определение еще 22 элементов с пределом обнаружения 5-10 —1 10- %. При строгой стандартизации условий возбуждения спектров и режима обработки фотопластинок при использовании аналитической пары линий ЗЬ 252,852— Вп 245, 523 нм можно работать по твердому графику [5821. Описано [1495] определение ЗЬ > 1.10 % в олове и его соединениях с применением квантометра с возбуждением спектров как в низковольтной дуге (940 в), таки в высоковольтной искре (14000 в). Ряд спектральных методов предложен для определения 8Ь в различных сплавах, содержащих олово, в том числе в свинцово-оловянно-сурьмяных [1210] и антифрикционных [1494], а также в оло- [c.142]

Перед началом записи спектров всех растворов серии, составленной для проведения одного анализа, показание пера самописца выводится по реперу (длина волны аналитической линии стандарта) в стандартное положение при одинаковом темновом токе. Выполнение этого условия можно заменить произвольной записью спектров всех растворов серии. В этом случае при расчете вместо абсолютной интенсивности в максимуме аналитической линии следует брать отношение интенсивностей линии определяемого вещества и линии стандарта. [c.293]

С методической точки зрения атомно-абсорбционный анализ также оказывается более гибким и простым, чем эмиссионный. Известно, что для проведения эмиссионного спектрального анализа новой категории веществ необходим весьма кропотливый выбор оптимальных условий измерения, гарантирующих требуемую чувствительность, точность, правильность и экономичность анализов. Сюда относятся выбор свободных от наложений и достаточно чувствительных аналитических линий, внутреннего стандарта и подходящих линий сравнения, выбор условий возбуждения и регистрации спектров (источников и режима возбуждения, способов введения проб в аналитический промежуток, времени предварительного обыскривания и экспозиции, спектральных приборов, ширины щели и пр.). Нередко эта процедура разрастается в продолжительное и трудоемкое поисковое исследование. [c.376]

В спектральном анализе методы планирования экстремальных экспериментов целесообразно использовать для решения следующих задач [10] оптимизации условий спектрального анализа с целью получения максимальной чувствительности или точности использования моделей, описывающих влияния валового состава на результаты анализа выявления систематических погрешностей и их учета создания рациональной системы стандартных образцов. В большинстве из имеющихся в настоящее время работ решается первая задача. Этому посвящена и одна из первых работ такого рода [11]. Использование метода крутого восхождения позволило авторам в результате проведения всего трех серий экспериментов увеличить величину аналитического сигнала (интенсивность линий) в 2,5 раза. [c.161]

При проведении анализа по методу стандарта фона поступают обычно следующим образом. Изготовляют серию искусственных смесей, состав которых близок к составу испытуемых проб и которые содержат известные количества определяемого элемента. Сходство состава проб и эталонов в данном случае необходимо для того, чтобы интенсивность фона на спектрограммах. полученных в идентичных условиях съемки от образца и от пробы с равными количествами определяемого элемента, была бы одинаковой. На основании данных фотометрирования линий на спектрограммах от эталонных смесей строится градуировочный график зависимости отношения интенсивности аналитической спектральной линии элемента к интенсивности фона около нее от концентрации искомого элемента в пробе. Обычно он представляет собой прямую линию, проходящую через начало координат. В дальнейшем при помощи этого графика осуществляется анализ неизвестных проб. [c.141]

В тех случаях, когда это представляется возможным, в качестве элемента сравнения в испытуемый образец домешивают элемент с ближайшим к определяемому атомным номером. При этом в качестве линий аналитической пары выбирают одноименные линии обоих элементов, одной и той же серии и одного порядка отражения. При таком выборе элемента сравнения поправки, связанные с различием в потенциалах возбуждения линий обоих элементов, их поглощением и фотографическим действием, оказываются минимальными, а результаты количественного анализа сравнительно мало зависящими от небольших колебаний в условиях проведения опыта. При менее благоприятном химическом составе анализируемой пробы, когда невозможно выбрать в качестве элемента сравнения ближайшие к определяемому элементы таблицы Менделеева, это ограничение может быть снято, и линией сравнения может служить линия далекого по атомному номеру элемента, любой серии, порядка отражения и наименования. Следует только стремиться к тому, чтобы разница в длинах волн линий аналитической пары [c.142]

Температура плазмы разряда определяет степень ионизации (л ) атомов примеси и основы и переход их в исходные для излучения возбужденные состояния (экспонента Больцмана). Изменение температуры в процессе проведения анализа приводит к нестабильности относительных интенсивностей аналитической пары линий и к ошибкам в анализе. Надежным средством получения достаточно стабильных условий возбуждения является использование источников возбуждения с хорошей устойчивостью работы. Однако идеальных источников нет, и необходимо иметь возможность в значительной мере ослабить влияние колебаний температуры на значения относительных интенсивностей. Для этой цели в качестве аналитических пар линий подбирают так называемые гомологические линии, т. е. линии, относительная интенсивность которых мало чувствительна к изменению условий возбуждения. Такими линиями будут, строго говоря, линии, удовлетворяющие двум условиям 1) эти линии должны иметь одинаковые или достаточно близкие потенциалы возбуждения Е,-, чтобы экспоненциальный множитель в (4.3) был близким к единице 2) атомы элементов, линии которых входят в аналитическую пару, должны иметь близкие потенциалы ионизации, что определяет близкие значения сте- [c.74]

Пример. В качестве примера работы со стилометрами приведем случай построения аналитических кривых для определения хрома в легированных сталях. Условия работы следующие аналитическая пара линий Сг 5208,4— Ре 5227,2, возбуждение для стилометра СТ-1 —искровой генератор ИГ-2 по простой схеме С = 0,01 цф. /- = 0,01 мгн для стилометра СТ-7—дуговой генератор ДГ-2 при токе 4а, межэлектродный промежуток 2,5 мм, вспомогательный электрод медный. Вид аналитических кривых представлен на рис. 42. Следует отметить, что в стилометре СТ-7 яркость спектра несколько меньше, чем в СТ-1, из-за большого количества оптических деталей. Поэтому для проведения анализа рекомендуется использовать источники возбуждения, дающие интенсивные спектры, например дугу переменного тока (генератор ДГ-2) или конденсированную искру в простой схеме при небольшом числе вспышек искры в полупериод тока. [c.82]

Для того чтобы это аналитическое выражение имело смысл и для второй прямой, мы введем стрелку, указывающую направление этой линии, и теперь расстояние от Л до 5 в приведенном выше примере можно считать положительным, а расстояние от 5 до С — отрицательным и т. д. Мы видим, что при этом условии выражение АЕ=АВ- -ВС- -- - D- -DE справедливо независимо от порядка расположения точек на прямой. Подобным образом, на диаграмме путей мы также указываем направление прямой для того, чтобы отразить различие между зависимыми и независимыми переменными в соответствии с результатами проведенного анализа. [c.229]

При проведении количественного спектрального анализа следует выбирать такие условия возбуждения атомов и выхода свечения из облака источника света, при которых измеряемая относительная интенсивность аналитической пары линий зависит только от концентрации определяемого элемента. [c.247]

При проведении количественного спектрального анализа получают в одинаковых условиях спектры паров проб и эталонов с известным содержанием определяемых элементов. После измерения в спектрах паров эталонов интенсивностей линий аналитических пар строят градуировочный график зависимости относительной интенсивности спектральных линий от концентрации определяемого элемента. По градуировочному графику определяют содержание элемента в пробах по относительным интенсивностям спектральных линий в их спектрах. [c.11]

Аналитические пары спектральных линий. Наличие зависимости интенсивности спектральных линий от концентрации атомов в плазме разряда (кривая роста) указывает на возможность проведения количественного анализа. Однако необходимо учитывать целый ряд явлений, искажающих эту зависимость и нарушающих правильность количественного определения. Действительно, интенсивность спектральных линий зависит от условий возбуждения в плазме разряда (сила разрядного тока, индуктивность разрядного контура, мощность и продол- [c.28]

Работы Скотникова и др. [307—310] посвящены использованию эмиссионного спектрального метода для определения азота в металлах и окислах металлов. Используется зависимость логарифма отношения интенсивности аналитической линии N II 3995 А к интенсивности фона, расположенного близ нее, от концентрации при различных условиях проведения анализа и объектов различной природы. Установлено, что оптимальными условиями для определения азота являются следующие емкость искрового контура 300—400 мкф, индуктивность 5—10 мкгн, давление СО в разрядной камере 200—300 мм рт.ст. Сделаны попытки создать единые условия определения азота для широкого круга металлов (Сг, Ti, V) и их сплавов с использованием нестандартного генератора низковольтной искры и вакуумной камеры [308]. [c.125]

Аналитические пары линий. Условия проведения спектрального анализа (источник возбуждения спектра, время экспозиции, чувствительность фотопластинки и др.) влияют различным образом не только на интенсивность отдельных линий, но и на всю область спектра. Поэтому для контроля за изменением всего спектра выбирают одну спектральную линию, интенсивность которой не изменяется с изменением концентрации определяемого элемента. В качестве спектральной линии постоянной интенсивности обычно берут линию основы в образце, если концентрация основы остается приблизительно постоянной при содержании различных концентраций иримесей. Такая линия основы называется линией сравнения, или линией внутреннего стандарта. В качестве линии сравнения иногда берут линию вводимого в пробу какого-либо элемента в определенной постоянной концентрации в этом случае определение в образцах вводимого элемента исключается. [c.8]

Исследованы условия проведения реакций хлорирования (с Ag l) при анализе в полом катоде. Установлено, что хлорирование приводит к повышению интенсивности линий примесных элементов в спектре, а также улучшению некоторых других аналитических особенностей использования этого источника возбуждения. [c.151]

Данные по влиянию V при проведении анализа Bi20з для двух значений / и других постоянных условий приведены на рис. 4. Здесь по оси абсцисс отложено отношение /г, где /=30 мм, т. е. время т, необходимое при экспонировании электродов с 1 = 30 мм. Видно, что о оказывает существенное влияние на относительную интенсивность / аналитических линий, причем характер полученной зависимости связан с / дуги. Если для небольшой I с уменьшением V (увеличение т) имеет место монотонное возрастание /, то для большей I имеет место максимум при т = 30 с для всех элементов. Это связано с тем, что при большой / уровень фона растет сильнее, чем I линии. [c.28]

При ЭМИССИОННОМ спектральном анализе в дуговой или искровой плазме разряда происходят сложные процессы испарения, возбуждения, диффузии и излучения исследуемого объекта. Интенсивность аналитических линий в этом случае является функцией большого числа различных взаимодействующих, часто — трудноучитываемых переменных факторов. Это обстоятельство не только затрудняет изучение роли каждого из этих факторов, но и приводит к чрезвычайно трудоемкой работе по выбору оптимальных условий проведения спектрального анализа при разработке аналитических методик. Выборочные оптимальные условия являются в значительной мере условными, поскольку учесть все влияющие факторы и выделить из них доминирующий весьма трудно [1]. [c.160]

Изучение зонной неоднородности. Как известно используемые в атомно-абсорбционной практике пламена характеризуются зонной неоднородностью. Эти свойства пламен требуют для подбора оптимальных условий определения элементов выбора таределенной зоны пламени. Так, при определении кальция наибольшая чувствительность достигается только в том случае, если узкий пучок, света пропускается через пламя у его основания. Изучение зонной неоднородности пламен в настоящее время про.водится в атомно-абсорбционном анализе фотоэлектрическими способами. Для этого, применяя узкий пучок света, перемещают горелку вместе с пламенем, измеряя оптическую плотность тех или иных его участков. Фотографический способ регистрации дает возможность изучать зонную неоднородность более простым приемом. Суть его практически та же, что и при изучении распределения возбужденных атомов в дугах, осуществляемая их проекцией на щель спектрографа. Для его проведения пламя размещается непосредственно перед щелью спектрографа, которая освещается по всей высоте светом источника излучения. В этом случае получается изображение аналитической линии, распределение почернения которой по высоте соответствует распределению по высоте пламени его оптической плотпо-сти [c.47]

ВИЯ лучей различных длин волн и других, приводят к тому, что при работе с фокусирующими спектрографами анализ элементов первой половины таблицы Менделеева, от И Ыа до 47 Ag, выгодно проводить по линиям /С-серии, а анализ более тяжелых элементов—с атомными номерами от 40 до 92 — по линиям -серии. Линии УИ-серии используются для аналитических целей редко. Иногда целесообразно их использовать при определении содержания наиболее тяжелых элементов, таких как 90 ТЬ или 92 и. При указанных ограничениях в выборе аналитических линий их потенциал возбуждения никогда не превыщает 20—25 кв для К- и -серии и 5,5 кв для линий 7И-серии, а также обеспечиваются наилучшие условия для фютогра-фической регистрации рентгеновских лучей. Так, применение линий -серии для проведения анализов в длинноволновой области рентгеновского спектра ( 3,5 А) позволяет использовать до 95% падающей на пленку энергии, в то время как для линий /С-серии этот коэффициент не превышает 10-20%. [c.130]

Анализ элементарного состава веществ по методу выравненных почернений является одним из наиболее точных. При некотором навыке в работе и тщательности проведения анализа можно осуществлять количественное определение содержания элемента в пробе с точностью порядка 1—2%. Важнейший недостаток метода—его трудоемкость и длительность, связанные с необходимостью в процессе уравнивания интенсивностей линий мнс-гократного повторения анализа смесей с различным содержанием элемента сравнения. Поэтому описываемый аналитический прием мало, а подчас и совсем неприменим для практического использования в условиях, требующих проведения большого числа определений или достаточной экспрессно-сти анализов. В связи с этим за последнее время все большее распространение начал получать метод построения градуировочного графика, который в совокупности с одним из современных методов определения относительной [c.144]

НИИ тантала по сравнению с линиями сравнения (5п/,-) х может быть использован любой из В большинстве случаев особенно удобно применение метода ширины спектральной линии . Для нахождения полуширины а -линии тантала и используемых для проведения анализа линий олова удобно воспользоваться методом ложного дублета , роль которого играет Л ьз-дублет меди, располагающийся во втором порядке отражения рядом с аналитическими линиями элементов. При этом существенпо, что фон рентгенограммы во всей рассматриваемой области спектра остается практически неизменным. Ввиду этого возможно, подобрав условия опыта таким образом, чтобы почернение каждой из упомянутых линий олова или тантала последовательно оказалось на спектрограммах равным почерне- [c.199]

Измерение всякой физической величины производится с некоторой погрешностью. В случае измерения концентрации какого-либо элемента в пробе при количественном спектральном анализе источников погрешностей много. Уже в самоА4 начале при подготовке пробы к проведению анализа не совсем правильная заточка электродов, установка их с несколько иным промежутком приводят к изменению условий разряда и к изменению относительных интенсивностей линий аналитической пары. Неоднородности фотографической пластинки, неоднородность ее проявления, ошибки при фотометрировании дают ошибки в определении относительных интенсивностей по их почернениям на фотографической пластинке. Все такие погрешности случайным образом накладываются друг на друга и определяют ошибку в конечном результате. [c.113]

Как мы уже говорили, нри аналитических измерениях определяются не абсолютные интенсивности спектральных линий, а величины, им пропорциональные. Для правильного построения ио этим измерениям градуировочного графика и проведения анализов необходимо точное воспроизведение условий возбуждения и регистрации спектров эталонов "и проб. Чем выше требования к точности анализов, тем труднее достичь необходимого постоянства условий получения всех спектров. Однако требования к постоянству условий возбуждения и регистрации могут быть значительно ослаблены, если мы вместо того, чтобы измерять световую энергию, соответствующую только аналитической линии, будем изме]эять отношение этой энергии к энергии другой спектральной линии. Эту вторую линию, [c.147]

Переход от интегральных интенсивностей /оо, помещенных в таблицах II части, к аналитическим интенсивностям 1а может быть легко осуществлен, если произвести предварительно несло5 Кную градуировку установки при той ширине входной и выходной щелей, которая представляется наиболее благоприятной для проведения анализа. Для этого достаточно измерить при выбранной ширине входной и выходной щелей интенсивности ряда линий комбинационного рассеяния с различной шириной. Сопоставляя эти величины, т. е. аналитические интенсивности в данных условиях съемки, с табличными значениями интегральных интенсивностей, находим переходный множитель для линий разной ширины. Этот переходный множитель для узких линий близок, очевидно, к единице для широких же линий отклоняется от единицы тем больше, чем больше ширина линии. Построив график, выражающий зависимость переходного множителя от ширины линий, можно для каждой линии, зная ее ширину и интегральную интенсивность, легко найти ее аналитическую интенсивность в данных условиях съемки. [c.54]

Нелинейный характер связи величины оптической плотности почернения (О) и логарифма иитенсивности рентгеновской радиации и зависимость параметров характеристической кривой эмульсии от типа используемых фотоматериалов и условий их проявления—причина большого числа затруднений, которые возникают при использоваиии фотографического метода регистрации спектров. При проведении количественного анализа необходимо соблюдать сугубую осторожность при использовании в качестве характеристики интенсивности радиации почернение, которое она вызывает в эмульсии. При сопоставлении двух спектральных линий, почернения которых сильно отличаются, приходится специально строить и использовать для построеиия градуировочных графиков характеристические кривые эмульсии. В то же время отсутствие прямой пропорциональности между величинами оптической плотности почернения линий и логарифмом их иитенсивности удлиняет и усложняет процесс получения необходимых характеристических кривых, построение которых в противном случае могло бы быть осуществлено по трем точкам. Эти же причины затрудняют учет индивидуальных свойств используемой фотоэмульсии, так как необходимо считаться не только с относительно просто поддающимся учету изменением величины коэффициента контрастности характеристической кривой для различных фотоматериалов, но и с изменениями в ходе этой кривой в пределах области недодержек, где зависимость В от g I сложная и не может быть апрокснмирована простым аналитическим выражением. [c.58]