Микроскопия в инфракрасном свете

Инфракрасный микроскоп. С помощью инфракрасной микроскопии изучают объекты, которые практически непроницаемы для лучей видимой части спектра, но прозрачны для инфракрасных лучей. Прозрачными для инфракрасного света являются Преимущественно проводниковые и полупроводниковые соединения (81, 2п, Те, опаловые стекла, хромовая руда и т. д.). [c.124]

На практике используют как инфракрасные микроскопы (МИК-4), так и инфракрасные насадки к обычным микроскопам (насадки НИК-1 упрощенная и НИК-3 универсальная). Объекты освещают инфракрасным светом длиной волны до 1,2 мкм с помощью ксеноновой газоразрядной лампы или лампы накаливания. При указанных длинах волн можно применять обычную стеклянную оптику и фотоматериалы. В микроскопе МИН-4 визуально наблюдают и фотографируют объекты в проходящих поляризованных инфракрасных лучах. Инфракрасное изображение может быть преобразовано в видимое с помощью специального преобразователя. Увеличение микроскопа изменяется от 44 до 5260 . [c.124]

Метод инфракрасной поляризационной микроскопии применяют-для исследования распределения остаточных внутренних напряжений в кристаллах, связанных с дислокациями для контроля напряжений в спаях кремния с металлами для анализа типа дислокаций в кристаллах (в поляризованном инфракрасном свете вокруг дислокаций выявляются, розетки напряжений). [c.124]

МИКРОСКОПИЯ в ИНФРАКРАСНОМ СВЕТЕ [c.220]

Экспериментальные методы, применяемые для определения и характеристики структуры полимерных цепей и их совокупностей, упоминались в общем обзоре гл. 1. Дополнительную информацию по дифракции рентгеновских лучей [3], рассеянию нейтронов [4—6], электронов и света [4, 52, 53], оптической и электронной микроскопии [3, 14Ь], термическим [3, 54] и вязкоупругим свойствам [14с, 55—57] и методу ядерного магнитного резонанса (ЯМР) [3] можно получить из источников, указанных в списке литературы к данной главе. В гл. 5 и 6 соответственно будут рассмотрены методы инфракрасного поглощения (ИКС) и ЭПР. [c.35]

Наиболее детально развитие разрушения изучено прямыми структурными методами в твердых полимерах и главным образом в волокнах (инфракрасная спектроскопия, электронный парамагнитный резонанс, масс-спектрометрия, ядерный магнитный резонанс, рентгеновская дифракция на малые и большие углы, дифракция видимого света, электронная микроскопия, оптическая и электронно-микроскопическая фрактография и др.) [61 11.27]. [c.324]

Локальные физические свойства эмульсий исследуют, изучая их диэлектрическую релаксацию, спектры ядерного магнитного резонанса [6] и инфракрасные спектры. Эти методы дают сведения о составе межфазной области в зависимости от состава обеих фаз. Размеры и распределение по размерам очень маленьких капелек или мицелл определяют по рассеянию света и дифракции рентгеновских лучей под малыми углами [8]. Довольно точным методом исследования формы капелек эмульсий и распределения их по размерам является сканирующая электронная микроскопия [8а]. [c.392]

Численно апертура отражательного объектива микроскопа определяется точно так же, как для обычного преломляющего объектива, и равна произведению синуса половины угла при вершине конуса лучей, идущих от объекта к вогнутому зеркалу, на показатель преломления среды, в которой эти лучи распространяются. В некоторых работах рассматривалась возможность увеличения апертуры инфракрасных микроспектрометров применением преломляющей оптики, однако, как показали Блаут и Бэрд [12], использование иммерсионных линз в инфракрасной области приводит к таким потерям света на отражение, что выигрыш за счет увеличения апертуры сводится на нет. Поэтому мы будем рассматривать только отражательные объективы сухого типа. [c.275]

В разделе 2В показано, что в инфракрасном микроскопе непоглощенное излучение соответствующей длины волны может попасть на детектор вследствие дифракции света на образце и несовершенств оптической системы. Это приведет к снижению интенсивности полосы поглощения по сравнению с истинной интенсивностью (спектральное разбавление). Рассеянный свет с меньшей длиной волны также уменьшает интенсивность полосы. Если интенсивность паразитного излучения If, то все полосы поглощения ослаблены на эту величину (рис. 86) и наблюдаемые величины пропускания должны быть записаны так [c.245]

Современные методы исследования (электронография, рентгенография, а также методы окрашивания и измерения поглощения света в инфракрасной области) позволяют точно установить минеральный состав глии. Обычные петрографические методы (микроскопия) не всегда дают надежные результаты, так как [c.325]

В зависимости от размеров структурных форм различаются и экспериментальные методы, используемые для их исследования. К числу важнейших структурных методов относятся изучение дифракции рентгеновских лучей и поляризованного света под различными углами, электронография и электронная микроскопия, спектроскопия в инфракрасной области, поляризационная и оптическая микроскопия. [c.163]

В настоящее время для изучения разрушения используются инфракрасная спектроскопия, электронный парамагнитный резонанс, масс-спектрометрия, хроматография, ядерный магнитный резонанс, рентгеновская дифракция в малых и больших углах, дифракция видимого света, электронная микроскопия, оптическая и электронно-микроскопическая фрактография, фотолиз и др. [c.141]

Световоды, пропускающие видимый участок спектра, могут передавать от мощного внешнего излучателя света большое количество световой энергии к освещаемому объекту в виде яркого холодного света. Холодная подсветка необходима для исследования под микроскопом биологических микроорганизмов, которые при освещении их инфракрасными лучами погибают, а также при [c.17]

Особенности люминесценции. Люминесценция как физическое явление широко известна, благодаря ее многочисленным и важным техническим применениям. Свечение экранов телевизоров и радиолокаторов, осциллографов и электронных микроскопов, рентгеновских экранов и люминесцентных ламп — все это различные примеры люминесценции. В этих и ряде других приборов и устройств используется способность светящихся веществ — люминофоров —трансформировать тот или иной вид энергии в видимый свет или, реже, в ультрафиолетовое или инфракрасное излучение. [c.5]

Исследование процесса разрушения вплоть до недавнего времени проводилось преимущественно на феноменологическом уровне на основе измерений чисто механических показателей. Однако В настоящее время для изучения различных стадий разрушения, начиная от элементарных актов нагружения и разрыва отдельных химических связей и вплоть до конечных стадий раскрытия трен ины, все более широко применяются разнообразные прямые физические методы. Среди них важное значение имеет инфракрасная спектроскопия образцов, находящихся под нагрузкой, измерение концентрации свободных радикалов, образующихся в ходе деформирования полимера, масс-спектрометрия продуктов распада, рентгеновская дифракция как под большими, так и под малыми углами, дифракция поляризованного света, электронная микроскопия в различных вариантах, включая сканирование поверхности образца или поверхности разрушения, а также ряд других физических методов. Их сочетание с традиционными механическими измерениями позволяет получать качественно новую информацию о механизме разрушения полимеров. [c.227]

Моценок провела подробнейший анализ вращения хлоропластов с точки зрения энергетики этого процесса. Она наблюдала за хлоропластами в специальный микроскоп, используя инфракрасный свет для освещения объекта. Такой свет не поглощается хлорофиллом и не может быть использован энергетической системой хлоропластов. [c.162]

Успешно решаются задачи интроскопии, когда изучение строения в видимом диапазоне затрудняет или делает невозможным слои некоторых газов (дым, туман, пыль), жидкости (нефть, отдельные непрозрачные в видимом свете растворы) или твердые вещества, хорошо пропускающие инфракрасное излучение (синтетические смолы, полимерные материалы, германий, кремний, различные смеси). Частным случаем такого контроля является анализ качества непокрытых изделий, которые в видимом свете дают малоконтрастное или неинформативное изображение. Для контроля строения различных изделий используют термочувствительные вещества, термовизор, микротермовизор, радиовизор и инфракрасные микроскопы. Тепловые методы интроскопии можно использовать для определения формы и расположения неоднородностей обработки различных протяженных объектов (листы, полотна, трубы и др.). Так, легко различаются области неполной полимеризации синтетических пленок, горячие пятна бумаги, зоны изменения состава композиционных материалов. Наличие такой информации не только дает сведения о качестве, сортности про- [c.220]

Кинетическое (термофлуктуационное) разрушение связано с накоплением структурной поврежденности (микротрещип), образующейся при разрыве связи. Рассмотрим специфику этого процесса, который поддается количественному анализу с помощьюпрямых физических методов [89, 90, 160], включая инфракрасную спектроскопию (ИКС), электронный парамагнитный резонанс (ЭПР), масс-спектрометрию (МС), ядерный магнитный резонанс (ЯМР), рентгеновскую дифракцию в малых (РДМ) и больших (РДБ) углах, электронную микроскопию (ЭМ), дифракцию видимого света (ДС) и т. п. [c.135]

Методами рентгеновской дифракции под малыми и большими углами, дифракции света, поляризационной инфракрасной спектроскопии, ядёрного магнитного резонанса и электронной микроскопии установлено [c.377]

Истинную величину дихроичного отношения можно теперь получить из уравнения (2). Известны различные методы определения 7/. Рассеянный свет с длиной волны Я обычно измеряют следующим образом. В световой пучок помещают фильтр, который полностью поглощает свет с длиной волны Я, но пропускает свет более коротких длин волн, которые ответственны за рассеяние. Например, пластинка из Сар2 является удобным фильтром для области 10—15 мк. Паразитное излучение // в инфракрасном микроскопе можно определить, помещая в световой пучок полностью поглощающий объект вместо образца. Форма этого объекта должна быть такой же, как форма образца. Например, волокно можно заменить проволокой таких же размеров [13]. В другом методе определения паразитного излучения можно использовать сам образец как затемняющий объект, если этот образец имеет очень сильную полосу поглощения в нужной области длин волн. Такую полосу можно использовать для определения //, как показано на рис. 86, б. [c.247]

Том I (1950 г.). Адсорбция рентгеновских у-луч ц. Рентгенографический дифракционный метод в применении к волокнам. Электронная дифракция. Спектроскопия и колориметрия. Эмиссионная спектроскопия. Инфракрасная спектроскопия. Раман-спектры. Поляроскопические и полярометрические методы испытания материалов в проходящем свете. Измерения показателя преломления. Электронная микроскопия. Масс-спектроскопия. В 1960 г. вышло 2-е издание этой книги. [c.231]

Оптические исследования полиамидов дают все более интересные данные, позволяющие глубже заглянуть в строение этих полимеров и объяснить особенности их строепия. Для этого широко используется микроскопия в видимых лучах света, поляризационная микроскопия и особенно инфракрасная спектроскопия. [c.346]

Большое количество сведений о молекулярной и надмолекулярной структуре целлюлозы и других высших полимеров было получено с помощью оптических методов исследования. Так, благодаря рентгеновским лучам получены важные данные о тонкой структуре кристаллитов, их геометри-чёском положении, средней величине и форме. Нормальный, видимый свет дал ценные сведения о макроструктуре природных и искусственных волокон, а инфракрасное излучение позволило внести серьезный вклад в изучение сил, удерживающих вместе целлюлозные цепи. Недавно с помощью электронного микроскопа было получено огромное количество интересных сведений по фибриллярной структуре и морфологии волокон целлюлозы. Так как различные излучения требуют соверщенно различных экспериментальных методов и результаты этих методов относятся к разным элементам структуры, целесообразно рассмотреть отдельно исследования, проведенные различными оптическими методами. [c.126]

Приведены [150] методы определения каучука и таблицы, содержащие описание поведения каучуков при сжигании, их растворимость в органических растворителях, цветные реакции и пробы на окрашивание под микроскопом. Имеется краткий обзор [223], в котором приведены важнейшие детали методов идентификации, применявшихся до 1945 г., и дан их критический анализ. Пожалуй, наиболее полно этот вопрос изложен в настоящее время в Users Memorandum [43], где приведены характеристики главных типов каучуков, а также схема систематического качественного анализа смесей. Для идентификации полимеров в смесях начинает применяться новая техника спектроскопия в инфракрасном и ультрафиолетовом свете и хроматография. Но так как эти методы оказались пригодными и для количественных определений, то они будут рассмотрены в разделе, посвященном количественному анализу каучуков. Такому вопросу, как определение наполнителей и других компонентов смесей, отведен особый раздел. [c.102]

Для эффективного сбора и исследования осадков на фильтре промышленность выпускает разнообразную аппаратуру, фильтры, разрабатываются новые методы [31]. Для любого случая можно выбрать фильтр с точно определенной структурой пор, а для изучения собранного материала может быть использован один или несколько методов микроскопическая идентификация (методика с использованием видимого света микроскопия в падрющем под углом свете, в проходящем свете и фазоконтрастная микроскопия) электронная микроскопия и электронная микрозондовая спектроскопия химический капельный анализ (включая Овенов-ское кольцо Вейша [32]) инфракрасная спектроскопия УФ-види-мая спектрофотометрия аналитическая пламенная спектроскопия (ПЭС, ААС и АФС) эмиссионная спектроскопия рентгенофлуоресцентная спектроскопия, рентгеноструктурный анализ и радиохимия (включая активационный анализ). [c.591]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология