Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Линии спектральные концентрации элемент

    Интенсивность спектральных линий пропорциональна концентрации элемента в пробе. Для установления конкретной зависимости в каждом конкретном случае пользуются формулой Ломакина — Шайбе  [c.22]

    Интенсивность спектральной линии при постоянных условиях пропорциональна количеству введенных в пламя атомов элемента или концентрации соли металла в анализируемом растворе. Однако в реальных случаях эта зависимость может нарушаться вследствие протекания в пламени процессов самопоглощения, ионизации и образования термически устойчивых соединений. На рис. 1.13 представлена зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента в растворе. При средних содержаниях определяемого элемента в растворе эта зависимость линейна. Для больших содержаний сказывается влияние самопоглощения эмиссии атомов в плазме и в этом случае интенсивность излучения спектральной линии пропорциональна корню квадратному, из концентрации элемента в растворе. При очень низких концентрациях элемента и высокой температуре плазмы проявляется процесс ионизации его атомов и интенсивность излучения спектральной линии пропорциональна квадрату концентрации. В обоих случаях градуировочный график искривляется. Кроме процессов, указанных выше, на ход графика влияет ряд других факторов, поэтому определение элементов в методе фотометрии пламени проводят с использованием серии растворов сравнения. Они должны содержать все вещества, входящие в состав исследуемого раствора, и фотометрироваться в одинаковых с ним условиях. [c.37]


    Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента аппроксимирована прямой линией лишь для сравнительно узкого интервала концентраций, который в большой степени зависит от параметров прибора и типа пламени. В практической работе необходимо установить линейность между силой фототока и концентрацией элемента в растворе для этого используют эталонные растворы. [c.15]

    Количественный спектральный анализ. Б. А. Ломакиным выведена эмпирическая формула зависимости интенсивности спектральных линий от концентрации элемента примеси  [c.44]

Рис. 1.13. Зависимость интенсивности излучения атомной спектральной линии от концентрации элемента Рис. 1.13. <a href="/info/1117409">Зависимость интенсивности излучения</a> <a href="/info/18530">атомной спектральной</a> линии от концентрации элемента
    Связь между интенсивностью спектральной линии и концентрацией элемента в исследуемой пробе выражают эмпирической формулой, которая была выведена Б. А. Ломакиным  [c.224]

Рис. 7.3. Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента в пробе Рис. 7.3. <a href="/info/1830319">Зависимость интенсивности спектральной линии</a> от <a href="/info/135131">концентрации элемента</a> в пробе
    Способ ступенчатого ослабления спектральных линий заключается в том, что фотографирование спектров производят через ступенчатый ослабитель, размещаемый непосредственно перед входной щелью спектрографа. Ослабитель представляет собой кварцевую пластинку с десятью напыленными на ее поверхности полосками платины, отличающимися друг от друга толщиной напыленного слоя (соответственно — свето-пропусканием). Сфотографированный таким образом спектр состоит из ряда строк (ступенек) убывающей интенсивности по высоте щели. Уменьшение интенсивности линии по высоте достигает трех порядков величины. Пользуясь таким устройством, можно сфотографировать ряд образцов с известным содержанием интересующих элементов и построить зависимости числа наблюдаемых ступенек для аналитических линий от концентрации элементов в пробе с тем, чтобы далее [c.403]


    Основной задачей количественного спектрального анализа является установление связи между интенсивностью линии и концентрацией элемента в смеси. Большинство современных методов анализа основано на определении относительной интенсивности линии анализируемого элемента и элемента сравнения рз. 3is] 3j,g. ментом сравнения является либо основа смеси, либо специально добавляемый элемент. [c.131]

    Однако не всегда можно считать, что интенсивность спектральной линии пропорциональна концентрации элемента в смеси. При больших концентрациях приходится учитывать влияние реабсорбции излучения (см. гл. I), которая приводит к тому, что наблюдаемая интенсивность спектральной линии меньше интенсивности, излучаемой внутри источника, так как часть излучения оказывается поглощенной в пределах источника. Реабсорбция максимальна для резонансных линий и для линий, соответствующих переходам на метастабильные уровни. В результате реабсорбции интенсивность линии растет с концентрацией медленнее, чем по линейному закону. Можно считать, что [c.142]

    СПЕКТРАЛЬНОЙ ЛИНИИ С КОНЦЕНТРАЦИЕЙ ЭЛЕМЕНТА [c.86]

    В отличие от ряда других аналитических методов в эмиссионном спектральном анализе связь между интенсивностью линий и концентрацией элемента в образце можно найти только опытным путем. Не существует никаких методов, позволяющих теоретически рассчитать эту зависимость. Ее приходится устанавливать заново каждый раз, в каждой лаборатории, для каждого прибора. Только в отдельных случаях приближенные количественные оценки можно делать на основании данных, полученных,в других лабораториях, по разработанной там методике и по найденной там зависимости между концентрацией вещества и интенсивностью линий в спектре. [c.287]

    Несмотря на то что спектральный анализ был предложен в 1860 г., его долгое время использовали для целей качественного анализа, а широко применять в аналитической практике для количественных определений начали только в 20-х годах нашего столетия. Причина такого запоздания, по-видимому, заключалась в отсутствии теоретического обоснования явления испускания света возбужденными атомами. Кроме того, не была найдена зависимость между интенсивностью спектральных линий и концентрацией элемента в источнике света. [c.7]

    В 1930 г. Б. А. Ломакин предложил эмпирическую зависимость между интенсивностью спектральной линии / и концентрацией элемента в образце [c.9]

    По характерным линиям в спектре можно идентифицировать элементы, содержащиеся в анализируемом веществе (качественный спектральный анализ), а по относительным интенсивностям спектральных линий определять концентрацию элемента в исследуемом образце (количественный анализ). [c.5]

    Для определенного интервала концентраций между интенсивностью спектральных линий и концентрацией элемента в пробе установлена эмпирически (Б. А. Ломакиным и Г. Шайбе) простая зависимость [c.11]

    Следует иметь в виду, что на последние линии искомого элемента могут налагаться линии других элементов. В этом случае пользоваться последними линиями невозможно и приходится выбирать другие — более слабые, но свободные от помех. Менее чувствительные линии служат для контроля правильности обнаружения и даже для ориентировочной оценки количественного содержания элемента в исследуемом образце. В рекомендуемых таблицах спектральных линий указывается концентрация элемента, при которой линии появляются в спектре. Эти оценки носят условный характер. Они получены при использовании проб определенного состава в определенных условиях, поэтому пользоваться ими следует осторожно при оценке концентрации элемента. [c.61]

    Количественная оценка по ширине спектральных линий основана на корреляции между контуром линии и концентрацией. С ростом концентрации увеличивается не только высота, но и ширина контура спектральных линий (рис. 5.25). Таким образом, по ширине некоторых спектральных линий можно судить о составе анализируемого материала. Однако прежде с помощью образцов известного состава следует установить корреляцию между шириной линий и концентрацией элемента. [c.63]

    Сущность работы. В спектре излучения каждого элемента интенсивности спектральных линий различны. Это свойство можно использовать для количественного определения элементов. Наиболее интенсивные линии появляются при самых малых количествах элемента в пробе. С увеличением концентрации элемента эти линии усиливаются и появляются другие менее интенсивные. Экспериментально можно установить связь между наличием тех или иных спектральных линий и концентрацией элемента. [c.178]

    Из уравнения (6) видно, что интенсивность спектральной линии в основном зависит от энергии возбуждения уровня т, концентрации свободных атомов Л о, температуры Т и вероятности перехода Атп- Число свободных атомов в пламени Л о пропорционально концентрации элемента в растворе С, если нет побочных процессов. Таким образом й устанавливается эмпирическая зависимость между интенсивностью спектральной линии и концентрацией элемента в растворе 1—С). [c.148]


    Качественный учет влияния всех процессов в пламени — задача практически неразрешимая. Поэтому непосредственно по измеренной величине интенсивности спектральной линии определить концентрацию элемента в растворе нельзя. Однако при достаточно стабильных условиях работы пламенно-фотометрической установки можно с помощью эталонов установить зависимость между величиной отсчета на приборе, который пропорционален интенсивности спектральной линии, и концентрацией элемента в растворе, . е. произвести градуировку прибора. [c.148]

    Попытки использовать зависимость интенсивности спектральных линий от концентрации элемента в пробе для количественного определения долгое время оставались безуспешными. Даже в начале XX в. возможности количественного спектрального анализа оценивались очень невысоко. [c.31]

    Этот же прием используют в работе со стилоскопом при непосредственном наблюдении спектра в окуляре прибора и определении других компонентов стали (N1, Сг, XV и т.д.). Аналитические таблицы, связывающие относительные интенсивности спектральных линий и концентрацию элемента, составляются заранее и обычно прилагаются к стилоскопу. Анализ с помощью стилоскопа на 6...7 элементов у опытного спектроскописта занимает 2...3 мин, предел обнаружения составляет обычно 0,01.... ..0,10%, погрешность около 20% (относительных). Успешно применяется стилоскоп, например, при сортировке сталей, контроле плавки и выполнении других аналогичных анализов. [c.35]

    Зависимость интенсивностей спектральных линий от концентрации элементов в комплектах стандартных образцов алюминиевых сплавов производства ВНР (---) и СССР (-). [c.181]

    Таким образом, в настоящей стадии методика спектрального анализа опирается на принципиально правильные основы и располагает рядом теоретически осмысленных и практически хорошо разработанных при-ё.моБ, хотя работу в этом отношении отнюдь нельзя признать законченной. На этих общих основах создано значительное количество конкретных методик, с успехом применённых к разрешению ряда конкретных задач. Все они предполагают проведение предварительной более или менее длительной работы по подысканию наиболее благоприятных условий анализа, выбору линий, пригодных для анализа, и подбору эталонированных проб, так как соответствие между интенсивностью спектральных линий и концентрацией элемента в пробе имеет, в конечном счёте, эмпирический характер. В отдельных случаях, особенно когда речь идёт об определениях возможно высокой точности, может возникнуть вопрос о выработке новых специальных приёмов возбуждения спектра и специальных методах его регистрации и измерения. Но эти случаи сравнительно редки. Большинство встречающихся в практике задач с успехом может быть решено обычными методами анализа, с помощью существующей аппаратуры и общих приёмов. К числу подобных задач относятся, в частности, наиболее интересующие промышленность анализы большинства металлов и металлических сплавов. [c.4]

    Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента в пробе. До сих пор мы говорили о зависимости интенсивности линий от концентрации атомов определяемого элемен- [c.54]

    Если рассматриваемая линия не испытывает самопоглощения, подставив значение Q из (11.16) в выражение (11.14), получим уравнение, отражающее зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента в пробе (при условии однократной ионизации)  [c.55]

    Выбор стандартных образцов. С помощью СО устанавливают зависимость между интенсивностью спектральных линий и концентрацией /=аС . Напомним, что численное значение коэффициента а в этом уравнении зависит от общего состава и свойств пробы, а также от условий атомизации и возбуждения. В настоящем параграфе мы более подробно рассмотрим влияние состава и свойств пробы на интенсивность спектральных линий, так как именно это необходимо учитывать при выборе стандартных образцов для количественного анализа. Только полное соответствие стандартных и анализируемых образцов позволяет правильно установить зависимость интенсивности линии от концентрации элемента в пробе, а следовательно, провести анализ с достаточной правильностью. [c.192]

    Спектральный анализ (эмиссионный) — физический метод качественного и количественного анализа состава вещества на основе изучения спектров. Оптический С. а. характеризуется относительной простотой выполнения, экспрессностью, отсутствием сложной подготовки проб к анализу, незначительным количеством вещества (10—30 мг), необходимого для анализа на большое число элементов. Спектры эмиссии получают переведением вещества в парообразное состояние и возбуждением атомов элементов нагреванием вещества до 1000—10 000°С. В качестве источников возбуждения спектров прп анализе материалов, проводящих ток, применяют искру, дугу переменного тока. Пробу помещают в кратер одного из угольных электродов. Для анализа растворов широко используют пламя различных газов. Качественный н полуколичественныйС. а. сводятся к установлению наличия или отсутствия в спектре характерных линий и оценки по их интенсивностям содержания искомых элементов. Количественное определение содержания элемента основано на Эмпирической зависимости (при малых содержаниях) интенсивности спектральных линий от концентрации элемента в пробе. С. а.— чувствительный метод и широко применяется в химии, астрофизике, металлургии, машиностроении, геологической разведке и др- МетодС. а. был предложен в 1859 г. Г. Кирхгофом и Р. Бунзеном. С его помощью гелий был открыт на Солнце ранее, чем на Земле. Спектроскопия инфракрасная — см. Ифракрасная спектроскопия. Спектрофотометрия (абсорбционная)—физико-химический метод исследования растворов и твердых веществ, основанный на изучении спектров поглощения в ультрафиолетовой (200—iOO нм), видимой (400—760 нм) и инфракрасной (>760 нм) областях спектра. Основная зависимость, изучаемая в С.,— зависимость интенсивности поглощения падающего света от длины волны. С. широко применяется при изучении строения и состава различных соединений (комплексов, красителей, аналитических реагентов и др.), для качественного и количественного определения веществ (определения следов элементов в металлах, сплавах, технических объектах). Приборы С.—спектрофотометры. [c.125]

    Излучение определяемого элемента отделяется от постороннего с г омощью светофильтра или монохроматора, попадает на фотоэлемент и вызывает фототок, который измеряется с помощью гальванометра, электронного потенциометра и других приборов. Количественное определение элемента по методу эмиссионной пламенной спектрометрии основано на функциональной зависимости интенсивности спектральной линии (/) и концентрации элемента в растворе (с). Прямая пропорциональность между / и с имеет место лишь в определенной для данного элемента области концентрации. При этом линейную зависимость / от с может нарушать самопоглощение, ионизация, образование газообразных или трудно диссоциирующих в пламени соединений. [c.42]

    Количественный анализ. По (1.12) интенсивность спектральных линий пропорциональна концентрации элемента в щзобе. Еа практике пользуется эмпирической формулой Ломакина-Шайбе [c.14]

    Прямая пропорциональная зависимость между интенсивностью излучения спектральной линии / и концентрацией элемента в растворе С нарушается из-за процессов оамопотлощения, ионизации, образования труднолетучих соединений. Заметное влияние на интенсивность спектральных линий в пламени оказывает процесс ионизации атомов. В этом случае основной фактор, определяющий форму градуировочного графика, — соотношение между Опар- [c.221]

    Связь между интенсивностью спектральной линии и концентрацией элемента в пробе при стабильной работе источника возбуждения приближенно устанавливается уравнением (2.14). Зависимости, наблюдаемые на опыте, хорощо описываются уравнением Ломакина (2.15). Коэффициент самопоглощення Ь в этом уравнении зависит от концентрации, однако в некотором, иногда довольно широком интервале концентраций он остается постоянным. [c.32]

    Наиболее распространенным методом полуколичественного анализа является метод гомологических пар, или, как его иногда называют, метод однородных дублетов. Для проведения анализа этим методом предварительно подбирают пару линий (голомогическую пару или однородный дублет) и устанавливают, при какой концентрации определяемого элемента их интенсивности одинаковы. Например, при разработке методики спектрального определения свинца в олове интенсивность линии олова (нм) Язп= 276,11 сравнивалась с интенсивностью линий свинца Ярь = 280,20 (1), Хрь = 282,32 (2) и Хрь= 287,32 (3). Оказалось, что если Срь=0,1%, то — = /хрь (1), если срь== 0,6 %, то /я.5 = / .рь (3), а если Срь= 1,3 %, то hs, =l pь (2)- Для оценки содержания свинца в сплаве неизвестного состава на той же основе сравнивают изученные ранее линии олова и свинца и находят линии одинаковой интенсивности. Таблицы, связывающие относительную интенсивность двух линий с концентрацией элемента в пробе, могут быть составлены и при неодинаковой интенсивности линий дублета. Такие соотношения найдены, например, для определения марганца в стали по линиям Хмп= 478,43 и А.ре= 477,94 нм. Если интенсивность линии марганца существенно меньше интенсивности линии железа <с /хре). то содержание марганца в стали близко к 0,02 %, при небольшом различии в интенсивностях (/х [c.34]

    Из чисто физических соображений, без помощи матед1атики, все это можно представить следующим образом. На интенсивность спектральной линии, помимо концентрации элемента, существенно влияет состав пробы. Если ее наполнителем является элемент (или смесь элементов), имеющий с определяемым элементом равный коэффициент поглощения, градуировочный график будет получаться прямолинейным. Если же он легче (меньшим будет и коэффициент поглощения), определяемый элемент примет большее участие в излучении флуоресценции и интенсивность аналитической линии возрастет. Наоборот, при тяжелом наполнителе интенсивность аналитической линии меньше нормальной , градуировочный график проходит ниже. [c.256]


Библиография для Линии спектральные концентрации элемент: [c.55]   
Смотреть страницы где упоминается термин Линии спектральные концентрации элемент: [c.105]    [c.181]    [c.422]    [c.102]    [c.6]    [c.440]   
Основы аналитической химии Книга 2 (1961) -- [ c.461 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Концентрация элементов



© 2025 chem21.info Реклама на сайте