Эмиссия ионов вторичных молекулярные

Анализ термически нестабильных, труднолетучих соединений с использованием традиционных методов ионизации (электронный удар, химическая ионизация, ионизация в сильном электрическом поле) неизбежно связан с возможностью разложения образца в процессе его введения в ионный источник. В отдельных случаях разложения можно избежать, переводя анализируемые объекты в более летучие и термически более стабильные производные (дериватизация). Ограничения этого приема очевидны поиски иных способов ионизации привели к созданию методов, основанных на эмиссии ионов из вещества в конденсированном состоянии. Масс-спектры вторичных ионов, получаемые под действием ионных, электронных и атомных пучков, а также лазерного излучения содержат интенсивные пики молекулярных и осколочных ионов. Их совокупность позволяет определять молекулярную массу и структуру исследуемого образца. [c.176]

Для понимания механизма образования вторичных ионов из молекулярных веществ большую роль сыграли исследования вторичной ионной эмиссии из низкомолекулярных соединений. [c.184]

При бомбардировке конденсированной пленки воды (льда) наряду с легкими ионами (Н+, 0Н+, НгО+), которые образуются из отдельных молекул воды, наблюдается эмиссия ионных кластеров типа Н+(Н20) , где п может доходить до 50 [257—259]. На рис. 7.6 приведен типичный масс-спектр вторичных ионов, эмиттирующих из льда. Ионные кластеры такого типа образуются и в газовой фазе, при действии ионизирующего излучения на пары воды [260—262. Первичные ионы Н+, 0Н+ и НгО+, которые возникают за счет ионизации отдельных молекул воды ионизирующим излучением, при столкновении с окружающими их молекулами вступают в ионно-молекулярные реакции [c.184]

Вторичные эмиссионные методы включают эмиссию ионов с поверхностей, обработанных органическими соединениями, под воздействием ионов высокой энергии (вторичная ионно-ионная эмиссия), ускоренных незаряженных атомов, быстрых электронов (вторичная электронно-ионная эмиссия) или фотонов (лазерная десорбция) [22]. Порог чувствительности чаще всего применяемого варианта вторичной ионной эмиссии под действием ускоренных атомов аргона с энергией около 10 эВ сравним с другими способами ионизации и составляет примерно г вещества. При этом возможно образование и детектирование как протонированных молекулярных ионов [М+Н] + и образующихся из них фрагментов, так и анионов [М — Н]-. Выход и характер вторичных ионов зависят от чрезвычайно большого числа факторов типа металла подложки, свойств раствора, из которого наносится образец, температуры и размеров мишени и от энергии и природы ионизирующих частиц. Влияние этих факторов столь велико, что в настоящее время еще сложно говорить о воспроизводимости масс-спектров вторичной ионной эмиссии, а также о возможностях использования их в количественном масс-спектрометрическом анализе. [c.30]

Остается предположить, что в реакции окисления аммиака по крайней мере основные конечные продукты реакции образуются в результате непосредственного соединения аммиака с кислородом. Эта реакция может идти как с молекулярным, так и с атомарным кислородом, поэтому важно выяснить, в каком состоянии кислород находится на поверхности платины — в молекулярном или атомарном. Для этого были проведены опыты с платиновым катализатором в атмосфере кислорода (Ро. 1,5-10 мм рт. ст.). Исследовались зависимости интенсивности массовых линий 32 (О ) и 16 (О ) в спектре вторичных ионов от температуры катализатора и давления кислорода. Результаты опытов иллюстрируются кривыми на рис. 3. Рассмотрение этих кривых позволяет сделать вывод о том, что кислород на поверхности платины находится частично в молекулярном, а частично в атомарном состоянии. Действительно, существование эмиссии вторичных ионов 0 во всем исследованном интервале температур показывает, что по крайней мере часть кислорода на платине находится в молекулярном состоянии. Ионы О могут выбиваться как из молекулярного, так и из атомарного кислорода, поэтому из факта существования вторичной эмиссии ионов О еще нельзя сделать определенных выводов. Такие выводы можно сделать из сопоставления кривых I (Т) для вторичных ионов Оа и О ". Токи вторичных ионов Оа и O при данной температуре катализатора определяются формулами [c.312]

Метод электронно-стимулированной десорбции, во многом напоминающий метод вторичной ионно-ионной эмиссии, позволяет решать примерно те же задачи. Так, этим методом можно детально изучать адсорбированные слои, формы связей и состояние частиц на поверхности, десорбционные процессы, химические гетерогенные реакции и т. д. Кроме того, в ряде работ масс-спектрометрические измерения дополняются определениями полного ионного тока, потенциалов появления, углового и энергетического распределения вторичных ионов, что дает возможность оценивать эффективное сечение процесса десорбции ионов и некоторые другие характеристики молекулярной адсорбции и хемосорбции. [c.50]

Таким образом, возрастает с увеличением средней энергии необходимой для образования одной пары ионов в газе. Последняя зависит от природы газа. также растет при уменьшении коэффициента вторичной электронной эмиссии катода у. Эта величина зависит от вещества катода, природы газа и геометрии прибора. Выражение (8.3) дает верный порядок величины Для молекулярных газов и металлического катода [c.232]

Масс-спектрометрия вторичных ионов, широко используемая для анализа металлических и полупроводниковых материалов, в последние годы стала все чаще применяться для исследования органических соединений. Накопленные к настоящему времени экспериментальные материалы позволяют сформулировать основные закономерности вторичной ионной эмиссии из молекулярных веществ и выявить механизм образования вторичных ионов. Наметились основные аналитические направления масс-спектрометрии вторичных ионов идентификация индивидуальных веществ, определение молекулярного состава, определение строения полимерных молекул, анализ состава сополимеров, изучение надмолекулярной структуры и состава композиционных материалов, послойный анализ твердых образцов, анализ труднолетучих веществ биологического происхождения, определение изотопного состава и др. [c.177]

Трудно предположить, что закономерности вторичной ионной эмиссии, характерные для металлов, будут справедливы и для молекулярных диэлектриков. Действительно, металл состоит из атомов только одного сорта, связанных друг с другом одинаковым образом в молекулярном диэлектрике атомы разного типа связаны между собой различными типами химических связей, т. е. объединены в молекулы, между которыми в свою очередь имеется более слабое межмолекулярное взаимодействие. В диэлектрике отсутствуют свободные электроны, наличие которых в металлах резко уменьшает вероятность выхода распыленной частицы в заряженном состоянии. Существенным образом различаются и те изменения, которые вызывает в твердом теле облучение потоком ускоренных частиц в чистом металле происходит разрушение кристаллической решетки, а в молекулярном диэлектрике, поми.чо изменения надмолекулярной структуры образца, возможны также необратимые химические превращения. [c.184]

Полученные результаты не позволяют утверждать, что молекула водорода при адсорбции не распадается на атомы. Диссоциация молекул водорода на атомы может происходить и при адсорбции на одном атоме железа [7]. Тем не менее, исследование хемосорбции водорода методом вторичной ионно-ионной эмиссии показывает, что адсорбированный на железе водород находится в молекулярной форме Нг+ [8]. [c.133]

IV. Методика вторичной ионно-ионной эмиссии, развиваемая, например, в работах Фогеля [150], позволяет изучить состав как поверхностных химических соединений, так и адсорбированных газов. Однако, часто э масс-спектрах вторичной эмиссии обнаруживаются такие молекулярные формы, которых нет в равновесном паре, например, NbgOg, М02О3 [150], Ag2S04 [151]. Связь кристаллической структуры соединения и его вторично-ионного спектра обсуждается в работе [152]. [c.60]

Метод вторичной ионно-ионной эмиссии позволяет решать следующие задачи идентифицировать и количественно определять молекулярно-адсорбированные и хемосорбированные вещества на поверхности (локальный анализ очень небольшого участка поверхности или анализ большого участка поверхности путем сканирования первичного ионного зонда) изучать адсорбционные процессы, изменение состояния и состава адсорбционного слоя в зависимости от различных параметров изучать гетерогенные химические и изотопнообменные реакции изучать диффузионные процессы проводить анализ состава, анализ примесей и послойный элементный анализ твердого тела. [c.49]

Ловцов В. М. и Смирнов А. С. Сравнительное изучение вторичной эмиссии тонких пленок хлористого калия под действием удара положительных атомарных и молекулярных ионов. [В т. ч. Ь1].—Ж. техн. физ., 1953, т. 23, № 10, с. 1737—1750. Библ. 15 назв. [c.12]

Такой же принцип получения метастабильных атомов Не был использован для получения пучка поляризованных метастабильных атомов в состоянии 2 5 [149]. Источником возбужденных атомов Не (2 5, 2 5) является электронный удар, осуществляемый в электронно-оптической системе, состоящей из электронной пушки с комбинацией электростатической и магнитной фокусировок, формирующих пучок электронов колли-неарной с молекулярными пуч1ками. Очистка лучка от Не(2 5) и ионов производится при помощи гелиевой лампы и поперечного электрического поля. Полученный пучок по оценке, основанной на измерении вторичной эмиссии электронов с поверхности из нержавеющей стали, имеет интенсивность 2-10 атом/ср-с. Атомы Не(2 5) затем попадают в область слабого магнитного поля ( 10 Гс), которое определяет ось квантования. В этой же области они накачиваются излучением с Л =1,08 мкм, поляризованным по кругу и падающим в направлении магнитного поля. Это приводит к увеличению заселенности магнитных подуровней с т = 1 или —1 в зависимости от знака круговой поляризации. [c.174]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология