симметричные интерференционные

На фиг. 38, в показана интерференционная картина, возникающая при повороте зеркала на угол ф и дополнительном смещении зеркала на расстояние Ось С мнимого клина в этом случае не пересекает оптическую ось (ось г), а смещена в поперечном направлении на расстояние Ау и может находиться далеко за пределами поля зрения. При использовании белого света положению оси С соответствует ахроматическая полоса с симметрично расположенными около нее цветными полосами. Положение ахроматической полосы в поле зрения можно изменять при помощи механизма, перемещающего зеркало М (Ае). [c.98]

Два интерференционных поля суммируются и образуют пространственную интерференционную картину. Максимальный интерференционный контраст получается в непосредственной близости от оси С, поскольку максимумы и минимумы обоих волновых пакетов в этой области совпадают ( принцип совпадения порядков ). Смещение максимумов и минимумов увеличивается с увеличением расстояния от оси С. Затем появляются области, симметричные относительно оси С, в которых максимум одного интерференционного поля совпадает с минимумом другого. Как и в предыдущем случае (временной когерентности), в распределении интерференционного контраста наблюдаются экстремумы, положение которых зависит от угла клипа е/2, длины волны А- и угла со, соответствующего расстоянию между источниками света. [c.103]

Появление цветной картины вызвано оптической интерференцией. Различие в цвете может возникать вследствие разницы в толщине поверхностных пленок. Следовательно, регулярное изменение цвета соответствует правильному изменению высоты поверхностей, так что они пространственно дополняют друг друга. Это свидетельствует о распространении трещины только на двух определенных уровнях. Последнее становится очевидным, если учесть, что поле напряжений симметрично относительно средней плоскости разрушения. Топографию поверхности разрушения изучали с помощью интерференционной микроскопии. [c.91]

L Y ИИ и интерференционных колец, пересекающих их. l J Вслед за этим производится юстировка положения колец относительно спектральных линий. Если щель прибора не пересекает кольца в центре, то картина будет иметь несимметричный вид (рис. 108, а). Для правильной установки эталона следует воспользоваться юстировочным винтом 11 (рис. 105), который переместит эталон вправо или влево (перпендикулярно рельсу) до такого положения, пока в лупу не будет видна интерференционная картина симметричного вида (рис. 108, б). Если картина несимметрична по высоте, то используют винт 10 (рис. 105). [c.174]

Оптическая схема прибора ПФ-1 состоит из двух симметричных каналов, которые включают диафрагмы, линзы, защитные фильтры из стекла СЗС-14, поглощающие инфракрасное излучение пламени, интерференционные фильтры, выделяющие анализируемый спек- [c.302]

Оптическая схема. Эта схема состоит из двух симметричных каналов, каждый из которых включает в себя ирисовую диафрагму, конденсор, тепловой фильтр, интерференционный светофильтр и фотоэлемент. Излучение пламени после линзы параллельным пучком проходит интерференционный светофильтр, выделяющий необходимую полосу в спектре, а затем падает на поверхность фотоэлемента. Для изменения величины падающего на фотоэлемент излучения служат ирисовые диафрагмы с отсчетными шкалами. Интерференционные свето- [c.33]

Для уточнения ориентировки кристалла следует, устанавливая вращением блока интерференционную картину на максимум отклонения относительно заранее центрированного трафарета, привести ее путем наклона кристаллического блока в симметричное по отношению к блоку положение. В этом положении кристаллический блок будет одной [c.81]

Светофильтры. Наиболее распространены светофильтры двух типов абсорбционные и интерференционные. Последние эффективнее, так как позволяют получить большую монохроматизацию излучения. Часто интерференционные светофильтры комбинируют с абсорбционными для получения узкой симметричной полосы пропускания. Светофильтры характеризуются величиной относительной, пропускаемости, полушириной и остаточной величиной пропускания. Одним из недостатков интерференционных светофильтров является то, что яркая линия мешающего элемента даже на далеком расстоянии от максимума пропускания может дать фон и помешать определению. [c.150]

При прохождении излучения через очень узкую щель наблюдается возникновение интерференционной картины (рис. 2-19), состоящей из большого максимума в центре и ряда менее интенсивных (обычно не принимаемых во внимание) максимумов, симметрично расположенных по обе стороны от основного максимума. Ширина центрального максимума (расстояние между соседними минимумами) равно где —ширина щели, [c.42]

При достаточно больших Ап = п — щ можно, убрав кварцевый клин К, получить на экране О систему интерференционных полос, параллельных АВ и симметричных относительно нее. Расстояние каждой полосы от оси симметрии дает %, а номер полосы (отсчитываемый от больших к меньшим х) — разность хода, выраженную в единицах X. [c.373]

Рассмотрим область приближения толстого кристалла при симметричном отражении. Как доказывает табл. 6, при значениях 56 и более, первое поле, а также интерференционная часть настолько ослабляются, что величина и форма кривых Г и Л определяется практически лишь вторым полем. Здесь мы вступаем в область приближения толстого кристалла. [c.96]

После замены в правой половине кюветки воды раствором (после нескольких тщательных прополаскиваний) возникшая разность хода компенсировалась до совпадения нижней неподвижной системы интерференционных полос с верхней. Совпадение в белом свете легко обнаруживается по цветным каемкам около полос, но в монохроматическом свете его надо определить специальным приемом. Мы применяли следующий простой способ. При вращении барабана монохроматора полосы верхней и нижней систем раздвигаются или сдвигаются на одинаковые величины симметрично средней нулевой полосе. В компенсированном положении они продолжают при этом оставаться одна над другой, но уже смещение на одну полосу обнаруживается по заметному сдвигу их друг относительно друга. В более концентрированных растворах разность дисперсии стекла компенсатора и раствора обусловливает некоторое перемещение также и нулевой полосы при изменении длины волны. В этих случаях следует не слишком сильно изменять длину волны и контролировать совпадение по крайним полосам поля зрения. Этот способ нахождения нулевого положения устраняет необходимость в довольно сложной поправке на упомянутую разность дисперсии, которую приходится вводить при промежуточном освещении белым светом [4, 6]. [c.148]

Такого рода диаграммы получаются, если все кристаллики лежат параллельно оси волокна (в перпендикулярном к оси волокна направлении они могут иметь беспорядочное расположение). В этом случае интерференционные кольца концентрируются около нескольких точек, лежащих симметрично относительно оси волокна и оси, перпендикулярной к ней, называемой экватором. Эти точки лежат на определенных расстояниях от экватора. Измеряя положение интерференционных точек, можно точно рассчитать величину кристалликов и определить их форму. [c.11]

Характер интерференционных максимумов также способствует разделению фаз. Известно, что острые максимумы соответствуют блокам мозаики средней величины. Крупноблочные агрегаты дают точечные, мелкоблочные — уширенные, ориентированные — симметрично прерывистые максимумы. Поэтому интерференционные максимумы дебаеграммы, снятой без вращения столбика с композиции, фазы которой находятся в разном состоянии, будут отличаться по внешнему виду, причем [c.107]

Деформационные дефекты упаковки по плоскостям 111) в металлах с г. ц. к. решеткой вызывают закономерное смещение максимумов интерференционных линий, а двойниковые дефекты упаковки приводят к асимметрии линии. Кроме того, оба вида дефектов вносят вклад в симметричное уширение линий. [c.165]

S.31,o). Интерференционные окраски располагаются параллельными цветными полосами. Расположение полос симметрично относительно оси волокна. [c.198]

Пока речь шла о рентгеновских лучах, мы могли представлять молекулу как совокупность отдельных атомов, которые являются сферически-симметричными рассеивающими центрами. В случае света такое представление, строго говоря, неверно. Кроме того, мы в значительной степени игнорировали тот факт, что молекулы неизбежно отличаются от своего окружения (обладают определенным контрастом на фоне растворителя). Для рассеяния света зто обстоятельство становится важным. Однако наиболее существенные результаты представление рассеяния в виде преобразования Фурье и интерференционные эффекты, определяемые парами атомов, — полностью сохраняются, какое бы излучение ни использовалось. На самом деле совсем не обязательно, чтобы это было электромагнитное излучение. Частицы, подобные электронам и нейтронам, обладают свойствами поперечных волн, у которых длина волны зависит от энергии частицы. Таким образом, рассеяние и дифракцию электронов и нейтронов также можно описать ранее полученными уравнениями, внеся в них лишь небольшие изменения. В случае электронов и нейтронов атомные рассеивающие факторы должны быть заменены иными характеристиками взаимодействия излучения с веществом. [c.428]

Согласно интерференционной картине, за фазовой пластинкой (фиг. 23, б) теоретически при соответствующей экспозиции можно получить интерференционный минимум любой четкости. Почернение фотопленки приблизительно пропорционально логарифму энергии экспозиции, равной произведению освещенности на время экспозиции. Влияние постепенного увеличения экспозиции можно проследить по фиг. 23, б. Для единичной амплитуды световая энергия точно равна порогу чувствительности нри определенном времени экспозиции. В этом случае на фотографии получаются симметричные максимумы (амплитуды больше 1) и минимумы, причем па линии раздела волнового фронта образуется широкий минимум. При десятикратном увеличении экспозиции порогу чувствительности будет соответствовать амплитуда, равная 0,1. В этом случае измерительным лучам соответствует очень узкая незасве-ченная полоса на засвеченном фоне. Дальнейшее снижение этого минимума огранпчеио размером зерна фотопленки и особенно рассеянным светом, энергия которого при некотором значении экспозиции достигает порога чувствительности пленки, после чего минимум засвечивается. По данным Вольтера, оптимальное время экспозиции составляет половину времени, при котором энергия рассеянного света достигает порога чувствительности. Однако в экспериментах по исследованию шлиры такие большие экспозиции нежелательны по другим причинам. [c.58]

К оптической осп. Сзетоной луч, отклонившийся в фазовом объекте, также расшепляется па две части, падает на прпзму за пределами максимума нулевого порядка и преломляется в сторону оптической осп. Оба пучка создают интерференционные полосы с более высоким контрастом, чем в описанном выше методе. Однако изоб-рал<ение разделяется на две половины, симметричные относительно вершины бипризмы. [c.82]

Поле интерференционных полос можно рассматривать также как интерференционную картину от фазового объекта, расположенного в сечении tm—tm и соответствующего мнимому клину (образованному плоскостями зеркала до поворота и после него. Подходящим фазовым объектом может быть, например, реальный очень тонкий двойной стеклянный клин, расположенный, как и зеркала интерферометра, под углом 0 относительно оптической оси (на фиг. 37, а он показал штриховыми линиями в сечении т — т)- Поскольку в данном случае рассматривается идеальный точечный источник света, излучающий незатухающие непрерывные волны, мнимую ннтерференцию можно наблюдать в любом сечении измерительного пучка. Следовательно, плоскость фокусировки может находиться в других сечениях, помимо сечения, показанного на фиг. 37, б. В случае реальных источников света, не обладающих указанными выше свойствами, мнимая область интерференции ограничивается окрестностью мнимого клина (или в других случаях— окрестностью фазового объекта), симметричной относительно оси вращения С. Этот вопрос будет подробно обсуждаться в дальнейшем. [c.97]

Интерференционное рассеяние в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через макроскопические кристаллы и характеризуется наличием под различными (не малыми) углами рассеяния резких интерференционных максимумов. В противоположность интерференционному рассеянию, обусловленному строгой периодичностью структуры рассеивающего объекта и имеющего характер селективного отражения , диффракционное рассеяние рентгеновских лучей обусловлено отсутствием периодичности в структуре рассеивающего объема и в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через одноатомные газы. Для диффракционного рассеяния характерно наличие только одного интерференционного максимума, приходящегося на нулевой угол рассеяния, тогда как картина интерференционного рассеяния характеризуется большим числом интерференционных максимумов симметричной формы, расположенных под резличными конечными углами рассеяния. Сопоставляя указанные тины рассеяния рентгеновских лучей с аналогичными явлениями для видимого света, можно сказать, что интерференционное рассеяние рентгеновских лучей подобно интерференционному рассению света диффракционной решеткой, а диффракционное рассеяние подобно диффз зному рассеянию света туманами и мелкой пылью. [c.56]

Проблема измерения О сводится, таким образом, к определению 3(хо). При достаточно больших п — о можно, убрав кварцевый клин, получить на экране О систему интерференционных полос, параллельных АВ и симметричных относительно нее. Расстояние каждой полосы от оси симметрии дает хо, а номер полосы (отсчитываемый от больших к меньшим Хо) —разность хода, выраженную в единицах X. Именно на этом принципе построен диффузиометр Брингдаля, описанный в 1957 г. [c.291]

Таким образом, задачу измерения градиента концентрации йС/йх = УС = п/к можно свести к измерению градиента показателя преломления Уп. Последний, в свою очередь, может быть измерен в абсолютных цифрах или в единицах (числе) интерференционных полос на единицу длины. Соответственно, методы измерения Уп могут быть подразделены на собственно рефрактометрические и интерферометрические. В первых непосредственно воспроизводится регистрирующим устройством кривая Ул = = [ (л ), которая затем подвергается графоаналитической обработке для расчета О или других параметров. В интерферометриче-ских методах производится, в сущности, счет полос, обусловленных разностью хода лучей, прошедших области кюветы с различными п. Точность интерферометрических методов регистрации по крайней мере на порядок выше, чем собственно рефрактометрических, однако применение их подчас бывает ограниченным в частности, некоторые из них оказываются непригодными для исследования подвижных границ, в седиментации или электрофорезе некоторые модификации интерферометрических методов требуют, чтобы кривые были обязательно симметричны и унимодальны (с одним максимумом, что гарантируется только в случае диффузии) и т. д. В сравнительно недавнее время были предложены варианты интерференционных методов, позволяющие одновременно непосредственно регистрировать формы кривых распределения (1п/с1х = / (х) или п (л ). [c.157]

Диффузометр Шейблинга. В схеме диффузометра [302] в качестве регистрирующей системы используется интерферометр Жамена. Два луча, разделенные зеркалом Жамена, проходят через кювету симметрично относительно границы раздела раствор—растворитель на расстоянии а один от другого. Фотоэлектрическое устройство измеряет разность концентраций — вернее, изменение во времени разности показателей преломления — в двух фиксированных точках кюветы, расположенных симметрично по отношению к первоначальной границе. Эта разность выражается непосредственно в количестве интерференционных полос. Если расстояние между выбранными точками равно а, то из закона Фика следует, что [c.162]

Вместе с тем выражение (5.85), имеющее общий характер и относящееся как к симметричному, так и к асимметричному отражениям, показывает две составные части линейного коэффициента поглощения кристалла в области максимума нормальный коэффициент 1 и аномальный — интерференционный или бормановский [c.140]

В случае трехмерной решетки диффракция определяется расстояниями между рассеивающими центрами в пространстве по трем координатным осям соответственно этому получаются три уравнения ди ффракции с разными постоянными решетки, и различными порядками интерференций. Диффрагированнь.е лучи в случае трехмерной решетки представляют собой узкие пучки, оставляющие на фотопластинке следы в виде точек или небольших, сравнительно резко очерченных пятен, расположенных симметрично вокруг центрального пятна. Вид такой рентгенограммы неподвижного монокристалла показан на рис. 49. Расположение интерференционных пятен дает возможность рассчитать периоды, через которые повторяются идентичные элементы структуры. [c.153]

В схеме диффузометра Шейблинга [21] два луча, разделенные зеркалом Жамена, проходят через кювету симметрично относительно границы раздела раствор — растворитель на расстоянии а один от другого. Если разность концентраций в местах прохождения пучков непрерывно меняется, то меняется картина интерференции на экране, так как единственной причиной разности оптического пути разделенных лучей явится эта переменная разность концентраций, и лучи будут достигать плоскости экрана, находясь попеременно то в фазе, то в противофазе. Соответственно, если расположить в плоскости экрана фотоэлемент с умножителем и регистрировать гальванометром-самописцем силу фототока, то он выпишет синусоиду переменного периода, расстояния между максимумами которой (и вообще точками в одинаковой фазе) будут соответствовать времени изменения разности концентраций на одну интерференционную полосу. [c.297]

Коэффициенты диффузии. Коэффициенты диффузии почти всех биологических макромолекулярных препаратов были определены методом свободной диффузии, при котором наблюдают изменение во времени формы первоначально резкой границы между раствором и чистым растворителем. При этом используют шлирен- или интерференционную оптические системы. Исчерпывающее квалифицированное изложение этого вопроса содержится в обзоре Гостинга [53]. Две доступные интерферометрические системы (Гои [126—128] и Релея [129—132]) обеспечивают высокую степень прецизионности. Шлирен-оптика также дает точность, достаточную для многих целей. При изучении более вязких гликонротеинов основная практическая трудность состоит в создании хорошей первоначальной границы при соблюдении этого условия нет необходимости в очень высокой точности измерений. Эта трудность в известной степени может иметь место при применении для измерения диффузии ячейки ультрацентрифуги для искусственного образования границы. Очень резкие и симметричные границы позволяют проводить определения при малом расходовании изучаемого вещества. Ультрацентрифуга нри подобных экспериментах должна работать на низких скоростях вращения ротора, чтобы не происходило перераспределение компонентов полидисперсной смеси [133] и не было обострения границы за счет седиментации. Если благодаря высокому коэффициенту седиментации это невозможно, тогда Т) можно определить при различных скоростях вращения ротора и экстраполировать полученные данные к нулевой скорости вращения ротора [134]. [c.61]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология