Измерение отражению и пропусканию

Назначение и принцип действия. Регистрирующие двухлучевые спектрофотометры СФ-10, СФ-14, СФ-18 предназначены для измерения пропускания (оптической плотности) прозрачных и мутных сред и коэффициентов диффузного отражения твердых и порошкообразных веществ в видимой области спектра. Спектрофотометры состоят из осветителя, двойного призменного монохроматора, фотометра поляризационного типа, приемно-усилительной части и записывающего механизма. [c.214]

Внутри шара находятся два экрана, предназначенные для предотвращения попадания света от образца непосредственно на фотоэлемент при измерении абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения — нижний экран — и пропускания—верхний экран (по методу Тейлора). Для включения экранов необходимо оттянуть рукоятку 6. [c.215]

Измерение абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения или пропускания сводится к следующему. [c.215]

Тщательное измерение спектров пропускания и отражения льда I (рис. 46) позволило методом Крамерса — Кронига рассчитать оптические постоянные [73, 301]. [c.128]

По сравнению с классической ТСХ ВЭТСХ является значительно более быстрым методом, легче поддающимся стандартизации. В настоящей главе детально рассмотрены различные методы введения проб в ТСХ-систему и способы прямого фотометрического детектирования ВЭТСХ-пластинок (методы измерения отражения, пропускания, одновременного измерения пропускания и отражения, способы детектирования, основанные на возбуждении и гашении флуоресценции). Стандартное отклонение результатов этого метода не превышает 2,5%. Эффективность ВЭТСХ проиллюстрирована иа практических примерах. Одновременно с этим изложены основные требования к оборудованию, применяемому для количественного детектирования ВЭТСХ-пластинок. [c.173]

М-р (монохроматор — проба). Излучение источника первоначально рассеивается монохроматором и падает вертикально на пробу. При измерении интенсивности отражения и флуоресценции свет падает под углом 45 при измерении интенсивности пропускания свет падает перпендикулярно плоскости пластинки. Р —М (проба — монохроматор). Схема облучения меняется на обратную, т. е. полихромное излучение (в случае необходимости можно использовать фильтры для выделения соответствующей области спектра) падает на пробу под углом 45 . Свет, отраженный в вертикальном направлении, проходит череа монохроматор и направляется в детектор. [c.213]

Пройдя полулинзы 15, установленные внутри барабана прерывателя 16, оба пучка отклоняются на 90° призмой 17, проходят через входные окна шара 18 и попадают на окна, к которым прижимается образец и эталон (в случае измерения коэффициентов отражения) или два эталона (в случае измерения коэффициентов пропускания). Свет, отраженный от образца и эталона, суммируется шаром и попадает на фотоэлемент 19, расположенный за выходным окном шара. Фототок, возникающий под влиянием суммарного светового потока, передается через усилитель на кинематическую систему прибора и значение оптической плотности (пропускания) автоматически фиксируется на бумажном бланке. [c.153]

Оптические датчики. Для контроля роста пленок при вакуумном испарении можно использовать ряд оптических явлений, таких как поглощение, пропускание и отражение света и интерференционные явления. Необходимая для этого аппаратура относительно проста и состоит главным образом из источника света и фотоэлемента. Оба они размещаются в отдельной системе (вне вакуума), которая содержит необходимые для наблюдения оптические окна. Выбор вида измеряемой величины определяется типом подложки и материалом измеряемой пленки. Для пленок металла, например, можно проводить измерение оптического пропускания при условии, что пленки осаждаются на прозрачные подложки. Однако количество прошедшего света Тг быстро уменьшается с увеличением толщины пленки, так что точные измерения ограничены относительно тонкими пленками. Кроме того, закон поглощения света в веществе с коэффициентом поглощения а см 1 Г, = То ехр [ — ас1] на стадиях роста пленки, когда происходит образование зародышей и когда пленка является островковой, не выполняется [139]. Аналогичные замечания относятся и к методу измерения отражения света. По этим причинам оптические датчики используются главным образом для диэлектрических пленок. [c.151]

Проводимость и время релаксации электронов в матовых золотых покрытиях, полученные из измерений отражения и пропускания в далекой инфракрасной области. [c.130]

Во втором разделе настоящей главы мы упоминали о статистических теориях, приложение которых позволяет определить средние коэффициенты поглощения смеси пигментов из измерений пропускания и отражения (или из двух измерений отражения, или из двух измерений пропускания при различных оптических плотностях). На фиг. 85 и 86 приведены образцы номограмм, которые можно применить для [c.127]

Фиг. 50. Методы измерения отражения (/ ) и пропускания (Г) света листом или ТОНКИМ слоем водорослей и определение иа основе этих измерений количества поглощенного света (Л) [106].

При выходе из монохроматора поток света попадает в фотометрическую часть прибора. Сначала поток проходит через линзу 10 и двоякопреломляющую призму Рошона 11. Первая дает изображение объектива выходного коллиматора вблизи диафрагмы 12, вторая разделяет это изображение на два, поляризованных во взаимно перпендикулярных плоскостях одно, симметричное оси, проходит через призму Волластона 13 и линзу 14, другое, смещенное, срезается диафрагмой 12. Линза 14 дает изображение выходной щели в плоскости полулинз 15 Вследствие двойного лучепреломления призмы Волластона в плоскости полулинз получаются два изображения выходной щели. Пройдя полулинзы 15, установленные внутри барабана прерывателя 16, оба потока отклоняются на 90° призмой 17, проходят через входные окна шара 18 и попадают на окна, к которым прижимаются образец и эталон (в случае измерения коэффициентов отражения) или два эталона (в случае измерения коэффициентов пропускания). Свет, отраженный от образца и эталона, суммируется шаром и попадает на фотоэлемент 19, расположенный за выходным окном шара. Фототок, возникающий под влиянием суммарного светового потока, передается через усилитель на кинематическую систему прибора, и значение оптической плотности (пропускания) автоматически фиксируется на бумажном бланке. [c.172]

Определение и /с на практике сводится к измерению свето-пропускания т образца. Светопропускание т стеклянного изделия, в отличие от светопропускания Т слоя стекла, зависит от состояния поверхности, т. е. от ее коэффициента отражения. Коэффициент отражения г нормального луча на границе чистого стекла с воздухом вычисляется по формуле Френеля [c.23]

Типичным является спектрофотометр Бекмана модель D.U., в котором свет раскаленной нити лампы диспергируется при прохождении через кварцевую призму, так что на измеряемый образец падает монохроматический свет. В приборе используются два фотоэлемента элемент из окиси цезия для длинных волн (>0,62 нл<) и сурьмяно-цезиевый элемент для коротких волн. В каждом случае фототок измеряется посредством самопишущего потенциометра. Этот прибор первоначально был предназначен для измерения спектров пропускания, однако впоследствии к нему было сконструировано приспособление для измерения спектров отражения. В этом устройстве свет, проходящий через выходную щель монохроматора, отражается вниз и направляется перпендикулярно на образец (рис. VII-2). Отраженный свет кольцевым конусом с угловым [c.117]

Параллельно измерениям спектров пропускания определяли и отражение от поверхности пленок, нанесенных на различные пластины. В этом случае пленки наносили на одну поверхность клиновидной пластины, что исключало влияние отражения от другой ее поверхности. Таким образом, результаты измерения отражения, представленные на рис. 26, показывают отражение от одной поверхности в зависимости от длины волны и толщины пленки. Максимальному коэффициенту пропускания германия, кремния, КК5-5 или бескислородных стекол (ИКС) с окисными пленками отвечает минимальное-значение коэффициента отражения. [c.110]

Одним из лучших методов количественного детектирования в ТСХ является измерение пропускания света ТСХ-пластинкой. Этот способ основан на поглощении света окрашенными или обугленными зонами. График зависимости поглощения света от количества вещества в зоне обычно линеен. На этом методе основана работа выпускаемых промышленностью денситометров. Метод отражения основан на том же принципе с той лишь разницей, что измеряют не пропущенный свет, а отраженный. Для измерения отраженного света также используют выпускаемые промышленностью приборы. [c.78]

Метод измерения отражения и гашения флуоресценции можно также применять при ТСХ веществ, поглощающих УФ-излучение. Метод гашения флуоресценции позволяет определять только вещества с максимумом поглощения выше 240 нм, так как максимум возбуждения обычно используемого флуоресцентного индикатора находится около 280 нм. Сравнивая эти методы, можно сказать, что наилучшие результаты дает количественное детектирование по отражению по сравнению с пропусканием и гашением флуоресценции. Наиболее эффективным методом количественного анализа является измерение интенсивности флуоресценции веществ в слое сорбента. Это — высокоселективный, высокочувствительный (особенно при использовании лазерных флуоресцентных детекторов) метод анализа с широким интервалом линейной зависимости количество вещества — интенсивность флуоресценции, не зависящий от формы зоны. Широкие возможности метода флуоресцентного детектирования в ТСХ связаны с возможностями дерийатиза-ции веществ до или после ТСХ с превращением их в флуоресцирующие производные или инициированием флуоресценции разделенных веществ электрохимическими или химическими методами. [c.371]

Результаты всех измерений автоматически записываются на специальном бланке 2, имеющем вид сетки, по оси абсцисс которой нанесена равномерная шкала длин волн от 400 до 750 нм с ценой деления 2 нм, а по оси ординат —равномерная шкала оптической плотности от О до 2,5 с ценой деления 0,0123 и пропускания (отражения) от О до 100% с ценой деления 0,5%. [c.215]

Прп возбуждении люминофоров бактерицидной лампой (X = 254 нм) без фильтра УФС-1 относительная интенсивность люминесценции определяется следующим образом. Кювету с эталонным люминофором освещают бактерицидной лампой и снимают показание гальванометра, соединенного с приемником излучения. В этом случае х пропорционально интенсивности люминесценции и топ части возбуждающего света, которая отражается люминофором. Для того чтобы учесть последнюю, бактерицидную лампу закрывают стеклянной пластинкой 7, которая не пропускает свет с длиной волны 254 нм. При этом люминофор не возбуждается, так что показание гальванометра аз, деленное на коэффициент пропускания стеклянной пластинки т, пропорционально величине интенсивности света, отраженного люминофором. Затем производят такие же измерения для исследуемого люминофора. Относительную интенсивность люминесценции (в %) вычисляют по формуле. [c.172]

Рис. 8.26. Внешшш впд спектрофотометра фирмы Opton КМЗ для массовых измерений отражения, пропускания, одновременного измерения интенсивности отражения и пропускания, а также

Некоторые промышленные изделия обнаруживают неоднородность цвета от точки к точке либо с правильным распределением пеодпородности (текстильные изделия, полутоновая печать), либо с неправильным распределением неоднородности (окрашенные кистью изделия, обработанное дерево, крапчатая облицовочная плитка). Если структура пеодпородности существенна в сравнении с размером освещенного пятна, единственная кривая спектрального отражения (пропускания) не может быть надеж-ньш средством для определения среднего цвета неоднородного образца. Однако эту трудность можно обычно преодолеть повторными измерениями нескольких участков образца и усреднением результатов. [c.127]

Насадки 60X 180X220 мм Пульт 160X180X200 мм Диапазон исследуемой люминесценции 300—700 нм Собственное увеличение насадки 2,8 Минимальный размер фотометрируемо-го участка 0,001 мм Лампа ртутно-кварцевая СВД 120 А 175X95X450 мм 3 кг Пределы измерения коэффициентов отражения (пропускания) 1 — 100% Спектральный диапазон измерения 435— 700 нм [c.316]

Отечественная промышленность в настоящее время выпускает преце-зионные регистрирующие спектрофотометры СФ-2 и СФ-10, позволяющие проводить измерения коэффициентов пропускания и отражения гомогенных и светорассоивающих жидких и твердых образцов в видимой области. Однако часто возникает необходимость проводить исследования дисперсных образцов в ультрафиолетовой и инфракрасной областях спектра. Лучшим приемником диффузного света является интегрирующая сфера, стенки которой покрыты веществом, обладающим высокой отражательной способностью. [c.154]

В области 714—14 290 см сделаны измерения отражения и пропускания InSb при температурах между —183 и 226° С. [c.135]

Другой метод определения обоих коэффициентов был описан Саундерсоном [94]. Он требует двух измерений отражения одного в тонком слое и другого в слое бесконечной толщины , т. е. практически имеющем нулевое пропускание. [c.121]

Приведенные выше данные свидете.льствуют о том, что результаты измерения пропускания как в случае денситометрии, так и в случае флуоресценции почти не зависят от распределения по толщине слоя анализируемого вещества, в отличие от измерений отражения и флуоресценции на облучаемой стороне слоя, которые сильно зависят от характера распределения определяемого соединения но слою. Таким образом, при исследовании хроматограмм с различным распределением анализируемого вещества по толщине слоя иредпочтительно использовать методы пропускания. Неоднородность распределения вещества но слою сорбента может быть определена сравнением методов отражения и пропускания при тщательно выполненной калибровке. [c.85]

Лпнза 14 дает изображение выходной щели в плоскости полулинз 15. Вследствие двойного лучепреломления призмы Волластона в плоскости полу-линз получаются два изображения выходно1"1 щели. Пройдя полулинзы 15, установленные внутри барабана прерывателя 16, оба пучка отклоняются на 90° призмой 17, проходят через входные окна шара 18 и попадают на окна, к которым прижимается образец и эталон (в случае измерения коэффициентов отражения) или два эталона (в случае измерения коэффициентов пропускания). Свет, отраженный от образца и эталона, суммируется шаром и попадает на фотоэлемент 19, расположенный за выходным окном шара. Фототок, возникающий под влиянием суммарного светового потока, передается через усилитель на кинематическую систему прибора и значение оптической плотности (иропускания) автоматически фиксируется на бумажном бланке. [c.153]

Для спектрофотометрических измерений цвета применяют регистрирующий спектрофотометр СФ-Юм или СФ-14, предназначенный для измерения коэффициентов пропускания, оптической плотности прозрачных и мутных сред и коэффициентов диффузного отражения твердых и порошкообразных объектов в видимой области. Спектрофотометры СФ-10м и СФ-14 выпускает объединение ЛОМО, г. Ленинград. [c.501]

Устройство прибора СФ-26 и принцип и 1мерений. Внешний АИД прибора СФ-26 представлен на рис. 4.24. Измерение пропускания (оптической плотности) исследуемого объекта производят относительно эталона, пропускание которого принимается за 100%, а оптическая плотность — равной нулю. Прибор СФ-26 может комплектоваться приставкой ПДО-5, позволяющей снимать спектры диффузного отражения твердых образцов. [c.213]

Предлолсеиы таклсе разл. равноконтрастные колориметрич. сист. Наиб, широко распространена сист. С1ЕЬАВ с тремя координатами, две из к-рых — координаты цветности А и В, а третья — светлота Ь. Координаты цвета А и В могут быть получены матем. преобразованиями из координат X, V, X. Измерение этих координат можно проводить непосредствеино с помощью спец. трехцветных колориметров, сравнивая неизвестное излучение с оптич. смесью трех осн. излучений, или по спектральным характеристикам окрашенного тела. В последнем случае измеряют с помощью спектрофотометров спектральные коэф. пропускания и отражения, а затем преобразуют их в координаты цвета с учетом спектра стандартного источника освещения и функции восприятия (видности) стандартного наблюдателя. Ф-ция восприятия представляет собой зависимость остроты зрения от воспринимаемого цвета способности стандартного наблюдателя различать цвета определяются статистически иа основании изучения восприятия цвета неск. людьми с норм, зрением. [c.672]

Для измерения спектров используют спектральные приборы-спектрофотометры, осн. части к-рого источник излучения, диспергирующий элемент, кювета с исследуемым в-вом, регистрирующее устройство. В качестве источников излучения применяют дейтериевую (или водородную) лампу (в УФ области) и вольфрамовую лампу накаливания или галогенную лампу (в видимой и ближней ИК областях). Приемниками Излучения служат фотоэлектронные умножители (ФЭУ) и фотоэлементы (фоторезисторы на основе PbS). Диспергирующими элементами прибора являются призменный монохроматор или монохроматор с дифракц. решетками. Спектр получают в графич. форме, а в приборах со встроенной мини-ЭВМ-в графической и цифровой формах. Графически спектр регистрируют в координатах длина волны (нм) и(или) волновое число (см )-пропускание (%) и(или) оптич. плотность. Осн. характеристики спектрофотометров точность определения длины волны излучения и величины пропускания, разрешающая способность и светосила, время сканирования спектра. Мини-ЭВМ (или микро-процеесоры) осуществляют автоматизир. управление прибором и разл. мат. обработку получаемых эксперим. данных статистич. обработку результатов измерений логарифмирование величины пропускания, многократное дифференцирование спектра, интегрирование спектра по разл. программам, разделение перекрывающихся полос, расчет концентраций отдельных компонентов и т. п. Спектрофотометры обычно снабжаются набором приставок для получения спектров отражения, работы с образцами при низких и высоких т-рах, для измерения характеристик источников и приемников излучения и т.п. [c.397]

Можно также контролировать специфические свойства пленок, например поглощение, пропускание и отражение света и интерференционные эффекты, используя оптические измерительные устройства. Толщину пленок проводящих материалов можно контролировать по измерению сопротивления in situ, а толщину покрытий из диэлектрических материалов — по измерению емкости. Дальнейшее усовершенствование большинства таких методов in situ заключается в том, чтобы использовать их для контроля процесса нанесения покрытий. [c.214]