Спектрограф установка

Рис. 6. Типичная внешняя оптическая система. Слева показан источник света, далее линза из плавленого кварца, держатель кристалла и призма Волластона с двумя линзами. Справа — щель спектрографа. Установка с призмой Волластона может крепиться целиком при условии, что линзы могут передвигаться вдоль оптической оси, чтобы свет, проходящий через призму, был параллельным для данных длин волн. Если используется спектрограф с относительным отверстием коллиматора 1 30, то расположение оптической системы должно быть таково, чтобы расстояние X + У + Е было равно приблизительно 24 см [24].

Рпс. 39. Схема установки диафрагмы с фигурным вырезом перед щелью спектрографа [c.67]

Выполнение работы. Устанавливают ширину щели спектрографа 0,012 мм, помещают железные электроды в держатель штатива, возбуждают разряд и проверяют правильность установки трехлинзовой системы освещения щели спектрографа по изображению разряда на промежуточной диафрагме и по световому пятну на крышке щели. Источник возбуждения спектра— генератор ДГ-2, ток дуги 3—4 А, дуговой промежуток 1,5 мм. При фотографировании спектров стандартных образцов и проб до экспозиции проводят обжиг электродов в течение 10 с. В зависимости от чувствительности фотопластинки экспозиция меняется от 10 до 20 с. При искровом возбуждении используют генератор ИГ-3, включенный по сложной схеме индуктивность 0,05 мкГ, емкость 0,01 мкФ, ток искры 2 А, время обыскривания (обжига) 60 с, экспозиция 60 с. [c.33]

Изменение линейной дисперсии приборов с вогнутой решеткой зависит от способа ее установки. Дисперсия спектрографа остается практически постоянной,если падающий и разложенные лучи образуют с поверхностью решетки углы, близкие к прямому. [c.101]

Реальная разрешающая способность спектральных аппаратов несколько меньше, чем теоретическая, найденная по формуле (28). Одной из основных причин уменьшения разрешающей способности являются различные виды аберраций в оптической системе спектральных аппаратов. Иногда реальная разрешающая способность прибора ограничена низким качеством изготовления оптических деталей или недостаточно точной их установкой в приборе. Если разрешающая способность, вычисленная по разрешению близких линий в спектре, немного отличается от теоретической, то качество оптики спектрального аппарата хорошее. Так, например, качество кварцевых спектрографов со средней разрешающей способностью, проверяют по разрешению триплета 3100 А в дуговом спектре железа отдельные линии которого имеют близкие длины волн (ДЛ 0,ЗА). [c.106]

Для точной установки источника света и осветительной системы спектрографы снабжаются рельсом (рис. 89). Рельс прикрепляют к основанию прибора в строго определенном положении так, чтобы его направляющие поверхности были параллельны оптической оси коллиматора. Конденсоры укрепляются в специальных держателях, которые можно перемещать по рельсу. Точное положение держателя фиксируется винтом. Конденсоры можно несколько смещать для точного вывода их на оптическую ось. [c.127]

Заряжается кассета со стороны задней крышки. С передней стороны имеется шторка, которую открывают после установки кассеты на рамке в камерной части спектрографа. Рамка с кассетой может перемещаться в вертикальном направлении, благодаря чему на одной пластинке можно сфотографировать друг под другом целый ряд спектров. Перемещение рамки контролируют по шкале. [c.131]

Если линии освещены неравномерно, то это означает либо неправильную установку электродов и конденсоров, либо неисправность самого спектрографа непараллельность рельса оптической оси коллиматора или смещение какой-нибудь оптической детали в приборе. [c.142]

Сначала проверяют ноль раскрытия щели. Установив перед щелью яркий источник света, отмечают момент исчезновения и появления спектра при медленном раскрывании и закрывании щели. Наблюдения ведут со стороны кассеты. Если щель исправна и не имеет заметного мертвого хода, то появление и исчезновение спектра происходит при одном и том же положении микрометрического винта, которое и соответствует нулевой ширине щели. При дальнейшей работе со спектрографом ширину щели отсчитывают от этого значения. Установку ширины щели всегда делают, медленно раскрывая щель, но не закрывая ее. [c.142]

При работе с трехлинзовой осветительной системой щель спектрографа освещена равномерно, размеры круглого пятна точно соответствуют окружности на крышке щели. В то же время освещенность линии очень слабая и неравномерная по высоте. В чем заключаются причины этого явления и как его устранить, если сам спектрограф исправен и установка рельса правильная [c.143]

Схема спектрографической установки показана на-рис. 6.1,6. Регистрирующим прибором служит спектрограф 11, а ъ качестве спектроскопического источника света используется спектроскопическая импульсная лампа 1, свет от которой, пройдя реакционный сосуд и [c.279]

Рис. 16.20. Схема установки для наносекундной импульсной спектрографии.

Большое значение имеет конструкция распылителя и горелки. Так, при применении распылителей с камерами распыления и комбинированных горелок-распылителей механизм влияния органических растворителей различен. Отмечена неоднозначность результатов влияния органических растворителей на интенсивность спектральных линий натрия, полученных разными авторами в различных экспериментальных условиях [248]. Использована пламенно-фотометрическая установка на основе спектрографа ИСП-51. Сравнивалось влияние метанола, этанола, пропанола, бутанола, муравьиной и уксусной кислот, диоксана, ацетилацетона и водных растворов на эмиссию щелочных элементов в пламени ацетилен—воздух. Отмечено полное соответствие между увеличением скорости распыления раствора, уменьшением вязкости в ряду спиртов и ростом интенсивности спектральных линий натрия. Для кислот изменение интенсивности коррелирует с уменьшением вязкости и увеличением поверхностного натяжения. Все органические растворители практически не изменяют скорость распыления. Сделано предположение, что влияние органических растворителей связано с изменением диаметра капли аэрозоля. Из общей схемы выпадает ацетилацетон. Спирты в зависимости от их концентрации в растворе позволяют повысить чувствительность определения щелочных металлов (натрия) в 4—12 раз. [c.125]

При определении Sb в твердом материале наиболее низкие пределы обнаружения достигаются в разряде в полом катоде или наиболее широко распространенной угольной дуге постоянного тока при помещении навески анализируемого материала в полость электрода. Снижению пределов обнаружения Sb в различных материалах способствует правильный выбор осветительной системы, спектрографа и фотоэмульсии. От осветительной системы как части спектральной установки требуется, чтобы она не ограничивала максимально возможный световой поток через апертуру спектрографа. Этому требованию отвечает из простых схем только прямое отображение источника на щель спектрографа (однолинзовая система освещения). Спектрограф должен одновременно обеспечить высокое отношение интенсивностей линии и фона и достаточно высокий для фотографической регистрации уровень освещенности в фокальной плоскости камеры. Таким образом, он должен обладать как можно большей разрешающей силой (до предела, заданного естественной шириной линии) при достаточно [c.80]

Спектр железа, который является своего рода шкалой, фотографируется так электроды крепятся в держателях на штативе и устанавливаются по оптической оси при помощи специального осветителя, расположенного в корпусе штатива, и маховичков системы перемещения электродов. При правильной установке изображение электродов должно проецироваться на центр узкой щели диафрагмы промежуточного конденсора. После этого диафрагма открывается полностью или ее устанавливают на различные прямоугольные отверстия, позволяющие выделять участки изображения разной высоты от 0,8 до 5 мм. Эту диафрагму обычно устанавливают так, чтобы свечение раскаленных угольных электродов не попадало на щель спектрографа, иначе сильно увеличивается фон на пластинке. [c.191]

Следует указать, однако, что частотно-селективные аналитические спектральные установки обладают меньшим разрешением по сравнению со спектрографами тех же оптических параметров. В процессе сканирования на фотоумножитель поступает информация с участка спектра, на котором укладывается изображение аналитической линии и двойная ширина сканирующей щели. Это увеличивает в известной мере опасность помех со стороны соседних с аналитической линий спектра или молекулярных полос. [c.23]

Для регистрации флуоресцентного излучения используется установка, которая применяется и при определении других флуоресцирующих комплексов р. 3. э. и соединений (рис. 10). Анализируемый раствор находится в кварцевой кювете, помещаемой в светонепроницаемой камере с двумя отверстиями. Через одно отверстие под углом 45° на переднюю стенку кюветы падает возбуждающее излучение ртутной лампы СВД-120 А, снабженной светофильтром УФС-1 и кварцевым конденсором. Через другое отверстие передняя стенка кюветы проектируется на входную щель спектрографа ИСП-51, снабженного фотоэлектрической приставкой ФЭП-1. При анализе производят запись полос Ей с максимумом при 612 ммк, ТЬ — 543 ммк в растворах проб и проб с добавками известных количеств определяемых элементов. Метод позволяет определять 0,1—0,2% Ей и ТЬ в смеси окислов других р. 3. э. [c.103]

Таблица 5. Стилоскопы, спектрографы, спектрометры, фотоэлектрические установки для спектрального анализа

Рис. 30. Установка осветительной системы к спектрографу ИСП-22

Экстраполируя кривую до пересечения с осью абсцисс, определить ошибку нуля щели. Установить значение нуля щели непосредственной установкой при постепенном открытии механизма щели до появления слабого света (при наблюдении глазом через камеру спектрографа). Такое непосредственное определение провести несколько раз, каждый раз записывая значение по барабану. Среднюю величину полученных установок сравнить с определенной по градуировочной кривой. Определить цену деления барабана щели. [c.70]

Рис. 51. Схема расположения оптических деталей при установке угла отклонения в спектрографе ИСП-28

Механические насосы. Больишнство современных насосов предварительного разрежения — механические насосы разной конструкции, с весьма различной быстротой откачки. Последняя определяется объемом, вытесняемым подвижной частью насоса за единицу времени, и, следовательно, зависит от числа оборотоп мотора насоса. Производятся насосы с быстротой откачки от нескольких десятых до 300 д/сек. Самые маленькие насосы ставятся на течеискатели, масс-спектрографы, установки для распыления металлов и т. д., а самые большие обслуживают различные производственные объекты. [c.68]

Экспериментальные исследования спектров деполяризованного рэлеевского рассеяния в жидкостях производились с помощью установки /54/, несколько отличающейся от той, что была описана в гп. И, 1. Отличия сводились к тому, что в этом случае в качестве источника использовались более мощный лазер (аргоновый, мощностью 3 Вт) и другая спектральная система. Для измерения деполяризованных спектров применялся спектрограф ИСП-51 с камерой УФ-84 и фотоэлектрической системой регистрации. Измерения производились в жидкой фазе в бензоле, толуоле, параксиле, пиридине и ортокрезоле. [c.29]

Схема спектрографической установки показана на рис. 56, б. Регистрирующим прибором служит спектрограф J2, а в качестве спектроскопического источника света используется спектроскопическая импульсная лампа /, свет от которой, пройдя реакционный сосуд и спектрограф, попадает на фотопластинку 13. Спектроскопическая лампа зажигается через определенный промежуток времени после вспышки фотолитической лампы при помощи блока временной задержки 14. Таким образом по.лучается полный спектр поглощения фотолизуемого раствора. Меняя время задержки, можно получить набор спектров, изменяющихся во времени. В качестве импульсных фотолитических ламп обычно используются трубчатые импульсные ксеноновые лампы. Такие лампы имеют электрическую мощность до нескольких килоджоулей. Световая отдача таких ламп составляет 5- 20% от электрической мощности. Время вспышки ламп колеблется от 10 до 10 с (по уровню 1/е). Иногда для увеличения излучения в УФ-области к ксенону добавляют другие газы, например Нг, или ртуть. Используют им-пульсные лампы и с другим наполнением (Ог, N2, Аг). Ксенон обладает рядом преимуществ перед другими газами он имеет хорошие спектральные характеристики (сплошной спектр излучения), химическую инертность (нет взаимодействия с электродами), низкий потенциал ионизации. С увеличением энергии разряда максимум излучения смещается в ультрафиолетовую область. Разрешающее время импульсной установки определяется временем затухания светового импульса фотолитической вспышки. А время вспышки импульсной лампы в свою очередь зависит от нескольких факторов от типа лампы, электрической энергии и от емкости и индуктивности контура питания. Электрический контур составляют конденсатор, импульсная лампа и соединительные провода. Электрический разряд в контуре носит колебательный или затухающий характер в зависимости от соотнонюния между сопротивлением R, индуктивностью L и емкостью С элементов контура. Наиболее выгодным с точки зрения длительности импульса является соотпошепие Lj . Уменьшение времени затухания т достигается снижением индуктивности соединительных проводов, а также снижением емкости и индуктивности конденсатора (r yZ, ). При этом уменьшение энергии вспышки E = Wj2 компенсируется за счет увеличения напряжения на конденсаторе U. Увеличение [c.157]

Устанавливают ширину щели спектрографа 0,015 мм. Перед щелью размещают диафрагму Гартмана. Освещают щель трехлинзовой коиденсорной системой, установленной на стандартном расстоянии. Проверяют электрическую схему дуги, правильность установки коиденсорной системы и чистоту щели. [c.113]

В некоторых спектрографах рельс стоит под углом к оси, проходящей через центр щели. В этом случае перед щелью ставят плоское поворотное зеркало. Для его установки по высоте можно воспользоваться лампочкой, находящейся в кассетной части. Зеркало устанавливают так, чтобы оно стояло симметрично относительно выходящего из щели пучка. Для нахождения правильного угла поворота штатив с электродами отодвигают на дальний конец рельса и включают дугу. Поворачивая зеркало вокруг вертикальной оси, выводят изображение электродов в центр объектива при рассматрнйании их со стороны кассеты. [c.142]

Микрофотометр МФ-2. Внешний вид прибора и его оптическая схема показана на рис. ПО. Предметный столик с фотографической пластинкой для удобства работы расположен горизонтально. Он может перемещаться вдоль спектра с помощью микрометрического винта или свободно от руки при незакрепленном стопоре. Микрометрический винт позволяет точно выводить измеряемую линию на щель, а также измерять почернения сплошного фона всегда на одном и том же расстоянии от спектральной линии. Перемещение предметного столика вдоль спектральной линии позволяет фотометрироватьразные спектры, сфотографированные на одной пластинке, а также измерять почернения разных по высоте участков одной линии. Перемещение столика в обоих направлениях можно контролировать по шкалам, деления которых соответствуют делениям шкал спектрографа ИСП-28, — миллиметровой, которая впечатывается на пластинку, и шкалы вертикального перемещения кассеты. Это помогает быстро выводить нужный спектр и находить аналитическую линию. Для правильной установки фотографической пластинки на предметном столике имеются три винта, которые могут слегка разворачивать фотографическую пластинку вокруг трех взаимно перпендикулярных о ей. [c.172]

Отмечается [713], что при пламенно-фотометрическом определении натрия с помощью фильтрового фотометра К. Цейсс (модель П1) этанол снижает интенсивность излучения натрия за счет увеличения самоноглощения, изменения температуры пламени и кинетики процессов, несмотря на увеличение эффективности распыления раствора. При изучении влияния муравьиной, уксусной, винной и лимонной кислот на определение натрия с помощью спектрофотометра на основе спектрографа ИСП-51 установлено повышение чувствительности определения натрия в 5—10 раз в присутствии 100%-ной уксусной кислоты и в 1,5—2 раза для 2 М раствора кислоты [713]. В несколько меньшей степени влияет муравьиная кислота. Винная и лимонная кислоты снижают интенсивность излучения натрия. Основное значение придается роли поверхностного натяжения раствора. Отмечается, что уксусная кислота увеличивает эмиссию и абсорбцию натрия за счет уменьшения диаметра частиц аэрозоля [497]. Изучено влияние метанола, этанола, бутанола и уксусной кислоты на распределение свободных атомов в пламени ацетилен—воздух и на температуру [559]. Для этой цели применяли пламенно-фотометрическую установку на основе спектрографа ИСП-51, комбинированную горелку-распылитель. При концентрации органического растворителя 1 М температура пламени повышается на 100° С. Интенсивность линий натрия в присутствии органических растворителей максимальна в более высокой зоне пламени по сравнению с водным раствором. Общий объем пламени возрастает. Аналогичные результаты получены в работе [397]. [c.126]

Для неоднородных по минеральному составу микрообъектов метод может дать только полуколичественные результаты из-за различия в степени испарения разных минералов. В работе [34] даны схемы и описание лазерной установки Микроспектролазер , состоящей из лазерной приставки размером 50 X 20 X 15 см к микроскопу МИН-8 и генератора размером 45 X 45 X 35 см и работающей в комплекте со спектрографом (ИСП-30, СТЭ-1 и др.). Кристалл лазера — рубиновый стержень диаметром 6 мм, длиной 75 мм. Количество испаряемого вещества 2-10 —1-10 г. Предел обнаружения хрома 0,05%. [c.121]

Имеется несколько других установок для вогнутых решеток в большинстве их использован принцип круга Роуланда. Наиболее широко распространена установка, известная под названием установки Игля. Входная щель, решетка и фотокамера монтируются на одной узкой прочной раме. Щель на раме закрепляется неподвижно (ширина щели, конечно, регулируется), но решетка и фотокамера могут передвигаться вдоль длинной стороны рамы и могут одновременно поворачиваться вокруг своих вертикальных осей. На рис. 5.12 показано два положения рамы с решеткой и фотокамерой в спектрографе с установкой Игля, в одном из которых на фотокамеру попадает волна, соответствующая точке В, а в другом — точке А. В лю бом устано(вленно1м положении захватывается лишь ограниченный диапазон длин волн, дисперсия же прибора велика. Все узлы прибора можно регулировать из одного пункта. Преимуществами описанного спектрографа являются его компактность и неизменное положение щели и источника излучения рядом с фотокамерой (см., например, рис. 5.13). [c.91]

Рис. 5.12. Установка Игля для спектрографа с вогнутой решеткой

Рис. 5.13. Большой спектрограф с решеткой и установкой Игля (ра

Рис. 5.15. Стигматическая установка Уодсворта для спектрографа с вогнутой решеткой

Рис. 5.16. Большой спектрограф с решеткой, снабженный установкой Уодсворта. (Источник возбуждения и фотокамера находятся на противоположных концах.)

Особое внимание привлекают работы, направленные на повышение чувствительности фотоэлектрических методов спектрального анализа. Чувствительность анализа, достигаемая при помощи квантометров и фотоэлектрических стилометров, обычно несколько ниже, чем при фотографической регистрации спектра, если разрешающие способности оптики спектрографа и оптики фотоэлектрической установки равны. Это обусловлено способом выделения неподвижных в процессе регистрации спектральных линий системой выходных щелей спектрального аппарата, а также рядом других причин. Тепловой дрейф спектра заставляет использовать выходные щели, в несколько раз превышающие по ширине изображения спектральных линий. Флуктуирующий сигнал, обусловленный фоном спектра, возрастает пропорционально ширине выходной щели. Флуктуирующий сигнал аналитической линии в рассматриваемом случае от ширины выходной щели практически не зависит. Поэтому для квантометрических установок характерно худшее по сравнению со спектрографом отношение мощностей сигналов линии и фона. [c.21]

Изучение спектрального, отражения производилось при помощи монохроматора УМ-2 и фотоумножителя ФЭУ-19 в области видимой части спектра й,при помощи спектрограф а ИСП-51 — в ближней инфракрасной области. Питание фотоумножителя обеспечивалось выпрямительным блоком высокого напряжения установки типа Орех . Во всех опытах напряжение, подаваемое на фoтoyмнoжиteль, было хорошо стабилизировано и составляло 1100 в. При фотографировании на спектрографе использовались фотопластинки Инфра-840 чувствительность которых увеличивалась вплоть до 1000 нм сенсибилизацией по методу, описанному в [2]. Полученные спектрограммы подвергались обработке на микрофотометре. [c.3]

Разделитель порядка спектров при работе со спектрографами типа ДФС-8 ТУ 3-3-1120—75 РПС1 Я = 200-Т-600 нм обратная линейная дисперсия 10,8 нм/мм (при к = = 250 нм) воспроизводимость установки выходных щелей 0,2 мм 400x155x380 мм 7 кг [c.228]

Установка щели в фокальной плоскости коллиматориого зеркала. Для проведения этого этапа юстировки на боковую поверхность призмы Корню 1 (рис. 48) помещается специальная вспомогательная призма 2 с алюминированной поверхностью и углом 52°57. Она должна быть посажена строго перпендикулярно основанию призмы Корню. Далее на входную щель спектрографа надевается автоколлимационная насадка (рис. 49) с призмой полного внутреннего отражения 3 и лампочкой подсветки 2. [c.85]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология