Электронная дифракция распределение

В книге, состоящей из 40 глав, основное место, естественно, уделяется описанию различных методов исследования полимеров. Представлены все методы определения молекулярных весов полимеров, их молекулярновесового распределения, обсуждаются разнообразные спектральные методы, применяющиеся для анализа строения и структуры гомо- и сополимеров УФ-, ИК-, КР-спектро-скопия, эмиссионная спектроскопия, спектроскопия ЯМР, масс-спектроскопия, спектроскопия ЭПР, нейтронное рассеяние, аннигиляция позитронов. Ряд глав посвящен хроматографическим методам, таким, как газовая и жидкостная хроматография, в том числе и при высоких давлениях, тонкослойная хроматография, ионообменная хроматография, ситовая хроматография, включая гель-про-никающую хроматографию, хроматография с обращением фаз. Методы анализа структуры полимеров обсуждаются при рассмотрении электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, дифракции электронов и ряда других методов. Физические свойства полимеров оцениваются с помощью таких методов, как дилатометрия, определение температур плавления и стеклования полимеров, их электрических характеристик, анизотропии, диффузии и поверхностного натяжения. Представлены также методы исследования различных видов деструкции полимеров. [c.6]

Впервые проведено комплексное исследование ГЦК углерода методами Оже-спектроскопии, электронной дифракции, просвечивающей электронной микроскопии с атомным разрещением, КР-спектроскопии, ИК Фурье-спектроскопии, Фурье-синтез кристаллического потенциала, свидетельствующие о том, что эта фаза - новая фаза углерода. Химический анализ показал, что ГЦК-фаза является чисто углеродной. Рассчитанное по данным электронной дифракции распределение кристаллического потенциала внутри элементарной ячейки кристалла показало, что атомы углерода находятся только в позиции ГЦК. [c.178]

Несомненный интерес представляет цикл работ Со-морджая и сотр. [174—177] по исследованию кинетики различных реакций (в том числе дегидроциклизации) на монокристаллах металлов (Р1, 1г, N1, Ag) с одновременным определением структуры и состава поверхности методом дифракции медленных электронов и Оже-спект-роскопии. Показано, что атомные ступеньки на поверхности монокристалла Р1 являются активными центрами процессов разрыва связей С—Н и Н—Н. Зависимость скоростей реакций дегидрирования и гидрогенолиза циклогексана и циклогексена от структуры поверхности Р1 свидетельствует о существовании изломов и выступов на атомных ступеньках. Такие дефекты структуры являются особенно активными центрами процесса расщепления С—С-связей. Установлено, что активная поверхность Р1 в процессе реакции покрывается слоем углеродистых отложений свойства этого слоя существенно влияют на скорость и распределение продуктов каталитических реакций. Показано, что дегидрирование циклогексана до циклогексена не зависит от структуры поверхности (структурно-нечувствительная реакция). В то же время дегидрирование циклогексена и гидрогенолиз циклогексана являются структурно-чувствительными реакциями. Полученные результаты позволили расширить классификацию реакций, зависящих от первичной структуры поверхности катализатора и от вторичных изменений поверхности, возникающих в процессе реакции. При проведении реакций на монокристаллах 1г показано, что ступенчатая поверхность 1г в 3—5 раз более активна в [c.252]

В результате измерения методом дифракции электронов установлено присутствие в трополоне правильного и плоского семиугольника со следующими расстояниями С—С 1,39 А С—И 1,10 А С—О 1,34 и 1,26 А (Кимура и Кубо, 1953 г.). Таким образом, связи С—С имеют ту же длину, что и в бензоле (см. том I), а обе связи С—О между собой не равны. Из теплоты сгорания была вычислена известным способом (том I) энергия сопряжения, равная 33—36 ккал и близкая энергии сопряжения бензола. Отсюда следует, что ароматическое состояние трополона обусловлено системой шести тг-электронов, равномерно распределенных в плоском кольце, содержащем семь тс-орбит (см. правило Хюккеля число ти-электронов = 4га + 2 том I). [c.340]

Первые физические методы установления строения вещества возникли в 1912 г. с началом применения дифракции рентгеновского излучения для структурного анализа. В настоящее время для исследования химического и кристаллохимического строения веществ применяются дифракционные, спектроскопические, резонансные и другие физические методы. Многие из этих методов дают возможность получать информацию о более тонких вопросах химического и кристаллохимического строения вещества распределении электронной плотности и степени ионности связи, эффективных зарядах атомов, валентных состояниях атомов химических элементов, входящих в соединение, и т. п. Кроме того, физические методы принципиально отличаются от химических тем, что они являются неразрушающими, т. е. в процессе исследования химическое и кристаллохимическое строение вещества не изменяется. [c.173]

В условиях нормальной дифракции рентгеновских лучей длина волны падающего излучения к меньше длины волны собственных электронных переходов в атоме Хк (а частота V, соответственно, больше v ), т. е. кК кк и v>v . Это позволяет использовать приближение рассеяния рентгеновских лучей свободным электроном. Такой электрон становится источником сферической волны с амплитудой р. Атомная амплитуда рассеяния А (0) является результатом сложения волн, рассеянных всеми электронами атома, пропорциональна Р и зависит от угла рассеяния 0 и плотности распределения электронов в атоме. Обычно атомной амплитудой рассеяния называют безразмерную величину /(0) =Л (0)//. С увеличением угла рассеяния 0 функция /(0) резко уменьщается от величины I (порядковый номер) до нуля. В принятом приближении функция /(0) является действительной. [c.218]

Фатов М.В. Модель структуры ГЦК-углерода (Расчет распределения кристаллического потенциала по картине электронной дифракции моделирование) .......................................................................198 [c.16]

Ввиду очевидной связи распределения напряжений в теле с его строением, а следовательно, и связи структуры и механических свойств твердых тел, работ по изучению поведения структуры тел под нагрузкой, по выявлению структурно-меха-нических корреляций и т. п. велось и ведется очень много (см., например, [88, 89, 190, 191, 250]) с привлечением разнообразных структурно-чувствительных методов оптической и электронной микроскопии, оптической, рентгеновской и электронной дифракции, спектроскопических методов и т. д. Однако сложность и неоднозначность структурно-механических связей, многообразие строения тел, видов и условий их разрушения и деформирования делают разработку данной проблемы достаточно грудной. [c.276]

Модель структуры ГЦК-углерода (Расчёт распределения кристаллического потенциала по картине электронной дифракции моделирование) [c.198]

О строении ориентированных полимеров на м о-л е к у л я р н о Л1 уровне (т. е. о конформации и ориентации макромолекул) дают сведения следующие прямые методы поляризационная ИК-спектроскопия, двойное лучепреломление, ЯМР, рентгеновская и электронная дифракция в больших углах. Наиболее информативным является первый метод, к-рый по дихроизму различных полос поглощения в ИК-спектре позволяет определять степень ориентации участков макромолекул отдельно в аморфных и кристаллич. областях полимера, ориентацию различных боковых групп, распределение и ориентацию участков макромолекул с различными последовательностями звеньев (цис-, гош,- и тракс-формы). Подобной детальной информации с помощью др. методов получить не удается, однако применение каждого из них в каких-то случаях оказывается весьма полезным. Напр., метод двойного лучепреломления отличается простотой и доступностью, метод рентгеновской дифракции очень чувствителен к ориентации кристаллитов. [c.260]

Исследование радиального распределения электронной плотности углеродных атомов методом дифракции рентгеновских лучей [8-24] показывает, что пики на диаграммах соответствуют тригональным углерод-углеродным связям длиной 0,142 нм, отражающим существование гексагональных углеродных слоев, и тетраэдрическим связям длиной 0,155 нм. Есть некоторые основания считать, что длина последних связей определяется деформацией гексагональных плоскостей, изменяющей межатомные [c.489]

Дифракционные методы. В дифракционных методах исследования рентгеновское излучение, поток электронов или нейтронов взаимодействуют с атомами в молекулах, жидкостях или кристаллах. При этом исследуемое вешество играет роль дифракционной решетки. А длина волны рентгеновских квантов, электронов и нейтронов должна быть соизмерима с межатомными расстояниями в молекулах или между частицами в жидкостях и твердых телах. Сама же дифракция (закономерное чередование максимумов и минимумов) представляет собой результат интерференции волн. Она зависит от химического и кристаллохимического строения, следовательно, соответствует структуре исследуемого вещества. Поэтому есть принципиальная возможность для решения обратной задачи дифракции, т. е. установление структуры вещества по его дифракционной картине. Обратная задача дифракции для рентгеновского излучения, дифрагирующего в конденсированных средах, называется рентгеноструктурным анализом. Методы применения электронных и нейтронных пучков вместо рентгеновского излучения называются электронографией и нейтронографией соответственно. Общим для этих методов является анализ углового распределения интенсивности рассеянного рентгеновского излучения, нейтронов и электронов в результате взаимодействия с веществом. Но природа рассеяния рентгеновских квантов, нейтронов и электронов не одинакова. Рентгеновское излучение рассеивается электронами атомов, входящими в состав вещества. Нейтроны же рассеиваются атомными ядрами а электроны — электрическим полем ядер и электронных оболочек атомов. Интенсивность рассеяния электронов пропорциональна электростатическому потенциалу атомов. [c.195]

Более детально было исследовано распределение электронной плотности в решетке графита. Если каким-либо способом зафиксировать фигуры Кекуле или другие фигуры, то можно исследовать влияние расположения валентных связей на электронную плотность. Например, по электронной дифракции можно установить, что вокруг атома углерода имеется неравномерное распределение наружных валентных электронов [1107]. Однако рентгеновские исследования и нейтронная дифракция [35] показывают, что распределение плотности валентных электронов имеет максимум около центральных точек С — С-связей. [c.12]

Относительно большая плотность распределения карбидов в основном веществе этих сталей не может быть объяснена выделением только на дислокациях, существующих после растворяющего отжига и быстрого охлаждения. Кристаллографическая ориентация карбидов, идентифицированная электронной дифракцией в аустените перед сенсибилизацией, как [110], не соответствует наличию дислокаций вдоль направления [110]. Значит, дислокации образуются во время роста частиц карбидов, а на вновь образовавшихся дислокациях выделяются следующие карбиды. Этим механизмом можно объяснить значительные выделения карбидов в основном твердом растворе при относительно высокой плотности их распределения, если содержание углерода в стали достаточно велико. [c.63]

Показанные на рис. 6-1 и 6-2 распределения углеродных и внедренных слоев в большинстве случаев нуждаются в поправке [6-12]. Исследования методом дифракции электронов показывают, что многие МСС имеют в своем составе несколько ступеней [6-2]. [c.256]

Таким образом, сопоставляя числовые значения положения и площади первого максимума кривой распределения со значениями, вычисленными по предлагаемым моделям, можно судить о пространственном расположении атомов в исследуемом бинарном сплаве. Однако удовлетворительное совпадение теоретических кривых распределения с экспериментальными не всегда достигается. В некоторых случаях результаты исследования структуры бинарных сплавов могут оказаться неоднозначными, поскольку на основании одной экспериментальной кривой интенсивности /(5) двухкомпонентного расплава получается лишь средняя функция атомного распределения р (Я). Нас же интересуют парциальные функции 0ц(7 ), Q22 R), Qi2 R) и Q2l R), описывающие структуру расплавов. В принципе они могут быть определены путем проведения трех независимых дифракционных экспериментов. В одном эксперименте используется дифракция рентгеновских лучей, в другом — дифракция нейтронов, в третьем — дифракция электронов (или нейтронов, если один из компонентов обогащен его изотопом). В разных излучениях атомные амплитуды рассеяния / 1(5) и а(5) неодинаковы, отличаются друг от друга и экспериментальные кривые интенсивности /(5). С их помощью могут быть рассчитаны парциальные структурные факторы а (8), Фурье-анализ которых дает искомые парциальные функции распределения д ij(R). [c.87]

Система RYSALIS j ] определяет трехмерную структуру белка по распределению плотности электронов (РПЭ). ЭС интерпретирует информацию по дифракции рентгеновских лучей, включающую информацию о положении и интенсивности рассеянных волн, и выводит атомную структуру. ЭС использует знания о составе белка и рентгеноструктурном анализе, а также эвристики, чтобы с помощью анализа РПЭ получать и проверять гипотезы относительно правдоподобных белковых структур. HYSALIS использует архитектуру типа доски объявлений , содержащей независимые источники знаний для выдвижения и проверки многоуровневой структуры гипотез. ЭС написана на языке ЛИСП. [c.262]

Так, в работах /123, 124/ на основе данных электронной и /125/ рентгеновской дифракции бып сделан вывод, что для структуры углеводородных цепей в жидкой фазе характерна высокая упорядоченность. Упорядочшные области, образованные параллельными участками цепей в транс-конформациях, могут в случае н-алканов и полиэтилена простираться на расстояния 10 нм и занимать до 60% объема расплава. Однако последующие исследования функций радиального распределения, полученных методами электронографии и рентгенографии /125/, поставили под сомнение выводы авторов /123, 124/ и выявили лишь локальную упорядоченность в располож ии участков молекул, по сути дела ничем не отличающуюся от ближнего порядка в структуре простых низкомолекулярных жидкостей. Аналогичные выводы получены методами ИК-спектроскопии /106/ и методом малоуглового рассеяния нейтронов /107/. [c.159]

В отличие от кристаллов, в жидкостях при практически той же средней плотности распределения вещества дальний порядок отсутствует. Есть только ближний порядок, т. е. правильность расположения молекул или атомов в непосредственной близости от данной центральной молекулы, резко нарушающаяся с расстоянием. Такой ближний порядок, как и дальний порядок в кристаллах, может быть количественно изучен с помощью современных методов структурного анализа — по дифракции рентгеновских лучей или электронных пучков с длиной волны, соизмеримой с межмолекулярными расстояниями. [c.171]

Обратимся к распределению молекул во льду. Структура льда или обыкновенного льда, подробно изучена методами рентгеноструктурного анализа, дифракции электронов и нейтронов. Первые два метода определяют положение атомов кислорода. Установлено, что лед кристаллизуется в гексагональной сингонии и что расположение атомов кислорода во льду изоморфно положению атомов кремния в р-тридимите. [c.410]

Дифракция нейтронов, как и рентгеновская дифракция, используется для анализа кристаллических образцов. Этот метод является фактически дополнительным к методу рентгеновской дифракции рентгеновское излучение рассеивается электронами, а нейтроны — ядрами атомов. Сочетание надежных данных, полученных при помощи этих двух дифракционных методов, позволяет получить информацию о распределении электронной плотности в молекулах кристаллов. [c.390]

С помощью таких соотношений обычно удается выразить фазовые углы для наиболее сильных брэгговских отражений, обычно около 10 на атом (не считая атомы водорода), что, таким образом, дает возможность рассчитать карту распределения электронной плотности с хорошим приближением. Аналогичные методы существуют и для нецентросимметричных кристаллов. Разработка высокопроизводительных компьютерных программ одновременно с появлением автоматических дифрактометров и высокоскоростных компьютеров привело к прорыву в 1970-х в области рентгеновской дифракции, которая стала основным методом структурного анализа. В настоящее время нормальной практикой считается, когда первое сообщение о синтезе нового вещества сопровождается данными рентгеноструктурного анализа. [c.410]

При изучении монокристалла (чаще всего в виде шарика диаметром 0,1-0,3 мм) по углам дифракции устанавливают форму и размеры элементарной ячейки кристалла. По закономерному отсутствию нек-рых отражений судят о пространств. группе симметрии кристалла. По интенсивности отражений рассчитывают абс. значения структурных амплитуд. Структурные амплитуды-коэффициенты рядов Фурье, с помощью к-рых представляют ф-цию распределения электронной плотности р(г), где г-радиус-вектор любой точки в элементарной ячейке кристалла. Положения максимумов этой ф-ции отождествляют с положением атомов, а по форме максимумов судят о тепловых колебаниях атомов. Фазы структурных амплитуд (т.е. сдвиг фазы отраженной волны по отношению к падающей) в общем случае непосредственно из эксперимента определить нельзя для этого разработаны спец. косвенные методы. [c.241]

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз , наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [c.2]

Сочетание данных рентгеновской и нейтронной дифракции (Х-М-синтез) позволяет экспериментально определить распределение валентных электронов. [c.413]

В ходе дегидрирования полиацетилена в присутствии металлического калия в условиях высоких давлений образуются гидрид калия и углеродная матрица, интеркалированная калием. Полученное соединение бурно реагирует с водой и минеральными кислотами. После обработки соляной или азотной кислотой были выделены коричневые пластинчатые кристаллы гексагональной формы (и1 мм, толщиной до 1 мкм). Картина электронной дифракции кристалла и распределение интенсивностей рефлексов отвечают гексагональной кристаллической решетке карбина с п.э.я. а=0,886, с=1,6 им. Полученные результаты свидетельствуют о том, что карбин способен образовывать интеркалированные соединения с щелочными металлами. [c.28]

Это же относится и к расчетам электронных плотностей в пространстве молекул Хотя и существуют эксперименты по рассеянию электронов и электронной дифракции на молекулах, позволяющие опытным путем получить картину электронного распределения, причем визуаль- [c.333]

Пучок электронов получить значительно легче, чем пучок нейтронов, если использовать термоэлектронную эмиссию с поверхности нагретой вольфрамовой проволоки, помещенной в вакуум,иро-ванную трубку. Дифракционную картину регистрируют на флуоресцирующем экране и фотографируют. Для получения электроно-грамм необходимо использовать очень тонкие (10—100 нм) образцы. Информация, получаемая с помощью гармонического анализа электронограмм, отражает скорее распределение областей с высоким электростатическим потенциалом, чем распределение электронной плотности. Атомный фактор рассеяния для электронов равен iэll = Z— х), где С — константа. Поэтому с помощью электронной дифракции легче определить расположение легких атомов, чем тяжелых. Этот метод можно использовать для изучения соединений, которые не образуют крупных кристаллов, а также для газообразных веществ, которые вводят в виде. молекулярного пучка перпендикулярно электронному пучку. [c.57]

Ионы хлора образуют решетку, идентичную решетке, образуемой ионами цезия. Поэтому отражения от плоскостей, содержащих ионы хлора, возможны точно под теми же углами, что и от плоскостей, содержащих ионы цезия. В рассматриваемом случае плоскости ионов хлора располагаются точно посередине между плоскостями ионов цезия, и расстояние между этими плоскостями составляет //2. Поэтому волны, отраженные от плоскости ионов хлора, будут смещены по сравнению с волнами, отраженными от соседней плоскости ионов цезия, на величину 51п0. При нечетных п эти волны смещены на половину волны и гасят друг друга. Однако в силу различий в амплитуде колебаний рассеяния (она существенно меньше для менее интенсивно рассеивающих ионов хлора) гашение будет неполное, т. е. рефлексы наблюдаются. При четных п волны, рассеянные от обеих плоскостей, совпадают по фазе, и рассеяние от ионов хлора будет несколько усиливать рассеяние от ионов цезия. Следовательно, рассеяние от системы плоскостей, содержащих грани элементарной ячейки, более интенсивно под углами 22 и 48,52°, чем под тремя остальными углами. Рассеивание от системы плоскостей, содержащих диагонали граней элементарной ячейки, под углом 31,95° существенно сильнее, чем под углами 15,34 и 52,54°. Следовательно, распределение интенсивности между рефлексами содержит информацию о распределении атомов в пределах элементарной ячейки, т. е. о структуре частиц, составляющих ячейку. Именно этим обстоятельством определяется возможность применения дифракции рентгеновского излучения для определения структуры молекул в кристаллах. Кристаллы, построенные из сложных молекул, дают очень сложную картину распределения интенсивностей отдельных рефлексов. Однако по ней можно полностью восстановить расположение отдельных атомов в элементарной ячейке и тем самым установить полную пространственную структуру молекул, из которых построен кристалл. Используя некоторые дополнительные приемы и применяя для расчетов быстродействующие электронно-вычислительные машины, удается получить пространственную структуру даже таких сложных молекул, как белки и нуклеиновые кислоты. [c.185]

Оказывается, однако, что одинаковые эллипсоиды могут быть получены для различных типов ориентации. Поэтому измерение дихроизма только для одной полосы поглощения в общем случае не позволяет различать эти типы ориентации. Выбор тех или иных распределений основан не только на измерении дихроизма нескольких полос, но и на данных рентгеновской и электронной дифракций. Большинство функций ориентации, которые можно использовать для интерпретации данных по дихроизму, рассмотрено Фрезером (Fraser, см. [70, гл. 5]). [c.119]

Просвечивающая электронная микроскопия [221] показала, что на ранней стадии осаждения родия на поверхности (111) серебра происходит образование дискретных ориентированных пирамид. В этом случае их распределение на поверхности имеет случайный характер. Однако при осаждении кристаллитов золота даже на моноатомных ступенях каменной соли неоднократно наблюдалось предпочтительное осаждение. Это явление будет обсуждаться в данном обзоре в качестве примера использования метода делинеаризации поверхностных ступеней (рис. 23). Предпочтительное образование центров кристаллизации на ступенях поверхности может возникнуть как для ориентированных, так и для неориентированных осадков в последнем случае ориентация кристаллитов на ступенях оказывается такой же, как и в том случае, когда зарождение центров кристаллизации на поверхности носит случайный характер. Иногда при осаждении металлического пара на другом металле возникают осложнения, вызванные образованием сплава. Если медь осаждается на золоте при комнатной температуре, то образуется тонкий слой сплава медь — золото [226]. Лишь после осаждения других, новых слоев меди можно методом электронной дифракции определить параметры решетки меди. [c.184]

Данные электронной дифракции и электронной микроскопии полиметаллфенилсилоксанов указывают, что природа металлов влияет на степень кристалличности, тип кристаллической рещетки и плотность упаковки [419]. Приведена [420, 421] диаграмма массового распределения силоксана для интерпретации структуры линейных и циклических силоксанов. [c.517]

Методы рентгено- и электронной дифракции на решетке кристалла позволяют найти распределение электронных плотностей, потенциалов и эффективных ионных зарядов. При правильной оценке эффектов усреднения по времени и пространству получаемые экспериментальные данные в настоящее время уже со сравнительно высокой точностью позволяют корректировать выбор выражений волновых функций, давать численные значения величин эффективных зарядов и решать проблему создания единой теории химической связи кристал- лов, включающую зонную теорию. В частности, эксперимен-/тально получаемые данные по распределению потенциала в решетке кристалла позволяют с известной точностью выяснить картину строения его энергетических зон. уточнить значения эффективных зарядов ионов. Представляет интерес сопоставить их с теоретическими значениями, которые находятся, например, по методу Сцигети. Эти вопросы затрагиваются з статьях сборника. [c.4]

Именно этим обстоятельством определяется возможность применения дифракции рентгеновского излучения для определения структуры молекул в кристаллах. Кристаллы, построенные из сложных молекул, дают очень сложную картину распределения интенсивностей отдельных рефлексов. Однако по ней можно полностью восстановить расположение отдельных атомов в элементарной ячейке и тем самым установить полную пространственную структуру молекул, из которых построен кристалл. Используя некоторые дополнительные приемы и применяя для расчетов быстродействующие электронно-вы-числительные машины, удается получить пространственную структуру даже таких сложных молекул, как белки и яуклеиновые кислоты. [c.163]

Рентгеновские лучи способны к дифракции (рассешию), а кристаллы служат естественной дифракционной решеткой. Расстояния между плоскостями трехмерной кристаллической решетки (определяющие параметры элементарной ячейки) имеют такой же порядок, как и длина волны рентгеновского излучения, поэтому кристаллическая решетка и ведет себя подобно дифракционной решетке. Если монохроматический пучок рентгеновских лучей направить на кристалл, рентгеновские лучи рассеиваются когерентно, т е. при сохранении во времени постоянства соотношения между фазами волн и, следовательно, длины волны. Это создает возможность интерференции (сложения амплитуд волн) дифрагированного (вторичного) излучения, возникающего при взаимодействии первичного излучения с электронными орбиталями атомов кристаллической решетки. Получаемая дифракционная картина отражает трехмерную периодичности распределения электронных плотностей в кристаллической решетке, характеризующих расположение атомов. [c.145]

Распределение электронной плотности в молекуле соединения Е, исследованное методом дифракции рентгеновских лучей, показано на диаграммах (рис. 2). Диаграммы построены в координатах, которые соответствуют двум пересекающимся взаимоперпендикуляр-ным плоскостям, условно обозначенным х — у и х — г, отвечающим декартовым координатам положения атомов в молекуле. Цифры на этих диаграммах характеризуют электронную плотность вокруг атомов в молекуле соединения Е (как функцию пространственных координат). Максимумы электронной плотности, определяемые с помощью этих диаграмм, совпадают с пространственным расположением атомов, образующих молекулу. Значения максимумов приблизительно пропорциональны числу электронов у соответствующего атома. [c.30]

Е. Кальман, Ш. Лендъел и Г. Палинкаш исследовали структуру воды при 4°С методом дифракции электронов. Полученная ими кривая распределения подтверждает тетраэдрическое расположение ближайших молекул в воде, фиксирует длину связи О—Н = 0,95 А, расстояние между ближайшими атомами кислорода, равное 2,84 А, а также расстояния 4,3 4,9 и 6,85 А до вторых и последующих соседей. [c.229]

Так как молекулы в газовой фазе характеризуются всевозможными положениями, то дифракция электронов в этом случае дает непрерывную дифракционную картину, что обеспечивавт возможность получать кривые одномерного радиального распределения в зависимости от межатомных расстояний и способности атомов рассеивать излучение. Таким образом, данный метод применим лишь для веществ, которые имеют относительно малые размеры молекул [c.390]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология