Электронная дифракция интерпретация

Более поздние исследования электронной дифракции [21, 51, 52] привели к модели С4 для молекулы JFg. Авторы изучили спектр комбинационного рассеяния JFg в жидком состоянии при комнатной температуре и при более низкой. Полученный ими четкий спектр позволил определить состояние поляризации всех, кроме одной, линий, соответствующих основным частотам. Эти же авторы получили инфракрасные спектры поглощения JFg в области 250—330 см- . К сожалению, ИК-спектры пентафторида не полны, так как для жидкого состояния они не были изучены, в паровой же фазе спектры получены лишь при относительно низких давлениях пара, и по крайней мере две основных частоты лежат ниже предела спектрометра. Интерпретация спектров показала, что молекула JFg имеет конфигурацию тетрагональной пирамиды с симметрией с четырьмя атомами фтора по углам основного квадрата и атомом иода в центре, пятый же атом фтора [c.266]

Из экспериментальных способов изучения структуры поверхности наибольшее распространение получили оптические и электронномикроскопические методы. Электронная дифракция для этой цели используется несколько реже, что объясняется трудностями интерпретации отдельных дифракционных эффектов из-за отсутствия необходимой теоретической основы. [c.32]

Поскольку, как уже указывалось выше, электроны чрезвычайно сильно взаимодействуют с веществом, то для дифракционных исследований требуются очень тонкие образцы, способные пропускать большую часть электронов. Оптимальная толщина образцов, например для полиэтилена, составляет всего несколько сотен ангстрем, в то время как для рентгенографических исследований используются образцы толщиной приблизительно в несколько миллиметров. Поэтому основная задача всех методов препарирования заключается в получении достаточно тонких пленок полимеров. Однако приготовление образцов в таком виде, несомненно, вызывает существенное изменение их структуры, что создает определенные трудности при интерпретации результатов и распространении полученных данных на структуру полимеров в блоке. Полученные в последние годы результаты показывают, что применение методов препарирования объектов для электронной дифракции (например, кристаллизация из разбавленного раствора) привело к совершенно новому представлению о структуре полимеров. В принципе для изучения поверхностей толстых образцов можно использовать и дифракцию при отражении, однако в применении к полимерам подобного рода исследования еще не описаны. [c.233]

Ни один из аспектов просвечивающей электронной микроскопии не чреват такими трудностями в получении и интерпретации данных, как электронная дифракция. Особенно рискованна идентификация совершенно неизвестных частиц, и следует предостеречь читателя от больших ожиданий, связанных с применением этого метода. Трудности возрастают, когда имеют дело с мелкими магнитными частицами биогенного происхождения, встречающимися в ограниченном количестве. [c.238]

Именно с математическими выражениями такого типа и приходится иметь дело при интерпретации экспериментов по дифракции рентгеновских лучей на молекулярных кристаллах или при рассеянии электронов на молекулах С помощью таких экспериментов определяются в молекулах и кристаллах межатомные расстояния или длины связей и валентные утлы [c.103]

Однако широкому использованию этих методов мешали трудности в проведении эксперимента или в интерпретации результатов. В случае дифракции медленных электронов одной из трудных проблем стала идентификация тех структур, на которых происходит рассеяние. Даже в 1961 г. еще не научились отличать чистую поверхность от загрязненной на основании одних только дифракционных измерений. С другой стороны, изменения в эмиссии электронов не легко согласуются с изменениями поверхностной концентрации. Методики для измерения работы выхода также далеки от совершенства, как это видно из больших расхождений в результатах, полученных разными исследователями [40, 41]. И наконец, стандартные определения работы выхода дают среднюю величину, которая в значительной мере зависит от природы образца и от особенностей методики. [c.163]

В это же время были разработаны способы интерпретации данных по дифракции рентгеновских лучей молекулярными кристаллами сначала для плоских ароматических молекул, а затем для трехмерных органических и неорганических молекул. В наши дни использование автоматических дифрактометров и мощных электронно-вычислительных машин позволяет с большей или меньшей степенью надежности определять все большее число структур неорганических соединений. И, действительно, сейчас нередко сообщается структура соединения, получение и свойства которого еще не описаны. По всей вероятности, косвенные методы определения структуры будут использоваться в дальнейшем лишь для изучения строения соединений в растворе, где дифракционные методы малоэффективны. [c.10]

Как уже было отмечено в общих чертах в предыдущем разделе, предположение о том, что определенные ионы металлов имеют характерные для них координационные числа и их координационные многогранники обладают определенной формой или симметрией, было высказано Вернером и теми из его современников, которые следовали его теории. Эта гипотеза послужила чрезвычайно плодотворной базой для интерпретации значительного числа фактов, непонятных с какой-либо другой точки зрения. Как будет видно из дальнейшего, предположение о том, что координационные сферы Сг , Со и постоянно октаэдрические, а координационные сферы и Р(1 постоянно квадратные, подтверждается множеством экспериментальных данных. В этом разделе будет рассмотрено понятие координационных чисел и формы координационных сфер более общим и понятным способом. Будут обсуждены координационные числа от 2 до 9, причем для каждой геометрической структуры известные и описанные в литературе случаи. Отметим также, что еще более высокие координационные числа встречаются редко. В заключение скажем, что в настоящее время имеется огромное число прямых доказательств, полученных при помощи изучения дифракции рентгеновских лучей, и косвенных доказательств, основанных на изучении дипольных моментов, магнитных свойств и электронных спектров, в отношении координационных чисел и геометрического расположения лигандов, так что эти идеи уже не гипотезы, а хорошо установленные факты. [c.153]

Хотя по картине дифракции медленных электронов можно определить двумерную элементарную ячейку на поверхности, без интерпретации кривой распределения интенсивности обычно, кроме некоторых простых случаев, не удается однозначно установить расположение и тип атомов, входящих в ячейку. Тем не менее измерение кривой распределения чрезвычайно полезно для идентификации данного вещества и для определения изменений структуры поверхности. Однажды определенные кривые распределения интенсивности для поверхностей известного строения испо.иь-зуются в дальнейшем для идентификации этих поверхностей как отпечатки пальцев . [c.264]

Некоторые молекулярные структуры, установленные ранее визуальным методом, оказались ненадежными или даже вовсе неверными, в результате чего метод дифракции электронов незаслуженно приобрел плохую репутацию. Однако, как мы увидим в дальнейшем, прогресс в технике и в методике интерпретации позволяет при определенных условиях получать очень точные значения молекулярных параметров. Существуют две основные причины допущенных ранее ошибок. Во-первых, рассеяние, обусловленное легкими атомами, в особенности водородом, невелико, и оно может быть замаскировано рассеянием на более тяжелых атомах. Во многих ранних определениях структур молекул атомы водорода полностью игнорировались, что приводило к ошибкам при нахождении остальных параметров молекулы. Во-вторых, число дифракционных колец редко превышает десять, так что для определения параметров молекулы имеется не более двадцати максимумов и минимумов. Для некоторых молекул этого оказывается недостаточно и иногда казалось, что совершенно неправильные модели удовлетворительно передают ход экспериментальной кривой. В тех же случаях, когда форму молекулы можно уста- [c.100]

Для интерпретации рентгенограмм малоуглового рассеяния наряду с графическим методом расчета рентгенограмм [4] был применен метод построения функции распределения частиц путем преобразований Фурье интенсивности малоуглового рассеяния [5]. По аналогии с функцией радиального распределения атомов положение и интенсивность максимумов на кривой функции распределения частиц характеризуют расположение слоев или частиц в пространстве. Относительные величины интенсивности мало углового рассеяния приводились к электронным единицам приравниванием экспериментальной кривой к теоретической (рис. 3), рассчитанной для дифракции изолированными графитоподобными слоями I = 0,606 [4]. Функции распределения частиц [c.49]

Оказалось, что десять тг-электронов обоих колец плюс восемь электронов атома железа в сумме соответствуют 18-электронной оболочке криптона [33, 34], однако это не является необходимым условием образования подобной системы, где связь осуществляется кольцом, поскольку вскоре оказалось возможным получить аналогичные соединения кобальта и никеля, у которых имеется большее число электронов. Действительно, полное до-норное тг-связывание железа привело бы к слишком большому разделению заряда, чтобы это можно было согласовать с известными свойствами вещества [25а]. Поэтому, хотя молекула действительно построена (в смысле физического размещения ее составляющих) наподобие сэндвича, как это доказано методом дифракции рентгеновских лучей [35, 36, 37] и затем подтверждено интерпретацией инфракрасного спектра [38], электронная конфигурация более сложна и тонка, чем предполагалось вначале. Соображения, высказанные позднее с точки зрения молекулярных орбит [36, 39, 40], привели к выводу (изложенному в гл. 2), что происходит 5, -гибридизация и, кроме того, две -орбиты металла используются для создания фактических связей с кольцом. [c.269]

Таким образом, если взять какую-нибудь интерференцию, то для нее можно определить верхний предел среднего размыва, при котором она еще может существовать нри данной длине волны. В случае, например, внутримолекулярной интерференции, присутствующей и на электронограммах, и на рентгенограммах гидратцеллюлозы с й = 4,6 А, для электронной дифракции при длине волны X = 0,06 А У0,4 А и для дифракции рентгеновских лучей с X = 1,54 А = 1,6 А. Таким образом, величины смещений для данного угла рассеяния лежат в пределах между 0,4 и 1,6 А. Определение точного значения величин средних квадратичных смещений, при которых появляются те или иные интерференции, может иметь весьма существенное значение при интерпретации рентгенограмм высоконолимеров, хотя и требует применения широкого интервала длин волн, что сопряжено со значительными экспериментальными трудностями. В то же время мы считаем, что исследование структуры полимера при различных длинах волн является совершенно необходимым для правильной интерпретации интерференционных картин. [c.49]

Оказывается, однако, что одинаковые эллипсоиды могут быть получены для различных типов ориентации. Поэтому измерение дихроизма только для одной полосы поглощения в общем случае не позволяет различать эти типы ориентации. Выбор тех или иных распределений основан не только на измерении дихроизма нескольких полос, но и на данных рентгеновской и электронной дифракций. Большинство функций ориентации, которые можно использовать для интерпретации данных по дихроизму, рассмотрено Фрезером (Fraser, см. [70, гл. 5]). [c.119]

Данные электронной дифракции и электронной микроскопии полиметаллфенилсилоксанов указывают, что природа металлов влияет на степень кристалличности, тип кристаллической рещетки и плотность упаковки [419]. Приведена [420, 421] диаграмма массового распределения силоксана для интерпретации структуры линейных и циклических силоксанов. [c.517]

Дополнительное усложнение в структуру твердого тела вносят краевые эффекты на его поверхности или на поверхности раздела между фазами. В настоящее время очень мало известно о свойствах поверхностей или поверхностей раздела. Представление о поверхностном состоянии твердого тела только начинает возникать благодаря применению методов низкоэнергетической электронной дифракции для изучения некоторых, особо чистых поверхностей, полученных под очень высоким вакуумом. Однако в большинстве случаев имеют дело с поверхностями, которые не соответствуют этим требованиям. Поскольку поверхностные свойства чрезвычайно чувствительны к примесям, адсорб>ированпым даже в минимальных количествах, по-видимому, маловероятно, что при современном уровне знаний удастся удовлетворительно исследовать эти поверхностные свойства. Используя дифракцию электронов и спектроскопию для изучения поверхностей или методы электропроводности и магнитной восприимчивости, можно получить некоторую информацию, часто плохо поддающуюся интерпретации. Сейчас проводятся многочисленные исследования с целью получить более полные сведения о поверхностных свойствах твердых тел. [c.25]

Именно в связи с этой задачей наблюдается постоянно возобновляю-ш ийся интерес к феноменологическому изучению кинетических закономерностей в последние десятилетия. Молекулярная интерпретация кинетики химических процессов в свою очередь проливает свет па химическое строение реагируюп1,их молекул. Полученные таким образом выводы о молекулярной структуре вещества необходимо приводить в соответствие с различными характеристиками строения вещества, например величиной дипольпого момента данными по дифракции электронов и рентгеновских лучей, законами стереохимии. [c.15]

Безусловно, имеется аналогия между дифракцией светового луча и дифракцией пучка электронов. Можно было ожидать, что квантовая интерпретация, приемлемая для фотона, окажется применимой и для электрона. Поэтому можно постулировать, что квадрат волновой функции электрона пропорционален вероятности нахождения электрона в элементарном объеме д.хс1ус1г. Такое толкование — это просто постулат, который может оказаться соответствующим или несоответствующим действительности. До сих пор такая интерпретация, по-видимому, отвечает экспериментальным наблюдениям. Одним из наиболее значительных подтверждений применимости этого постулата является направленность связи в молекулах. Положения, в которых плотность электронов, участвующих в связи, наибольшая, соответствуют положениям атомов в молекуле. Например, в молекуле НаЗ атомы водорода образуют с атомом серы связи под углом 92°, а в соответствии с теоретическим расчетом, электронная плотность имеет максимум при угле, равном 90°, т. е. совпадение хорошее. [c.47]

Интерпретация карт электронной плотности молекулы значительно облегчается при знании аминокислотной последовательности. Однако далеко не каждый Б. удается получить в кристаллич. состоянии. Необходимое условие кристаллизации-сохранение нативной конформации, к-рая часто реализуется лишь в условиях, приближенных к физиологическим. В частности. Б., входящие в состав нуклео-протеидных комплексов (рибосома, вирусы хорошо кристаллизуются только в составе таких комплексоа С помощью обычного рентгеновского излучения проводить анализ таких гигантских образований сложно. В этих случаях используют синхротронное рентгеновское излучение, интенсивность к-рого может быть на два порядка выше. Вследствие этого резко сокращается время эксперимента по регистрации дифракц. отражений, а также снижается кол-во исследуемого в-ва. Ряд мембранных Б. кристаллизуется в условиях нативного липидного окружения с образованием т. наз. двухмерных кристаллов, представляющих из себя регулярно упакованные молекулы Б. в бислойной липидной мембране. При изучении двухмерных кристаллов используют электронную микроскопию и электронографию. [c.252]

Электронография как метод изучения структуры кристаллов имеет след, особенности 1) взаимод. в-ва с электронами намного сильнее, чем с рентгеновскими лучами, поэтому дифракция происходит в тонких слоях в-ва толщиной 1-100 нм, 2) /з зависит от атомного номера слабее, чем /р, что позволяет проще определять положение легких атомов в присут. тяжелых 3) благодаря тому что длина волны обычно используемых быстрых электронов с энергией 50-100 кэВ составляет ок. 5-10 им, геом. интерпретация электронограмм существенно проще. Структурная электронография широко применяется для исследования тонкодисперсных объектов, а также для изучения разного рода текстур (глинистые минералы, пленки полупроводников и т. п.). Дифракция электронов низких энергий (10-300 эВ, X 0,1-0,4 нм)-эффективный метод исследования пов-стей кристаллов расположения атомов, характера их тепловых колебаний и т. д. Электронная микроскопия восстанавливает изображение объекта по дифракц. картине и позволяет изучать структуру кристаллов с разрешением 0,2-0,5 нм. [c.99]

Достоинства Э. простота и быстрота измерений (имеются автоматич, эллипсометры), возможность производить их в ходе процесса (in situ), в вакууме, при высоких т-рах, в афессивных средах кроме того, при экспериментах пов-сти не зафязняются и не разрушаются. Недостаток метода -трудность правильного выбора модели отражающей системы и интерпретации результатов измерений. Поэтом наиб, перспективно сочетание Э. с др. методами исследования пов-сти, напр, с оже-спектроскопией, УФ и рентгеновской спектроскопией, методами дифракции электронов и рассеяния ионов. [c.475]

Пачечно-бахромчатая (мицеллярно-бахромчатая или кристаллитная) модель строения углерода была постулирована в начале 50-х годов независимо друг от друга Франклин и Касаточкиным. Она получила значительное развитие во многих работах. В рамках данной теории интерпретировались практически все результаты исследований была предложена методика экспериментального определения доли ароматического углерода , было разработано множество моделей беспорядка или частичной аморфности полимерного углерода . Считали, что аморфность обусловлена, главным образом, беспорядочными трансляциями, поворотами и изгибами слоев , нетождествеиностью валентных связей отдельных атомов (хиноидная структура Полинга ) или состояний разных поверхностей одной и той же или разных двумерных ароматических молекул , а также двухфазностью системы. Предполагалось", что аморфный углерод характеризуется всевозможными степенями гибридизации внешних электронов. Хотя и акцентировалось внимание на более или менее регулярной упаковке ароматических слоев в пачке (кристаллите), но тем не менее наряду с атомными слоями допускалось существование и цепочечных фрагментов, упакованных нерегулярным образом. Казалось, что не существует другой возможности для интерпретации многочисленных фактов, особенно данных рентгеновской дифракции. [c.20]

В 1912 г. Лауэ предположил, что длина волны рентгеновских лучей может быть примерно равной расстоянию между атомами в кристалле таким образом, кристалл может служить дифракционной решеткой для рентгеновских лучей. Этот опыт был проведен Фридрихом и Книппингом, которые действительно наблюдали дифракцию. Вскоре Брэгг (1913 г.) улучшил эксперимент Лауэ в основном путем замены монохроматического излучения полихроматическим и тем, что дал физическую интерпретацию теории рассеяния Лауэ. Брэгг также определил структуру ряда простых кристаллов, включая Na l, s l и ZnS. Со времени возникновения рентгеновской кристаллографии как науки рентгеноструктурный анализ монокристаллов превратился в наиболее широко применяемый и самый мощный метод определения расположения атомов в твердом теле. После 50-х годов с появлением быстродействующих электронно-вычислительных машин, способных обрабатывать рентгенографические данные, стал возможен более детальный анализ структуры таких сложных соединений, как белки. [c.565]

Усовершенствование техники обработки полученных результатов и их физической интерпретации. В качестве примера можно привести анализ взаимодействия электронов (например, в методе дифракции. медленных электронов) с твердым тело.м. По результатам экспериментов рассматривается разный характер явлений взаимодействия (от дальиодействующих сил при больших расстояниях электрона от поверхности до неупругого возбуждения плазмо-иов или других типов возбуждений электронов), предсказывается зависимость длины пробега и времени жизни от энергии электрона и т. д. Существуют стандартные программы для ана-лиза геометрической структуры по упругой дифракции медленных электронов (работы Андерсена, Дюка и др.), по определению дисперсии поверхностных плазмонов, по неупругой дифракци, медленных электронов и т. д. В ряде случаев это позволяет дать модельное описание чистых металлов и сплавов, а также комплексов, адсорбированных на поверхности. [c.150]

Целлюлозные волокна характеризуются индексом (степенью) кристалличности Этот показатель отражает плотность упаковки целлюлозы и соотношение аморфных и кристаллических участков в ее структуре Индекс кристалличности (ИК) определяют рентгенографически (метод основан на измерении дифракции рентгеновских лучей), по дифракции электронов, с помощью ИК-спектроскопии, ЯМР, по различию плотности целлюлозы в аморфных и кристаллических участках, путем адсорбции воды и йода, по скорости обмена D2O, а также по скорости протекания различных реакций таких, как кислотный гидролиз, перйодатное окисление, формилирование и т д [см, например, 5, 7] Данные, установленные разными методами, могут отличаться друг от друга Поэтому на практике нельзя определить абсолютное значение кристалличности или аморфности, однако, имеющиеся методы позволяют достоверно судить об относительных изменениях в структуре гомологических рядов целлюлозных материалов Наиболее воспроизводимым, точным и простым в интерпретации является метод дифракции рентгеновских лучей В настоящее время большинство исследователей применяют именно этот метод [6, 7] Для количественного определения ИК используют формулу, предложенную Сегалом [c.12]

Так, например, в статистической теории упорядочения (гл. III) метод статических концентрационных волн открывает новые возможности для теории. Он позволяет учесть взаимодействие атомов в произвольном числе координационных сфер и связать потенциалы межатомного взаимодействия со строением кристаллической решетки упорядоченных фаз. Представление вероятности распределения с помощью статических кондентрационных волн может быть полезным и в отношении интерпретации экспериментальных данных по рассеянию рентгеновских лучей упорядоченными сплавами и интерпретации картин электронной микродифракции. В самом деле, если обратиться к рассмотренному примеру сплава uAuI, то можно заметить, что мы не только определили параметр дальнего порядка, но и нашли стехиометрический состав и атомно-кристаллическое строение упорядоченной фазы. При этом мы воспользовались лишь тем, что картина дифракции рентгеновских лучей содержит только один сверхструктурный вектор ко = 2лаз в каждой примитивной ячейке Бравэ, образованной сверхструктурными векторами обратной решетки. [c.31]

Некоторые сечения обратной решетки, изображенные на рис. 25, 4, наблюдались ранее па картинах электронной микродифракции, полученных от фольг сплава Та — 1,5 ат. %С Вилла-грана и Томасом [78]. В работе [78] па основании нескольких сечений обратной решетки было сделано предположение, что все структурные векторы обратной решетки (векторы обратной решетки Та) делятся сверхструктурными рефлексами на четыре равные части. Такое предположение автоматически означало, что элементарная ячейка сверхструктуры имеет параметры s = 4а, где а — параметр решетки Та. Минимально возможный стехиометрический состав такой сверхструктуры отвечает химической формуле Tag . Эта интерпретация экспериментальных данных вызывает сомнения. Дело в том, что дифракционные картины, наблюдаемые в [78], могли быть также с равным основанием приписаны дифракции от нескольких доменов сверхструктуры TaigO, различным образом ориентированных относительно кристаллографических осей решетки чистого Та. Появление субокислов Ta gO мол.ио было бы ожидать при незначительном (неконтролируемом) окислении фольг в колонне микроскопа. [c.121]

Рассмотренная модель может служить полезной концепцией при Езучении и интерпретации результатов частичного замещения в цепях целлюлозы. Точное расположение молекул в элементарной фибрилле пока еще не установлено и требуются новые исследования. В связи с этим следует упомянуть недавнюю работу Такай, Коне и Хаяши 130]. При регулярном складывании цепей, как это установлено для полиэтилена и других синтетических полимеров, в малоугловом рентгеновском рассеянии должен выявляться рефлекс Гесса—Кис-сига. Авторы не обнаружили у нативной высокомолекулярной целлюлозы меридиональных интерференций в малоугловом рентгеновском рассеянии. Это объясняется трудностями аппаратурного характера в наблюдении этих рефлексов, так как рефлекс от периода 80—1000 А, соответствующего предельной СП целлюлозы 150— 200, должен маскироваться центральным лучом. Однако указанные выше авторы показали, что имеются хорошо выраженные рефлексы для целлюлоз III, IV и омыленной целлюлозы, полученной из ацетата или нитрата целлюлозы, которые имеют предельную СП около 80, что соответствует длине цепи около 400 А. Авторы получили хорошее согласие между данными малоу ловой рентгеновской дифракции и непосредственного измерения длины частиц с предельной СП в электронном микроскопе. Следует также заметить, что имеется возможность морфологических переходов, при которых может меняться длина складки и которые происходят в твердой фазе при различных обработках целлюлозы, например мерсеризации, обработке аминами и т. п. [c.29]

Функция в уравнении Шрёдингера называется волновой функцией и определяет амплитуду стоячей электронной волны. Физический смысл имеет величина г1й(1ь , равная вероятности нахождения электрона в элементарном объеме = = хйуйг. Таким образом, квантовая механика дает лишь вероятность нахождения электрона в том или ином месте атомной системы. Поэтому такие понятия, как траектория частицы (например, электронная орбита), в квантовой механике не имеют смысла. В соответствии с физическим смыслом сама волновая функция должна удовлетворять определенным условиям, которые называются стандартными. Согласно последним, волновая функция должна быть 1) непрерывной, так как состояние квантовой системы в пространстве меняется непрерывно 2) конечной, т.е. она не должна обращаться в бесконечность ни при каких значениях аргументов 3) однозначной, ибо по смыслу ф есть амплитуда вероятности, а потому для любой данной точки она может иметь только одно значение 4) обращаться в нуль на бесконечности. Кроме того, функция ф должна быть нормированной. Это означает, что суммарная вероятность нахождения электрона в околоядерном пространстве должна быть равна единице, т.е. результат проявления волновокорпускулярного дуализма не ведет к исчезновению электрона. Математически условие нормировки записывается как Jф dv — 1, т.е. суммирование (точнее, интегрирование) ведется по всему объему значений каждой из координат от — оо до + ОС. Из статистической интерпретации волновой функции возникает вопрос, обладает ли волновыми свойствами отдельная микрочастица или они присущи коллективу их. В опытах по дифракции электронных пучков очень малой интен- [c.29]

Теоретическая интерпретация в данном случае сильно осложнена из-за неопределенности структуры пленок. Вообще говоря, понятно, что растекшиеся белковые пленки состоят из полимерных молекул, в значительной мере развернутых и вытянутых, т. е. имеющих р-форму [169], причем поляр ые группы соединены водородными связями с молекулами воды в подложке, а боковые цепи в зависимости от их природы ориентированы либо вверх, либо вниз (рис. И1-38). При определенных условиях растекания на поверхности может сохраниться также некоторая часть исходной спиральной а-структуры (рис. 111-39). Присутствие а-спиралей проявляется в определенных особенностях инфракрасных спектров поглощения коллапсировапных пленок [170]. Не исключено, однако, что спиральная конфигурация белковых молекул может восстанавливаться в процессе коллапса. Важным дополнительным свидетельством действительного присутствия а-спиралей в монослоях является то, что скорость дейтериевого обмена пленки с подложкой слишком низка для пленки с развернутыми молекулами [167]. Эти наблюдения и обнаруженная с помощью методов дифракции электронов [c.138]

Вопрос о геометрии расположения адатомов и атомов поверхности металла чаще всего остается открытым. Эта проблема ул<е упоминалась при обсуждении хемосорбции водорода. Данные по дифракции медленных электронов (ДМЭ) при обычной геометрической интерпретации дают геометрию двумерного слоя адатомов, но не показывают расположение адатомов относительно атомов поверхности металла (ни боковое, ни вертикальное). Все л< е результаты Хегструма и ьеккера [21], полу- [c.24]

Длина связи С — F в молекуле F4 определялась рядом исследователей методом дифракции электронов. Впервые такое исследование было проведено Брокуэем [100], который получил значение Гс-р = 1,36+0,02 А. В дальнейшем Гофман и Ливингстон [2094] и Боуэн [877] вновь провели электронографическое исследование структуры F4, используя визуальный способ интерпретации электронограмм, и получили существенно меньшие значения Гс-р, равные 1,317+ 0,015 А [2094] и 1,337+0,022 А [877]. Близкое значение (гс--р= = 1,33 А) было получено Олкоком и Херстом [497] при изучении нейтронной дифракции в твердом четырехфтористом углероде. Брокуэй с сотрудниками [957, 428, 3986] провели наиболее тщательное электронографическое исследование структуры F4, применив сек-торно-микрофотометрическую методику. Полученное в работах [957, 428, 3986] значение Гс-р = 1,322+0,005 А рекомендовано в справочнике [3916] и использовано в настоящем Справочнике для вычисления моментов инерции F4. [c.495]

Основываясь на данных, полученных в работе Каргина, Карпова и Пин-скер [23], Какиноки [25] провел исследование дифракции быстрых электронов в топких пленках тринитроцеллюлозы. Он получил электронограммы с тремя максимумами интерференций, интерпретация которых давалась с точки зрения аморфного строения целлюлозы. Предположив, что интерференционная картина обусловлена только рассеянием электронов на глюкозных остатках, он вычислил картину рассеяния на молекулах глюкозы и сравнил ее с опытными данными. При этом он нашел, что значения максимумов интерференций на электронограмме оказались весьма близкими к вычисленному внутримолекулярному рассеянию глюкозных остатков. Результаты расчетов явились, несомненно, приближенными, ибо, как известно, элементарным членом целлюлозной цепи является не глюкозный, а целлобиозный остаток. Однако Какиноки получил при этом достаточно удовлетво- [c.35]

Швы у краев. Особенно частые неправильные интерпретации тонкой структуры некоторых объектов вызываются процессом экстрафокального изображения в кристаллических образцах . Их нельзя избежать даже при очень точной регулировке, если размеры образца в направлении, параллельном оптической оси, относительно велики. Такие швы ошибочно описывались, например, в качестве слоев продуктов реакции на поверхности, сконденсированных осадков у углов и краев, кристаллических игл, ориентированных параллельно последним, и вещественных нитей молекулярной толщины. Вследствие очень малой апертуры радиации электронного микроскопа отдельные частицы кажутся окруженными отчетливым швом в том случае, когда они лежат в пределах траектории падающих электронных волн. Этот шов изменяется по ширине и яркости в зависимости от р1асстояния частиц от фокальной плоскости и от апертуры радиации. Эти швы отчасти объясняются дифракцией Френеля [c.281]

Молекулярная структура амидной группы в конденсированной и газовой фазе установлена очень детально. Однако эта структура не так проста, как можно было бы предположить исходя из молекулярной формулы, и при интерпретации результатов исследований этих соединений физическими методами следует учитывать несколько особенностей. Первая особенность связана с частичной двоесвязанностью связи С(0)—N, что возникает в результате делокализации неподеленной электронной пары азота на л-электро-ны карбонильной группы. Ниже представлены две предельных валентных формы — без сопряжения (56) и с полным сопряжением (57) неподеленной электронной пары азота, обозначены предполагаемые валентные углы и длины связей в нм. В действительности, в кристаллических амидах как это было определено с помощью рентгеноструктурного анализа [148] и схематически представлено в (57а) амидная связь имеет плоское строение (по крайней мере для всех атомов, кроме водородных), а длины связей имеют примерно средние значения из двух резонансных форм (56) и (57). В газовой фазе (как показано при изучении дифракции электронов и микроволн [148, 151]) валентные углы практически не изменяются (хотя атомы водорода в формамиде находятся вне плоскости О—С—N на расстоянии 0,015 нм). Правда, происходит уменьшение длины связи С—О до 0,119—0,121 нм и соответствующее увеличение длины связи С—N до 0,136—О,,137 нм. Эти данные [c.426]

Все же, несмотря на то что эта теория дает правильную трактовку некоторых данных табл. 9, существует два затруднения, которые, возможно, будут устранены с течением времени. Во-первых, в настоящее время имеется очень мало данных, необходимых для подтверждения или опровержения этой теории как и для других способов интерпретации кислотноосновных взаимодействий с помощью регибридизации (например, В-напря-жения). Хотя точные величины валентных углов известны для нескольких простых оснований, для соответствующих координационных соединений не известно фактически ни одного валентного угла, определенного с достаточной степенью точности. Например, валентный угол С — О — С в диме-тиловом эфире считается равным 111+3°. Хотя для аддукта его с В Eg считается общепринятым тетраэдрический угол, первая работа по исследованию этого соединения методом дифракции электронов не дала возможности прямо измерить этот угол. Высказывается предположение, что угол может быть совсем иным [28]. Результаты изучения триметиламина и его аддуктов с ВРз не дают каких-либо доводов в пользу теорий регибридизации. Из табл. 8 видно, что сам амин имеет тетраэдрическое строение в пределах большой ошибки эксперимента в 4°. Аддукт с ВРз, однако, имеет валентные углы, которые далеки от тетраэдрических [332] 105° для угла С — N — В и 114° для С — N — С. В настоящий момент мы практически не имеем данных о влиянии протонироваиия на валентные углы. [c.272]

Сэндвичевая структура является самой устойчивой не только для ковалентных комплексов, использующих -орбитали, но н для ионных кристаллов — для катиона и двух отрицательно заряженных циклов. Интересно и необычно строение комплекса бериллия. Предложены два возможных строения [Ве(ср)г]. Первое основано на интерпретации данных по дифракции электронов в газовой фазе [65] (рис. 13.20, а). Атом бериллия приближен к одному циклу, расстояние между двумя циклами (337 пм) определяется отталкиванием между ними, что вытекает из ван-дер-ваальсова радиуса углерода (167—170 пм). Малый по размерам ион Ве + поляризует л-облако одного цикла, и образуются энергетически выгодные короткая ковалентная связь и длинная ионная связь. Второе возможное строение, по рентгеноструктурным данным, для твердого бериллоцена — смешанный сэндвич, содержащий а-связь металла с одним циклом и л-связь с другим [66] (рис. 13.20,6). [c.437]

Хотя из рис. 5.1 видно, что число настоящих максимумов и минимумов в дифракционной картине (если они вообще имеются) невелико, к счастью, человеческий глаз реагирует на изменения в интенсивности так, как если бы картина действительно состояла из максимумов и минимумов. На ранней стадии экспериментов по дифракции электронов именно это обстоятельство использовалось при отыскании положений экстремума. Затем определялись относительные интенсивности в различных частях электронограммы, и таким образом строилась экспериментальная кривая рассеяния. Для интерпретации этой экспериментальной кривой при визуальной работе уравнение (5.4) обычно упрощали двумя способами. Переменный член с факторарли рассеяния заменяли произведением порядковых номеров 2 2 , а экспоненциальным членом затухания Aju пренебрегали. Таким образом получали уравнение для молекулярного рассеяния [c.98]

Значительные успех И были достигнуты и в исследовании плохоокристаллизованных и смешаннослойных минералов, благодаря применению дифракции электронов и развитию методов интерпретации и расчета ряда дифракционных эффектов. Особенности их решеток иногда удавалось наблюдать-и непосредственно в электронных микроскопах высокого разрешения, причем наблюдаемые периодичности можно было сопоставлять с результатами расчетов соответствующих картин микродифракции. [c.201]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология