Спектрометр поляризационный

В загрязненной атмосфере ПА присутствуют в адсорбированном виде на частицах пыли и в виде аэрозолей. Для идентификации ПА в воздухе, так же как и в обычном анализе, применяют сочетание методов газовой хроматофафии и масс-спектрометрии, жидкостной и тонкослойной хроматофафии. Для одновременного обнаружения ряда ПА (флуорена, аценафтена, хризена и бенз-а-антрацена) успешно применен метод поляризационной флуориметрии в сочетании с жидкостной хроматографией [284] способ пригоден для определения названных ПА в атмосферном воздухе и в морских отложениях. [c.100]

Эффекты рассеяния и наложения близлежащих пиков можно нивелировать путем соответствующего выбора базовой линии. Ошибки, обусловленные поляризационными эффектами, сводят на нет путем ориентации поляризатора и образца под углом 45° к входной щели монохроматора. Другие ошибки возникают из-за недостаточной разрешающей способности спектрометра, конвергенции пучка и спектрального разбавления. Для определения поглощения Д, в двухосно ориентированных образцах измерение поглощения проводят на вращаемых пленках [c.212]

Поляризация падающего излучения таким образом, что электрический вектор луча становится параллельным плоскости колебаний поглощающей системы, приводит к максимальному поглощению возбуждающей энергии [7, 8]. Хотя разработка теории и практики поляризационной инфракрасной абсорбционной спектрометрии относится в значительной степени к спектрам кристаллов, были описаны некоторые применения и к полимерам [40, 130]. [c.278]

Поляризационные измерения на спектрометре производятся посредством пластинки в полволны 15 и поляризатора 12 плоскость поляризации изменяется поворотом пластинки 15 на 45°. [c.245]

Поляризационный фурье-спектрометр Жирара. Оптическая схема интерферометра Майкельсона не является единственной, на основе которой может быть построен фурье-спектрометр. Подобно тому, как это имело место с сисамом, фурье-спектрометр может быть осуществлен с помощью поляризационного устройства — призмы Волластона. [c.353]

Рис. 47.3. Оптическая схема поляризационного фурье-спектрометра Жирара

Применяя методику поляризационных измерений, Д. Ф. Киселев и Л. П. Осипова [389] составили таблицы интенсивностей для линий комбинационного рассеяния а-кварца. Эти измерения, вообще говоря, могут проводиться несколькими методами. 1. Кристалл освещается линейно поляризованным светом, а на пути рассеянного света поочередно устанавливается поляроид с направлением поляризации, параллельным и перпендикулярным щели спектрометра. 2. Кристалл поочередно освещается линейно поляризованным светом с направлением поляризации, параллельным и перпендикулярным направлению наблюдения этот метод осуществляется обычно с использованием трубчатых поляроидов. 3. Кристалл освещается неполяризованным светом, а на пути рассеянного света поочередно устанавливаются поляроиды с направлением поляризации, параллельным и перпендикулярным щели прибора. Каждый из этих методов позволяет по измеренным значениям интенсивности составить таблицу интенсивностей, компоненты которой пропорциональны квадратам компонент тензора рассеяния (методы измерения, расчетов и введения необходимых поправок описаны в работах [389, 393] см. также добавление к книге [44]). Пользуясь таблицей интенсивностей, легко найти абсолютные значения компонент тензора рассеяния. Определение знаков составляющих этого тензора иногда может быть выполнено на основании простых соображений симметрии, но в ряде случаев требует дополнительных расчетов и измерений. [c.422]

При использовании ультрацентрифуги для анализа молекулярно-весовых распределений (т. е. в масс-спектрометрии) существенное значение имеет разрешающая сила поляризационного интерферометра, поскольку при применении этого метода даже бесконечно узкая граница раздела раствор — растворитель изображается полосой конечной ширины а. Уменьшение величины а повышает разрешающую силу установки, но уменьшает ее чувствительность (в отношении возможности измерений в [c.433]

Определение эллиптической поляризации луча, отраженного поверхностью стекла (или других материалов), производят на поляризационном спектрометре [1 (гл. 3), 290]. [c.117]

Спектрометры с призмами — вообще плохие поляризаторы, но этот поляризационный эффект обычно не дает серьезных помех. В спектрометрах с дифракционной решеткой поляризация, обусловленная самой решеткой, при некоторых длинах волн очень высока [33], поэтому при работе на таких спектрометрах трудно получить поляризационные спектры в этих областях волн, если образцы не могут вращаться. [c.61]

Для получения поляризационных спектров использовали также моноволокна [74] и пучки волокон [75, 76], так как волокна обычно характеризуются высокой одноосной ориентацией. Для получения спектра моноволокна нужно пользоваться микроскопической приставкой к спектрометру. Что касается пучков волокон, то для уменьшения рассеяния света их следует помещать в подходящую среду. [c.62]

ТОГО же образца, но прогретого с целью повышения степени кристалличности, приведен на рис. 39, б. Сравнивая рисунки а и 6, можно отметить, что спектр прогретого образца несколько отличается от спектра исходного, однако параллельный дихроизм полос, относящихся к колебаниям СНг, не уменьшается. В связи с этой проблемой автором были изучены поляризационные свойства полос валентных колебаний D2 в полиэтилен-В4-терефталате при этом использовался спектрометр с призмой из LiF. На рис. 40, а сплошной линией показан спектр до термообработки, а пунктирной линией — спектр после термообработки полосы поглощения кристаллических и аморфных областей хорошо разрешены. Легко видеть, что полосы при 2265 и 2160 см относятся к кристаллическим областям. На рис. 40, б приведен поляризационный спектр прогретого образца. Из рисунка видно, что полоса при 2265 см" перпендикулярна, но полоса 2160 см - все еще параллельна. Из данных ИК-спектров, следовательно, можно сделать вывод, что момент перехода симметричных валентных колебаний СН составляет угол с осью цепи меньше 54 44. [c.79]

Конечные продукты реакции, как правило, определяют путем проведения макроэлектролиза при контролируемом потенциале с последующим их выделением из раствора н анализом с помощью методов, обычно применяемых в органической химии (определение физических констант вещества, элементный анализ, ЯМР- и ИК-спектроскопия, масс-спектрометрия, хроматография и т. д.). Если эти продукты образуются в результате медленных химических превращений в объеме раствора, следующих за переносом электрона, то исследование кинетики таких химических стадий электрохимическими методами оказывается малоэффективным. Здесь более пригодны методы изучения химической кинетики в гомогенной фазе. Нечувствительность электрохимических методов эксперимента к достаточно медленным химическим превращениям в растворе является причиной того, что во многих случаях выводы о природе конечного продукта реакции, сделанные на основе данных препаративного электролиза и анализа поляризационных кривых, измеренных в стационарных или нестационарных условиях, оказываются различными, поскольку относятся к неодинаковым временным интервалам, охватывающим неодинаковое число стадий суммарного процесса. [c.195]

Применение УФ- и ИК-спектроскопин. масс-спектрометрии. газожидкостной хроматографии, дифференциально-термического аналича совместно с электронной и поляризационной микроскопией лает важную информацию о составе твердых углеводородов нс( )ти. Значение состава и использование основных положений физико-химической механики нефтяных дисперсий позволяют управлять процессом криста.плизации твердых углеводородов и углубить тем самым переработку нефти. [c.32]

При повышенном давлении в ионном источнике масс-спектрометра появляются вторичные ионы. Количество этих ионов увеличивается пропорционально квадрату давления. Потенциалы появления этих ионов, а также вид зависимости тока ионов от давления указывают на то, что они образуются в ионном источнике в реакциях первичных ионов с молекулами. Реакции образования вторичных иопов были изучены для ряда молекул, в том число метана, этилена, ацетилена, воды, НИ, HgS. Измерены скорости этих реакций во всех случаях скорости весьма велики. Продукты эндотермических реакций обнаружены не были. Констапты скоростей реакций могут быть вычислены на осповании равенства поляризационной и центробежной сил в большинстве случаев рассчитанные значения близки к экспериментально определенным. Лишь в немногих случаях количественного соответствия пе наблюдается и для согласования результатов расчета скоростей реакций с эксперимеитом приходится вводить коэффициент эффективности К. [c.306]

Лазерные спектрометры имеют преимущества, заключающиеся в том, что источник дает почти идеально поляризованный свет. Это позволяет определять степень деполяризации р с высокой точностью. С ртутным возбуждением и цилиндрическими кюветами обычно используют трубчатые поляроиды, дающие аксиально и перпендикулярно поляризованный свет [75]. Полученные таким образом кажущиеся значения степени деполяризации Рнабл обычно значительно больше истинных величин в первую очередь из-за косого освещения ртутной лампой кюветы с образцом, т. е. из-за ошибки конвергенции. Ее можно значительно снизить, однако это приводит к очень заметному ослаблению интенсивности излучения и, следовательно, интенсивности КР-В спектрах большинства неорганических соединений, особенно водных растворов, при использовании кювет с внутренней перегородкой невозможно провести точные поляризационные измерения, поэтому приходится вносить поправки в наблюдаемые значения степени деполяризации. Это необходимо делать также при применении некоторых лазерных спектрометров, где используются капиллярные кюветы или оптика, собирающая рассеянное излучение под большим углом. [c.35]

Почти все современные исследования спектров КР кристаллов выполнены при возбуждении линиями 6328 А Не — Ые-ла-зера или 5145 и 4880 А Аг+-лазера возможно также использование некоторых линий Кг -лазера. В идеальном случае для исследования неорганических кристаллов КР-спектрометр должен быть снабжен обоими лазерами. Как правило, Аг+-лазер дает более интенсивное излучение, чем Не — Ые-лазер однако излучение в красной области незаменимо при исследовании многих окрашенных кристаллов, поскольку в красной области они поглощают в меньшей степени, чем в зеленой или синей областях. Для большинства кристаллов можно получить хорошие спектры КР до 15 СМ . Излучение этих газовых лазеров плоскополяри-зовано, следовательно, для вращения плоскости поляризации на 90° требуется полуволновая пластинка. В качестве анализатора вполне пригодна поляроидная пленка. Однако вследствие поляризации излучения на дифракционной решетке поляризационное устройство для исследования комбинационного рассеяния необходимо помещать между анализатором и монохроматором. [c.436]

Уинтерботтом [167, 169] описал усовершенствованный тип прибора Транстада, в котором используется поляризационный спектрометр с аналогичным расположением поляризатора, пластинки в четверть волны и анализатора. Кроме того, Уинтерботтом [633, 636 на основе строгой теории вывел выражение, связывающее толщину пленки с экспериментальны.ми значениями г и Д, измеренными с помощью его прибора. Вначале с помощью выражения, полученного из оптической теории, он определял по значениям tan и Д оптические постоянные для чистого металла. Затем он наносил значения tan и Д для чистого металла и для пленки на различных стадиях ее роста в полярных координатах, причем радиальной координатой являлся tan ф, а угловой — Д. После этого он подгонял к получившейся кривой различные теоретические кривые, построенные для заданных [c.265]

Крылова Т. Н. [638] измеряла толщину окисных пленок на разных металлах поляризационным спектрометром, а Янг, Кэткарт и Гуатми [289] пользовались им для определения скорости образования окисных пленок на различных кристаллографических плоскостях монокристаллов меди. [c.268]

Первый из этих методов служит для определения толщины поверхностных пленок на стекле, подвергавшемся воздействию воды или растворов кислот. Поверхность стекла при наличии на ней слоя с иным показателем преломления при отражении превращает прямолинейно поляризованный свет в эллиптически поляризованный. Измеряя эллиптическую поляризацию отраженного света с помощью поляризационного спектрометра, можно рассчитать оптическую толщину пленок. Если величина пленки не превышает 0.1 доли световой волны, толшд1ну ее можно рассчитать по формуле Друде—Гроссмюлера, при больших величинах пользуются более точными данными. Метод эллиптической поляризации обычно применяется для исследования оптических стекол. [c.54]

Полиэтиленовый поляризатор [35], представляющий собой пачку из 9 листов толщиной 20 и 9 листов толщиной 30 [i, дает удовлетворительную поляризацию в дальнем ИК-свете при длинах волн между 30 и 200 я. Однако поляризационные спектры полимеров в области за 30 ц почти не изучены. В одном случае (в спектре политетрафторэтилена) наблюдалась сильная полоса при 203 см , которая, как было найдено, поляризована перпендикулярно [64] в этой работе использовался вакуумный спектрометр с решеткой Эчелетта в качестве поляризатора. [c.61]

В обыденной жизни, в инженерной практике и в научно-исследовательской работе часто приходится иметь дело с поверхност-. ными явлениями. Наши знания относительно свойств идеальных поверхностей, довольно ограниченные в настоящее время, быстро расширяются. Основные свойства поверхностей, представляющие интерес для химика-каталитика, специалиста по электронике и инженера металлурга широко используют в практике работ по катализу, коррозии, электронной эмиссии, адгезии, сварке, механическому износу и смазке. Исследования поверхностных свойств, способствующих образованию благоприятных структур и ускоряющих специфические химические реакции, имеют большое значение и проводятся в широких масштабах. Так, например, многие металлы в высоком вакууме или в атмосфере газа строго определенного состава при высоких или низких температурах обнаруживают особые поверхностные свойства, которые часто можно с успехом использовать для суждения о поведении металла в условиях более умеренных температур и давлений. Из методов изучения твердых поверхностей, применяемых в последние годы, наиболее эффективными являются следующие электронная микроскопия, электронография, интерферометрия с многократным прохождением светового пучка, поляризационная спектрометрия, оптическая металлография, вакуумная микрогравиметрия, адсорбция газов и химический анализ поверхностных пленок. Эта статья посвящена новейшим достижениям в применении вакуумной микрогравиметрии к изучению поверхностей твердых тел. [c.45]