Спектральный фотографические

Микрофотометр МФ-2. Микрофотометр МФ-2 предназначен для измерения относительной интенсивности спектральных линий в спектрах, снятых на фотографическую пластинку. Микрофотометр может [c.53]

Фотографический атомно-эмиссионный спектральный анализ [c.25]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

Качественный фотографический спектральный анализ позволяет судить о наличии в анализируемом веществе примесей многих металлов и многих неметаллов при их содержании 10" —10 %. [c.29]

Мандельштаме. Л. Введение в, спектральный анализ. Гостехиздат, 1946 Прокофьев В. К. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов п сплавов, ч. II. Гостехтеоретиздат, 1952. [c.872]

Методика измерения. Применяемые в качестве фотолитических ламп импульсные лампы имеют широкий спектр излучения. На образец попадает не только свет, который поглощается веществом но также фотохимически неактивный свет. Мощный световой поток, попадающий на образец, рассеивается стенками кюветы и мельчайшими пылинками, присутствующими в растворе. Рассеянный кюветой свет попадает на щель монохроматора и на фотоумножитель. Если не принимать специальных мер, снижающих интенсивность рассеянного света, то фотоумножитель может перегрузиться и сигнал, поступающий на осциллограф, будет сильно искажен. При применении спектрографической установки импульсного фотолиза рассеянный свет создает большой фон на фотографической пластинке при коротких временах регистрации короткоживущих продуктов. Обычно используются следующие приемы для уменьшения рассеянного света, попадающего на фотоумножитель (ФЭУ). Во-первых, применение спектральных ламп с высокой световой интенсивностью позволяет уменьшить щель монохроматора и тем самым снизить интенсивность рассеянного света, попадающего на фотоумножитель. Во-вторых, рассеянный свет не является направленным, и поэтому его интенсивность уменьшается с квадратом расстояния от кюветного отделения до монохроматора. Таким образом, чем [c.183]

В фотографических методах анализа широкое распространение получили призменные спектрографы с кварцевой оптикой ИСП-28 и ИСП-30 (рабочая область спектра 200—600 нм). Онн позволяют различать спектральные линии, отстоящие друг от друга на расстоянии не менее 0,03 нм. Если дисперсия спектрографов ИСП-28 или ИСП-30 оказывается недостаточной для тех или иных целей, применяют призменные длиннофокусные спектрографы, например КС-55 или КСА-1. Их линейная дисперсия в ультрафиолетовой области в 2,5—3 раза выше, чем ИСП-28. [c.69]

Фотографические методы спектрального анализа, несмотря на свою простоту, связаны с большой затратой времени на обработку фотопластинок и фотометрирование спектральных [c.69]

Линейная зависимость фототока от интенсивности падающего света существенно упрощает градуировку измерительной системы и позволяет получать результаты прямо в единицах спектральной яркости или пропорциональной ей величины (при фотографических измерениях интенсивность линии может измеряться только после проявления и фотометрической обработки спектрограммы). Кроме того, фотоэлектрические измерения характеризуются довольно высокой воспроизводимостью. В определенных условиях принципиально возможно снижение погрешности относительных измерений до 0,1 %, а погрешность около [c.80]

Следующим этапом обучения является освоение техники фотографического спектрального анализа. Здесь в первую очередь необходимо приобрести навыки фотографирования спектров и получения качественных снимков. Параллельно с этим стоит затратить определенные усилия на расшифровку спектра железа, который во многих задачах спектрального анализа играет роль опорного при отождествлении спектральных линий других элементов. Приобретенные при этом навыки оказываются необходимыми при выполнении качественного анализа порошкообразной пробы на присутствие металлов. [c.93]

Спектр железа имеет большое число линий ( 4700 в видимой и УФ-об-ластях), более или менее равномерно распределенных по всему регистрируемому фотографическим способом диапазону длин волн. Спектр железа хорошо изучен. Длины волн его линий определены с необходимой точностью. Поэтому при решении задач качественного анализа спектр железа играет роль опорного для отождествления спектральных линий других элементов. Для быстрой ориентировки в спектре железа необходимо знать и по.мнить положение и вид характерных групп линий в разных областях спектра. Характеристики некоторых из них даны в табл. 3.3. [c.106]

Фотографические пластинки 4 Спектральные, тип I , чувствительностью [c.106]

Построение характеристической кривой фотопластинки и измерение почернений спектральных линий представляют собой основу техники количественного фотографического спектрального анализа. По характеристической кривой определяют область нормальных почернений фотоэмульсии и производят исключение фона из результатов измерений почернения линий. Характеристическая кривая необходима также для перехода от почернений спектральных линий к их интенсивностям. Другими словами, характеристическая кривая представляет собой градуировочную характеристику фотоэмульсии, с помощью которой может осуществляться переход от измеренных почернений фотослоя к значению воздействовавшей на него энергии за время экспозиции. [c.122]

В. К. Прокофьев. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. Гостехиздат, 1951, ч. 1, (368 стр.), ч. 2 (327 стр.). В первой части рассматриваются свойства призменных спектрографов, конструкции наиболее употребительных образцов спектрографов, источники света, электроды для спектрального анализа, микрофотометры и спектропроекторы. Вторая часть посвящена описанию методов количественного спектрального анализа. В приложении даны таблицы аналитических пар линий, применяемых при количественном спектральном анализе различных сплавов сталей, чугунов, магниевых и алюминиевых сплавов, бронз, баббитов и др., а также чистых металлов. В конце книги приведен большой список литературы. [c.488]

Изображение освещенной снаружи входной щели отражается плоским зеркалом 7 и проектируется сменным объективом 8 на сменную призму 9. При двойном прохождении света через призму с зеркальной гранью свет разлагается в спектр, который проектируется объективом 8 на фотографическую пластинку 10. Вследствие большого расстояния в ходе луча близко расположенные спектральные линии иа фотографический пластинке получаются раздельно. Для выполнения [c.39]

Компаратор ИЗА-2. Компаратор ИЗА-2 предназначен для точного измерения расстояний между спектральными линиями в спектрах, снятых на фотографическую пластинку. Точность определения рассто- [c.59]

Излучение атомов всех элементов, присутствующих в пробе, разлагается в спектр призмой или дифракционной решеткой спектрального прибора и регистрируется фотографической пластинкой или фотоэлектрическим устройством. [c.43]

Фотографический метод регистрации широко распространен, так как этот метод позволяет одновременно определять большое число элементов и обеспечивает его сравнительно высокую чувствительность ( 2%). При фотографической регистрации обычно не требуется никакой перестройки приборов при переходе от одного анализируемого объекта к другому. С помощью этого метода за один прием можно получить полный спектр сложного материала. Почернение спектральных линий, называемое оптической плотностью, измеряют с помощью микрофотометра. [c.45]

Количественный фотографический спектральный анализ основан на измерении относительных почернений спектральных линий гомологической пары и нахождении неизвестной концентрации по градуировочному графику, построенному в координатах lg/a// p — lg по образцам сравнения (минимум три). В образцах сравнения концентрация определяемого элемента изменяется, а концентрация элемента сравнения остается постоянной. Спектральные линии должны быть гомологичными. Переход от почернений к интенсивностям осуществляется при помощи характеристической кривой фотопластинки (см. рис. 1.10). Для прямолинейного участка характеристической кривой [c.32]

Подготовка препаратов для электронографического анализа на просвет принципиально не отличается от подобной работы при электронно-микроскопическом анализе. Порошки для исследования на просвет наносят на пленку-подложку, которая помещается на металлическую сетку-держатель размером 2—6 мм. В качестве подложки применяют, например, пленку коллодия или углерода. Пленку коллодия готовят из раствора целлулоида (отмытую от эмульсии фотографическую или рентгеновскую пленку растворяют в амилацетате). Углеродную пленку получают на вакуумной установке типа ВУП испарением углерода из угольных спектральных электродов. Один из электродов затачивают на конус с углом 30— 45°, а на другом делают площадку под углом 45—60°. [c.103]

Качественный спектральный анализ можно проводить визуальным и фотографическим методами. Последние линии определяемого элемента в визуальном методе отыскивают при помощи стилоскопа (см. 12). [c.225]

Розенберг И. В. Разработка спектрального фотографического метода определения бора в стали. Тр. (Всес. н.-и. ин-т авиац. м-лов ВИАМ ), 1949, 2. с. 60—61. 3393 Розенович В. А. Метод анализа закиси, окиси и сульфида железа при их совместном присутствии. Зав. лаб., 1941, 10, №5, с. 484—486. Библ. 4 назв. 3396 Розов Б. В. Спектральный прибор с фотоэлементом и спектральный анализ без спектральных приборов. [Определение Ы, Са, 8г, Ыа в вольфрамовой проволоке]. Вестн. электропром-сти, 1941, № 10-11, с. [c.208]

Измерения интенсивности спектральных линий в эмиссионном спектральном анлизе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. В первом случае приемником излучения служит глаз, во втором —фотоэмульсия, в третьем — фотоэлемент или фотоэлектронный умножитель (ФЭУ). Каждый метод имеет свои преимущества, недостатки и оптимальную область применения. [c.74]

Фотографические способы регистрации спектров применяют в атомно-эмиссионном спектральном анализе наиболее широко. Они достаточно просты по технике и общедоступны. Основные достоинства фотографической ре гистрации — документальность анализа, одновременность реги страции и низкие пределы обнаружения многих элементов В автоматизированном варианте этот способ регистрации при обретает новое дополнение —огромную информативность. Ни какими другими методами пока невозможно одновременно оп ределять по 300—500-ти линиям до 70 элементов в одной пробе Фотографический эффект определяется полным числом свето вых квантов, поглощенных эмульсией. Это позволяет создавать фотографическое изображение при малой освещенности за счет увеличения времени экспозиции. Немаловажным достоинством [c.75]

Фотометрирование спектральных линий и обработка получаемых данных представляют собой один из наиболее трудоем ких этапов фотографического атомно-эмиссионного спектрального анализа, который к тому же часто сопровождается возникновением субъективных ошибок. С развитием вычислительной техники стала возможной автоматизация этого процесса. Основой такой автоматизации является создание автоматизи-рованных микрофотометров с микропроцессорным управлением, снабженных шаговыми двигателями, и математического обеспечения для обработки результатов измерений. Однако работы в этом направлении находятся пока еще на начальном этапе. [c.78]

Далее следуют работы по освоению приемов полуколиче-ствепного спектрального анализа, основанных на применении гомологичных пар линий и метода фотометрического интерполирования. Ценность этих способов заключается в том, что первый позволяет при выполнении анализа обойтись без образцов сравнения, а второй дает возможность приобрести навыки визуального фотометрирования спектров на фотографических снимках. [c.93]

Следующая группа работ посвящена описанию задач, наиболее часто встречающихся в технике фотографического спектрального анализа. Они включают получение навыков в построении харктеристической кривой фотоэмульсии, технику измерения почернений линий с помощью микрофотометров, освоение приемов монохромной и гетерохромной фотометрии, измерение основного параметра источника возбуждения спектров [c.93]

Мерой энергии электромагнитного излучения может служить также количество вещества, образовавшееся в результате фотохимической реакции. Именно на использовании фотохимического процесса основана фотографическая фотометрия. Количество поглощенного излучения оценивается количеством восстановленного серебра в фотослое. Однако непосредственно измеряют не количество восстановленного серебра, а почернение, равное логарифму отношения интенсивностей излучения, прошедшего через неосвещавшийся и освещавшийся участки фотослоя. Так же, как и фотоэлементы, применяемые фотоматериалы (фотопластинки, фотопленки) имеют различную спектральную чувствительность. [c.10]

Отношение интенсивностей спектральных линий может быть оценено на глаз визуальные методы), с помошью микрофотометра по почернению фотопластинки фотографические методы) и с помошью фотоэлементов, фотоэлектроумножителей и т.д. фотоэлектрические методы). [c.190]

Атомный (элементный) анализ яаиболее часто проводят по спектрам испускания - эмиссионный опсктральный анализ. Исследуемое вещество вводят в источник излучения, где вещество диссоциирует иа атомы, которые переходят в возбужденное состояние. Испускаемое ими излучение разлагается в спектр, для чего его пропускают через призму из стекла или из кварца. Спектр регистрируют на фотографической пластинке или другими способами. Для возбуждения спектра и его регистрации применяют спектральные приборы - спектрографы (рис. 1.1). [c.11]

Световой поток от источника излучения 9 (рис. 25) кварцевым конденсором 8 проектируется на конденсор 7 с диафрагмой. Конденсор 7 проектирует световой поток при помощи зеркала 6 на конденсор 5, помещенный на оправе входной щели прибора 4. Изображение освещенной снаружи входной щели отражается плоским зеркалом 11 и проектируется сменным объективом 12 на сменную призму 13. При двойном прохождении светового потока через призму с зеркальной задней гранью излучение разлагается в спектр, который проектируется объективом 12 на фотопластинку 10. Вслед-С1вие большого расстояния хода луча близко расположенные спектральные линии на фотографической пластинке получаются раздельно. [c.50]

Компаратор ИЗА-2, Компаратор ИЗА-2 предназначен для точного измереиия расстоян ИЙ между спектральными линиями в спектрах, снятых на фотографическую пластинку. Точность определения расстояния составляет 0,0002 мм. Измерение расстояния между спектральными линиями эталонного и исследуемого спектров дает возможность определять длины волн, волновые числа или частоты спектральных линий в спектрах излучения и комбинационного рассеяния. [c.64]

Для регистрации спектральных линий применяются визуальные, фотографические и фотоэлектрические приборы и аппараты. В зависимости от способа регистрации спектра различают визуальный спектральный анализ, в котором спектр наблюдают в видимой области при помощи стилоскопов и стилометров или при помощи флуоресцирующих экранов, преобразующих невидимые ультрафиолетовые лучи в видимые. Визуальный анализ применяют в качественном анализе и иногда в количественном анализе. Если для регистрации спектров используют фотографические пластинки, то метод анализа называется фотографическим спектральным анализом. Особенно широко этот метод применяют в качественном и количественно анализе. В фотоэлектрическом спектральном анализе, который используется исключительно для количественного анализа, спектры регистрируются фотоэлектрическими приборами. [c.225]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология