Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Единицы измерения и спектральные области

    В практической спектрофотометрии измерения поглощения проводят в спектральной области, которую принято делить на 3 части ультрафиолетовая, видимая и инфракрасная области спектра. Единицей измерения длин волн в ультрафиолетовой части спектра в практической спектрофотометрии обычно служит нанометр (1 нм = 10 см). Ультрафиолетовая область спектра расположена в интервале длин волн 200— 400 нм, видимая область — в интервале длин волн 400—700 нм. Наконец, инфракрасная область спектра начинается примерно с 700 нм. В инфракрасной области спектра единицей измерения длин волн служит микрон (1 мк = 10- см). Очень часто инфракрасное излучение характеризуется волновым числом -V, у= 1Д (где X выражено в см), размерность V соответственно см Например, длина волны 2 лк соответствует волновому числу 5000 слг . Имеются специальные таблицы пересчета волновых чисел в длины волн. Наиболее доступная инфракрасная область расположена в интервале 0,7—20 мк, более длинноволновая область инфракрасного спектра малодоступна и практической спектрофотометрией пока не используется. [c.245]


    Спектры, расположенные в ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной областях длин волн, называются оптическими, и соответственно "методы анализа, основанные на использовании этих спектров, — оптическими. За единицу измерения длин волн спектральных линий в оптическом диапазоне принят нанометр (1 нм==10 м). [c.6]

    Единицы измерения и спектральные области [c.342]

    В целях постоянной проверки правильности рядовых анализов, т. е. для коррекции периодического дрейфа аналитической кривой в спектрографическом методе или единиц измерения в спектрометрическом методе, спектры корректирующих образцов регистрируют соответственно либо на каждой спектральной пластинке, либо в течение каждого периода работы спектрометра. Знание их точного химического состава необязательно, зато должна быть полная уверенность в их однородности. На определенный период времени показания разных спектрометров согласуют между собой с помощью корректирующих образцов,-соответствующих экстремальным (минимальному и максимальному) значениям данной области концентраций (гл. 6). В спектрографической практике используют также корректирующие образцы, соответствующие только одной точке в анализируемой области концентраций (разд. 5.4.4). [c.30]

    Подобный метод сравнения площадей дает хорошие результаты в ограниченных интервалах длин волн или волновых чисел без дальнейшего исправления при условии, что спектральная чувствительность спектрометра не изменяется в этом интервале слишком быстро. Если, однако, нужно провести точное сравнение между сильно разделенными спектральными областями, то получаемые спектры надо исправлять. Континуум исправляется точно так же, как и спектры люминесценции (см. раздел 1П, Л,3), путем деления наблюдаемой интенсивности при каждой длине волны или волновом числе на спектральную чувствительность, выраженную в соответствующих единицах, т. е. на величину или при соответствующей длине волны или волновом числе. Регистрируемые ин-Р и с. 53. Метод измерения интен- / тенсивности ЛИНИЙ не зависят от сивности линии по отношению ПОЛОСЫ, установленной [c.156]

    В практической спектрофотометрии измерения поглощения проводят в спектральной области, которую принято делить на 3 части ультрафиолетовая, видимая и инфракрасная области спектра. Единицей измерения длин волн в ультрафиолетовой части спектра в практической спектрофотометрии обычно служит нанометр (1 нм = 10 м). Ультрафиолетовая область спектра расположена в интервале длин волн 200—400 нм, видимая область — в интервале длин волн 400—700 нм. Наконец, инфракрасная область спектра включает длины волн более 700 нм. В инфракрасной области спектра единицей измерения длин волн служит микрометр (1 мкм — 10 м). Очень часто инфракрасное излучение характеризуется волновым числом v= 1/Х (где X выражено в см), размерность v—соответственно см . Имеются таблицы пересчета волновых чисел в длины волн. [c.255]


    Электрофизиологический лгетод также используется при изучении проводящих нервных путей зрительного возбуждения за пределами рецепторного слоя. Регистрируются изменения электрического потенциала в тех случаях, когда вводятся микроэлектроды в сетчатку между рецепторами и ганглиозными клетками (рис. 1.3), а рецепторы стимулируются излучением различных длин волн. Однако спектральное распределение этих потенциалов, называемых -потенциалами, резко отличается от распределения рецепторных потенциалов. Обнаружено два типа -потенциалов [416, 470—472, 660]. Первый из них, названный L-потенциалом, отрицателен для всех спектральных стимулов, и, выраженный в функции длины волны, представляет собой сравнительно широкое спектральное распределение. Следует оговориться, что L-потенциалы определяются в условных единицах, поскольку значение этой L-величины, по-видимому, коррелирует со светимостью или яркостью стимула. Второй тип S-потенциалов условно измеряют в так называемых С-величинах, поскольку они коррелируют с ощущением цветности (сочетанием цветового тона и насыщенности) цветового стимула. Потенциалы, измеренные в С-величинах, могут принимать отрицательные или положительные значения в зависимости от длины волны стимула. Существует два вида С-величин (Л — ( ) и (У — В). Измерения величины В — G) дают положительный потенциал при длинноволновых (красных) стимулах и отрицательный при средневолновых (зеленых) стимулах. В результате спектральное распределение амплитуд потенциалов вначале отрицательно, а затем положительно (после пересечения спектральной оси) в области от 400 до 700 нм. Аналогичный характер имеет спектральное распределение амплитуд потенциалов, измеренных в (У — 5)-величинах, но оно отрицательно для всех длин волн в желтой области спектра и положительно — в синей области. Не удивительно, что эти результаты рассматриваются как очевидное доказательство в пользу существования механизмов кодирования цвета, причем в таком кодировании участвуют противоположные процессы. [c.117]

    В табл. 8 в качестве примера приводится такая шкала освещенности. Таблица составлена применительно к излучению лампы накаливания К-30 измерения для разных длин волн произведены при помощи термоэлемента и чувствительного гальванометра при разных значениях ширины входной щели спектрографа ИСП-51 с камерой /а == 270 мм. Значения энергий даны в единицах отклонения гальванометра, строго сопоставимых для различных длин волн и различной ширины а щели. По этой таблице можно получить значения энергий, соответствующие 5 = 1 для каждой длины волны. В первом столбце приводятся длины волн, а в последующих — значения энергий при различной ширине щели. Значения энергий даны в относительных единицах. Имея эти данные, можно построить спектральную кривую чувствительности любой пластинки в видимой области спектра (см. экспериментальную часть). [c.203]

    Степень диссоциации, по Аррениусу, не может быть больше единицы и меньше нуля и не должна зависеть от метода ее определения. Однако опыты показали, что для многих электролитов при увеличении их концентрации степень диссоциации, найденная из данных измерения электропроводности, существенно отличается от ее значения при определении другими методами измерением электродвижущих сил, определением понижения температуры замерзания, осмотического давления растворов и т. д. Разница превышает возможные ошибки опыта, увеличивается по мере возрастания концентрации, а в области высоких концентраций степень диссоциации становится больше единицы. Такое значение степени диссоциации не может иметь того физического смысла, который следует из теории Аррениуса. Вычисляемые по теории Аррениуса константы диссоциации сильных электролитов резко изменяются с концентрацией, т.е. не являются константами. Вопреки предположениям Аррениуса о существовании в растворах равновесия между диссоциированными и недиссоциированными молекулами, даже в концентрированных растворах солей современными спектральными методами комбинационного рассеяния не удалось обнаружить линий и полос, которые можно было бы приписать недиссоциированным молекулам. [c.138]

    Приняв интенсивность какой-нибудь линии за единицу (или за 100), мы можем выразить в этой условной шкале интенсивности всех изученных линий. Определение относительной интенсивности линий возможно сделать также и путем сравнения интенсивности интересующих нас линий с интенсивностями линий какого-либо ранее изученного вещества, не прибегая каждый раз к промежуточным определениям через посредство непрерывного спектра. Для этого необходимо только, чтобы выбор ширины щели (параметра Ь) был сделан в соответствии с шириной самой узкой из всех линий сравниваемых веществ. Кроме того, сравниваемые линии не должны различаться но длине волны больше, чем это допустимо при применении методов фотографической фотометрии без учета влияния длины волны па свойства фотопластинки, т. е. лежать друг от друга не более чем на 100 см . Для применения такого метода определения относительных интенсивностей линий необходимо подобрать стандартное вещество, обладающее достаточным числом линий заметной интенсивности, распределенных по всему спектральному интервалу, в котором лежат линии, подлежащие измерению, т. е. по спектральному интервалу, охватывающему область примерно в 1000—1200 см . В случае отсутствия достаточно густо расположенных линий необходимо прибегать к обычным методам учета свойств пластинки в зависимости от длины волпы. [c.16]


    Широко используемым газовым актинометром является пропанон. Для спектральной области 250—300 нм, температур выше 125 °С и давлений ниже 50 мм рт. ст. квантовый выход образования СО равен единице. Однако жидкостной ферриок-салатный актинометр обычно более пригоден для измерений интенсивностей света. [c.189]

    Исследование влияния физических и химических факторов на рентгеновские спектры и определение энергетических уровней в атомах требует применения спектрометров с высокой дисперсией и хорошей разрешающей способностью по энергии. Дисперсия, выраженная в единицах энергии, возрастает с ростом длины волны даже в том случае, если дисперсия, выраженная в единицах длин волн, остается той же самой. Кроме того, ширина уровня, изменяющаяся почти пропорционально квадрату его энергии, уменьшается с ростом длины волны. Поэтому все подобные измерения следует проводить по возможности с мягким рентгеновским излучением. Однако в этой спектральной области преобладают безызлучатель-ные переходы, что сильно затрудняет наблюдения. Кроме того, работа в этой области осложняется вследствие экспериментальных -753 [c.129]

    Aijf — молекулярная масса реагента ДЯ — спектральная область пропускания разрешающего устройства фотометра (при спектрофотометрических измерениях — фактическая длина волны 1, при которой измеряется оптическая плотность раствора) Км — отношение концентрации элемента М, связанного в соединение MR, к общей концентрации См (мкг/мл). Км = 0,5-ь Kr — отношение концентрации окрашенной формы R к общей концентрации реагента r / — толщина слоя окрашенного раствора (кюветы), см s — стандартное отклонение — погрешность нулевого состояния прибора при данной настройке (характеристика стабильности нулевого состояния фотометра, единицы оптической плотности) S, — относительное стандартное отклонение — стандартное отклонение оптической плотности Ар раствора фона (нулевого раствора), выраженное в единицах концентрации элемента М и не зависящее от толщины слоя S — коэф- [c.70]

    Необходимым условием для исследования свойств поверхности твердых тел, в том числе пористого стекла, с помощью инфракрасных спектров поглощения является достаточная прозрачность образцов в той спектральной области, в которой производятся исследования. Поскольку прозрачность образцов исследуемого тела существенно зависит от их толщины, для решения поставленной задачи приобретает важное значение подбор оптимальной толщины данных образцов. Эта толщина определяется из ус.човия достаточной для спектральных измерений интенсивности полос поглощения поверхностных молекулярных групп или адсорбированных на поверхности молекул. Если вследствие поглощения или рассеяния света толщина образца ограничена, то он должен иметь большую удельную поверхность (поверхность на единицу массы), достаточную для того, чтобы при малой толщине образца обнаружить в его спектре исследуемые полосы поглощения. Для увеличения удельной поверхности тела обычно готовят его образцы в виде мелко растолченного порошка. При этом размеры [c.66]

    Выбор той или иной величины определяется, как правило, удобством при работе. Так, частота выбирается всегда, когда речь идет об энергетических измерениях или расчетах энергии. Эта величина не зависит от среды, где распространяется излучение, п то время как другие величины зависят, так как для их расчетов необходимо знание скорости света (с), величина которой различна в различных средах. При необходимости экспериментально измеренные значения длин волн могут быть приведены к вакууму, используя значения скорости света в среде измерения. Большинство справочных изданий, применяемых в практике спектрального анализа, содержат длины волн спектральных линий, отнесенных к распространению излучения в воздухе при обычных условиях (давление 760 мм Н и температура 20° С). Для видимой и ультрафиолетовой области длины волн выражают в нанометрах в ЭТОМ случае значения длин волн спектральных линий составляют сотни нанометров. Для ИК-области обычно длины волн линии выражают в обратных сантиметрах в этом случае их значения составляю] сотни и тысячи единиц. Выбор соответствующих единиц позвол яет избежать значений, содержащих миллион или десятки МИЛЛЯОИОП СД1ШИЦ, [c.12]

    Следует еще раз подчеркнуть, что фотоэлемент используется, как описано выше, только в том случае, когда прибор калиброван для определенного источника света однако даже и тогда процедура эта достаточна сложна. Если же ввести систему фильтров, которые сделают прибор одинаково чувствительным ко всем длинам волн (чувствительность может выражаться либо в единицах энергии, либо, еще лучше, в числе квантов), то такой прибор можно использовать для работы с источниками света разного спектрального состава, например для измерения дневного света в различное время дня, или света в посеве. Если такой фотоэлемент с фильтрами снабдить устройством, интегрирующим показания по времени, то он может быть использован для оценки общей световой энергии (или числа квантов) дневного света в посевЬ и в тех случаях, когда качество света меняется. На фиг. 46 показаны кривые относительной чувствительности прибора [262], являющегося лишь грубым приближением к действительно неселективно чувствительному прибору. Для сравнения приведена энергетическая чувствительность обычного селенового фотоэлемента. Наиболее серьезным источником ошибок является заметное падение чувствительности в длинноволновых красных лучах (при длине волны >640 нм). Имеются фотоэлементы с запирающим слоем, обладающие большей чувствительностью к красным лучам (кривая III на фиг. 45). Кремниевые фотоэлементы отличаются большим к. п. д. Они обладают также большей чувствительностью к красным лучам, но относительно мало чувствительны к синей области спектра (фиг. 45) в то же время они очень чувствительны к инфракрасным лучам, которые поэтому необходимо удалять соответствующим фильтром. На фиг. 47 показано интегрирующее устройство, которое в принципе представляет собой вольтаметр со съемными мед [c.113]

    Экспозиция я выражается в единицах люкс-с . Контрастность фотоэмульсии определяется наклоном характеристической кривой (см. рис. 71) в области нормальных почернений — прямолинейный участок кривой. Фактор контрастности фотопластинки у равен tg а. С повышением контрастности пластинки ее чувствительность Н обычно падает. Для более точных измерений рекомендуются фотопластинки с большими значениями 7. Фотоэмульсии имеют различную спектральную чувствительность, т. е. последняя зависит от длины волны падающего на нее излучения. В ультрафиолетовой области спектра используют фотопластинки спектральные , тип I или тип П. Для работы в области спектра 500,0—1000,0 нм эмульсию сенсибилизируют различными красителями. В желто-зеленой области видимого участка спектра применяются пластинки ортохром , для красной — панхром , для инфракрасной — инфрахром . [c.238]


Смотреть страницы где упоминается термин Единицы измерения и спектральные области: [c.25]    [c.171]    [c.171]    [c.159]    [c.351]    [c.8]   
Смотреть главы в:

Основы квантовой химии -> Единицы измерения и спектральные области




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Единицы измерения

Спектральные области



© 2024 chem21.info Реклама на сайте