Электронографический и нейтронографический методы

РЕАЛЬНЫЕ КРИСТАЛЛЫ. РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЕ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЧЕСКИЕ, НЕЙТРОНОГРАФИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ФАЗОВОГО АНАЛИЗА [c.2]

Расстояния между атомами в молекулах определяются главным образом на основе электронографических и нейтронографических исследований (стр. 123), а распределение электронной плотности — рентгенографическим методом- или во многих случаях с помощью метода электронного парамагнитного резонанса. [c.89]

Электронографический и нейтронографический методы [c.153]

Принцип механической монохроматизации заключается в разделении нейтронов по скоростям, точнее, по разнице времен, требуемых для пролета заданного расстояния. Например, сфазированные вращающиеся диски с щелями, расположенными на определенном расстоянии друг от друга, будут пропускать нейтроны только определенной энергии, создавая импульсный пучок квазимонохроматических нейтронов. Отметим особенности метода электронографии. Он существенно отличается от рентгено- и нейтронографического методов тем, что интенсивность рассеяния электронов атомом почти в 10 раз превышает интенсивность рассеяния рентгеновского излучения и нейтронов. Это обусловливает быстроту проведения электронографических исследований и его незаменимость при изучении строения молекул газов, структуры тонких пленок и кинетики их образования. [c.95]

Нейтронографический метод позволяет устанавливать в кристалле взаимное расположение атомов, принадлежащих соседям по периодической системе, что невозможно при электронографических исследованиях и с большим трудом, лишь в некоторых случаях, выполнимо с помощью рентгеновских лучей. [c.304]

Нейтронографический метод. Этот метод в какой-то мере является аналогом электронографического метода. Развиваться он стал только после начала лабораторного применения атомных реакторов, т. е. с конца 40-х годов. Технически нейтронографический метод сложнее электронографического, но он имеет и свои преимущества в частности, он позволяет фиксировать положение атомов водорода. Поэтому в настоящее время нейтронографический способ изучения геометрических параметров органических молекул находит все более широкое применение. [c.178]

Современные методы структурного анализа (оптические и рентгеноскопические, электронографические, нейтронографические и др.) подтвердили справедливость наших представлений о строении органических веществ, вытекающих из теории А. М. Бутлерова. В то же время в понятие химическое строение было внесено существенное уточнение на свойства веществ оказывает влияние не только последовательность связей между атомами в молекулах, но и расположение атомов в пространстве. Пространную структуру органических соединений изучает стереохимия. [c.28]

Одной из важнейших задач физической химии и кристаллохимии полупроводников является, как указывалось выше, установление их фазового состава и строения. Эго осуществляется с помощью рентгенографических, электронографических, нейтронографических, оптических, электрофизических и других методов. Первые три метода тесно связаны с теорией симметрии. Но прежде чем на них остановиться, напомним некоторые принципиально важные представления, относящиеся к возникновению атомных спектров, в том числе рентгеновских, и к закону Мозели. [c.109]

Одной из важнейших задач физической химии и кристаллохимии полупроводников является, как указывалось выше, установление их фазового состава и строения. Это осуществляется с помощью рентгенографических, электронографических, нейтронографических, оптических, электрофизических и других методов. Первые три метода тесно связаны с теорией симметрии. [c.126]

Электронографическое исследование позволяет получить распределение электрического потенциала по кристаллу, максимумы которого различаются по высоте не столь значительно, как максимумы электронной плотности. Электронографический метод, следовательно, более выгоден для выявления расположения легких атомов. Еще в большей степени это относится к картинам распределения, получаемым нейтронографическим методом исследования. [c.515]

Таким образом, начав исследование рентгеноструктурным методом, мы получаем большую возможность и устойчивость в преодолении первоначальной трудности—построения проекции первого приближения переход к электронографическому или нейтронографическому методу обеспечивает успех в расшифровке деталей структуры—в обнаружении расположения легких атомов. [c.515]

Двум главным структурообразующим факторам направленной и ненаправленной составляющим связи, соединяющей структурные единицы в строении твердых веществ, отвечают два разных состояния твердого вещества, а именно плотнейшая упаковка при крайне бедном энергией кристаллическом состоянии и разуплотненная структура богатого энергией состояния, по традиции называемого аморфным, т. е. бесструктурным, хотя, как известно, аморфные вещества имеют структуру, которая, так же как и для кристаллических веществ, в конечном счете определяется теми же квантовыми законами. Заметим, что структуру аморфных веществ уже более сорока лет успешно изучают рентгено- и электронографическими, а также нейтронографическими дифракционными методами. В отличие от кристаллических веществ, для которых характерна трехмерная периодичность и симметричность строения, аморфные вещества имеют непериодическую структуру, не подчиняющуюся законам симметрии. [c.160]

Описанные основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, одинаково применимы как в рентгеноструктурном (РСА), так и в электронографическом (ЭСА) и нейтронографическом (НСА) структурном анализе. Все три метода основаны на одном общем эффекте — дифракции волн, пропускаемых через кристалл,— и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов (ядра атомов в этом рассеянии практически не участвуют). Поток электронов рассеивается в электромагнитном поле атомов, т. е. на электростатическом потенциале, создаваемом ядрами и электронами атомов. Поток нейтронов рассеивается только ядрами атомов. [c.125]

Изложение основ рентгеноструктурного анализа кристаллов было бы неполным без обсуждения его роли и места в системе современных физико-химических методов изучения вещества и его значения для решения химических задач. Прежде всего необходимо выяснить, в чем заключаются преимущества и недостатки рентгеноструктурного анализа по сравнению с другими родственными дифракционными методами — электронографическим и нейтронографическим. Далее следует сопоставить возможности дифракционных методов изучения строения вещества в разных агрегатных состояниях и прежде всего рентгеноструктурного анализа кристаллов, рентгенографии стекол и жидкостей и электронографии газов. [c.169]

Описанные основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, одинаково применимы как в рентгеноструктурном (РСА), так и в электронографическом (ЭСА) и нейтронографическом (НСА) структурном анализе. Все три метода основаны на одном сб- [c.169]

Дифракционные структурные методы (рентгеноструктурный, электронографический и нейтронографический) дают возможность определить симметрию комплексов, пространственную конфигурацию [54], а также установить различные случаи изомерии и полимерии. Структурные исследования позволяют найти межатомные расстояния в комплексных соединениях, и, наконец, установить природу химических связей в этих соединениях. [c.20]

Нейтронография. Этот метод, основанный на диффракции нейтронов, возник лишь в самое последнее время и еш е не нашел заметного применения при исследовании органических веществ. Аппаратура состоит из достаточно мощного источника нейтронов, в качестве которого может служить ядерный реактор (котел), и нейтронного спектрометра. Имеющиеся различия в механизме рассеяния отдельными атомами нейтронов, электронов и рентгеновских лучей позволяют рассчитывать на то, что нейтронографический анализ может оказаться полезным как раз в тех случаях, когда рентгенографический и электронографический методы не дают хороших результатов. В частности, нейтронографический анализ позволит непосредственно определять положение атомов водорода. Можно думать поэтому, что данный метод принесет большую пользу в тех случаях, когда для выяснения строения органических соединений важно точно знать положение водородных атомов. [c.26]

В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз . В пятой даны приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов рентгеновского, нейтронографического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [c.272]

Большое значение приобретают электронографические, рентгенографические, нейтронографические и другие методы. [c.16]

Миркин А. И., Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов, Москва, 1961. Описаны общие методы рентгеноструктурного анализа и применение его для фазового анализа, определения периодов кристаллической решетки, напряжений первого рода, размеров кристаллитов и блоков, определения микронапряжений и искажений кристаллической решетки, определения преимущественной ориентировки, электронографический и нейтронографический анализы. [c.104]

Дифракционные структурные методы (рентгеноструктурный, электронографический и нейтронографический) дают возможность определить симметрию комплексов, пространственную конфигурацию [54], а также установить различные случаи изомерии и поли- [c.25]

Нейтронография. Основанный на дифракции нейтронов данный метод возник недавно. Применение его для исследования углеводородов еще не нашло пока распространения. Нейтроны, рассеиваясь на ядрах атома, позволяют непосредственно определить положение не только углеродных атомов, но и атомов водорода. Нейтронографический анализ может оказаться полезным именно в тех случаях, когда рентгенографический и электронографический методы не дают хороших результатов. [c.342]

Нейтронографический метод, который начали применять сравнительно недавно, позволяет получать наиболее точные значения, несколько отличающиеся от данных, полученных рентгенографическим и электронографическим методом. Например, межядерное расстояние С—F в четырехфтористом углероде, определенное нейтроногра- [c.67]

Типы водородных связей , встречающиеся в структурах аминокислот и их производных, определяются наличием в них групп СОО , СООН, ]ЧНз+, СО, КНг+, ОН, ионов С1 , Вг , молекул воды НгО и т. д., активных в смысле образования этих связей. Их длины и соответствующие им углы X — У. .. (У-донор, -акцептор, Х-атом, с которым атом У связан ковалентно) приведены в табл. 57. На рис. 81, а, б, приводятся диаграммы распределения длин водородных связей и размеров углов для наиболее распространенных типов связей [124]. Они построены на основании данных, полученных ронтгеноструктурным, электронографическим и нейтронографическим методами для разных классов соединений. На вертикальных осях диаграмм отложено количество связей, наблюдаемых в определенном интервале длин (А = 0,05 А) и углов (А = 5°), а иа горпзонта.льных — сами интервалы, с указанием их средних значений. Черные прямоугольники соответствуют связям, определенным с точностью 0,05 А и выше, заштрихованные — с точностью ниже 0,05 А. Кроме того, на диаграммах приводятся средние значения длин, углов и стандартные отклонения для различных типов связей. Из сравнения табл. 57 и диаграмм видно, что длины водородных связей и размеры углов, встречающиеся в кристаллах амршокислот, варьируют в пределах, обычно наблюдаемых для других соединений. [c.151]

Так как средние скорости медленных нейтронов имеют порядок 10 —10 см/сек, отвечающие им длины волн составляют ангстермы или их десятые доли (П1 4 доп. 10). Поэтому при взаимодействии с плоскостями кристалла направленный поток медленных нейтронов испытывает закономерную диффракцию (в отличие от рентгеновских лучей и электронов обусловленную только атомными ядрами). Это дало возможность разработать нейтронографический метод исследования структур, в принципе сходный с электронографическим (ХП 2 доп. 22). В качестве примера на рис. XVI-41 показана нейтронограммакристалла Na l (неподвижно закрепленного). [c.566]

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз , наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [c.2]

Роль возбудителя дифракционных эффектов в кристалле могут выполнять рентгеновские лучи, поток электронов или поток нейтронов при соответствующей скорости (по соотношению де Бройля частице с массой т и скоростью V соответствует волна длиной Х=Ь1тю). Соответственно существуют три дифракционных метода структурного анализа рентгеноструктурный, электронографический и нейтронографический. [c.47]

Принадлежность кристалла к той или иной пространственной группе устанавливается исследованием его структуры методами рентгено-структурного, электронографического и нейтронографического анализов [8, 9]. После того как рентгенограмма (или элек-тронограмма) получена и проиндицирована, можно установить, от каких плоскостей кристалла рефлексы отсутствуют. Знание закономерностей погасаний позволяет определить так называемую рентгеновскую группу, включающую одну или несколько федоровских групп. Полное определение атомной структуры кристалла возможно только после определения интенсивности рефлексов, так как значения координат частиц в элементарной ячейке влияют на величину структурной амплитуды, определяющей интенсивность рассеяния. [c.21]

СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ - анализ структуры материала и его дефектов. Для исследования атомно-кристаллической структуры исполт,зуют дифракцию и рассеяние рентгеновских лучей (см. Рентгеноструктурный анализ), электронов (см. Электронографический анализ) и нейтронов (см. Нейтронографический анализ). Получили распространение методы анализа с использованием ориентационных эффектов при рассеянии тяжелых заряженных частиц (см. Ме-тодом ориентационных аффектов анализ), а также автоионный микроскопический анализ, в к-ром используют ионизацию атомов (или моле-ку.т) газа в неоднородном электр. поле у поверхности образца. При рассеянии потоков излучений атомами, находящимися в узлах идеальной кристаллической решетки, возникают резкие максимумы и диффузный фон вследствие комптоновского рассеяния. По положению и интенсивности максимумов определяют тип кристаллической решетки, размеры элементарной ячейки и расположение атомов в ней. Нарушения идеальности кристалла, напр, колебания атомов, наличие атомов различных хим. элементов, дислокаций, частиц новой фазы и др., изменяют положение, форму и интенсивность максимумов и вызывают дополнительное диффузное рассеяние, что дает возможность получать информацию об этих нару-шеннях. Дифракционными методалш изучают также строение веществ (напр., аморфных), пе обладающих строгой трехмерной периодичностью. Теории дифракции всех излучений имеют много общего, в то же время в них есть особенности, обусловли- [c.470]

Диапазон рентгеновых лучей используется в рентгеноструктурных исследованиях, которые вместе с электронографическими (и нейтронографическими) объединяются в группу дифракционных методов, поскольку в основе их лежит явление рассеивания и последующей интерференции. [c.51]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология