Анализ пленок

Диоктилфталат и трикрезилфосфат вымывали эфиром с окиси алюминия. Результаты хроматического анализа пленок, находившихся в различных грунтовых условиях, показаны в табл. 2. [c.9]

Областями применения методов ИК-спектроскопии являются анализ пленок, сформированных на поверхности металла (защитных и 198 [c.198]

Термографией можно производить также количественный анализ пленок и отложений. При изучении кривых нагревания различных систем было установлено, что площадь пика, образованная отклонением дифференциальной записи от нулевого положения, возрастает по мере увеличения содержания того или иного вещества. Правда, абсолютная величина площади в значительной мере зависит от внешних причин, однако на практике обычно сравнивают площади от двух разных эффектов на одной и той же термограмме. Так как в ходе эксперимента внешние факторы не меняются, то оба эффекта протекают в сравнимых условиях и соотношение площадей может зависеть только от относительных количеств фаз в анализируемом образце. [c.221]

При химическом анализе вкраплений, микрофаз металлических слитков, геологических и археологических образцов при послойном анализе пленок выяснении состава пятен, штрихов в рукописях, в объектах судебной экспертизы и т. д. требуется проводить локальный анализ. При таком анализе вводят новую характеристику метода — пространственное разрешение, т. е. способность различать близко расположенные участки образца. Пространственное разрешение определяется диаметром и глубиной области, разрушаемой при анализе. Наиболее высокое пространственное разрешение, достигаемое современными методами локального анализа, — 1 мкм по поверхности и до 1 нм (т. е. несколько моноатомных слоев) по глубине. В локальном анализе используют рентгеноспектральные методы (электронно-зондовый микроанализатор), атомно-эмиссионные спектральные методы с л ерным возбуждением, масс-спектрометрию. [c.29]

В более позднем исследовании с применением первого из этих двух методов (с сушкой образца) для анализа пленок полимера толщиной 0,2 мм выяснилось, что вода эффективно удаляется путем сушки образца в течение 4 ч при температуре 80 °С и давлении [c.251]

Описан ряд химико-спектральных методов анализа пленок арсенида галлия на примеси [160, 205, 211]. [c.198]

В работе [73] описано определение карбонильных групп, образующихся на поверхностях полиэтиленовых пленок под действием окислительной среды. Образцы при этом обрабатывали 0,01 М раствором 2,4-динитрофенилгидразина- С в 2 н. серной кислоте. Избыток радиореагента смывали с пленки водой и затем измеряли остаточную радиоактивность поверхности пленки с помощью проточного газового детектора радиоактивности с тонким окошком. Для измерения удельной радиоактивности радиореагента некоторое небольшое его количество наносили на тот же образец исходной пленки и тем же счетчиком измеряли радиоактивность. Если толщина определяемого образца пленки полиэтилена превышает длину пробега р-частиц, образующихся при распаде изотопа то скорость счета на поверхности анализируемой пленки пропорциональна концентрации карбонильных групп. При анализе пленок с толщиной, меньшей длины пробега р-частиц в полиэтилене, [c.111]

Анализ пленок ПАВ на границе раздела [c.175]

Химический анализ пленки, снятой с запассивированного железа, показал, что она содержит лишь трехвалентное железо. По утверждению Эванса [1], пленка, снятая с пассивного железа, не растворяется в соляной кислоте, в то время как осажденный гидрат железа Ре(0Н)з или продукты коррозии (РеО-ОН) легко в ней растворяются. Отсюда был сделан вывод, что за пассивацию ответственны окисные фазы, а не гидроокисные, которые не обладают защитными свойствами. [c.19]

Чувствительность метода при анализе 0,5 г Si — 2-10- %, при анализе пленок кремния весом Ъ мг — 2 10 % [c.53]

Рис. 93. Кривые дифференциально-термического и термогравиметрического анализа пленок на основе СКУ-ПФЛ с различными вулканизующими агентами

Практически все авторы (кроме [200]) приходят к выводу, что на первом тафелевском участке основным анодным процессом является переход титана из карбида в раствор в виде четырехвалентных ионов (выход по току до 72% [194]). Балансными измерениями, включающими хроматографический анализ образующихся на аноде газов, проведенными при постоянных потенциалах на различных участках потенциостатической кривой, установлено [194], что наряду с указанным процессом на поверхности карбида образуются окислы, расход тока на которые растет с потенциалом и положительное 1,8 в, становится значительным (--40% при 2,65 в). Эти результаты подтверждены импедансными измерениями и рентгеноструктурным анализом пленки, образующейся на поверхности карбида. [c.72]

Для выяснения характерных особенностей окисления металлов в исследуемой смеси в отдельных случаях производился рентгенографический анализ пленок, образующихся при испытаниях. [c.197]

Результаты анализа пленок, полученных на стали с различной термообработкой и в различных растворах, даны в табл. 5. [c.81]

Анализ пленки на меди кулонометрическим восстановлением. [c.133]

Уравнение (7) можно применять для расчетов истинного дихроичного отношения R, но так как показатель преломления образца в области полосы поглощения обычно не известен, приходится пользоваться приблизительной величиной п. Это приводит к неопределенности в исправленной величине дихроичного отношения. Поэтому очень полезно определить поправку каким-либо независимым экспериментальным методом, например, выполнив анализ пленки на обычном спектрометре с низкой апертурой таким же образом, как и в микроскопе. [c.248]

Чаще всего используется метод базисной линии, позволяющий исключить влияние неизбирательного поглощения и в некоторых случаях частичное наложение полос компонентов смеси на полосу поглощения, выбранную для анализа. При этом, если поглощение образца измеряется на однолучевом приборе, нет необходимости регистрировать интенсивность излучения, прошедшего через растворитель. Это сокращает время анализа и исключает ошибки, обусловленные нестабильностью источника излучения. По методу базисной линии кривая падающего на образец излучения изображается в виде произвольно заданной прямой касательной в основании аналитической полосы или прямой, соединяющей две произвольные точки с обеих сторон максимума поглощения (рис. 19). Метод базисной линии особенно удобен для анализа пленок, таблеток или эмульсий. [c.37]

Полнота выделения стабилизатора из анализируемого образца при подборе условий экстракции контролируется по кинетическим кривым. Одним из вариантов построения такой кривой при анализе пленок является прямой анализ пленок спектральным методом. В этом случае по уменьшению поглощения пробы в максимуме аналитической полосы контролируют исчезновение добавки из полимера выход на плато на этой кинетической кривой также можно считать окончанием экстракции. [c.239]

Пластификаторы можно определять без отделения полимерной части и с предварительной экстракцией пластификаторов. Спектральный анализ пленки полимера для этой цели проводят редко, поскольку соединения, относящиеся к пластификаторам, обладают интенсивными полосами поглощения, что в сочетании с их большим содержанием в полимере (до десятков процентов) требует приготовления для анализа пленок очень малой толщины, что весьма затруднительно. Поэтому для прямого анализа обычно используют растворы полимеров. [c.253]

Фазовый анализ пленок PbS. При анализе пленок PbS предложена схема фазового анализа, включающая двукратную обработ. [c.253]

Анализ пленок (анализ металлических покрытий) [c.229]

Для анализа пленки нужно подействовать на нее кислотой таким образом, чтобы кислота растворила только пленку, но не основную массу сплава. [c.230]

Рентгенофазный анализ пленок показал, что при МДО алюминия формируются пленки состава т = А1г О3 и а = Alj О3, а также сложные окисные соединения из элементов, входящих в состав металла и электролита. [c.124]

К.— пока единственный физ.-хим. метод анализа, не использующий зависимость св-ва от концентрации определяе--мого в-ва, т. к. измеряется непосредственно число электронов, участвующих в электродной р-ции. Это обусловливает высокую чувствительность метода (ниж. предел определяе-мь1х концентраций 10" —10"" М) и его прецизионность нри определении как больших кол-в в-ва, так и примесей. Разработаны микро- и ультрамикроварианты К. По своему инструментальному оформлению К. значительно проще др. методов анализа. Выпускаются спец. потенциостаты и гальваностаты, поддерживающие строго пост, значения Е и h, а также приборы спец. назначения (напр., для определения углерода в стали и чугунах). Рабочие электроды в К. изготовляют в осн. из платины и ртути, иногда из графита, стеклоуглерода и др. К. используют для анализа пленок, покрытий, микрообъектов, определения осн. компонентов в полупроводниках. С ее помощью изучают также кинетику хим. р-ций, каталитич. процессы, определяют число электро- [c.292]

Найдены условия разделения смеси А1(1П), Сг(П1), Zr(IV), и Mo(IV) и смеси Сг(1П), U(VI) и W(VI) на бумаге Ватман № 1 (размером 25 X 2,5 см), пропитанной иасьщенным растворо. г 1-фенил-3-метил-4-бензоилпиразолона-5 [693]. В первом случае для хроматографирования употребляют смесь метилэтилкетон — ацетон — 6 М НС1 (5 3 2), значения Rj равны А1(П1) — 0,91, Сг(П1) — 0,53, Zr(IV) — 0. Во втором случае употребляли ту н е смесь с соотношением компонентов 3,5 5 1,5 значения Rf равны Mo(VI) - 0,94, Сг(Н1) - 0,82, U(VI) - 0,72, W(VI) - 0,10. Описано [533] разделение элементов методом распределительной хроматографии при нейтронно-активационном анализе пленок арсенида галлия. Метод использован при определении хрома в арсениде галлия кинетическим методом [127]. [c.143]

При работе электролизеров на сернистой анодной массе было замечено образование на токоподводящих штырях продуктов коррозии в виде сульфидных пленок толщиной 1—3 мм. Химический анализ пленки показывает, что содержание железа в ней 53—54%, серы 16—25% и углерода 15—16%. При.работе электролизеров на обычной массе тоже наблюдается образование сульфидных пленок, но в меньшем количестве. Сульфидные пленки на штырях вызывают дополнительное электросопротивление на контакте штырь — анод, и перепад напряжения на этом участке на опытных ваннах был примерно на 8 мв больше, чем иа рядовых. Падение напряжения на контакте штырь — анод, а также падение напряжения в аноде замеряли сотрудники ВАМИ. Они определили, что падение напряжения в аподс из сернистого кокса на электролизере с верхним подводом тока на 48,6 мв, а на электролизере с боковым подводом тока на 16,6 мв больше, чем в аноде из пекового кокса. [c.156]

На сульфатно-аммиачном фоне кадмий дает хорошо выраженную полярограмиу (рис. 19, а). Этот фон используют при анализе теллуридов и селенидов Сс1 и 2п. При совместном их присутствии с 8е и Те, пики Сс1 и 8е с потенциалами соответственно при —0,64 и 1,5 в пригодны для анализа систем при соотношении Сс1 Зе от 1 50 до 5 1. Чувствительность метода 0,4 мкг Сс1/10 мл. Определение Сс1 в присутствии 1000-кратных количеств Те проводят на тартратно-аммиачном фоне, потенциал полупика находится при —0,64 в. Этот фон пригоден для анализа пленок полупроводниковых соединений [414]. [c.105]

Метод РФА относится к группе неразрушающих методов анализа и претоден для определения содержания большинства элементов Периодической системы в широком динамическом диапазоне. Предел обнаружения для многих из них находится на уровне 10 % (для легких элементов он значительно выше), и в то же время возможно определение высоких концентраций (= 100%) с достаточной точностью (не хуже 0,1 % на современных, полностью автоматизированных приборах). Анализируемые пробы могут быть монолитными, порошковыми, жидкими. Возможен прямой анализ пленок, паст, покрытий. Во многих случаях подготовка проб к анализу крайне проста (иногда ее не требуется вовсе). [c.4]

Переходим теперь к анализу пленок на боратах. Для определения модификаций выделяющихся на поверхности кристаллов сульфата кальция мы применили метод количественного фазового анализа — газоволюмогра-фию (т. е. регистрацию объемов газов, выделяющихся в процессе термической диссоциации) [ > Большая точность определений при малых навесках и быстрота расчетов дают возможность воспользоваться этим методом. [c.22]

Аналогичные эллипсометрические измерения пассивирующих окисных пленок на железе проведены Кудо, Сато и Окамото [75], продолжившими работу Сато и Коэна по механизму роста окисных пленок на железе [83]. На рис. 13 показаны изменения Д и ц при потенциостатическом окислении железа и гальваностатическом восстановлении окисной пленки на железе, а на рис. 14 приведено сравнение экспериментальных и теоретических изменений Д и ц/ для нескольких принятых значений оптических констант пленки. Соотношение между толщинами окисных пленок на железе, определенными кулонометрическим и эллипсометрическим методами, приведено на рис. 15 (ср. [78]). Эллипсометрические, емкостные и кулонометрические свойства изучались также Уордом и Де-Гинетом [80]. Проанализировано накопление протонов и содержание воды в пленке (ср. [81, 84]) в зависимости от ее толщины. В случае сложного поведения пассивирующих окисных пленок на железе, как при их образовании, так и при катодном восстановлении, эллипсометрические исследования дают существенную дополнительную информацию, которую нельзя получить ни поверхностной кулонометрией, ни химическим анализом пленки. [c.434]

К недеструктпвным методам определения неорганических наполнителей относится прямой анализ пленок полимера спектральным методом. Большинство оксидов, используемых в качестве наполнителей, обладают характерным поглощением в ИК-области спектра. Наличие характеристических интенсивных полос поглощения позволяет проводить количественное определение даже в смеси наполнителей [279], используя калибровочные графики. Однако прямой анализ пленок полимера возможен практически только для полиэтилена, обладающего большой прозрачностью в ИК-области спектра [39, с. 147]. Аналитическими полосами для количественного определения наполнителей могут служить, например, узкая изолированная полоса карбоната при 880 см- для определения мела СаСО,э, полоса 1020 см- или 670 см — для определения талька Mg3[Si40io] (ОН) 2, 1100 см- — для диоксида кремния SiOg, [c.257]

Рис. 2. Результаты послойного масс-спектромет-рического анализа пленки кремния толщиной 3 мкм, выращенной на одноименной подложке, легированной сурьмой.

Фазовый анализ пленок С(13е. При анализе полупроводниковых пленок типа на примере Сс13е применен метод фазового химического анализа, основанный на последовательной обработке образца 0,5 М раствором уксусной кислоты (извлечение микрофаз С(10 и СйЗеОз) и 0,1 Ж раствором сульфита натрия (извлечение микрофазы элементного селена) с последующим растворением основы концентрированной азотной кислотой для определения содержания основных компонентов (С(1 и Зе) и основного вещества [5, 61. [c.252]

Спектрофотометрическим методом с применением 4-(2-пиридилазо)резордина проведен фазовый анализ пленок селенида кадмия на содержание основных компонентов и фазовый анализ пленок сульфида свинца. Суммарное содержание серы определяли нефелометрическим методом. [c.275]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология