Положительная интерференция

В некоторых отношениях образование хиазмы аналогично процессу генетической рекомбинации. Образование одной хиазмы, например, уменьшает вероятность возникновения поблизости другой хиазмы. Это явление, называемое положительной интерференцией, проявляется в уменьшении числа двойных рекомбинантов в трехфакторном скрещивании. (В скрещивании AB х ab образуется класс двойных рекомбинантов АЬС и аВс, при этом в одной и той же хромосоме происходит сразу два перекреста один-между и В и другой-между В и С.) Меньшее число двойных рекомбинантов соответствует меньшей частоте двойных перекрестов по сравнению с произведением одиночных перекрестов (которые должны преобладать, если оба перекреста происходят независимо). Положительная интерференция проявляется на таких протяженных участках генетической карты, за пределами которых уже нельзя пользоваться величиной прямого сцепления, так как она приближается к максимальному значению-50% рекомбинации. При образовании перекрестов между соседними маркерами в один перекрест вовлечена одна пара из четырех хромосом бивалента, а в другой перекрест-вторая, причем оба перекреста происходят независимо. [c.16]

Пример. Из рис. 23-9 видно, что путь потока 1 отличается от пути потока 2 на величину (АВ — D) для получения положительной интерференции необходимо, чтобы [c.129]

Интерференция. Влияние одного кроссинговера на хроматиде на вероятность другого кроссинговера на той же хроматиде. Положительная (отрицательная) интерференция означает, что первый [c.308]

Длины волн белого света имеют значения приблизительно (400—800)-10 мкм. Получающаяся в кристалле разность хода для лучей одних волн равна четному, для других — нечетному числу полуволн. Поэтому волны одной длины (одного цвета), входящие в состав белого света, при интерференции уничтожаются, другие, наоборот, усиливаются В результате отношение интенсивностей различных цветов становится иным, чем в белом свете, и кристалл кажется окрашенным. Каждой разности хода соответствует определенная интерференционная окраска, по которой определяют оптическую индикатрису кристалла. Индикатриса характеризует оптическую анизотропию кристалла и представляет собой вспомогательную поверхность, каждый радиус-вектор которой соответствует показателю преломления кристалла для световой волны, распространяющейся в направлении этого вектора. В общем случае эта поверхность имеет форму эллипсоида. Условно кристаллы называют положительными, если индикатриса имеет форму вытянутого эллипсоида (рис. VI. 14, а) и отрицательным, если индикатриса сплюснута (рие. VI. 14, б). При последовательном прохождении луча через стандартный кристалл с известным знаком двулучепреломления и сферолит наблюдается измене- [c.176]

Экспериментально порядок величины Хц был определён из опытов с каналовыми лучами, представляющими собой пучок быстро движущихся положительных ионов. Эти опыты заключались в том, что по отклонению каналовых лучей в электрическом и магнитном полях определя.ли скорость движения каналовых частиц и одновременно измеряли интенсивность свечения пучка в разных точках пути. Опыты дали для среднего времени пребывания атома в возбуждённом состоянии т величину порядка 10 —10 сек. Эта величина совпадает с длительностью отдельного когерентного светового излучения, определяемой в классической физике из наибольшей разности хода, при которой ещё можно наблюдать явление интерференции световых волн. Порядок величины Ту подтверждается также совпадением дисперсионных и абсорбционных констант, подсчитанных на основании этой цифры по квантовой теории, с данными опыта. [c.105]

Полная волновая функция может быть теперь представлена комбинированием значений радиальной и угловой частей в соответствии с выражением (3.5). Она нагляднее всего изображается с помощью контурных диаграмм, как это сделано для р -орбитали на рис. 3.7. Однако очень удобным, хотя и приближенным,является представление орбиталей с помощью угловых частей, как показано на рис. 3.6. Оно будет неоднократно использовано на протяжении этой книги. Как видно, волновая функция может иметь положительную и отрицательную области. Однако наблюдаемые свойства электрона зависят не от функции Т, а от функции (в более общем случае — от 4 ), которая всегда положительна. Какова же тогда роль знака и существен ли он вообще Для выяснения этого проведем здесь аналогию с амплитудой световой волны. Она может быть положительной или отрицательной, но знак важен только в том случае, когда две волны интерферируют. Тогда соотношение знаков обеих амплитуд определяет, будет ли происходить при интерференции взаимное ослабление или усиление волн. Аналогично, как будет видно из теории химической связи, важно именно соотношение знаков двух перекрывающихся атомных орбиталей, а не знаки каждой из них в отдельности. [c.46]

Если С < 1, то интерференция положительная, т. е. одиночный обмен препятствует обмену на соседнем участке хромосомы. Если С > 1, то интерференция отрицательная, т. е. один обмен как бы стимулирует дополнительные обмены на соседних участках. В действительности существует только положительная интерференция при реципрокной рекомбинации — кроссинговере, а кажущееся неслучайным совпадение двух и более обменов, характерное для очень коротких расстояний, — результат нереципрокных событий при рекомбинации (см. гл. 7). [c.103]

Причина такого поветепия состоит в конструктивной интерференции волновых функций. Каждая из них в межъядерной области имеет положительную амплитуду, и поэтому общая амплитуда увеличивается. Мы постоянно будем сталкиваться с тем фактом, что электроны необычным образом накапливаются в области перекрывания и конструктивной интерференции атомных орбиталей. [c.511]

Рис. 1.3. Пере1фывание АО, ведущее к связыванию причина этого состоит в том, что орбитали - это волновые функции, т.е. электронные волны , которые, как и всякие другие волны, могут интерферировать. При интерференции электронов орбиталей 1лд и Т в, ка5вдая из которых в межъядерной области имеет положительную амплитуду, общая амплитуда увеличивается. Таким образом, в области перекрывания происходит как бы накапливание электронной плотности.

Возможность пребывания электрона с двух сторон плоскости, при отсутствии связующего пути, пересекающего последнюю, есть следствие хорошо известной способности волн к интерференции. Пространство, окружающее положительно заряженные ядра атомов, может быть уподоблено картине стоячих волн, образующихся в результате пробегания волной объема, ограниченного отражающими стенками. Плотность электронного облака минимальна или равна нулю в тех местах, где волны взаимно гасятся из-за противоположности фаз и вычитания амплитуд перекрывающихся колебаний. Наоборот, там, где колебания складываются, сосредоточивается макси- [c.61]

Рассмотрим суперпозицию в 2М-спектре двух сигналов, разнесенных по координатам на ДП1 и ДП2 (рис. 6.5.2). Если расстояние между пиками сравнимо с ширинами и Х то дисперсионные части пиков будут интерферировать. Форма этой интерференции зависит от относительного положения этих пиков и определяется отношением ДП1/ДП2. Если это отношение положительно, то отрицательные объемные компоненты этих двух сигналов частично гасят компоненты поглошения, что ведет к уменьшению амплитуды сигнала (интерференция со взаимным гашением). При отрицательном отношении Д121/Д122 положительные компоненты дисперсии усиливают сигналы поглошения (рис. 6.5.2, а). В этом случае, очевидно, получаем асимметричное удлинение гребней, в то время как при положительном ДП1/ДП2 удлинение равномерно по всем направлениям. [c.375]

Рис. 6.5.2. а — суперпозиция пары пиков, каждый из которых представлен в смешанной моде иа иижием квадранте координаты резонансных пиков смещены вдоль положительной диагонали ДЯ = ДПг = 4X1 = 4Хг (т. е. смещение равно удвоенной полной ширине линии иа половине высоты) из-за наложения отрицательных дисперсионных компонент и положительных компонент поглощения это дает интерференцию с ослаблением. На верхнем квадранте пики смещены вдоль отрицательной диагонали (ДЙ1 = - ДЙ2 = 4Х = 4X2), что дает интерференцию с взаимным усилением б — суперпозиция двух смещенных иа ДП = ДПг = 4Х] = 4X2 пиков чистого поглощения. Показаны линии уровня, соответствующие 22, 16, 10, 4 и -4 процентам максимальной высоты изолированного пика. Отрицательные линии обозначены пунктиром. [c.376]

Упомянутые здесь методы определения структуры до сих пор ие привели к особенно точным значениям электронной плотности, длин связей и валентных углов. Дело в том, что картина распределения электронной плотности показывает ложные подробности 1из-за обрыва ряда Фурье. Если структурные амплитуды F hkl) измерялись с помощью излучения с длиной волны X, то семейства плоскостей с dряда Фурье оказываются исключенными члены с межплоскостным расстоянием, меньщим, чем Х/2. Влияние этого обстоятельства на картину распределения электронной плотности вполне аналогично влиянию ограниченной разрешающей силы на образование изобра-)жения в микроскопе атомы видны в окружении дифракционных колец поочередно положительной и отрицательной электронной плотности, которые маскируют все подробности и смещают соседние максимумы. Один из методов исправления заключается в том, что рассчитывается не электронная плотность, а разность между последней и теоретической плотностью, получаемой суперпозицией плотностей изолированных атомо В в таких положениях, при которых эта разность минимальна. В качестве теоретических в индивидуальных атомах принимаются плотности, получаемые при приближенном рещении волнового уравнения. Поэтому разность плотностей можно использовать для уточнения атомных координат путем устранения ошибок, связанных с ограниченностью ряда окончательная картина должна обнаружить любые детали, не включенные в теоретическое распределение (например, атомы водорода). Другой метод увеличения точности, который можно более легко запрограммировать для вычислительных машин, заключается в систематической вариации атомных координат так, чтобы была минимальной величина типа [c.184]

То обстоятельство, что рассеяние рентгеновских лучей производится электронами, приводит к тому, что положительные водородные ионы (ядра атома водорода — протоны) вообще не дают интеференций, и поэтому их положение в решетке не может быть определено непосредственно. Кроме того, не удается установить положение атомов элементов с небольшим числом электронов вблизи от атомов элементов с большим числом электронов, так как интерференции, вызываемые ими, слишком слабы. Непосредственно определить положение протонов в кристаллической решетке позволяет нейтронография (см. т. II), так как нейтроны рассеивать должны не электроны, а атомные ядра. [c.242]

Когда размеры включений очень малы (диаметр несколько десятых миллиметра), вместо желатиновой бумаги применяют твердую фильтровальную бумагу. Небольшой кусочек бумаги, пропитанной реактивом, прижимают к поверхности так, чтобы бумага закрывала только часть зерна. Анодом служит медная проволо-Рис. 90. Снятие оттиска с зерна, диаметром В несколько СОТЫХ выходящего только на полирован- миллиметра. Проволоку держат ную поверхность образца. пинцетом, соединенным с положительным полюсом батареи. Наступившее растворение заметно по появлению цветов интерференции на поверхности испытуемого зерна. После растворения снимают бумагу и на место, находившееся в соприкосновении с зерном, наносят каплю реактива. При работе пользуются бинокулярной лупой с большим увеличением. [c.122]

Зависимость интерференционной окраски от толщины d кристаллической пластинки лучше всего видна на кварцевом клине, которым пользуются для измерения величины двойноголучепрелом-ления кристаллов и определения их ориентировки. Кварц—кристалл тригональный, оптически одноосный, положительный, Клин вырезается параллельно его оптической оси. Угол клина составляет около 0,5°, длина его 4—5 см, толщина на толстом конце не превышает 0,2—0,3 мм и плавно уменьшается к тонкому концу . В естественном свете клин выглядит как прозрачная бесцветная пластинка. В монохроматическом поляризованном свете при скрещенных николях на клине вследствие интерференции виден ряд параллельных темных и светлых по- [c.240]

Следует отметить, что функция распределения МО не является суммой функций распределения АО ф она содержит также вклады от областей перекрывания Это квантовомеханическое явление, аналогичное интерференции волн. Если перекрывающиеся АО находятся в одной фазе, то в области перекрывания орбитальная плотность будет больше суммы двух перекрывающихся плотностей АО ф, если они перекрываются в про-тивофазе, то плотность в этой области будет меньше. Разность, которой соответствует 010, , в первом случае будет положительна, а во втором — отрицательна. Математически такое рассуждение аналогично рассмотрению интер- ференции. Такая аналогия является отражением волновых свойств элементарных частиц, в частности электронов. [c.107]

Подобно синусоидальной волне, амплитуда которой обладает знаком, электронное облако имеет области с различными знаками Это проявление волновых свойств электрона в атоме. Волновая функция сохраняет знак при любых г (рис. 9.7). Волновые функции Рзв и имеют на разных удалениях от ядра различные знаки. Знак волновой функции важен при сложении волновых функций при интерференции двух любых волн их положительные и отрицательные части могут взаимоуничто-жаться или складываться, точно так же могут взаимоуничто-жаться или суммироваться волновые функции. [c.118]

Анализ частот возникновения рекомбинантных генотипов при трехфакторном скрещивании дает дополнительное (хотя и косвенное) подтверждение тому, что процесс рекомбинации сопровождается образованием гетеродуплексных участков ДНК. Впервые это было отмечено при изучении явления высокой отрицательной интерференции при скрещиваниях с участием очень тесно сцепленных генетических маркеров. Понятие интерференция (I), введенное нами в гл. 5, определяется формулой I = — с, где с коэффициент совпадения (коинциденции), т.е. отношение числа наблюдаемых двойных перекрестов к числу ожидаемых, при трехфакторном скрещивании. В большинстве случаев при скрещиваниях с участием маркеров в трех различных сцепленных генах (х — у — г) оказывается, что образование перекреста между х и у снижает вероятность образования второго перекреста в интервале между у и г. То есть в таких скрещиваниях величина с меньше 1, а / соответственно положительное число, отражающее наблюдаемую величину интерференции (см. гл. 5). [c.139]

Эти отступления от закона Релея возникают главным образом в результате интерференции лучей света, испускаемых различными частями рассеивающей частицы. Это приводит к общему уменьшению интенсивности рассеянного света по отношению к- значениям, предписываемым уравнениями Релея. Разница длин пути лучей света, испускаемых различными пространственными элементами частицы, будет больще для света, наблюдаемого. с отрицательного направления, чем для света, наблюдаемого с положительного направления. Большая вероятность интер рен-ции для лучей, имеющих отрицательное направление, ооусло- вливает меньшее количество света, рассеянного в отрицательном направлении, до сравнению с количеством света, рассеянным в положительном направлении. При этом огибающая для радиус- вектора излучения (интенсивности рассеянного света) оказывается ] ассиметричной по отношению к направлению рассеяния под -, углом 90°. [c.690]

Налример, если частица считается стержневидной, то, как видно из графика на рис. 268, рассеяние под углом 90° для системы частиц, длина которых составляет 0,4 длины волны, составляет 0,74 интенсивности в отсутствие интерференции. Ординаты, соответствующие случаю рассеяния под углом 90°, лежат на пунктирной вертикальной линии, пересекающейся с осью абсцисс при значении 81п(9/2)=8ш 45°=0,707. Следовательно, исправленное значение для рассеяния, используемое при вычислении молекулярного веса, должно составлять 1/0,74=1,35 наблюдаемого. Целесообразно построить кривые для поправок в зависимости от асимметрии для различных конфигураций частиц. Величина асимметрии для любого значения размера и для любой конфигурации частиц может быть вычислена на основании отношения интенсивностей при соответствующих значениях 81п0/2 для положительно и отрицательно направленных углов, представляемого в виде кривых, подобных изображенным на рис. 268. На рис. 269 [c.693]

Если интенсивности рассеянного света в двух направлениях, положительном и отрицательном, симметричные по отношению к направлению под углом 90°, не равны между собой, это означает, что размер частиц превосходит примерно длины волны. Асимметрию измеряют в функции от концентрации, а собственная асимметрия, всецело обусловленная интермолекулярной интерференцией, определяется путем экстраполяции для с=0. В том случае когда известна конфигурация частиц, коэффициент асимметрии дает возможность оценцть параметр размера /X. В принципе конфигурацию частиц можно определить, опираясь на точное знание углового распределения интенсивности рассеянного света. Имеются завершенные вычисления для сферических и стерж-яепЁдных частиц и для частиц, обладающих формой открытого лубка . Когда будет сделано заключение относительно конфигурации частиц, поправочный коэффициент к измеренному значению мутности (который необходимо применить для получения правильного значения молекулярного веса) можно найти по графику, выражающему зависимость между поправочным коэффициентом и асимметрией." Молекулярный вес затем рассчитывают графи- [c.695]

Какие гаметы образует тригетерозигота по сцепленным генам аВеАЬЕ при наличии полной положительной хроматидной интерференции [c.168]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология