Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Плотность вычисления

    Для решения уравнения (VII. 1) и расчетов систем регулирования приходится переходить к спектральным характеристикам случайных процессов. Эти характеристики могут быть получены двояко по предварительно вычисленным корреляционным функциям и непосредственно по реализациям. Обычно предпочитают первый путь, так как количество вычислительных операций приблизительно одинаково, между тем оценка спектральной плотности, вычисленная непосредственно по реализации, це всегда сходится к истинной спектральной- плотности [8]. [c.169]


    Можно представить на диаграмме непосредственно приведенную плотность Рпр (отношение плотности в данном состоянии к критической плотности, вычисленной с помощью гнр = 0,27) в виде функции приведенных параметров Гпр и Рпр (рис. П1-2). На диаграмму наносится пограничная кривая для состояний насыщенного лара и находящейся с ним в равновесии кипящей жидкости, а также кривые плотности жидкости. При расчетах необходимо распо- [c.208]

    В кристаллической решетке некоторые места могут быть свободными (вакансии). Плотность реального кристалла, имеющего вакансии, измеренная опытным путем (роп)> меньше, чем плотность вычисленная из рентгенографических данных по размеру элементарной ячейки. Содержание вакансий А (в %) вычисляется по формуле [c.72]

    К отчету о работе должна быть приложена таблица плотностей, вычисленных по формуле (30), приведенной на стр. 53. [c.68]

    Для любой из этих структур порядок связи между двумя центральными атомами углерода должен быть больше 1, а между двумя другими атомами углерода — меньше 2, хотя ни по одной из рассматриваемых структур нельзя предсказать, что три связи имеют одинаковую электронную плотность. Вычисленные по методу молекулярных орбиталей порядки связей равны 1,894 и 1,447 [17]. [c.52]

    Вычисленные с помощью метода Хартри —Фока электронные ПЛОТНОСТИ атомов являются достаточно точными и хорошо совпадают с экспериментальными величинами. Например, на рис. 11 приводится сравнение радиальной электронной плотности, вычисленной по методу Хартри — Фока для атома аргон,а, с экспериментальными данными, полученными с помощью метода дифракции электронов. [c.61]

    Учет симметрии в ( )ункциях типа электронная плотность . Вычисление Л1-функции по элементам симметрии. [c.146]

    На рис. 11.9 приведены кривые распределения электронной плотности, вычисленные по кривым интенсивности для перечисленных растворов концентрации т = 2,22 кмоль/м . [c.286]

    При вычислении величин я-электронной плотности и энергии локализации атомов все еще допускаются значительные ошибки. Чтобы не вводить читателей в заблуждение по поводу реальных значений я-электронной плотности, вычисленные величины не приведены в основном тексте книги. В табл. 5 приведены данные о я-электронной плотности атомов пиридина и пиррола, рассчитанные в последние годы. Они представлены для того, чтобы наглядно показать зависимость полученных результатов от способа расчета и от сделанных при этом допущений. [c.32]


Таблица 10-4. Податливость при сдвиге X 10И (в см2/дин) листов полиэтилена низкой плотности, вычисленная по результатам измерений при комнатной температуре [32] Таблица 10-4. Податливость при сдвиге X 10И (в см2/дин) листов полиэтилена <a href="/info/31598">низкой плотности</a>, вычисленная по <a href="/info/92458">результатам измерений</a> при комнатной температуре [32]
    Метод непрерывного изменения концентрации требует приготовления серии растворов с переменной мольной концентрацией двух компонентов, но с постоянной суммой обоих. Разность между измеренной оптической плотностью и оптической плотностью, вычисленной для смеси компонентов в предположении, что никакой реакции между ними не происходит, вычерчивается на графике в функции количества молей одного из компонентов. Результирующая линия на графике имеет максимум (или минимум) прн концентрации, соответствующей содержанию данного вещества в комплексе. Для примера на рис. 3.32 показан такой график для комплекса ртуть — дифенилкарбазон [20]. [c.52]

    Если температура испытания совпадает с температурой нефтепродукта в резервуаре, вагоне-цистерне и т. д., то значением плотности, вычисленной по формуле 3, пользуются при определении количества нефтепродукта по его объему (или для обратного пересчета). [c.287]

    Плотность вычисленная, г/сж . .... Плотность измеренная, г/см . ..... Температура плавления, °С...... Удельное электросопротивление образцов с обжатием на 85%, мком. см..... Коэффициент теплового расширения в интервале 20—1000°, град. "1...... 11,2 10,5 3250 100 12 5,3-10-6 6,10 6,17 3040 100 13—15 5,5-10-е [c.416]

    Плотность, вычисленная из рентгеноструктурных данных, исходя из атомного веса 99, равна 11,487 г/см (рмп = 7,20 рке = = 21,02). Температура плавления технеция равна 2200, температура кипения 4973°С (у марганца 1244 и 2120°С, у рения 3170 и 5870°С соответственно). Технеций при низких температурах является сверхпроводником с наивысшей критической температурой, равной, по различным данным, 11,2 и 8,22 °К- [c.268]

    Как показывает сравнение чисел D с плотностями, вычисленными Гиббсом по его формуле (4а), первые значительно отличаются от теоретических (табл. 2). [c.281]

    Конечно, доля участия каждого тяжелого атома в структурном множителе примерно в 10 раз больше, чем доля атомов С, О или N. Если бы мы имели дело с малой молекулой, содержащей тяжелый атом, то абсолютная величина Р была бы больше величины Рр. Когда же на каждый тяжелый атом приходятся сотни атомов С, О и N. то (хотя достаточно велико, чтобы Рр н отличалось от Рр) остается обычно меньше / р , даже если учесть тот факт, что составляющие, обусловленные атомами С, О и Н, будут частично находиться не в фазе и, таким образом, исключать друг друга. (Конечно, это предположение будет время от времени оказываться неверным. Однако величины электронной плотности, вычисленные по уравнению (3-21) или (3-22), не изменятся слишком сильно, если для небольшого числа структурных множителей [c.80]

    Примечание. с1 — размеры агрегатов й—средний размер агрегатов О — плотность, вычисленная по числу атомов на 1 см активного осадка. [c.252]

    И 0,71 гс [13]. Сопоставляя отношения электронной плотности, вычисленные с помощью приближенного метода МО, с отношениями экспериментальных констант расщепления (табл. 36), можно сделать следующие отнесения (рис. 116)  [c.257]

    Не были использованы также значения плотности, вычисленные в некоторых статьях на основании литературных данных, хотя авторы и не всегда отмечали это. Так, в работе Допальдсопа и Квела [16] даны значения плотности 21 арена при 20, 30 и 40° С, причем для 12 из них с точностью до пятого знака после запятой. Анализ этих данных показал, что значения взяты из работы Форциати и соавторов [26] (бензол, н- и изопронилбензолы, 1,2-, 1,3- и [c.7]

    Приемники с отобранными дистшшятами взвешивают и по разности определяют массу каждой фракции. Затем при помощи мензурок определяют объем каждой фракции и вычисляют их плотность (вычисленная плотность). Убедитесь, что плотность фракций растет с увеличением температуры их кипения. [c.40]

    Реакции замещения в ряду хинолина. Азот хинолинового цикла оттягивает электрон, в результате чего пиридиновое кольцо дезактивируется и делается устойчивым по отношению к действию электрофильных реагентов так же, как и. в соответствующих реакциях пиридина. В то время как пиридин нитруется или сульфируется в жестких условиях в положение 3 (см. т. 1, стр. 313, 314), в ряду хинолИна такое замещение происходит в бензольном кольце. Еще в 1892 г. Декер [803] отметил аналогию в обычных реакциях замещения между пиридином и нитробензолом, а также между хинолином и а-нитраиафталином. Позднее эта качественная аналогия была подтверждена данными об относительных электронных плотностях, вычисленных методом молекулярных орбит [804], и результатами измерений, позволившими вычислить константы реакции (р) и константы скорости замещения (а) [805] для некоторых производных хинолина (стр. 143). Эти данные хорошо подтверждают упомянутую аналогию, отмеченную Декером. Однако следует сказать, что имеющиеся е настоящёё время [c.185]


    Расхождение плотности зарядов, вычисленной различными методами, было отмечено Ушером [И] па золях гуммигута. Плотность, вычисленная из катафоретических измерений при допущении диффузной структуры двойного слоя, была порядка 10 э. с. е. на 1 частицу. Плотность, найденная из количества адсорбированных ионов (Ре +), составляла 1,5-10 . Ушер объяснял это расхождение тем, что большая часть адсорбируемых ионов железа замещает другие ионы, ранее присутствующие на частице, но не дающие ей заряда, сказывающегося при катафоретических измерениях. Таким образом, Ушер считает найденные им по второму методу высокие значения плотности заряда нереальными и склоняется в пользу тех значений, которые следуют из катафоретических определений. По-тенциометрически же полученные значения находятся с ними в противоречии. [c.92]

    Возможно, что при более быстром нагреве графитизация наступает при более низкой температуре, так как с повышением температуры не только растет подвижность отдельных атомов и слоев решетки, но и увеличиваются размеры последних, что осложняет их взаимное перемещение. Интересным дополнением к работе Бискоу и Уорен является работа Россмена и Смита 5. Эти авторы измеряли плотность различных саж методом замещения водой и гелием, В последнем случае специальный сосуд, заполненный предварительно эвакуированной от воздуха сажей, наполняли гелием и по разности между объемами пустого сосуда и гелия, пошедшего на заполнение сосуда с сажей, вычисляли объем сажи, а по нему и ее плотность. Оказалось, что для всех образцов плотность по гелию выше, чем по воде, и обе они ниже, чем плотность, вычисленная на основании результатов рентгенографических Исследований, которую авторы называют истинной. [c.67]

    Прямая на нижнем рисунке показывает величины оптических плотностей, вычисленные для случая, когда реакция не происходит. Разность между экспериментальной кривой поглощения и этой прямой дает У-кривая, имеющая максимум при х = 0,475, т. е. вблизи X = 0,5. Это указывает на образование комплекса с соотношением компонентов 1 1. Прямая на среднем рисунке отвечает оптической плотности, которой обладал бы раствор в случае образования комплекса Ni (o-phen) 2+,, но при отсутствии дальнейшей реакции с избыточным о-фе-Рис. 54. Поглощение света 0,02 М нантролином. Оптическая плот- [c.274]

    Трифторид обладает гексагональной решеткой типа LaPa с параметрами а = 4Д38 0,003 A и с = 7,333 + 0,004 А для ячейки, содержащей две молекулы, или a = 7,179A для ячейки с щестью молекулами . Плотность, вычисленная на основании рентгеноскопических данных, равна 8,965 г/сж . Нет свидетельств того, что трифторид возгоняется, как таковой, при температуре ниже 1000 °С, а температура плавления его, по-видимому, равна около 1495°С о. [c.148]

    Н. 02 2Н.20. в работе Лю, Хьюза и Жигера применялись кристаллы аддитивного соединения нероксигидрата мочевины СО(МН2)2-Н.Ю.2. Во всех этих сообщениях приводятся фотоснимки, таблицы с координатами, размерами и структурными факторами или диаграммы электронной плотности, вычисленные иа основании найденных рентгенограмм. [c.248]

    Методика аналитического осреднения в алгоритмах, учитывающих рассеяние и неоднородность среды, неразрывно связана с понятием статистических весов и неред-и) имеет название моделирование с использованием статистических весов . Посколыд термин статистические весы будет использоваться ниже, поясним его сущность на нашем примере. Из выражения (5.84) видно, что случайная величина ц удовлетворяет неравенствам О < т] 1. Физически это можно интерпретировать как допущение того, что фотон в процессе испытания всегда выживает. В этом случае удобнее оперировать такой модельной частицей, как пучок (или пакет) фотонов. При рассмотрении, траектории таюго пучка выделяют долю поглощенных фотонов в некотором слое и долю фотонов, не испытывающих столкновения, т.е. выживших. Обычно долю выживших фотонов и называют статистическим весом пучка, а вероятность поглощения его в следующем слое с другой оптической плотностью вычисления определяют уже относительно этого нового веса. Так как доля поглощенных фотонов пучка в каждом слое есть величина вероятная, то ясен статистический (вероятностный) характер используемых весов, которые в общем случае рассчитываются по формуле  [c.407]

    Двуокись урана — порошок коричневого цвета. Плотность, вычисленная по рентгенографическим данным, равна 10,96 г/см , температура плавления 2860 45°С. Двуокись урана имеет гранецен-трированную кубическую решетку и структуру типа флюорита. Для стехиометрически чистой UO2 параметр решетки равен 5,460 А. [c.294]

    Полученный сразу же после восстановления металлический технеций представляет собой серебристо-коричневую массу, тускнеющую во влажном воздухе. Металлический технеций, так же как соседние с ним элементы — рений, рутений и осмий,— кристаллизуется в плотно упакованной гексагональной системе. Плотность, вычисленная из данных рентгеноструктурного анализа, оказалась равной И,487 aj M , если предположить, что атомный вес технеция 99. Исходя из данных химического анализа миллиграммовых количеств ТС2О7, атомный вес технеция оказался равным 98,8 0,1. Этот результат достаточно хорошо согласуется с результатами масс-спектрографического определения (98,913). Согласно теоретическим расчетам, температура плавления технеция должна быть около 2300°. [c.456]

    Для диапазона оптических плотностей, встречающихся в инн енер-пой практике, методика, соответствующая применению выражения (11.13), с разумными оценками для Рр и Ро дает хорошее первое нрртближение для е. По мере увеличения оптической плотности вычисленные значения 8 будут приближаться, а затем слегка превышать член е р. Теперь основная полоса излучает как черное тело в пределах своей эффективной ширины полосы, в то время как первый обертон дает только сравнительно небольшой вклад, определяемый выражением [c.235]

    Элементарный технеций. Металлический технеций был получен Фридом [Р32] в 1947 г. в количестве порядка десятых долей миллиграмма. Фрид в качестве исходного вещества применял пертехнетат аммония КНДсО . Соль обрабатывалась сероводородом в 4М растворе соляной кислоты осажденный сульфид технеция высушивался и затем обрабатывался водородом при 1000—1100°С. Два полученных таким путем препарата были исследованы Муни [М32], который показал, что они представляли собой металлический технеций, кристаллизующийся в плотноупакованной гексагональной системе, изоморфной кристаллам рения, рутения и осмия. Плотность, вычисленная из рентгеновских данных, оказалась равной 11,487 г см , если считать атомный вес технеция равным 99. [c.153]

    Джаст и Фут (1933) провели такое исследование вюстита, который должен иметь стехиометрический состав FeO. Химический анализ показал, что соединение содержит избыток кислорода, так что оно должно быть типа (а) или (г). Как пикно-метрическая плотность, так и плотность, вычисленная из рентгеновских данных, уменьн1аются с увеличением избытка кислорода, что указывает па нестехиометрический тип (а) с катионными вакансиями. Чтобы сохранилась электронейтральность, на каждую вакансию Ре + должно приходиться два иона РеЗ+. Подобным же методом найдены следующие нестехиометрические соединения  [c.98]

    До сих пор мы не рассматривали коэффициенты при других АО. Однако на основании вышеупомянутого правила мы знаем, что остальные семь электронов распределены равномерно между всеми семью атомами углерода. Имея это в виду, мы можем заключить, что истинное распределение всех л -электронов можно оценить непосредственно по коэффициентам уравнения (16). Полные я-элек-тронные плотности, вычисленные таким путем, приведены на рис. 12. [c.23]


Смотреть страницы где упоминается термин Плотность вычисления: [c.499]    [c.275]    [c.219]    [c.185]    [c.103]    [c.83]    [c.199]    [c.199]    [c.495]    [c.120]    [c.58]    [c.283]    [c.291]    [c.328]    [c.112]   
Краткий справочник химика Издание 6 (1963) -- [ c.492 ]

Краткий справочник химика Издание 7 (1964) -- [ c.492 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте