Множитель интенсивности структурный

Расчет структурного множителя интенсивности [c.208]

Расчет структурного множителя интенсивности для решеток, атомы которых имеют координаты, отличные от нулей и половин (т. е. с комплексной структурной амплитудой), упрощается при наличии у решетки центра инверсии. [c.183]

Рассчитаем по уравнению (II. 53) структурную амплитуду и структурный множитель интенсивности для кубической объемноцентрированной J-решетки и гранецентрированной F-решетки. [c.209]

Физика дифракционных методов 5.1. Основные определения и формулы (определения символов, формулы для рассеяния электронов, атомного мнг жителя рассеяния). 5,2. Интенсивность излучения, дифрагированного кристаллом (структурный мксжитель, температурный множитель, интегральное отражение, угловые множителн интенсивности, мнсшители Лоренца и поляризационный). 5,3, Поправки на поглощение (малый кристалл в узком пучке, большой кристалл или поликристаллический обра-еец, пересекающий узкий пучок отражение узкого пучка от плоскостей, параллельных вытянутой грани кристалла при отсутствии и наличии пропускания, отражение от кристаллических плоскостей, наклоненных к вытянутой грани поглощающего блока поглощение при перпендикулярном и наклонном расположении поверхности кристаллического блока по отношению к отражающим плоскостям поглощение в цилиндрическом кристалле, омываемом однородным пучком рентгеновских лучей, нормальным к оси кристалла, поглощение сферой, поглощение кристаллом произвольной формы, поправки на поглощение при исследовании преимущественней ориентировки в листовых образцах), 5.4, Мозаичная теория (различия между совершенным и идеально несовершенным кристаллом, первичная и вторичная экстинкция). 5,5. Сводка формул интегральной интенсивности, [c.323]

Разрешенные рефлексы кЫ) для кубических решеток, структурные множители интенсивности [c.162]

Еще один фактор, который необходимо учитывать при расчете интенсивностей, - тепловые колебания атомов. Чем больше амплитуда тепловых колебаний для данного атома, тем меньше его вклад в структурную амплитуду. Это можно понять, если учесть, что тепловые колебания приводят как бы к размазыванию электронной плотности и дают такой же эффект, как уменьшение эффективного заряда при том же числе электронов (сравните для О и ). Влияние тепловых колебаний учитывается множителем Дебая-Уэллера вместо f берется где при изотропной модели тепловых колебаний [c.185]

Численную величину структурного множителя интенсивности можно определить по формуле [c.181]

Выражение для I состоит из двух частей, по-разному зависящих от отношения sin дД. Первая часть 1эл Р Ье- характеризует интенсивность структурных линий. Тепловые колебания, нарушающие совпадение фаз лучей, рассеянных разными атомами кристалла, ослабляют линии (величина — температурный, дебаевский множитель интенсивности — меньше единицы). [c.194]

Решетки и структурные множители интенсивности [c.162]

В результате, если все к, к, I четные или все нечетные, структурный множитель интенсивности = 16 р, если частично четные, час- [c.210]

Для сопоставления интенсивности экспериментальной с вычисленной по уравнению (11.53) необходимо иметь в виду, что расчет абсорбционного и, особенно, температурного множителя является иной раз продолжительной работой. Поэтому можно рекомендовать учесть совет Брэдли (см. П.24) и, принимая одновременную компенсацию друг друга этими множителями (применительно ко всем веществам, кроме весьма слабо поглощающих,) ограничиться для менее ответственных случаев применением множителя повторяемости, углового множителя и структурного множителя интенсивности. [c.210]

Напишите уравнение интенсивности рефлексов и объясните, от чего зависят факторы (множители) угловой, структурный, температурный, абсорбционный, повторяемости. [c.225]

I-—структурный множитель интенсивности, включающий атомный множитель рассеяния электронов и температурный фактор. [c.242]

Структурные амплитуды для некоторых пространственных групп тетрагональной системы, 4-15. Структурные амплитуды для некоторых пространственных групп гексагональной системы. 4-16. Структурные амплитуды для некоторых типов структур гексагональной системы. 4-17. Температур ный множитель интенсивности (функция Дебая, значения температурного множителя при различных значениях Вив, функции и lge , значения постоянного коэффициента В в выражении для температурного множителя).4-18. Множители повторяемости для различных кристаллических систем. [c.321]

В книге приведены справочные данные, необходимые для расчета интенсивности линий на рентгенограммах монокристаллов и поликристаллов, в том числе вычисления угловых, атомных, структурных, температурных, абсорбционных и других множителей интенсивности. [c.328]

Формулы интенсивности рассеяния представляют произведения ряда множителей. Вывод этих формул требует использования сведений из атомной и ядерной физики, знания классической и квантовой теории рассеяния, а также основ физики твердого тела (динамики решетки, структурных дефектов, понятий о реальном, мозаичном и идеальном кристаллах и др.). [c.10]

Если известно положение всех атомов, интенсивность сразу можно рассчитать по уравнению (3-16). И наоборот, если значения структурных множителей р можно определить экспериментально, то, исходя из полученных величин, можно вывести полную структуру кристалла (см. следующий раздел). К сожалению, мы можем наблюдать только интенсивности и затем, рассчитав К , получить величины РР. Допустим теперь, что Р заменено выражением Ре . Тогда комплексно сопряженной величиной для этого нового структурного множителя будет Р е , и произведение ( е )( е ) сведется к произведению РР. Таким образом, р действительно можно определить (экспериментально) только с точностью до множителя е . Следовательно, существует фазовый угол а, связанный с каждым рефлексом, который определить невозможно. [c.47]

Сведения о величинах 1 нашли применение нри решении другого круга задач. Предварительно следует заметить, что 1 Мjd) М — молекулярный вес вещества, d—его плотность) пропорционально интенсивности, отнесенной к одной молекуле, т. е. упомянутому множителю пропорциональности а. Таким образом, 1 Mjd) можно считать относительной константой. Сопоставление величин I Mjd) для близких по частоте (характеристических) линий спектров КРС рядов соединений, имеющих общие структурные фрагменты, позволило обнаружить доста- [c.17]

Второй и наиболее трудоемкий этап исследования, приводящий к определению структуры молекулы, заключается в анализе интенсивности пятен. Серьезным препятствием на этом этапе является проблема знаков структурных амплитуд. Дело в том, что пятна возникают в результате интерференции рентгеновских лучей, рассеянных на разных атомах, точнее на их электронных оболочках. Которая из волн опередила другую — волна, идущая от атома /, или волна от атома у — заранее, как правило, неизвестно (т. е. неизвестны знаки структурных амплитуд, или фазовые множители), и потому только из анализа интенсивностей без привлечения каких-либо других данных обычно не удается полностью установить структуру молекулы. [c.20]

Это замечание представляет большую практическую ценность потому, что расчет особенно температурного множителя является во многих случаях не простой задачей, требующей глубокого проникновения в термодинамику твердого тела и наличия сведений о характеристической температуре вещества. Ниже, в табл. II.8, нами приведен результат расчета интенсивности германия (с учетом только множителей повторяемости, углового и структурного) и сопоставлен с экспериментальными данными (рис. II.27). [c.192]

Рефлекс 111. Структурная амплитуда должна быть близка к нулю, поскольку атомные амплитуды рассеяния близки. Интенсивность рефлекса 111 должна быть еще меньше, чем рефлекса 100, ввиду значительно меньшего углового множителя. [c.204]

Структурный множитель 5р учитывает зависимость интенсивности рентгеновских лучей от расположения атомов в элементарной ячейке и определяется базисом решетки [c.98]

Законы погасаний даны в приложениях 4 и 5. Интенсивность максимумов рентгенограммы можно вычислить при расчете не по полной формуле относительной интегральной интенсивности (см. работу 10), а приближенно по выражению /= 5 /(д)р, где 5р — квадрат модуля структурной амплитуды /( ) —угловой множитель р — множитель [c.108]

Для определения относительных значений интенсивностей необходимо знать структурный множитель, межплоскостное расстояние и множитель повторяемости. Общее выражение для вычисления относительных интенсивностей колец электронограммы поликристаллического образца можно получить из формул, выведенных в рентгенографии (см. работу 10), принимая углы e очень малыми. [c.242]

Если бы кристалл имел идеальное строение, это обстоятельство привело бы к существенному изменению всех формул, так как при переходе от отдельной элементарной ячейки к кристаллу в целом ( 4, гл. I) пришлось бы учесть различие в амплитудах волн, рассеиваемых разными ячейками. Тем самым был бы подвергнут ревизии и основной результат расчета — сохранение структурного фактора ] Р кМ) в виде множителя в формуле интенсивности дифракции кристаллом. Иначе говоря, при учете ослабления первичного пучка пришлось бы столкнуться не с введением добавочного множителя в формулу интенсивности, а с коренным пересмотром основной части этой формулы. [c.61]

Поэтому единственно правильным путем уменьшения искажений, связанных с обрывом ряда Фурье, является переход на более коротковолновое излучение. Увеличивая количество отражений, экспериментатор стремится достичь такого интервала интенсивностей, при котором отражения под большими углами были бы исчезающе слабы даже при обычной температуре и без введения поправочного множителя. Поэтому почти во всех современных структурных исследованиях сложных соединений применяется коротковолновое излучение молибдена (а иногда и еще более жесткое Ag или Rh). При использовании методики многослойной съемки весь интервал интенсивностей отражений может достичь 10 000 1, а следовательно, интервал амплитуд f(hk/) приблизительно 100 1. [c.373]

Так как F — величина комплексная, то следует умножать на комплексно сопряженную величину, а не просто на F S). Интенсивность можно определить экспериментально, и она должка быть величиной действительной. Она равна квадрату модуля структурного фактора, или квадрату структурной амплитуды, так что IFI можно измерить на опыте. Фазовый множитель функции F S) прямо измерить нельзя это главная трудность при рентгеноструктурном анализе. Чтобы воспользоваться уравнением (13.8) для вычисления р(г), необходимо прежде рассчитать, угадать или оценить каким-то косвенным способом величину е" . [c.319]

Как уже упоминалось, из интенсивности линий на рентге-ногралолах порошка далеко не всегда можно рассчитать значения структурных факторов как из-за случайных совпадений линий с разными индексами, так и вследствие того, что в кубической, тетрагональной и гексагональной сингониях есть дифракционные классы, для которых множители повторяемости меньше максимально возможных для данной сингонии (т.е. измеряется суммарная интенсивность нескольких линий). Начиная с ромбической сингонии, такой проблемы нет, но возрастает число случайных совпадений. Это приводит к тому, что методы структурного анализа, разработанные в расчете на монокристалльные данные, оказываются малопригодными для обработки рентгенограм порошка. Поэтому основная область применения порошковых методов [c.186]

Действительно, поскольку в приближении СПФВ объемные взаимодействия при фиксированно плотности не меняют МСР, сумма вкладов в (1У.39) диаграмм, изображенных на рис. 1У.23, а, равна просто структурной функции, полностью определяемой МСР ансамбля полимерных молекул. По этой же причине при суммировании вкладов диаграмм типа рис. 1У.23, б появляются сомножители g(т — Г1) и (г2 — г"). Каждый из них отвечает той части маршрута, соединяющего расположенные в точках г и г" корни диаграммы, которая проходит по сплошным линиям (химическим связям) ствола (молекулы полимера), начинающегося в соответствующем корне. Оставшейся третьей части указанного маршрута отвечает множитель Р(г1 —Гг), который описывает объемное взаимодействие пары имеющих координаты Г1 и Гг звеньев разных молекул. Эти звенья могут взаимодействовать друг с другом как непосредственно между собой, так и через звенья других молекул (рис. 1У.24), что приводит вследствие фактора исключенного объема к их эффективному отталкиванию. Характерным масштабом этих сил является средний размер молекул полимера в системе. При его возрастании по мере увеличения конверсии одновременно происходит ослабление интенсивности эффективного отталкивания, и в результате коррелятор полной плотности (IV.39) не имеет особенностей в точке гелеобразования. [c.269]

При упорядочении фазы Fe o (по типу s l) на рентгенограмме должны появиться сверхструктурные линии, интенсивность которых совершенно ничтожна, как это следует из подсчета структурных множителей. [c.304]

В величину /С входят все факторы, влияющие на амплитуду (или интенсивность), за исключением фазовых углов, обусловленных положениями отдельных атомов и функцией атомного рассеяния ( у) атомов, находящихся в этих положениях. Эги величины входят в члзн (называ мый структурным множителем) [c.46]

Она отличается от функции р [уравнение (3-21)] только тем, что вместо в выражение Р(х, у, z) входит произведение РныРнн-Это обстоятельство дает возможность определить из эксперимента Р(х, у, z), так как произведение структурного множителя на комплексно сопряженную величину является ничем иным, как наблюдаемой интенсивностью излучения. [c.51]

Рентгендифрактограмма германия (рис. II. 27) наглядно освещает влияние важнейших множителей на интенсивность линий. Рефлексы с нечетными кк1 имеют одинаковые структурные множители, за исключением рефлексов, для которых совпадают два символа и структурные множители удваиваются. Интенсивность этой группы рефлексов быстро [c.210]

Кроме того, появляется возможность ввести в формулы весовые множители характеризующие априорную достовер1юсть оценки интенсивности различных отражений чем точнее определено значение структурной амплитуды Fs(hkl), тем больше ее право на участие в образовании суммы (160). Поэтому исходную функцию можно представить в более общей форме [c.569]

В частности, при помощи весовых множителей можно устранить из расчета те отражения, которые заведомо искажены экстинкцией. Следовательно, уточнение по методу наименьших квадратов в известной степени позволяет преодолеть один из главных дефектов теории структурного анализа — несоответствие между реальными законами отражения и упрощенной кинематической теорией интенсивности, предполагающей идеально мозаическое строение кристалла. Однако этот прием учета экстинкции несколько необъективен и должен применяться с большой осторожностью. [c.569]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология