Порошкообразные образцы

Рис. 13.4. Спектры ЭПР порошкообразных образцов систем с 5=1/2.

На рис. 13.20,Б изображен анизотропный спектр при частотах (2-диапазона. Такие спектры наблюдают для стекло- или порошкообразных образцов комплексов меди, разведенных в кристаллической решетке [c.245]

О а Е к оказывают на спектр ЭПР, показано на рис. 13.22. При J = = 260 см в Си2(ОАс)4 в спектре ЭПР не наблюдаются переходы между состояниями с 5 = 0 и 5=1. Обменное взаимодействие приводит к низкоэнергетическому состоянию 5 = 0, поэтому с падением температуры снижается интенсивность сигналов. Эта температурная зависимость приводит к значению J, равному — 260 см " что соответствует разделению состояний с 5 = 0 и 5=1 величиной 27, или — 520 см". В рассмотренном ранее спектре порошкообразного образца расщепление полос д и обусловлено двумя переходами с АМ = 1, усредненными по ориентациям. В относительно редкой ситуации, когда параметр обмена J меньше, чем доступная энергия микроволнового [c.248]

В другом методе может быть использован счетчик, чувствительный к рентгеновскому излучению. Этот прибор сконструирован так, как показано на рис. 17.19. Счетчик движется по дуге, регистрируя изменения в интенсивности рассеянных рентгеновских лучей. Этот метод проще и быстрее, а также характеризуется значительно лучшим разрешением, чем можно достичь с помощью пленки поэтому в дальнейшем мы будем обсуждать использование дифрактометра, предназначенного для исследования порошкообразных образцов. [c.386]

На рис. 17.21 изображено несколько дифракционных картин порошкообразных образцов, полученных с помощью дифрактометра, для родственных химических систем [8]. В левой части представлены дифрак- [c.386]

Рис. 17.19. Геометрия дифрактометра, предназначенного для исследования порошкообразных образцов, в котором образец нанесен на стеклянную пластинку, а в качестве детектора используется счетчик.

Рис. 17.20. Конус отраженных рентгеновских лучей одного и того же индекса, возникших за счет рассеяния от беспорядочно распределенных кристаллов в порошкообразном образце.

СТО. Она иногда приводит к различным молекулярным возмущениям, которые огорчают экспериментатора до тех пор, пока дифракционные картины для порошкообразных образцов не помогут выяснить возможную причину наблюдаемых эффектов. [c.390]

Какие из приведенных ниже пар систем могут быть с успехом изучены при использовании порошкообразных образцов Обоснуйте свой вывод. [c.407]

Поликристаллические (или порошкообразные) образцы имеют много семейств параллельных плоскостей. Если семейство параллельных плоскостей решетки вращать вокруг монохроматического пучка рентгеновских лучей, то рассеянный луч образует с первичным угол 20 и опишет в пространстве конус. При вращении поликристаллического образца для каждого семейства плоскостей образуются свои конусы дифракции в соответствии с углами скольжения и числом порядков отражения. [c.153]

Наиболее сложным оказывается подобрать метод подготовки образца для ДТА различных полимеров. Если при термическом анализе минеральных веществ по обычной методике готовят порошкообразные образцы, то из большинства полимерных материалов такие образцы получить трудно. Поэтому для каждого вида полимерных материалов применяют свой метод подготовки пробы. [c.18]

Эталонный образец изготавливается из исследуемого материала. Основные требования к эталону размеры частиц должны быть достаточно малы (<0,2—0,3 мкм), чтобы не возникал эффект первичной экстинкции расположение блоков должно быть достаточно беспорядочным, что исключает появление эффекта вторичной экстинкции, заключающегося в ослаблении интенсивности отражения за счет интерференции между волнами, дифрагированными соседними блоками, что происходит, если угол дезориентировки между блоками мал. При исследовании порошкообразных образцов эталон может быть приготовлен, например, интенсивным наклепом порошка в процессе продолжительного помола. [c.101]

В эксперименте ЯКР для воздействия на переходы между различными ориентациями квадрупольного ядра в несферическом поле используют излучение радиочастотного диапазона. Эксперимент обычно проводят с порошкообразным образцом. Различные [c.329]

Для растворов наиболее распространены цилиндрические наливные кюветы толщиной 0,1 — 1 мм с окнами из солевых пластин. Необходимый объем раствора — 0,1 — 1 мл при концентрации 0,05—10%. Тонкие пленки <0,01 мм) жидкого вещества создают, помещая его между солевыми пластинами (удерживание происходит за счет капиллярных сил). Твердые порошкообразные образцы исследовать трудно, поскольку отражение и рассеяние падающего света мелкими частицами велико, а пропускание, естественно,— мало. Поэтому тщательным растиранием твердого вещества в вазелиновом масле (или парафиновом— нигроле) получают пасту (тонкую взвесь), которую затем также помещают между солевыми пластинами. Если показатели преломления масла и твердой фазы различаются незначительно, рассеяние будет слабым. Часто твердые вещества в виде тонкого порошка (0,5—1 мг) тщательно перемешивают с порошком КВг (100 мг) и затем спрессовывают в специальном устройстве под давлением ( 4,5-10 Па) в тонкую таблетку. В качестве среды подбирают, с учетом специфики исследуемых образцов, и другие вещества. [c.765]

Получите у преподавателя образец кальцита (мрамора) для анализа. Запишите в журнал номер образца. На часовом стекле, вес которого известен (справиться у лаборанта), отвесьте с точностью 0,01 г около 1 г порошкообразного образца. В мерную колбу емкостью 100 мл вставьте воронку [c.38]

Для измерения рассеяния от порошкообразных образцов используют следующие два метода [c.118]

Дифракционный рентгеноструктурный анализ может осуществляться двумя способами—на крупных кристаллах (монокристаллах) или порошкообразных (поликристаллических) образцах. Рассеиваемые от кристаллов рентгеновские лучи регистрируют на фотографической пластине либо каким-нибудь счетчиком, например сцин-тилляционным или счетчиком Гейгера. Дифракционная картина при рассеянии рентгеновских лучей на монокристалле (рис. 10.11) представляет собой совокупность пятен, возникающих в результате отражения лучей от различных плоскостей кристалла при его вращении относительно падающего пучка рентгеновских лучей. В отличие от этого в порошкообразном образце имеется множество кристалликов, ориентированных под всевозможными углами, и в результате отражения рентгеновских лучей от различных кристаллических плоскостей всех этих кристалликов возникает ряд конусообразных пучков рассеянных лучей. Для проведения рентгеноструктурного анализа достаточно использовать лишь неболь- [c.175]

Рис. 10.12. Дифракция рентгеновских ц чей на порошкообразном образце.

Очистка элементов НПВО должна проводиться осторожно и при минимальном контакте с полированными поверхностями. Остатки твердых или порошкообразных образцов удаляют, прижимая липкую ленту к образцу, а затем снимая ее. Обычно достаточно споласкивать элемент в ряде растворителей (ацетон, толуол, метилэтилкетон), держа его вертикально, чтобы лучше высушить. В случае трудных образцов может потребоваться 30-кратная обработка растворителем в ультразвуковой ванне. При сушке элемента НПВО последняя капля растворителя на нижнем конце удаляется промоканием бумажной салфеткой. Элемент можно брать только за нерабочие грани, используя резиновые напальчники. Плазменная очистка применяется только для элементов из кремния или германия, но не из KRS-5. [c.107]

Для определения ЗЬ в олове наиболее часто используются спектральные методы [782, 812, 900, 1684]. При проведении анализа с возбуждением спектров в дуге постоянного тока в атмосфере Аг, при большой скорости испарения предел обнаружения ЗЬ составляет 5-10 % [1684]. Описано [812] определение ЗЬ с использованием литых и порошкообразных образцов. Наряду с ЗЬ метод предусматривает определение еще 22 элементов с пределом обнаружения 5-10 —1 10- %. При строгой стандартизации условий возбуждения спектров и режима обработки фотопластинок при использовании аналитической пары линий ЗЬ 252,852— Вп 245, 523 нм можно работать по твердому графику [5821. Описано [1495] определение ЗЬ > 1.10 % в олове и его соединениях с применением квантометра с возбуждением спектров как в низковольтной дуге (940 в), таки в высоковольтной искре (14000 в). Ряд спектральных методов предложен для определения 8Ь в различных сплавах, содержащих олово, в том числе в свинцово-оловянно-сурьмяных [1210] и антифрикционных [1494], а также в оло- [c.142]

Рис. 5.21. Ячейка для измерения электропроводности таблетированных порошкообразных образцов цеолита (а) и пластинчатый электрод (6) [30).

Порошкообразные образцы ХПЭ имеют более высокие скорости дегидрохлорирования, чем формованные [99]. [c.45]

Для идентификации линий были исследованы кристаллы искусственного алмаза, выращенные по обычной методике при высоких давлениях и температурах, легированные изотопом N. Изотоп вводился в шихту в виде нитрида марганца, который был получен путем прокаливания металлического марганца в токе газообразного азота, обогащенного (>90%) изотопом N. При синтезе в качестве катализатора-растворителя использовалась смесь никеля и марганца. Были приняты специальные меры к исключению возможного попадания азота из воздуха как при синтезе, так и при получении нитрида марганца. Полученные кристаллы зеленого цвета имели размеры до 0,5-10 3 м, и поэтому все исследования спектра ЭПР велись на порошкообразных образцах. [c.424]

Корреляция тензоров химического экранирования и дипольного взаимодействия в неподвижных порошкообразных образцах [c.462]

Анализ ведут с непрерывной подачей образца в искровой разряд. Метод заключается в протягивании со скоростью 5,1 см сек специальной ленты шириной 0,3 см через искровой промежуток, образованный двумя угольными электродами. Порошкообразные образцы напыляют на ленту с помощью специального вибрационного механизма. Эталоны готовят синтетическим путем. [c.160]

Сколько будет наблюдаться линий в изображенном ниже спектре ЭПР порошкообразного образца диэтилдитиофосфината меди (для Си I = 3/2) Указание Л, (Си) 5 5Л (Си). Какие другие ядра в состоянии дать сверхтонкую структуру [c.252]

I = 3/2 энергия максимальна. Если судить по спектру порошкообразного образца, то переходы между уровнями с Ш = + 1/2 и 3/2 имеют одинаковые интенсивности, поэтому знак константы квадрупольного расщепления определить трудно. Однако его можно установить из спектра упорядоченной системы или при исследовании поликристаллического образца в магнитном поле (см. ниже). Для систем, в которых значения I для основного и возбужденного состояний превьш1ают значение [c.293]

Прежде всего необходимо выяснить, на что похожа в этом случае дифракционная картина и как она возникает Представим себе, что порошок— это набор многих небольших кристаллов. Каждый кристалл даст отраженные пучки, если только точки о.р. касаются сферы отражения. В принципе, для данной точки о.р. это может случиться для многих различных ориентаций кристалла при одном главном условии угол между отраженным и падающим пучками должен быть всегда одинаковым, т. е. любое отражение может возникнуть только при одной величине 0 (см. рис. 17.15). Как показано на рис. 17.20, для этого необходимо, чтобы любое отражение было усреднено по всем ориентациям кристалла в конусе рассеянного рентгеновского излучения, т.е. в принципе может быть зарегистрирован один такой конус для каждого воз-М051СН0Г0 отражения, хотя обычно отражением является наиболее интенсивное 100 или подобное ему. Как только счетчик сдвинется на некоторый небольшой угол, скажем на 3°, от падающего пучка по направлению к 90°, щель пересечет каждый конус и зарегистрирует его как пик в дифракционной картине порошкообразного образца. [c.386]

Рис. 17.18. Конструкция камеры, предназначенной для исследования порошкообразных образцов, находяшихся в капилляре, с помощью регистрации на пленке.

Еще одной иллюстрацией применимости метода исследования порошкообразных образцов служат результаты сопоставления дифракционных картин В и Г, где В получена при изучении осажденного порошка цианато-комплекса, а Г — при изучении выращенного монокристалла обычным кристаллографическим методом. Отметим, что картины отчетливо различаются. Однако из измерений магнитной восприимчивости следует, что и в том и в другом случае геометрия димерного катиона одна и та же. Упаковка кристаллической решетки в двух указанных случаях различна, хотя с электронной и химической точек зрения это одно и то же вещество. Кристаллизация, которая приводит более чем к одной пространственной группе, встречается не ча- [c.389]

Даже, если термомеханическая кривая имеет классический вид (см. рис. 18) и состоит из трех участков, следует воздержаться от утверждения, что полимер обладает всеми тремя физическими состояниями, переходя из одного в другое при нагревании. Нужно учитывать, что возрастание деформации в порошкообразном образце может быть вызвано побочными причинами. Определив термомеханическую кривую, лучше сперва обратить внимание на последнюю ветвь кривой. Если эта ветвь находится в интервале температур, где термическая или термоокислительная деструкция еще не проходит достаточно глубоко, можно говорить о течении полимеров. Чтобы убедиться в том, что развитие большой деформации (до 100 % при сжатии) вызвано течением, а не глубокой деструкцией полимера, необходимо параллельно сделать термогравиметрический анализ (получить термогравиметрическую криво ю). Эго особенно важно в случае теплостойких полимеров, для которых развитие большой деформации наступает в интервале температур 600-800 °С, и эта деформация, вызванная глубокой термической деструкцией полимера, может быть ошибочно принята за течение. Нужно учитывать также, что в процессе термомеханических испытаний помимо деструкции может происходить и структурирование. Эти два процесса всегда сосуществуют при нагревании полимера, но один из них протекает с гораздо большей скоростью и определяет направление всего гфоцесса. Структл рирование может проявляться в образовании поперечных свяхй между цепями полимера, в циклизации и т.д. В результате, начавшееся течение полимера будет приостановлено, и на термомеханической кривой появится площадка, аналогичная по форме площадке высокоэластичности для линейных полимеров. Поэтому нал№ше такой площадки [c.101]

В работе представлены исследования французских ученых методом ЯМР монокристалла Сбо, который был выращен методом возгонки фафита, содержащего 8% изотопа С . Проверяли движение молекул по данным спин-рещеточной релаксации и по форме линий спектра при температурах ниже и выше Сфуктурного перехода Т=262 К. Резкость этого перехода и большая продолжительность релаксации при низкой температуре по сравнению с полученными ранее данными для порошкообразных образцов подтверждают высокую чистоту кристалла. [c.129]

В принципе газометрический метод применим для изучения роста толстых и тонких пленок, а также адсорбции. В последнем случае он уступает по чувствительности микровесовому методу и поэтому используется обычно для исследования порошкообразных образцов, когда поверхность по отношению к массе металла относительно велика. [c.18]

Поскольку эксперименты, связанные с исследованиями химического состава, структуры, физических и химических свойств синтетических цеолитов, неизбежно проводятся на образцах кристаллических порошков, особую важность приобретает вопрос об однородности состава цеолитов. Химич ескии анализ образца — это усредненньиг анализ относительно большого образца, содержа-ш,его много небольших кристаллов. Один грамм содержит около кристаллов. Состав кристаллического цеолита обычно отличается от состава исходной смеси. Вполне вероятно, что из высоко-концентрированных смесей, пересыщенных по отношению к различным компонентам, могут образовываться кристаллы, несколько различающиеся по химическому составу, особенно если в самом цеолите возможны определенные колебания в составе, как это наблюдается для цеолитов У, О и др. Химический состав порошкообразных образцов может изменяться от кристалла к кристаллу, а возможно, даже в пределах отдельных кристаллов. Данные химического анализа всего образца отражают средний химический состав составляющих его кристаллов. Определенное физическое свойство цеолита, связанное с его составом, может и не обнару-Нлить какой-лпбо разрыв непрерывности, поскольку измеряемая величина является усредненной. [c.398]

Многие наблюдаемые свойства синтетических цеолитов, такие, как стабильность, адсорбция молекул-щупов и электропроводность, обнаруживают разрыв непрерывности на соответствующих кривых, что связано со специфическим химическим составом (см. рис. 2.40). Это явление схематически иллюстрируется рис. 5.12. Еслп порошкообразный образец содержит кристаллы различного состава, при опреде.иении какого-то его свойства получают среднюю величину (кривая 1). Разрыв непрерывности (кривая 2) говорит об однородности состава. О степени однородности порошкообразных образцов можно также судить по их дифрактограммам. В случае синтетических цеолитов X и У диапазон химических составов в образце будет отражаться на рентгенограмме в виде уширения линий, в то время как на дифрактограм-мах смесей эти линии хорошо разрешены (рис. 5.13). [c.399]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология