Спектральные линии искровые

Значительно большую энергию возбуждения дает конденсированная искра. Включение в колебательный контур индуктивного и емкостного элементов обусловливает возможность получения искрового разряда. Размеры конденсатора и катушки самоиндукции, а также соотношение процессов разрядки и заряжения конденсатора определяют энергию искрового разряда и тем самым интенсивность спектральных линий и долю атомов, существующих в высоковозбужденном состоянии. [c.371]

Качественный спектральный анализ. При качественном анализе достаточно поместить между электродами небольшую навеску (0,1—1 мг), возбудить ее электрической дугой или искрой и сфотографировать спектр. Затем необходимо определить, к излучению какого элемента относится та или иная линия в спектре анализируемой пробы. Для этого определяют длину волны линии по ее положению в спектре, а затем с помощью таблиц устанавливают ее принадлежность к тому или иному элементу. При известном основном составе пробы под спектром анализируемого вещества снимают спектр чистого образца, не содержащего примесей. Для расшифровки спектров применяют таблицы спектральных линий и атласы, которые бывают двух типов. Первый содержит комплекты планшетов с фотографиями дуговых и искровых спектров железа, на которых указаны длины волн всех его спектральных линий, а второй имеет изображение спектра железа рядом со шкалой длин волн в ангстремах, положением наиболее характерных линий элементов периодической системы и длинами их волн и интенсивностей. [c.44]

Интенсивность спектральных линий в искровом разряде [c.50]

Интенсивность спектральных линий достигает наибольшей величины в разных частях дуги в зависимости от их потенциалов возбуждения и ионизации. На рис. 31 показано, как меняется интенсивность дуговых и искровых линий в разных участках плазмы. [c.58]

Для проведения качественного анализа необходимы таблицы спектральных линий, атласы спектральных линий и спектропроектор. Атласы спектральных линий бывают двух типов атласы дуговых и искровых спектров железа и атласы спектральных линий железа и других элементов. Дуговые и искровые спектры железа применяют в качестве вторичного эталона длин волн. Первичным эталоном длин волн служит оранжево-красная линия криптона Кг 587,09 нм. В одном метре укладывается 1 650 763,73 длины волны в вакууме оранжево-красного излучения криптоновой лампы. Атласы спектральных линий выпускают применительно к каждому типу спектрографа. Чаще других применяют кварцевые спектрографы средней дисперсии ИСП-28, ИСП-30. Основу атласов составляет увеличенное в двадцать раз изображение спектра железа, что соответствует увеличению выпускаемых промышленностью спектропроекторов ПС-18 нли ДСП-1. В атласах дуговых и искровых спектров железа встык сфотографированы два спектра железа при разных выдержках. При большой экспозиции в спектре появляются малоинтенсивные линии, а при малых— отчетливо видны те линии, которые перекрываются в спектрах, снятых при больших выдержках. Увеличенное в двадцать раз изображение спектра железа имеет длину более двух с половиной метров. Поэтому его разбивают на отдельные участки, которые наносят на планшеты, в правом верхнем углу которых указан порядковый номер. Против каждой линии в спектре железа имеется стрелка с указанием длины волны. [c.666]

При изучении распределения интенсивности спектральных линий натрия по горизонтальной оси факела в методе искрового анализа аэрозолей было показано [317], что максимум интенсивности приходится на центральную часть факела. При использовании медного электрода раствор соединения натрия наносят на торец этого электрода ( метод медного электрода ) [118], [c.99]

Наиболее полными являются таблицы спектральных линий Гаррисона [1], содержащие данные о длинах волн и интенсивностях 110000 спектральных линий. Оценки интенсивностей в этих таблицах даны в основном для дугового и искрового источников возбуждения спектров. Для некоторых линий приведены также оценки их интенсивностей в тлеющем разряде. [c.354]

Количественный анализ. При количественном анализе методом АЭС можно использовать все основные способы градуировки — внешних стандартов (градуировочного трафика), внутреннего стандарта и метод добавок. Целесообразность применения каждого способа зависит от характера возможных помех и природы анализируемого объекта. Так, метод добавок позволяет эффективно устранить косвенные мультипликативные погрешности, вызываемые главным образом физико-химичес-кими помехами, однако против аддитивных спектральных помех — таких, как наложение спектральных линий, — он бессилен. Следует в то же время иметь в виду, что метод добавок легко реализуем технически только при анализе растворов (атомизаторы — главным образом пламя, ИСП), но не твердых проб (дуговой, искровой разряды). В любом случае при построении градуировочной зависимости следует стремиться к тому, [c.240]

Атласы первого типа содержат комплекты планшетов с фотографиями дуговых и искровых спектров железа, на которых указаны длины волн всех его спектральных линий. [c.177]

Отождествление спектральных линий железа производится на спектропроекторе ПС-18 или ДСП-1 с помощью атласа дугового и искрового спектров железа (см. литературу). [c.57]

I вых и искровых генераторов, применяемых для возбуждения спектров, приводит к изменению характера осве- -4 щения фотоэмульсии, а это должно сказаться на численных значениях чувствительности слоя и коэффициента контрастности у. Изменение этих величин от опыта к опыту может привести к ошибкам в измерениях относительных интенсивностей спектральных линий. Поэтому при применении фотографической фотометрии могут быть учтены характер освещения и время экспонирования там, где это необходимо. [c.212]

Спектроскопические методы. Из спектроскопических наиболее распространен эмиссионный спектральный анализ. Атомы или ионы, возбужденные дуговым или искровым разрядом, испускают световую энергию. Каждый элемент характеризуется своим набором спектральных линий, поэтому элементы можно отличить друг [c.66]

При прохождении через газы электрических разрядов могут возникнуть как нейтральные радикалы, так и ионы. В искровых спектрах обычно появляются спектральные линии, характерные для ионов. Дуговые спектры и спектры, обусловленные тихими разрядами, обычно испускаются нейтральными атомами или активированными молекулами. [c.93]

Около катода обычно наблюдается повышенная концентрация ионов, что приводит к усилению спектральных линий, особенно искровых, в этой области разряда. [c.62]

Необходимо отметить, что чисто дугового и исключительно искрового спектра любого элемента не существует. В каждом линейчатом спектре независимо от применяемого источника света можно обнаружить значительное количество и дуговых и искровых спектральных линий. Естественно, что в дуговом спектре будут преобладать дуговые линии, а в искровом — искровые линии. [c.24]

С электрической точки зрения и по спектральным характеристикам искровой разряд резко отличается от дугового. Отличается также и механизм поступления вещества электродов в искру. Искра горит в атмосфере воздуха, материал электродов в проведении тока не участвует. Первая стадия пробоя длится 10 — 10- сек и ее излучение состоит из линий атмосферы, так как материал электродов за это время не успевает испариться. [c.40]

Спектрограф ИСП-22 в течение длительного времени был надежным и наиболее распространенным прибором для фотографических методов анализа. Его новая модель — спектрограф ИСП-28 — имеет конструктивные отличия корпус прибора состоит из отдельных секций и легко снимается касс,ета имеет другое устройство, ее движение управляется и со стороны щелевого механизма. Оптические схемы обоих приборов одинаковы. Разрешающая способность спектрографа ИСП-28 в области 3000 А = = 10 000. Здесь же он разрешает спектральные линии, различающиеся не менее чем на 0,3 А. В коротковолновой части искрового спектра железа разрешается дублет 2383,25 и 2383,04, а также 2348,099 и 2348,305 А. [c.69]

Рассматривая плавные кривые изменения почернений спектральных линий в зависимости от времени поступления аэрозоля в искровой разряд (рис. 92), можно сказать, что динамическое равновесие между стадиями 1—6 в зоне разряда устанавливается в первые 40—60 сек. [c.146]

Факторы, влияющие на интенсивность спектральных линий. Исследования показали, что при спектральном анализе с использованием распыления растворов в искровой разряд через канал электрода интенсивность спектральных линий зависит от природы распыляющего газа, типа и конструкции применяемого распылителя, давления распыляющего газа и времени вдувания аэрозоля в искровой разряд, формы, размера и материала электродов, характера искрового разряда, концентрации и химического состава анализируемого раствора. [c.147]

При замене парных угольных электродов на медные, алк>ми-ниевые и магниевые, а также при комбинации верхнего угольного электрода с нижним металлическим имеет место уменьшение интенсивности спектральных линий. Максимальная интенсивность линий наблюдается у торца верхнего угольного электрода [104]. Это, по-видимому, связано с физическими свойствами электродов и с действием искрового разряда. Количество материала электрода, выбрасываемого факелами искры в пространство, увеличивается при переходе от угля к магнию в указанном выше ряду в соответствии с понижением температуры плавления и кипения материала электродов. Вследствие этого в общем излучении разряда искры падает доля излучения вещества аэрозоля [89]. [c.150]

Дальнейшее увеличение концентрации пропилового спирта и пиридина в растворе снижает почернения спектральных линий, что, по-видимому, связано с увеличением вязкости исследуемого раствора. Глицерин увеличивает вязкость раствора, уменьшает скорость распыления, что приводит к уменьшению почернений спектральных линий. Влияние органических растворителей на температуру искрового разряда не изучалось. [c.152]

Как было показано ранее, при вдувании аэрозоля через сквозной канал электрода в искровой разряд устанавливается прямая пропорциональная зависимость, с одной стороны, между скоростью поступления аэрозоля в разряд и почернением спектральных линий, с другой стороны, между временем вдувания аэрозоля в разряд при постоянном давлении и почернением, т. е. 5=/(1д п. [c.158]

Для расшифровки неизвестного спектра на предметный столик кладут спектрограмму, а на экран спектропроектора накладывается соответствующий планшет атласа дугового или искрового спектра железа так, чтобы линии железа в изображении спектра совпали с линиями атласа. Отметки в виде штрихов на планшете атласа укажут место, где должны быть чувствительные линии различных элементов. Против соответствующих штрихов в исследуемом спектре должна находиться спектральная линия того или иного элемента. Необходимо иметь в виду, что спектропроектор дает обратное изображение на экране. Поэтому спектрограмму кладут на предметный столик эмульсией кверху и коротковолновой частью спектра влево. Предметный столик 3 (рис. 12), на который кладется спектрограмма, передвигается с помощью двух ручек управления в двух взаимно перпендикулярных направлениях. [c.41]

Потенциал ионизации представляет собой энергию, необходимую для отрыва одного электрона от атома или иона. По первому потенциалу ионизации элемента можно оценить оптимальную температуру плазмы, при которой ионизация его нейтральных атомов еще не будет проявляться, а резонансные спектральные линии будут иметь максимальную интенсивность. При возбуждении легкоионизируемых элементов (щелочные и щелочноземельные металлы) используют низкотемпературные пламена, для среднеионизируемых элементов (остальные металлы) — дуговой разряд или высокотемпературные пламена и, наконец, для неметаллов — искровой разряд. Для подавления ионизации и поддержания постоянной температуры плазмы в течение экспозиции при эмиссионном спектральном анализе проб различного состава в них вводят буферные компоненты, содержащие элементы с подходящими потенциалами ионизации. [c.11]

Из инсгрументальных методов определения токсичных микроэлементов в объектах окружающей среды наиболее экспрессным и универсальным является атомно-эмиссионный спектральный анализ (6-8). В сочетании с предварительным концентрированием он применяепгся для определения большого числа элементов (до. 15) Для возбуждения спектров испускания обычно используют дуговой или искровой разряд. При этом атомы и ионы переходет из возбужденного сосгояния в более энергетически низкое и излучают свет, что приводит к появлению характерных для каждого элемента спектральных линий. [c.245]

Температура пламени ниже температуры дугового и искрового разр5[да, поэтому вероятность перехода электронов на более высокий энергетический уровень мала и интенсивность соответствующих спектральных линий невелика. В пламени, как правило, получают линейчатые спектры. Обычно в спектре появляются только резонансные и основные линии (соответствующие электронным переходам с первого возбужденного уровня на основной), которые являются наиболее интенсивными. Это и есть последние линии спектра. При подводе большого количества энергии к атому электроны могут даже удалиться из [c.373]

Наиболее детальные и полные сведения о спектрах атомов многих элементов можно найти в различных справочных изданиях (см., например, [1]). В Советском Союзе наиболее широко распространено справочное издание Зайделя [2], в котором приведены таблицы спектральных линий, содержащие полную информацию о положении спектральных линий и их относительных интенсивностях для атомов и ионов практически всех элементов периодической системы. Отметим, что данные таблицы составлены по спектрам, возникающим при использовании для их возбуждения дугового или искрового раз))яда. Использование иных источников возбуждения может привести к появлению других линий и к другому соогиошению интенсивностей. [c.16]

Можно измерять температуру источника света и контролировать ее постоянство по относительной интенсивности спектральных линий. Для этого удобнее всего взять две линии одного элемента с разными потенциалами возбужде1шя (фикспара). Часто в качестве фикспары берут искровую и дуговую линии одного элемента. Относительная интенсивность R линий фикспары зависит только от температуры источника [c.52]

В качестве источника света в атомно-абсорбционном анализе используют стабилизированные излучатели, лампы полого катода или высокочастотные ша-риковые лампы, испускающие дуговой или искровой спектр определяемого элемента. Такой источник света должен давать узкие и яркие спектральные линии определяемых элементов со стабильной интенсивностью. Для выделения спектральных линий применяют монохроматоры с фотоэлектрическими приемниками света. [c.699]

Для анализа алюминиевого сплава образцу придают форму электрода. Таким же образо.м готовят образцы трех эталонов, близких по составу к анализируемому образцу, например, сплав дюралюминий содержит магний, медь, железо, марганец. Готовят также образец железа, так как он служит стандартом, поскольку известны длины волн всех его спектральных линий. Кассету с фотопластинкой вставляют в спектрограф и открывают крышку кассеты. Образцы поочередно укрепляют в держателе электродов искрового генератора ИГ-3 и в стандартных условиях возбуждения (при 220 В и 2 А) снимают спектры в следующем порядке образец железа, три эталонных образца, анализируемый образец и снова образец железа. После каждого снятия спектра кассету с фотопластинкой перемещают таким образом, чтобы после проявления на ней одно над другим были зафиксированы изображения шести спектров. После проявления и высушивания пластинку помещают в спектропро-ектор и находят на экране линии, соответствующие примесям в сплаве алюминия. С помощью микрофотометра МФ-2 (или другого) оценивают их почернение в сравнении с эталоном и определяют количественное содержание каждого элемента в анализируемом образце. [c.245]

В работах [ 6,7 J показана возмолшость определения серы в коксах и углях спектрографическим методом. Порошкообразная проба кокса при помощи коллодия наносится тонклм слоем на поверхность вращающегося латунного цилиндра или массивной платформы. В качестве источника света применялась низковольтная искра в жестком режиме (С=80 mkS, =30 мкГн) [ 6]и генератор дуги переменного тока с тройным искровым промежутком t 7 J. Установлена зависимость интенсивности спектральных линий от вида сернистого соединения и от присутствия третьих компонентов. [c.78]

Для получения свечения вещество помещается в источник света (дуговой или искровой разряд). Излучение анализируемого образца проектируется на щель прибора спектрографа, который с помощью призмы (или дифракционной решетки) разлагает излучение в спектр. Полученный спектр регистрируется фотографически (или фотоэлектрически). Спектр излучения и является аналитическим сигналом, который дает информацию о качественном и количественном составе вещества. Критерием количественного анализа является величина интенсивности спектральной линии, критерием качественной оценки является присутствие в спектре линий определенной длины волны. [c.177]

Наличие теплового движения атомов также приводит к расширению спектральных линий вследствие явления Допплера. Допплерова ширина линий велика в дуговых и искровых разрядах, в которых имеют место высокие температуры 5000—10 000°, и может быть вычислена но формуле [c.168]

Энергия разряда определяется величиной разрядного промежутка и емкостью. Как правило, хотя известны и исключения [25 ], во внешних слоях кольца возбуждаются спектральные линии с большей энергией возбуждения, чем во внутренних слоях. Поэтому кольцевой разряд оказывается полезным в работах по классификации спектров [255-238] дает возможность одновременно наблюдать линии, принадлежащие нормальным и ионизованным атомам. Если спроектировать изображение светящегося кольца на щель стигматического спектрографа, то получаются снимки с длинными линиями — дуговыми и короткими — искровыми. При увеличении разрядного промежутка искровые линии, принадлежащие однозарядному иону, удлиняются, и появляются короткие линии дважды ионизованных атомов. Возможность одновременного наблюдения спектральных лииий, которые требуют различной энергии возбуждения, указывает на целесообразность использования этого источника для спектрально-аналитических задач и, в частности, для анализа газов, где основная трудность и заключается именно в том, чтобы заставить одновременно светиться два компонента смеси с сильно отличаюищмися нотенциала.ми ионизации. [c.54]

Первые сведеция о спектр.е гафния были опубликованы вскоре после его открытия Хевеши и Костером [290]. Детальное изучение дугового и искрового спектров гафния было выполнено Меггерсом 6201, в распоряжении которого имелись сравнительно чистые препараты гафния. Им выявлено в области 2150—9250 А примерно 1500 спектральных линий гафния, часть которых была впоследствии классифицирована Меггерсом и Скрибнером [622]. [c.168]

Структура искрового разряда отличается от дуги (рис. 35). При каждом пробое воздушного промежутка сначала образуется очень узкий канал плазмы, в который почти не попадает вещество электродов. Температура канала очень высокая — десятки тысяч градусов. Свечение канала состоит в основном из линий азота и кислорода, а также интенсивного сплошного фона. В следующий момент небольшой участок поверхности электродов, на который опирается разряд, быстро нагревается до очень высокой температуры. Это тепло не успевает распространиться на соседние участки. В месте разогрева происходит взрывоподобный выброс вещества, который имеет вид факела. Направление факела может не совпадать с направлением канала искры. Яркость факела значительно больше, чем яркость канала. В факеле успевает установиться тепловое равновесие. Его температура около 10 000°. Излучение факела состоит главным образом, из спектральных линий вещества электродов. К моменту следующего разряда горячие участки на поверхности электродов остывают, и пробой промежутка присходит в новом месте. [c.65]

На рис. 95 показана зависимость почернений спектральных линий от давления сжатого воздуха и времени лоступления аэрозоля в иокровой разряд. Равновесие в зоне разряда устанавливается в течение первых 40—50 сек, после чего абсолютные почернения дуговых и искровых линий железа остаются практически постоянными в течение длительного времени с увеличением давления сжатого воздуха увеличивается и почернение линий (рис. 95). [c.150]

Изучение влияния параметров схемы искрового разряда показало, что максимальное почернение искровых спектральных линий достигается при следующем режиме работы генератора ИГ-3. Напряжение 220 в, емкость конденсатора 0,01—0,02 мкф, иа- дуктивность 0,01—0,05 мгн, ток 2— [c.151]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология