Поправка на наличие излучения

Особенности температурных измерений. В полученные выше формулы (2-24) и (2-29) вошли две поправки на излучение Д>-л(0 и на нелинейность нагрева Дз которые, однако, не являются единственными. При работе с термопарами, нанример, возникают ошибки из-за наличия в них паразитных термо-э. д. с. и из-за возможных искажений термоэлектродами поля температур в зоне контакта с образцом. Если термопары монтируются внутри калориметра постоянно, то случайные по своей природе погрешности измерения становятся систематическими, причем их суммарное значение оказывается в общем случае функцией температуры и скорости нагрева Ь). Учесть такого рода погрешности термопар можно с помощью специальных приемов градуировки калориметрического устройства и выделения из условного показываемого термопарами перепада температуры " ,(т) действительного перепада [c.53]

Ввиду сложности спектров редкоземельных элементов и обилия в них молекулярных полос следует заключить, что метод фотометрии пламени может быть легко использован для анализа лишь при наличии в растворе одного или небольшого числа элементов. В последнем случае требуется отсутствие наложения на полосу или линию определяемых элементов линий или молекулярных полос других элементов. При наличии в растворе всего двух элементов, что может иметь место, например, при разделении лантанидов при помощи ионообменной хроматографии, рекомендуется введение поправки на излучение другого элемента по специально построенной градуировочной кривой [c.270]

На рис. 20 приведено среднее излучение газовой среды в зависимости от содержания СО2 и Н2О и длины луча + PщQ) Е для разных температур газов р и температуры поверхности V. При наличии двуокиси серы в дымовых газах она может быть включена в количество водяных паров. Значения излучения на рис. 20 включают поправку на светимость среднего пламени при сжигании газообразных и жидких топлив. Эта поправка колеблется в пределах 0,18—0,13 в зависимости от температуры и состава газов. [c.68]

Как видно из рыс. 3, величина поправки к телшературам газового потока на излучение между экранами мала и убывает с увеличением критерия К. Таким образом, экраны при наличии потока газа между ними играют роль каналов, конвективная теплоотдача между которыми в основном определяет теплообмен экранированной стенки. Представляет интерес проанализировать влияние [c.33]

Ультрафиолетовое излучение (длина волны 2537 А) используется для сшивания при комнатной температуре пленок из полиэтилакрилата и придания им нерастворимости [2531. Изучение зависимости содержания гель-фракции от продолжительности облучения дает соотношение между интенсивностями процессов деструкции и сшивания /a, равное 0,50. При введении поправки на толщину облучаемой пленки [254] эта величина существенно уменьшается. Масс-спектральный анализ газообразных продуктов, образовавшихся при облучении в течение 4 и 16 час, дает следующие результаты метан 33,9 и 44,7%, окись углерода 59,2 и 45,6%, углекислый газ 6,2 и 8,9%, водород 0,7 и 0,8%. Наличие в газообразных продуктах фотолиза метана и отсутствие этана не могут быть удовлетворительно объяснены. Кроме того, можно предположить, что реакции отщепления и расщепления боковых цепей должны являться основными процессами фотолиза. Было установлено [255], что образование поперечных связей может протекать по следующей схеме [c.189]

Если регистрируемое излучение обладает сложным составом, т. е. состоит из нескольких компонент, из которых могут регистрироваться не обязательно все, то необходимо учитывать вероятности р такого способа распада, при котором испускаются частицы или кванты 1-й, 2-й,. .., г-й парциальных энергий. Эта вероятность, численно равная доле излучения данного вида (или данной энергии) по отношению к общему числу актов распада, в рассматриваемом случае называется поправкой на схему распада, в большинстве случаев поправка р< 1. Так, например, обращаясь к схеме распада (см. рис. 6), находим = 0,028 рр, = 0,093 РРз = 0,872 Р(з = 0,007. Из схемы распада невозбужденного оСо следует, что р,, = 1 и р = 1, так что каждый акт распада изотопа сопровождается испусканием двух у-квантов. При наличии большого числа электронов внутренней конверсии величина поправки может превышать единицу. Необходимые сведения о схеме распада изотопа берутся из таблиц. [c.75]

Для а-частиц возникает осложнение, которого нет, если мы имеем дело с излучениями, обусловливающими меньшую плотность ионизации. При наличии больших мишеней может случиться, что присоединенные объемы, построенные вокруг путей двух б-электронов, сольются. Учесть этот эффект при помощи точных вычислений было бы трудно. Однако принятый нами метод должен гарантировать от сколько-нибудь серьезных ошибок. Вместо того чтобы учитывать все б-электроны, энергия которых превосходит 100 эв, во внимание принимаются только б-электроны с энергией, большей 117, где 1 выбирается так, что число б-электронов с энергией равно 1 на каждый отрезок 2 г пути а-частицы. Поправка эта невелика, если мишень небольшая. Она вносится, конечно, лишь в том случае, если вычисленная величина 47 оказывается больше 100 эв. [c.267]

Поправки на разрешающую способность. Если после каждого зарегистрированного счетчиком импульса имеется время восстановления ( мертвое время, или разрешающее время) т, в течение которого счетчик совершенно нечувствителен к излучению, то в единицу времени суммарное мертвое время равно Кт, где К — наблюдаемая скорость счета. Если К — истинная скорость счета, т. е. та скорость счета, которая наблюдалась бы, если бы не было потерь, обусловленных наличием времени восстановления, то число потерянных в единицу времени импульсов (незарегистрированных частиц) равно К — К. Эта величина равна произведению истинной скорости К на отношение мертвого времени к полному. Так как последнее равно единице, то [c.191]

Наличие 7-излучения у таких изотопов, как дает небольшую ошибку, так что приходится вводить соответствующую поправку, Величину этой поправки показывает прирост скорости счета по сравнению с фоном, остающийся после фильтрации излучения через фильтр, устраняющий всю р-активность. Эта поправка должна быть, очевидно, вычтена из измеренной р-активности, [c.193]

Появившиеся, особенно в последние годы, экспериментальные работы по оценке лучистой составляющей Ха убедительно показывают, что этот эффект при высоких температурах и достаточно больших толщинах жидкостного слоя может искажать результаты определения коэффициента теплопроводности жидкостей. Первой работой в этом направлении были исследования X. Польт-ца [285, 286], где были поставлены эксперименты по определению коэффициента теплопроводности шести жидкостей (толуол, бензол, четыреххлористый углерод, парафин, вода и метанол) при различных толщинах слоя жидкости (от 0,5 до 5 мм). В результате было установлено наличие зависимости измеренных значений Хл от толщины слоя жидкостей, обладающих относительно слабым поглощением в инфракрасной области спектра, и отсутствие такой зависимости для сильнопоглощаю-щих жидкостей (вода, метанол). Следует отметить, что в случае цилиндрической геометрии влияние излучения меньше, чем в плоских слоях жидкости. Так, в [289] показано, что при методе нагретой нити для толуола поправка на излучение не превышает 0,7% при 20°С, в то время как при измерении теплопроводности толуола по методу плоского слоя при одинаковой толщине слоя и граничных поверхностях вклад излучения составляет 3—7% в температурном интервале 20—80°С [290]. [c.177]

При работе с обычными спектрофотометрами на резонансный триплет марганца накладывается линия галлия (403,3 жд1к). Поэтому рекомендуют определять галлий в присутствии марганца по линии 417,2 ммк и вводить соответствующую поправку . Наличие в анализируемом растворе калия также может искажать результаты определения марганца из-за близости линий калия 404,4 и 404,7 ммк к линиям марганца и возможного попадания на фотоэлемент части излучения калия. [c.285]

Исследование малоуглового рассеяния рентгеновских лучей проводилось с помощью четырехщелевой малоугловой камеры (2 щели коллиматора и 2 щели приемника излучения). Регистрация рассеянных лучей осуществлялась ионизационным счетчиком Гейгера. Наличие двух щелей у приемника излучения позволяло освободиться от большей части паразитного рассеяния. Хотя остаточная интенсивность паразитного рассеяния была весьма мала по сравнению с интенсивностью истинного рассеяния, измерения производились таким образом, чтобы можно было внести соответствующую поправку. Измерения интенсивности проводились дважды в первом положении (рассеивающем) образец помещался позади щелей коллиматора, во втором (поглощающем) — перед коллиматором. Во втором положении измерялась интенсивность остаточного [c.104]

Количественный анализ неорганических веществ развивался не так быстро, как качественный. Спектры поглощения смесей являются, вообще говоря, аддитивной функцией каждой компоненты, поэтому теоретически возможно определять концентрацию компонент в смеси. Но при практическом определении концентрации встречаются трудности, обусловленные главным образом наличием рассеянного излучения от источников, обычно используемых в спектрофотометрях. Ряд приспособлений, а также. модификации приборов и методов получения спектров позволяют внести поправку на рассеянное излучение. Другими источниками ошибок являются потери на отражение, а также поглощение растворителя, неоднородность образца, неправильная установка кювет и нелинейность приемника и регистрирующих систем спектрофотометров. [c.22]

По предложенной методике спектроскопические данные и модели полос используются лишь для распределения энергии излучения газа по полосам спектра. Корректировка спектральных степеней черноты по экспериментальным значениям интегральной степени черноты обеспечивает введение своеобразной поправки на вращательную структуру линий в пол(ке, так2 ак величина расчетного среднего спектрального коэффициента поглощения К/ = (а/Аш )/ не отражает наличие промежутков между линиями в полосе и может быть применена лишь при высоких давлениях, когда отдельные линии спектра уже сливаются. [c.546]

Поправка на поглощение рентгеновых лучей в окошке счетчика находится опытным путем. Описываемая установка отличается от обычно используемых в лабораториях наличием магнитного поля на пути пролета рентгеновских квантов, что позволяет отклонять заряженные частицы, сопутствующие рентгеновскому излучению, и измерять активность только в числе актов захвата орбитального электрона, сопровождающихся испусканием рентгеновских квантов. [c.14]

Глава 10. Исследование диффузного рассеяния р штгеновских лучей и рассеяния под малыми углами. 10-1. Некоторые формулы интенсивности диффузного рассеяния. 10-2. Значения В(в) для разных излучений. 10-3. Поляризационный множитель для диффузного рассеяния. 10-4. Угловые множители интенсивности. 10-5. Интенсивность некогерентного рассеяния. 10-6. Релятивистская поправка для некогерентного рассеяния. 10-7. Значения q для частиц различной формы. 10-8. Функции рассеяния для систем однородных частиц [однородные сферические частицы (общие значения функции), однородные сферические частицы (максимумы и минимумы), эллипсоиды вращения, частицы в форме цилиндров, частицы в форме цктандров малого диаметра, частицы в форме эллиптических цилиндров, частицы в форме дисков, частицы в форме прямоугольных призм]. 10-9. График для определения радиуса вращения частиц. 10-10. Рассеяние неоднородными системами частиц (система сферических частиц система сферических частиц, разделенных промежутками система сферических частиц различного радиуса система частиц с линейной структурой наличие ближнего порядка в расположении частиц). 10-11. Кривые рассеяния для различных распределений частиц по размерам. 10-12. Эффект коллиматора (влияние коллиматора на значение функции рассеяния, влияние коллиматора на экстремумы функции рассеяния, выбор коллиматора). [c.322]

Физика дифракционных методов 5.1. Основные определения и формулы (определения символов, формулы для рассеяния электронов, атомного мнг жителя рассеяния). 5,2. Интенсивность излучения, дифрагированного кристаллом (структурный мксжитель, температурный множитель, интегральное отражение, угловые множителн интенсивности, мнсшители Лоренца и поляризационный). 5,3, Поправки на поглощение (малый кристалл в узком пучке, большой кристалл или поликристаллический обра-еец, пересекающий узкий пучок отражение узкого пучка от плоскостей, параллельных вытянутой грани кристалла при отсутствии и наличии пропускания, отражение от кристаллических плоскостей, наклоненных к вытянутой грани поглощающего блока поглощение при перпендикулярном и наклонном расположении поверхности кристаллического блока по отношению к отражающим плоскостям поглощение в цилиндрическом кристалле, омываемом однородным пучком рентгеновских лучей, нормальным к оси кристалла, поглощение сферой, поглощение кристаллом произвольной формы, поправки на поглощение при исследовании преимущественней ориентировки в листовых образцах), 5.4, Мозаичная теория (различия между совершенным и идеально несовершенным кристаллом, первичная и вторичная экстинкция). 5,5. Сводка формул интегральной интенсивности, [c.323]

Количественный анализ катализаторов методом диффракции рентгеновских лучей сложен и не очень точен по следующим причинам а) диффузный фон, образующийся как из-за особенностей аппаратуры, так и из-за различного рода неупорядоченности в кристаллитах б) расширение линий в) различие в отражениях от различных фаз вследствие различий в рассеивающей силе составляющих атомов г) различия в интенсивности рассеивания, определяющиеся размерами единичной ячейки и степенью асимметрии д) случайная интерференция линий е) флюоресцентное излучение от образца и трудности, присущие методам измерения интенсивности линий. Применение в качестве стандарта кристаллического образца с диффракционными линиями, близкими к линиям определяемой фазы, смягчает влияние некоторых из указанных факторов. Интенсивность рассеянного рентгеновского излучения, вызванного наличием данной фазы, с поправкой на различные. эффекты, указанные выше, линейно зависит от ее концентрации, но четкость диффракционной картины зависит от величины и упорядоченности кристаллитов. Большие кристаллиты дают резкие интенсивные диффракционные линии, в то время как маленькие кристаллиты дают широкие размытые линии. В некоторых случаях вещества с очень маленькими кристаллитами, например голи аморфной окиси железа, дают очень широкие диффракционные линии, которые с большим трудом можно отличить от фона беспорядочно отраженного рентгеновского излучения [8]. Поскольку многие катализаторы приготовляются методами, обусловливающими образование относительно аморфных структур с сильно развитой поверхностью, их рентгенограммы получаются слабыми и расплывчатыми и даже качественный анализ по рентгенограммам представляет большие трудности. Смесь малых количеств кристаллического вещества с большим количеством почти аморфг ного вещества может дать диффракционную картину только кристаллического вещества. Интенсивность диффракпионных линий увеличивается с ростом порядкового номера атомов, образующих кристаллическую решетку. В отработанных железных, кобальтовых или никелевых катализаторах синтеза углеводородов из окиси углерода и водорода обычно нельзя установить характеристическиа линии углерода, даже если он присутствует в значительных количествах. Однако углерод, присутствующий в виде карбидов, можно обнаружить, поскольку расстояния между отражающими плоскостями из атомов металлов в карбидах обычно отличаются от этих расстояний в чистом металле. [c.37]