Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Измерение объектов под микроскопом

    Объект-микрометр и окуляр-микрометр предназначены для измерений под микроскопом. При работе в проходящем свете используют объект-микрометр ОМП, в отраженном свете — ОМО. [c.18]

    Винтовые окулярные микрометры для измерения линейных размеров объектов, рассматриваемых в микроскоп, а также для измерения увеличения микроскопа [c.317]

    Перед измерением объективный микрометр кладут на столик микроскопа, ставят нужный объектив и окуляр с окулярной линейкой и наводят на резкость, чтобы деления линейки объективного микрометра были четко видны. Далее совмещают в горизонтальном положении обе линейки и высчитывают величину одного деления линейки окулярного микрометра. Например, 50 делений окулярного микрометра линейки соответствуют 30 делениям линейки объективного микрометра, одно деление которой равно 10 мкм. Значит, 50 делений линейки окулярного микрометра равны 300 мкм, а одно ее деление — 6 мкм (300 мкм 50). [c.376]


    Тонкость отсева может быть непосредственно определена микроскопическим анализом и, косвенно — седи-ментациоиным анализом фильтрата. Несмотря на достоинства пер1В0Г0 метода, как прямого способа измерения, он применяется ограниченно, вследствие своей трудоемкости, которая усугубляется при малой концентрации частиц в фильтрате. Для анализа пригоден наиболее распространенный тип учебного, биологического микроскопа с 600-кратным и меньшим увеличением. Капля исследуемой суспензии наносится на предметное стекло и закрывается покровным стеклом. В качестве предметного стекла удобно использовать камеру Горяева или Бюркера, которые применяются в практике медицинских исследований, и обеспечивают толщину рассматриваемого слоя суспензии 0,1 мм. Крестообразный столик СТ-5, в держателях которого закрепляется предметное стекло, и вместе с которыми оно может перемещаться в двух направлениях, позволяет просматривать в проходящем свете последовательно отдельные участки слоя суспензии. В окуляр микроскопа предварительно помещается окулярная сетка — стекло с нанесенной на него сеткой. Цена деления окулярной сетки при выбран-НО.М увеличении микроскопа определяется по объект-микрометру, помещаемому на предметный столик микроскопа. Цена деления на стекле объект-микрометра 0,01 мм. [c.43]

    Измерение объектов под микроскопом [c.30]

    Определение показателей преломления кристаллических веществ ведут чаще всего иммерсионным методом — путем сравнения оптических характеристик кристаллов и жидкости, в которую их погружают. Для измерений используют поляризационный микроскоп (рис. 34), который снабжен поляризатором и анализатором, расположенными до и после объекта наблюдения в оптической системе микроскопа. Расположение поляризатора и анализатора должно быть на первом этапе измерений взаимно перпендикулярным (оси РР и АА на рис. 35, а). Луч света проходит от осветителя через поляризатор, который пропускает поляризованный свет с колебаниями в плоскости РР] войдя в кристалл исследуемого вещества, луч света разлагается на два с колебаниями, отвечающими направлениям осей эллипса сечения индикатрисы хх и уу. По пути к окуляру эти лучи проходят еще через анализатор, пропускающий только свет с колебаниями в плоскости АА. Колебания Хр и ур, совпадающие с осью РР, перпендикулярной АА, гасятся анализатором, а колебания ха и у а проходят через анализатор и наблюдаются в окуляре. В этом положении кристалл будет выглядеть светлым и окра- [c.108]

    До измерения объекта определяют увеличение объектива микроскопа. Для этого на столик микроскопа помещают объект-микрометр, на тубус надевают винтовой окулярный микрометр и фокусируют на резкость изображения перекрестия и шкалы о бъект-микрометра. Биштрих устанавливают в начале или в конце шкалы. Берут некоторое число делений объекта-микрометра, например 25. Подводят перекрестие к первому штриху шкалы и снимают отсчет, затем подводят перекрестие к двадцать пятому штриху и снова делают отсчет. [c.32]


    В случае частиц размерами 0,5—2 мк и при отсутствии их заметного осаждения используется либо этот же метод, либо метод микроэлектрофореза , который основан на измерении скорости отдельных частиц в капилляре или плоской камере, помещенной под объектив микроскопа. С помощью окулярмикрометра и секундомера определяется путь, пройденный отдельной частицей за определенный отрезок времени. [c.200]

    Универсальный измерительный микроскоп тяжелого типа УИМ-24 служит для тех же целей, что и вышеописанные универсальные измерительные микроскопы, но предназначен для измерения объектов больших габаритов и более тяжелых. [c.265]

    Для измерения объекта на столик микроскопа помещают препарат, центр перекрестия совмещают с краем изображения объекта и делают отсчет. Затем перекрестие совмещают со вторым краем объекта и снова делают отсчет. [c.32]

    Измерительные микроскопы (в том числе портативные накладные) содержат набор измерительных шкал, расположенных в плоскости изображения микрообъектива и позволяющих контролировать линейные размеры деталей, радиусы, углы заточки резцов и т.п. Точность измерения с помощью окулярного винтового микрометра типа МОВ-15 достигает 0,5. .. 1 мкм при увеличениях 10 . .. 20 . Поле зрения микроскопов обычно 1. .. 20 мм. Многие измерительные микроскопы оборудованы устройствами прецизионного перемещения изделий в предметной плоскости микрообъектива с возможностью отсчета координат. Это расширяет диапазон измерений при сохранении высокой точности (диапазон перемещения составляет 50. .. 200 мм, погрешность отсчета - до 1 мкм). Увеличение и соответственно глубина резкости микроскопов выбираются, исходя из особенностей формы изделий. Многие модели современных измерительных микроскопов снабжаются устройствами измерения вертикального перемещения микрообъектива, т.е. обеспечивается трехмерное измерение объектов. [c.491]

    Измерив необходимое число объектов, препарат снимают и на столик микроскопа помещают объект-микрометр ОМП (для работы в проходящем свете), шкала которого имеет 100 делений (рис. 15,5). Общая длина ее 1 мм, размер одного деления—10 мкм. Шкалу объекта-микрометра совмещают со шкалой окуляра-микрометра, используя ту же самую комбинацию окуляра и объектива, которую применяли для измерения объектов. Удобнее всего совместить сначала нулевые точки шкалы. Например, при малом увеличении 100 делений объекта-микрометра, т. е. вся шкала, совпали с 80 делениями оку- [c.30]

    Для того чтобы быть уверенным в результатах измерений, необходимо микроскоп и лазер защитить по возможности лучше от вибраций. В рассматриваемой конструкции эта задача была решена с помощью соответствующих демпфирующих подкладок. Когда измеряется интенсивность света, исходящего от неподвижного объекта (стенки кюветы), вибрация и другие источники помех дают погрешность порядка 5% от наблюдаемого сигнала. Это допустимо, поскольку интенсивность рассеянного света при варьировании размеров частиц от 0,0500 до 0,3000 мкм изменяется в 10 раз (5%-ная ошибка в амплитуде не сказывается в сильной мере на результатах измерений). [c.251]

    Нельзя ограничиваться одним измерением за результат принимается среднее арифметическое ряда измерений. Шкалы объект-микрометра и измерительного окуляра имеют погрешности, поэтому определение цены деления и проведение измерений объектов необходимо производить на различных участках шкал объект-микрометра и микроскопа. [c.105]

    Правильность положения объекта проверяется перемещением салазок от руки и наблюдением в визирный микроскоп. Конец штриха сетки, установленный на линию измерения объекта, не должен при этом сходить с нее. [c.144]

    Работу проводили с гранулированными анионитами АВ-17, ЩА-400, АН-23, АВ-16Г, АН-2ФГ и АВ-18. Навеску смолы многократно промывали соляной кислотой и щелочью, чтобы удалить продукты неполной конденсации и загрязняющие ионы, попавшие в нее при синтезе, затем промывали водой и высушивали на воздухе. Из подготовленной таким образом смолы отбирали (с помощью лупы) более крупные гранулы, имевшие правильную сферическую форму. Для измерения объема смолы использовали микроскопическую методику [1]. Гранулу анионита зажимали между иглами в проточной плексигласовой кювете и последнюю помещали под объектив микроскопа МИР-12. Рабочими растворами служили 0,1 N растворы соляной кислоты, хлористого или едкого натрия последний готовили и хранили в условиях, исключавших попадание в него карбонат-ионов. Скорость протекания растворов через кювету была постоянной и соответствовала отбору 1 мл фильтрата в минуту. С начала контакта зерна с данным раствором и затем через каждую минуту измеряли диаметр зерна, пользуясь отсчет-ным устройством микроскопа. Результаты измерений служили [c.73]

    Объективный микрометр представляет собой специальное предметное стекло с размещенной на нем линейкой длиной в 1 мм, имеющей 100 делений, каждое из которых соответствует 10 мкм или 0,01 мм. Окулярный микрометр — это круглое стекло, которое помещают в окуляр микроскопа. На него также нанесена линейка длиной 0,5 или 1 см, разделенная соответственно на 50 или 100 делений. Величина одного деления этой линейки зависит от системы микроскопа, увеличения окуляра, бинокулярной насадки и пр. Поэтому при измерении объектов для каждого микроскопа и для различных увеличений, с которыми приходится работать, нужно определить значение одного деления окулярной линейки в микрометрах (мкм). [c.376]


    Дисперсионный анализ можно производить, непосредственно измеряя капли (или частицы) под микроскопом, в окуляр которого вставлена микрометрическая сетка. Каждое деление сетки соответствует определенной длине х объекта, видимого под микроскопом. Пользуясь микрометрической сеткой, подсчитывают число капель (частиц) одного размера в поле зрения. Практически невозможно, а вследствие ограниченной точности оптических измерений и бесполезно неограниченно уменьшать интервал размеров капель (частиц) Дг. Поэтому обычно все капли (частицы), диаметр которых соответствует одному и тому же числу целых делений сетки, считаются каплями одинакового размера, т. е. [c.136]

    В электронном микроскопе используются быстрые электроны с соответственно малыми длинами волн, что позволяет распространить измерения вплоть до 10—50 А. Порошок наносится в виде тонкого слоя на подложку из коллодия, и силуэты частиц получаются на экране при правильном фокусировании лучей магнитными и электрическими полями, служащими линзами. При калибровке прибора по реплике стандартной решетки в качестве объекта можно определять размер частиц с точностью до нескольких ангстрем. Число частиц, попадающих в поле луча, невелико, однако функцию их распределения удается определить и использовать для установления возрастания размера частиц в процессе старения, спекания и во время реакции [35]. При иной фокусировке электронного пучка, отраженного от пленки, получающиеся электронограммы дают представление о межатомных расстояниях в слоях, близких к поверхности, хотя для этой цели чаще используют дифракцию электронов на отражение [36]. [c.166]

    Перспективным методом контроля микрогеометрии объектов является стереоскопический метод. Сущность его заключается в совмещении по глубине изображений объекта и специальной измерительной марки, располагаемой в фокальной плоскости окуляров стереомикроскопа. Перемещение марки, необходимое для этого совмещения, измеряют микровинтом. Оно характеризует глубину различных точек поверхности объекта. Точность измерения может достигать 0,002 мм при увеличении 100. Микроскоп имеет большое рабочее расстояние (до 90 мм), что удобно при эксплуатации прибора. [c.503]

    Нами описаны результаты исследований набухаемости гранулированных анионитов АВ-18 и АН-2Фг в растворах электролитов при комнатной температуре. В качестве насыщающих использовали растворы соляной и серной кислот и хлорида, нитрата, сульфата и едкого натрия. Для определения набухаемости смолы использовали микроскопическую методику [35. Гранулу анионита зажимали между иглами в проточной плексигласовой кювете, помещенной под объектив измерительного микроскопа ИЗА-2. Измерение диаметра гранулы производили после насыщения ее заданным раствором через промежуток времени, необходимый для установления в системе равновесного состояния, которое определялось в каждом конкретном случае опытами по изучению кинетики набухания смолы. Пример подобного рода кинетических кривых изменения объема анионита при переходе последнего в другую ионную форму представлен на рис. 1. Выход кривой на участок, параллельный оси времени, соответствовал моменту наступления состояния равновесия в си- [c.32]

    Толщинометрия и контроль внутреннего строения малогабаритных изделий может успешно производиться в проекционном режиме работы или с помощью проекторов [1, 2], имеющих мощный осветитель и предназначенных для контроля с выносом увеличенного изображения на матовый экран (обычно затененный) большого размера. Их применение дает наибольший эффект при массовом контроле однотипной продукции (штамповка, плоские детали и т. п.), повышает производительность контроля, а также его достоверность за счет устранения грубых ошибок и улучшений условий труда оператора. В этом случае на выходной экран проектора наносят шаблон или линии, показывающие допустимые отклонения формы или размеров. С помощью микроскопа осуществляют трехмерные измерения геометрических размеров. Размеры объекта в направлении, перпендикулярном линии визирования, определяют с помощью отсчетного устройства путем смещения предметного столика с расположенным на нем контролируемым объектом до совпадения соответствующих точек объекта с центром поля зрения микроскопа и считывания в эти моменты расстояния. Помимо этого, измерение этих размеров может осуществляться в плоскости изображений по измерительной сетке, отградуированной по эталонам с учетом увеличения микроскопа. Геометрические размеры в направлении линии визирования измеряются с помощью механизма точной фокусировки, которая должна производиться до макси- [c.244]

    Способ время-импульсного преобразования сравнительно просто реализуется на базе современных микроэлектронных логических устройств и применим при контроле как крупногабаритных (несколько метров, так и микроскопических (до нескольких микрометров) объектов с погрешностью 1—5%. Разница при контроле малых или больших размеров состоит в смене оптических систем телеобъектив или микроскоп. Реализация этого способа сводится к измерению длительности импульсов или их подсчету, формируемых изображением краев объекта на экране видеоконтрольного устройства. Для повышения точности измерения геометрических размеров используют способы, подобные описанным для полуавтоматических измерений, т. е. измеряют приращение размера путем контроля положений краев. Такие способы при автоматических измерениях реализуются в виде применения дифференциальных или раздваивающих систем. [c.261]

    Замер поля скоростей. Для измерения скорости в любой точке потока жидкости наиболее целесообразно использовать бесконтактные оптические методы. В установке применялся ультрамикроскопический метод. Приборы, работа которых основана на этом принципе, позволяют достичь точности измерения порядка 0,1%. Кроме того, они дают возможность быстро обработать экспериментальные данные (применеш1С методов, основанных на фотографировании визуализирующих поток частиц, требует значительных затрат времени, в особенности при необходимости определить поле скоростей в большом числе точек). В данном методе используется следующее явление если при общем затемненно.м потоке дать сильное боковое освещение какой-либо части его таким образом, что непосредственно ни один луч от осветителя не попадет в глаз наблюдателя, то свет, попадая на микроскопические частицы, практически всегда имеющиеся даже в чистых жидкостях, рассеивается. При этом освещенные частички, наблюдаемые в микроскоп, представляются наблюдателю в виде светлых точек на темном поле, яркость которых зависит от размера наблюдаемых частиц и количества световой энергии от отдельной частицы, попадающей в объектив микроскопа. Поэтому желательно применить очень яркие источники света для освещения. Описанное явление открыто Тиндалем в 1868 г. и носит его имя, т. е. явление Тиндаля - это рассеяние света в средах с размерами частиц 0,1Хц, (Х , - длина волны падающего света). [c.47]

    Экспериментальные установки обычйо сочетают проведение в одной и той же вакуумной камере Оже-спектроскопии и измерений дифракции электронов низкой энергии. В результате получается информация как о химическом составе поверхности, так и о ее атомной структуре. Для изучения геометрической структуры поверхности используют электронный сканирующий микроскоп. Принцип действия этого прибора аналогичен передаче телевизионного изображения, только здесь на исследуемый объект направляется сфокусированный пучок электронов, а детектируется интенсивность отраженных электронов, которая затем передается на экран электронно-лучевой трубки. Движение сфокусированного пучка электронов вдоль исследуемого образца синхронизовано с движением луча электронно-лучевой трубки, в результате чего на ее экране получается изображение изучаемой поверхности. Разрешение современных сканирующих микроскопов составляет 5—10 нм. [c.86]

    Определение размеров частиц с помощью микроскопа мол<но проводить прямым измерением, методом сравнения, методом счета и др. Для проведения прямого измерения обычно пользуются оку-ляр-микрометром. Он представляет собой круглую стеклянную пластинку, на которой нанесена шкала с делениями. Наиболее точные окуляр-микрометры имеют интервал между штрихами в 50 мкм. При абсолютных измерениях окуляр-микрометр предварительно калибруют относительно применяемых оптических линз и для каждой ДЛ1ШЫ тубуса микроскопа. Измерения удобно прово-. дить и по фотографиям иосле микрофотографирования и фотоуве-личения изображения объекта. [c.249]

    В практике цитоэМбриологических исследований нередко измеряют пыльцевые зерна, замыкающие клетки устьиц, хромосомы, пыльцевые трубки, зародыши и т. д. Измерения под микроскопом проводят при помощи шкалы окуляра-микрометра (рис. 15,Л). Чтр)ы перевести результаты полученных измерений в микрометры, т. е. установить истинные размеры объекта, необходим объект-микрометр. Окуляр-микрометр может входить в комплект микроскопа вместе с окуляром или приобретается отдельно. Он представляет собой круглую стеклянную пластинку, на которой нанесена линейка со 100 делениями. [c.30]

    Микроскопные нагревательные столики (ФРГ) для изучения температурных превращений органических и неорганических объектов входят в комплект микроскопов Диалюкс, Ортолюкс, Ортоплан. Нагревательные столики имеют следующие интервалы температур измерения от —20 до 180°С от —25 до 350°С, от 20 до 1350°С (модель 1350), от 20 до 1750°С (модель 1750). Измерения можно проводить в проходящем и отраженном свете. [c.129]

    Измерение объектов с помощью светооптичёского микроскопа. В практике микробиологии часто бывает необходимо измерить клетки микроорганизмов. Эро осуществляется на фиксированных препаратах. Определение ведут с помощью шкалы окулярного микромЪтра — окулярной линейки. Она представляет собой руг-лую стеклянную пластинку, посреди которой нанесена шкала делений (50 или 100 делений) общей длиной 5 мм. Вывинчивают линзу окуляра и окулярную линейку вставляют в окуляр (стороной с делением вверх на диафрагму окуляра). Записывают длину клеток а — КО- [c.15]

    Освещение предмета при работе в проходящем свете производится осветителем 2 — с лампой накаливания типа НВ (127 или 220 в, 25—40 вт). Для работы в отраженном свете на объектив микроскопа надевается специальный осветитель с четырьмя миниатюрными лампочками типа МН-15 (6,3 в, 0,28 а). Вращение поворотного стола производится при помощи маховичка 12. Величина поворота отсчитывается по нониусу. Наклон колонки с микроскопом производится вращением маховичка 9. Этот наклон применяется при измерении элементов резьб и служит для получения одновременно резкого изображения обоих профилей резьбы. [c.238]

    При измерении длины (ширины, диаметра) какого-нибудь объекта под микроскопом его помещают на предметное стекло, совмещают одну из крайних точек объекта с нуловым делением окулярного микрометра и отсчиты.вают, сколько делений Ш1калы занимает измеряемый объект. [c.65]

    Вертикальный оптический длиномер типа ИЗВ-21 (для измерения третьей координаты) устанавливается на колонке прибора, с которой снипяют кронштейн с главным микроскопом, и служит для измерений наружных размеров объектов по вертикальному направлению. С помощью длиномера можно измерять объект по трем координатам с одной установкой. Это особенно удобно при измерении объектов с криволинейной поверхностью (кулачки, сложные прсстранствеп 1.ге шаблоны, коноиды, калибры и т. д.). [c.260]

    При измерении показателей преломления твердых веществ иммерсионным методом необходимо обеспечить 500—700х (и не менее чем ЗООх) кратное увеличение микроскопа, например, вводя объектив 40х или бОх и окуляр 8х. Края кристалла, выбранного для измерений, не должны иметь посторонних включений и других дефектов. [c.109]

    Переносные микроскопы имеют упрощенную конструкцию и устанавливаются непосредственно на контролируемый объект. Их увеличение невелико (обычно не более 100), а габариты гораздо меньше серийных микроскопов, что определяет удобство их применения. Перекосные микроскопы позволяют обнаруживать дефекты, определять их размеры и глубину залегания, производить измерения других геометрических характеристик. Толщина прозрачных и полупрозрачных покрытий и глубина залегания дефектов в таких изделиях могут быть определены методом фокусировки изображения. Для этого сначала фокусируют микроскоп на поверхность изделия и запоминают показание отсчетного устройства на ручке фокусировки, а затем ее фокусируют на изображение элементов основания и отмечают показание отсчетного устройства. Определив разность перемещения объектива в направлении изделия, с учетом коэффициента преломления можно рассчитать толщину покрытия или расстояние до дефекта. Фокусировка на внешнюю границу прозрачного изделия в большинстве случаев осуществляется легко, поскольку даже хорошо отполированная поверхность является шероховатой и на микрозыступах или впадинах происходит рассеяние света. Если рассеяние невелико и фокусировка на внешнюю поверхность затруднена, можно слегка загрязнить поверхность каким-либо мелкодисперсным материалом, например графитом мягкого карандаша, что повысит достоверность отсчета. Фокусируя микроскоп на разные части дефекта, можно оценить его протяженность. [c.245]

    Отечественные люминесцентные микроскопы МЛ-3, МЛД-1, МЛ-2 имеют также осветители для люминесцентной микроскопии. Для количественных измерений в лучах флюоресценции имеется фотометрическая насадка МФЭЛ-1, а такл<е микроспектрофлюоли-метр МЛИ-1, позволяющие наблюдать интенсивность флюоресценции микроструктур объекта. [c.124]

    Эти обстоятельства привели к сохранению, а в последние годы — даже к возрастанию интереса к микроскопическим, рефрактометрическим методам исследования. Действительно, ни один прибор не может заменить человека, непосредственно наблюдающего данную химическую композицию. С помоп1ью микроскопа можно сразу же определить число фаз в системе и симметрию ее компонентов, причем измерения можно проводить на объектах любого качества, в том числе и на тонкодисперсных порошках. При этом, зная показатели преломления и плотность вещества, можно найти его молекулярную рефракцию, т. е, электронную иоля-ризуемость. [c.3]

    Визуально-оптическим называют неразрушаюший контроль качества с применением оптических средств, позволяющих существенно расширить пределы естественных возможностей органов зрения человека. Он является техническим продолжением визуального контроля, дает возможность обнаруживать более мелкие дефекты и производить измерения с высокой разрешающей способностью (1—5 мкм). При проведении визуально-оптического контроля надо учитывать основные особенности ( 6.5), характерные для визуального контроля, так как в обоих случаях решающую роль играет оператор. Усилить возможности человека позволяют лупы, микроскопы, телескопические устройства и другие технические средства. Главным недостатком визуально-оптического контроля является снижение производительности проведения неразрушающего контроля. Поэтому обычно проводят многоступенчатый контроль осматривают поверхность изделия без оптических средств, выявляя крупные дефекты и подозрительные места, изучают эти места через лупу (однолинзовый микроскоп), а затем исследуют отдельные участки контролируемого изделия с помощью многолинзового микроскопа, последовательно повышая кратность его увеличения. При правильном выборе условий визуально-оптического контроля размеры элементов объекта или минимальных выявляемых дефектов 1т1а (в мм) уменьшаются в соответствии с оптическим увеличением устройства Кув- [c.239]

    Конструкция и свойства зонда зависят не только от параметров объекта, на измерение которых он настроен, но и от типа прибора, в паре с которым он работает. Наибольшее распространение получили флуоресцентные зонды для стационарной флуорнметрин и флуоресцентной микроскопии. По принципу передачи информации такие зонды следует поделить на три группы флуоресцентные метки, интенсометрнческие зонды и рацнометрическне зонды. Флуоресцентные метки (рис. 1а) информируют только о местоположении объекта исследования, о его количестве и/нли о его геометрических размерах. В этой связи к ним предъявляют лишь одно важное требование они должны как можно ярче светиться при контакте с объектом. Яркость свечения определяется высокими значениями молярного коэффициента поглощения и квантового выхода флуоресценции. [c.385]


Смотреть страницы где упоминается термин Измерение объектов под микроскопом: [c.7]    [c.180]    [c.199]    [c.178]    [c.39]    [c.19]    [c.227]    [c.259]   
Смотреть главы в:

Практикум по цитологии растений Изд.4 -> Измерение объектов под микроскопом




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Микроскоп

Микроскоп объективы

Микроскопия



© 2025 chem21.info Реклама на сайте