Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Оптические методы отражение

    Свойства окисных пленок. В зависимости от условий образования окисные пленки могут иметь толщину от мономолекулярной до нескольких миллиметров. Различаются тонкие, средние и толстые пленки. Тонкие пленки имеют толщину от нескольких ангстрем до 400 А. Они невидимы и могут быть обнаружены и измерены так называемым оптическим методом отражения поляризованного света. [c.47]

    Оптический метод [112] определения пористости может быть использован для оценки пористости мембран из любого материала. По этому методу образец приводят в соприкосновение с поверхностью равнобедренной стеклянной призмы и позволяют смачивающей жидкости, поднимаясь по капиллярам мембраны, вступать в контакт со стеклом. Основание призмы представляет собой поверхность полного отражения. Пока поры образца не заполнены жидкостью, площадь контакта образца мембраны с этой поверхностью невелика и принимается за начальный уровень отсчета. По мере заполнения пор жидкостью растет доля площади основания призмы, на которой полное отражение нарушено. Автоматическая запись дает возможность получать кривые с выходом на плато, высота которого прямо пропорциональна пористости /о. [c.93]


    Значительно меньше оптических методов, предназначенных для исследования поверхностных слоев на границе с жидкостью, что в первую очередь связано с невозможностью сохранения жидкого состояния в условиях высокого вакуума. Одним нз информативных методов исследования адсорбционных слоев и пленок в данных условиях является, например, метод многократного нарушенного полного внутреннего отражения. Спектры внутреннего отражения позволяют определить величину адсорбции, толщину слоя, его анизотропию и исследовать закономерности их изменения. [c.247]

    Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия (рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. Эти методы дают информацию о микроструктуре поверхности твердых электродов, о химическом составе поверхностного слоя, изменение которого могло произойти в результате необратимой адсорбции тех или иных компонентов раствора, о составе и структуре возникших на поверхности окисных пленок. Однако для изучения обратимых адсорбционных явлений на электродах эти методы не подходят. [c.80]

    Оптические методы изучения поверхности электродов, находящихся в контакте с раствором, основаны на том, что свойства отраженного от поверхности электрода светового излучения зависят не только от диэлектрических свойств раствора и металла, но также от толщины и диэлектрических свойств адсорбционных или тонких фазовых пленок. Указанная зависимость может быть установлена решением при соответствующих условиях уравнений Максвелла, описывающих распространение электромагнитных колебаний. [c.80]


    Таким образом, для понимания механизма пассивации необходимо изучение закономерностей образования, роста и свойств окисных слоев. Для этого используют разнообразные электрохимические и оптические методы, например, отражение света, эллипсометрию, дифракцию электронов и др. Ю. Эванс разработал иодидный метод отделения пассивирующей пленки от металла, который основан на том, что раствор + К1 проникает через поры пленки к поверхности металла и растворяет его. Отделенный от металла тонкий пассивирующий слой может быть далее подвергнут электронно-микроскопическому исследованию. [c.382]

    Оптические методы изучения поверхности электродов, находящихся в контакте с раствором, основаны на том, что свойства отраженного от поверхности электрода света зависят От состояния поверхностной электронной плазмы металла, а также от толщины и диэлектрических свойств адсорбционных слоев. [c.181]

    В 1903 г. Р. Зигмонди и Г. Зидентопф предложили оптический метод изучения систем, содержащих частицы коллоидных размеров. По этому методу, называемому ультрамикроскопией, наблюдается свет, рассеянный одиночными частицами. Этот метод можно сравнить с наблюдением за движением отдельных пылинок, попавших в солнечный луч в темном помещении. Схема предложенного Зигмонди и Зидентопфом щелевого микроскопа показана на рис. 67. Свет от дуговой лампы фокусируется линзами в системе, частицы которой рассеивают свет. Чтобы выделить небольшое поле зрения под микроскопом, используется раздвижная щель, позволяющая вводить в изучаемый объект пучок света высотой в несколько микрометров. В ультрамикроскопе Зигмонди и Зидентопфа оптическая ось микроскопа перпендикулярна вводимому в объект лучу света. Э. Коттон и А. Мутон в 1903 г. сконструировали прибор, в котором направление светового луча и оптическая ось микроскопа совпадают. Для обеспечения темного фона в их приборе используется эффект полного внутреннего отражения. [c.162]

    Из оптических методов следует указать ультрамикроскопию пленок н метод исследования эллиптичности поляризации. Для ультрамикроскопических исследований используют кардиоид-ные или параболоидные конденсоры (осветители, устроенные так, что пучок света, освещающий объект, не попадает в поле зрения микроскопа, благодаря полному внутреннему отражению), встроенные в дно кюветы и фокусированные на поверхность воды с нанесенной пленкой. Истинная мономолекулярная пленка не обнаруживает эффекта Тиндаля, Наличие эффекта свидетельствует о существовании части масла в виде мельчайших капелек или же [c.92]

    Оптический метод основан на измерении уступа, образованного краем покрытия с основным металлом, способом светового сечения или растровым способом с помощью оптического микроскопа. Метод применим для измерения толщины покрытия от 1 до 40 мкм с коэффициентом отражения не менее 0,3. Уступ получают растворением небольшого участка покрытия с предварительной изоляцией остальной части поверхности. [c.55]

    Конструкция ячейки 12 такова, что она позволяет после извлечения ее из термостата (по прошествии определенного числа циклов испытаний) и выемки части грунта из нее исследовать изоляцию оптическими методами в отраженном и проходящем свете, не нарушая ее целостности. Для возможности исследования изоляции в проходящем свете в стенке трубы 18 имеются застекленные отверстия 15, 17. В этом случае свет от источника падает на зеркало, установленное в трубе, и, отражаясь от него, проходит сквозь застекленное отверстие в стенке трубы и изоляции. Этот свет воспринимается сверху объективом, а затем окуляром микроскопа. Если проведенные испытания не удовлетворяют исследователя по показателям, полученным без нарушения сплошности покрытия, то после обратной засыпки грунтом трубы с исследуемой изоляцией ячейку вновь устанавливают в термостат и испытания продолжают. [c.39]

    Интерферометрический метод. В этом оптическом методе применен луч монохроматического света, который направлен на границу между покрытием и основным слоем точно таким же образом, как в микроскопическом методе исследования с помощью светового потока. Но вместо измерения отношения отраженного луча микроскоп используется для установления количества интерференционных колец, создаваемых при рассеивании света под действием уступа на границе покрытия. Число колец, умноженное на половину длины волны использованного светового луча, составляет толщину покрытия. [c.140]

    Все более широкое применение для исследования строения межфазной границы твердое тело — среда находят оптические методы. В последние годы быстрое развитие получила эллипсометрия [34]. Изменение эллиптичности отраженного луча весьма чувствительно [c.31]

    Окисные пленки бывают тонкие, средние и толстые. Тонкие пленки имеют толщину от нескольких до 400 А и невидимы невооруженным глазом их можно обнаружить и измерить с помощью оптических методов — интерференционным или методом отражения поляризованного света. [c.13]


    Допускается также производить оценку по изменению массы металлического образца после удаления покрытия и оптическим методом — по изменению блеска металлической поверхности образцов после удаления покрытия. Блеск и его изменения определяют по коэффициенту отражения или визуально — путем сравнения с поверхностью стандартных образцов. [c.99]

    Кроме того, известны оптические методы определения качества распыления, основанные на зависимости преломления, поглощения, отражения и рассеивания капель от их размера при прохождении луча света через капли. [c.80]

    На результаты исследований (спектры), помещенные в приложении 1, в некоторой степени влияет и способ приготовления препарата, выбранный экспериментатором. Не вдаваясь в эту специальную область, следует лишь упомянуть, что солевой состав или металл можно изучать а) в расплавленном виде методом отражения (от поверхности расплава в тигле, см. рис. 1 в приложении I) или пропускания луча через расплав, находящийся в кассете с прозрачными окнами б) таким же способом, но в виде капель, удерживаемых на платиновой сетке в) растворенным в смеси солей, иногда эвтектической, чьи оптические свойства известны г) тем же способом, но в жидком органическом растворителе (сероуглероде, бензине, пиридине) и даже воде д) в виде взвеси порошка в жидкости е) в виде порошка, смешанного с порошком, обладающим известными и удобными оптическими свойствами (например полиэтиленом), и нанесенного на прозрачную пластину ж) в виде порошка, нанесенного на слой парафина з) в виде тонкого слоя, полученного путем испарения летучего растворителя и конденсации на прозрачной пластинке и) в виде тонкого порошка, зажатого между двумя прозрачными пластинками к) в матрице из твердого газа и т. д. [c.82]

    ПО методу отражения график зависимости между количеством вещества в пятне и площадью соответствующего пика, полученный при оптическом сканировании, имеет [c.185]

    Оптические методы. В связи с быстрым развитием ВЭТСХ, которая позволила стандартизировать многие стадии хроматографического процесса и привела к получению воспроизводимых результатов, стало возможным использовать точные количественные методы оценки разделенных веществ на тонкослойных хроматограммах. Этому также способствовали создание и выпуск рядом фирм специальных приборов для количественных определений в ТСХ. Оптические сканирующие методы основаны на измерении исходного излучения, прошедшего через слой сорбента (поглощение), отраженного от него (отражение), сочетании поглощения и отражения, флуоресценции, гашении флуоресценции. Возможно измерение пропускания света с длиной волны только больше 325 нм, так как стекло (подложка) и слой адсорбента поглощают УФ-излучение. Измерение по методу отражения можно проводить по всей области спектра от 196 до 2500 нм (ив области УФ-излучения). [c.370]

    С помощью оптических методов можно контролировать объекты из материалов, прозрачных и полупрозрачных для светового излучения. Если же материал объекта непрозрачен, у такого объекта можно проверять состояние внешних и внутренних поверхностей или размеров. В зависимости от свойств материала контролируемого объекта оптический контроль осуществляется в отраженном, прошедшем или рассеянном излучении, а в необходимых случаях и при комбинированном освещении. Параметры источников света (интенсивность, спектр, направление, поляризация и т. д.) выбирают исходя из конкретных условий, чтобы обеспечить максимальный контраст изображения. Во всех случаях желательно иметь в помещении общее освещение, создающее освещенность не менее 10% от используемого местного освещения. [c.223]

    Оптическим методом исследования поверхности твердых тел является эллипсометрия. На поверхность направляют линейно поляризованный свет определенной длины волны и определяют характер поляризации отраженного света в зависимости от длины волны падающего света. По показателю преломления и коэффициенту поглощения можно судить о химической природе поверхностного слоя твердого тела и определить толщину оксидного или адсорбционного слоя. Электронное состояние поверхности твердого тела можно исследовать и эллипсометрией. [c.42]

    Оптические методы исследования позволяют получать значительный объем информации о структуре молекул растворенного вещества, характере и величине связи их с молекулами растворителя. Под оптическими не обязательно понимаются методы, связанные с использованием электромагнитных волн видимого диапазона (400—700 нм). При взаимодействии электромагнитных волн с веществом в общем случае возможны процессы отражения, поглощения и пропускания. Анализ параметров электромагнитного излучения (интенсивность, степень поляризации, индикатриса рассеяния), провзаимодействовавшего с молекулами растворителя и растворенных веществ, позволяет судить о характере сольватации их молекулами растворителя, средней скорости обмена этих молекул в координационной сфере и т. д. [c.53]

    В последние годы широкое распространение получили различные оптические методы изучения in situ поверхности электродов и электродных процессов. На рис. 1.7 воспроизведена ячейка для измерения отражения методом инфракрасной спектроскопии. Поскольку инфракрасное излучение поглощается раствором, для измерений используется ячейка, в которой слой раствора, проходимый излучением, оказывается очень тонким. Аналогичную задачу можно решить, используя специальные световоды, которые подводят ИК-излучение к поверхности электрода и отраженный сигнал направляют для регистрации и последующего анализа, / [c.12]

    Оптические методы анализа основаны на измерении характе]5истик оптических свойств вещества (испускание, поглощение, рассеивание, отражение, преломление, дифракция, интерференция, поляризация света), проявляющихся при его взаимодействии с элекгромагнитшш излучением. По характеру взаимодействия электромагнитного излуч(шия с веществом оптические методы анализа обычно подразделяют на эмиссионный спектральный, атомно-абсорбционный, молекулярный абсорбционный спектральный (спектрофотометрия, фотоэлектроколориметрия), люминесцентный, нефелометрический, турбодиметрический, рефрактометрический, интерферометрическиг поляриметрический анализ, а также спектральный анализ на основе спектров комбинационного рассеяния (раман-эффект) и некоторые другие методы, также использующие взаимодействие электромагнитного поля с веществом — ядерный магнитный резонанс (ЯМР), электронный парамагнитный резонанс (ЭПР), ядерная гамма-резонансная спектроскопия (эффект Мессбауэра) и т. д. [c.516]

    Оптические методы. Оптический неразрушающий контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектом. Для получения информации используют явления интерференции, дифракции, поляризации, преломления, отражения, рассеивания света, а также изменение характеристик самого объекта исследования в результате эффектов фотовоспроизводимости, люминесценции, фотоупругости и других. К [c.28]

    Оптические методы измерения основаны на использовании таких явлений, как рассеивание, отражение, поглощение света, интерференция и дифракция, наблюдаемых при прохождении луча света через капельный туман. В результате прохождения лучей света через факел распыленной жидкости яркость этих лучей уменьшается 1148—247]. Капли можно рассматривать как непроз- [c.254]

    В этом разделе пособия кратко рассмотрены важнейшие и теоретические вопросы некоторых оптических методов анализа, наиболее широко представленных в аналитической практике и потому нашедших овое отражение в структуре практикутйа по эико-химичеоким методам анализа ва кафедре аналитической химии  [c.6]

    Полуфабрикаты и изделия из материалов, прозрачных или полупрозрачных в инфракрасном диапазоне (гетинакс, текстолит, стеклопластик, германий, кремний, нефтепродукты и т. д.), могут подвергаться контролю в прошедшем или отраженном излучении методами, характерными для оптического диапазона с визуализацией распределения плотности потока теплового излучения (электронно-оптические преобразователи, термовизоры, инфракрасные микроскопы и др.). Такой оперативный контроль обеспечивает хорошую достоверность, поскольку дает оператору информацию в наиболее привычном для него видимом изображении, когда информация воспринимается и анализируется наилучшим образом. Технология проведения контроля в этом случае в значительной степени совпадает с применением оптических методов, излагаемых ниже. [c.210]

    Как преимущественно качественные способы измерения звукового поля могут быть использованы шлирен-оптические методы и эффект фотоупругости (главы 8 и 13). При обеспечении акустического контакта искателя со сталью звуковое поле в стали тоже может быть измерено либо приемником, либо при помощи небольшого отражателя. В качестве приемника в этом случае применяется электродинамический зонд, как это рекомендуется по инструкции Западногерманского общества по неразрушающему контролю [1711]. С его помощью можно бесконтактно измерять звуковое поле на поверхности эталонного образца, причем все же нужно следить за тем, чтобы расстояние между зондом и эталонным образцом было всегда постоянным. Электродинамический зонд часто применяется для опре деления характеристики направленности наклонных искателей. Искатель ставят на плоскую поверхность стального полуцилиндра и настраивают на максимальное отражение от поверхности цилиндра (рис. 10,59). Результаты показаны на рис. 10.60. Угол ввода звука можно измерять с точностью до 0,3°, т. е. гораздо точнее, чем по эталонным образцам № 1 или 2. [c.258]

    Для получения оптического изображения его пространство освещается стробоскопически. При правильном сдвиге фаз между взаимно синхронизированными звуковыми н световыми импульсами центры звукового изображения могут быть сделаны видимыми как светящиеся места на темном фоне пространственного экрана методами шлирен-оптики или при помощи эффекта фотоупругости. Акустическая система линз фокусирует отраженные ультразвуковые импульсы в однозначно определенных местах. Ввиду более высокой чувствительности шлнрен-оптическим методам получения изображения отдается предпочтение несмотря на значительно повышенные затраты. [c.298]

    Так, в приборе Хинтона [13] измерения проводились при очень низком уровне деформаций (5-10 —5-10 ) в области температур от —196 до 400 °С, причем приборное демпфирование, т. е. уровень шумов при измерении tgo не превышало 5-10 . Это достигалось проведением измерений в разреженной атмосфере и подвеской образца на расчалках, установленных в точках минимальных смещений. Интересная особенность этого прибора состоит в использовании оптического метода независимого контроля деформаций по интерференционной картине, возникающей при отражении монохроматического света от колеблющегося торца образца. Метод резонансных колебаний, используемый для определения модуля упругости, сочётался в этом приборе с измерением tg O по затуханию колебаний после снятия возбуждающего напряжения. При этом tg O определялся по числу периодов, за которое сигнал уменьшался от одного фиксированного уровня до другого (подробнее этот метод описан в гл. VHI). [c.157]

    Оптические системы измерений. Оптический метод регистрации колебаний наиболее широко применяется в лабораторной практике. При этом используюся разные источники света (вплоть до лазера), работающие в различных диапазонах длин волн. В простейших схемах отраженный луч света попадает на движущуюся ленту, покрытую светочувствительным слоем, что дает развертку колебаний во времени. Использование бумаги, чувствительной к УФ-свету, позволяет работать в незатем-ненном помещении. Возможность изменения скорости протягивания ленты обеспечивает удобство обработки полученных результатов, особенно если измерения проводятся при различных частотах. Применяется также классический метод развертки во времени с помощью вращающегося зеркала. [c.179]

    Для определения фактической площади контакта в приборе использован оптический метод Мехау, основанный на нарушении полного внутреннего отражения света в местах соприкосновения материала с поверхностью стеклянной призмы [2, 4]. [c.413]

    Из оптических методов измерения шероховатости наибольшее распространение получил интерферометрический метод, также разработанный Линником. Принцип действия микроинтерферометров заключается в том, что луч монохроматического света, отраженный от изучаемой поверхности, складывается с лучом света, отраженным от зеркала, расположенного в фокальной плоскости объектива. В результате этого возникает интерферен-циальная картина, состоящая из отдельных равноотстоящих друг [c.95]

    Большой инт )ес для широкого круга читателей представит обзор Б.Е. Конвея "Специальные методы изучения электродных процессов и электрохимической адсорбции" (глава 5). В электрохимии уже давно ощущается острая потребность в использовании новых физических методов исследования границы раздела фаз, поскольку только они могут позволить перейти от феноменологического описания поверхности на атомно-молекулярный уровень. Соответствующая обзорная литература на русском языке практически отсутствует. Поэтому статья Б.Е. Конвея, содержащая обширную библиографию, приобретает особую ценность. Значительная часть обзора посвящена оптическим методам исследования поверхности электродов. Подробно изложена эллипсомет-рия - от математических основ до приборов и приложений. Далее описан метод электрооиражения и спектроскопия внутреннего отражения в прозрачных электродах. Специальный раздал отведен дифракции рентге новских лучей на поверхности электродов. Описаны методические успехи в исследованиях адсорбции и электродных процессов. Особо рассмотрен радиоизотопный метод и его различные приложения. Кратко обсужден фотоэффект и его использование в исследованиях по электро. химической кинетике. В конце главы дается ряд новейших методов, среди которых отметим накопительную рефлектометрию. [c.6]

    Для изучения поверхностей электродов в последние годы использовались три основных оптических метода эллипсометрия, спектроскопия нарушенного полного внутреннего отражения на поверхностях полупрозрачных пленочных электродов или на поверхностях проводящих стекол или окислов и спектроскопия зеркального отражения. Другие оптические методы основаны на абсорбции в пористых структурах из двуокиси кремния или глинозема с металлическим покрытием (ср. с поверхностью раздела газ - твердое тело [ 38]) с использованием подходящих растворителей, прозрачных для ИК-излучения в определенной области длин волн, а также на оптических исследованиях растворов, находящихся в равновесии с поверхностью, в качестве основы для определения in situ количества вещества, адсорбирующегося на большой поверхности электрода при соответствующем контроле по потенциалу или по току [39, 40]. [c.399]

Смотреть страницы где упоминается термин Оптические методы отражение: [c.130]    [c.189]    [c.711]    [c.113]    [c.558]    [c.242]    [c.368]    [c.495]    [c.50]    [c.96]   
Экспериментальные методы в химии полимеров - часть 2 (1983) -- [ c.153 ]

Экспериментальные методы в химии полимеров Ч.2 (1983) -- [ c.153 ]



ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Исход четвертый отражение . Богатство оптических методов

Методы оптические

Отражения методы



© 2025 chem21.info Реклама на сайте