Призма кристаллографическая

Угол вращения данного раствора определяют с помощью поляриметра. Существенными его частями (рис. XIX. 2) являются поляризаторы 3, 4 и анализатор 6. Поляризатором и анализатором служат призмы Николя (николи), которые лучше всего пропускают свет, поляризованный в плоскости, перпендикулярной плоскости главного сечения призмы (плоскость главного сечения проводят через оптическую ось кристалла и падающий луч оптическая ось— любая ось, параллельная кристаллографической), и не пропускают свет, поляризованный в плоскости главного сечения. [c.249]

Для придания методу универсальности Федорову пришлось доказать на огромном экспериментальном материале, что все кристаллы по своим углам приближаются к кубическому или гексагональному типам, что у них можно выделить зоны, аналогичные призмам тригональной, тетрагональной или гексагональной сингоний, что отклонение от этих идеальных значений у реальных кристаллов низших сингоний встречается тем реже, чем сильнее само отклонение. Это обобщение известно под названием закона кристаллографических пределов, который может быть сформулирован так все кристаллы идеальны или приближаются к идеальным. [c.61]

Задолго до появления рентгеноструктурного анализа и расшифровки структуры кварца при кристаллографических описаниях кристаллов этого минерала были приняты следующие соглашения. Один из основных ромбоэдров, а именно тот, который был сильнее развит на кристаллах, назван большим (или положительным) и ему приписан символ 1011 — R( соответствующей перестановкой индексов по ромбоэдрическому закону). Соответственно другой ромбоэдр назван малым (отрицательным) — 01 И — г. Для описания и кристаллографических расчетов кристаллов кварца применялись две системы координат морфологически правые кристаллы описывались в правой, а левые — в левой системе координат. Положительные концы полярных осей х (хз) выбирались в направлении на то ребро гексагональной призмы, которое не притуплялось гемиэдрическими гранями дипирамиды (и три-гонального трапецоэдра). Отрицательные концы осей х в этом случае переходили через противолежащие ребра гексагональной призмы, притуплявшиеся гемиэдрическими гранями. При такой установке кристалла кварца грани большого и малого ромбоэдров получали указанные выше символы. [c.83]

Как известно, грани положительной тригональной призмы на полярной диаграмме скоростей роста кристалла кварца соответствует седловая точка в сечении хг ей соответствует минимум, тогда как в сечении, перпендикулярном к оси г,— резкий максимум. Это обстоятельство приводит к неустойчивости этой грани. При малейшем отклонении от точной ориентировки, соответствующей кристаллографической плоскости (1120), на ней появляются ступеньки граней других индексов. Обычно образуются ступеньки сингулярных граней гексагональной призмы и граней положительной тригональной дипирамиды < + 5>. По мере нарастания кристалла такие грани образуют паразитные пирамиды На рис. 21 видно образование паразитных пирамид <+5> при наращивании кристаллов по плоскости (1 Г20) в щелочной и фторидной системах соответственно. Хорошо прослеживается укрупнение рельефа по мере роста вследствие слияния более мелких ступенек граней в более крупные. Видно также, что по мере нарастания основной грани <- -л > ступеньки < + 5> во фторидной системе испытывают значительное тангенциальное смещение, тогда как в щелочной системе такого смещения почти не наблюдается, что объясняется различием соотношений скоростей роста граней +х и +5 в указанных двух системах. [c.98]

Так как грани разных кристаллографических форм различаются потенциальным рельефом, то энергия адсорбции одних и тех же частиц на разных гранях имеет различные значения, или, как говорят, адсорбция на гранях разных кристаллографических форм специфична. Так, найдено, что теплота адсорбции молекул воды на гранях пинакоида кристаллов льда равна - 38 кДж/моль, на гранях призмы— 34 кДж/моль. [c.48]

Таким образом, плотность дислокаций зависит от кристаллографического направления. В связи с этим при выращивании монокристаллов лейкосапфира были выявлены три оптимальные кристаллографические ориентации, способствующие росту с минимальной плотностью дислокаций. Одно из них — направление роста перпендикулярно оптической оси. При этом выращивание осуществляется либо в направлении <1120> (первая ориентация), либо вдоль направления <1010> (вторая ориентация). И, наконец, третья ориентация — направление, параллельное оптической оси <0001>. Как показал опыт, каждой кристаллографической ориентации характерны свои специфические условия выращивания. На рис. 48 для второй ориентации представлено распределение дислокаций по длине монокристалла в двух кристаллографических плоскостях (1120) и (0001). Плотность дислокаций на плоскости (ООО 1) явно ниже по сравнению с затравочным монокристаллом. Дислокации, находящиеся в плоскости призмы, перпендикулярны к направлению роста и поэтому не наследуются. Согласно рис. 49, с увеличением осевого градиента температуры плотность дислокаций возрастает, причем наблюдается общая закономерность (независимо от величины осевого градиента температуры) плотность дислокаций вначале резко падает, а затем растет. На этот рост существенное влияние могут оказывать примеси при К < 1 они, оттесняясь к концу кристаллизации, способствуют увеличению плотности дислокаций. [c.69]

Перейдем к описанию способа изготовления пластинок, предназначенных для получения отражений от плоскостей ромбоэдра (1011) и от плоскостей (1340). Если кристалл имеет хорошо выраженную головку с гранями ромбоэдров, которые в большинстве случаев бывают правильно развиты на кристалле, то эти грани могут быть использованы как опорные. Они пригодны для непосредственного использования их в качестве исходных при вырезании кварцевых пластинок. Грань (1340)составляет угол 13° 54 с кристаллографической гранью (ЮТО). Для получения грани (1340) необходимо заготовить ориентированную по двум плоскостям пластину (см. рис. 27, б). На ней от плоскости (1010) в сторону смежной с ней призмы отсчитывают угол в 166° 6 [c.85]

Манганит по рентгенометрическим исследованиям — моноклинной сингонии, по кристаллографическим данным — ромбической сингонии формы базопинакоид с 001 , призмы ромбические т ПО , и 101 облик призматический (S). [c.282]

Хорошо известно, что некоторые кристаллы обладают свойством сохранять остаточную деформацию без видимого нарушения их целостности. Так, нанример, каменная соль иод действием тепла или при медленном увеличении нагрузки становится пластичной, как воск. Несмотря на многочисленные кристаллографические исследования природы таких деформаций, по-прежнему остается невыясненным вопрос о том, каким образом структура кристалла может оставаться деформированной после снятия нагрузки, когда на него не действуют внешние силы. Исследование кристалла с применением двух скрещенных призм Николя показывает, что в нем отсутствуют большие внутренние напряжения, которые могли бы объяснить остаточную деформацию. Предположение о том, что в кристалле может происходить относительный сдвиг отдельных слоев вдоль плоскости ромбического додекаэдра (так, чтобы сохранялась регулярность кристаллической решетки), оказалось непригодным. Это было доказано с помощью того факта, что кристаллы каменной соли при изгибе ломаются не вдоль плоскостей, а по кривым поверхностям, которые не выравниваются после продолжительного отжига. [c.150]

Однако пьезоэлектрический метод связан с определенным кристаллом и определенной его кристаллографической ориентацией. Кроме того, этот метод заключает в себе гипотезу, хотя не лишенную смысла, но и не лишен-ную возражений. Поэтому я перешел к более общему методу, позволяющему большую точность. Я измерял изгиб пластинки, опирающейся на две призмы. Для того чтобы исключить влияние смещения ребер призм, поддерживающих пластинку, и деформации всего прибора, я исследовал изменение расстояния между серединой прогнутой пластинки и стеклянной пластинкой, опирающейся посредством трех винтов на кварцевую пластинку. Установка показана на рис. 2. [c.235]

Три направления ребер основания гексагональной или тригональной призмы (основа — равносторонний треугольник) выбираем как направления кристаллографических осей и обозначаем соответственно через Хи Хг, Хз (см. рис. 2.4, ж и 2.6). Положительные концы этих осей образуют между собой углы 120° (у = 120°). Направление, перпендикулярное к плоскости осей Хи Хг, Хз, совпадающее с направлением перпендикулярного ребра гексагональной призмы, выбираем за кристаллографическую ось 2 (а = р==90°). Единичная грань в этих кр сталлах отсекает одинаковые отрезки на осях Х, и Хг и отличный от них отрезок на оси [c.37]

Для пояснения представим кристалл в виде пространственной решетки (рис, 1, а), в узлах которой лежат его структурные элементы (молекулы, атомы, ионы). Изображенный на рисунке кристалл принадлежит по кристаллографической классификации к ромбической системе. Оси кристаллов такого типа пересекаются под углами а. =- Р = = 7 — 90° длины их АВ, СД и ЕР относятся как а в с, причем а =/= в =/= с. На рис. 1, б представлена грань, лежащая в основании кристалла (ромбической призмы), на рис. 1,6 — боковая грань с показом расположения ега структурных элементов в узлах плоских решеток, из которых слагается пространственная решетка. По трем взаимно перпендикулярным направлениям расстояния между плос кими решетками различны и относятся как а, в .с. Однако [c.3]

На рис. 31.5 показаны некоторые типичные грани кристаллических призм в проекции на двумерную прямоугольную решетку. Все эти разнообразные формы, весьма характерные для поперечных сечений ромбических кристаллов в форме призм, образованы гранями, ни один из индексов которых не превышает единицы. Обратите внимание на различные формы кристаллов в, г и ж, хотя все они построены из идентичных граней. Подобные различия в протяженности граней у реальных кристаллов могли бы навести на мысль, что эти кристаллы относятся к различным кристаллографическим классам. Однако такие изменения формы кристаллов одинаковой структуры часто бывают вызваны различными методами их выращивания. Из полностью обозначенного набора граней кристалла обычно можно установить точечную симметрию этого кристалла, определить углы решетки и отношение осей элементарной ячейки. Отношение осей, определенное из морфологических исследований, часто бывает вполне точным, особенно для некоторых хорошо образованных кристаллов природных минералов. [c.20]

Рис. 3. Схема расположения катионов в цеолите типа фожазита по кристаллографическим позициям (а) и модель содалитовой ячейки с примыкающими к ней гексагональными призмами (б).

Для того чтобы объяснить накопленный экспериментальный материал о местах локализации и причинах миграции ионов марганца под влиянием процессов дегидратации и регидратации поликатионных форм фожазита, использованы [344] принцип построения ионных структур Полинга [53] и известные положения о строении водных растворов электролитов [245]. Наличие в позициях 5/ значительного отрицательного заряда служит причиной миграции в них компенсирующих катионов. Позиции 5/ предпочтительно занимают те ионы, радиус которых соизмерим с размером гексагональных призм. При равных кристаллографических размерах позиции 5/ предпочтительно будут занимать не одно-, а двухзарядные катионы, которые обеспечивают минимальную электростатическую потенциальную энергию системы. Примером слишком большого катиона является ион цезия, который, как известно [353, 362, 375 идр.], ни при каких условиях не проникает в места 5/. Оптимальными в указанном смысле размерами обладают ионы калия и бария. Наличие отрицательного эффекта гидратации [316] способствует тому, что в процессе ионного обмена ионы калия практически полностью вытесняют ионы натрия из всех кристаллографических позиций. Радиусы катионов щелочных и щелочноземельных металлов приведены в табл. 32, ионный радиус Мп2+ составляет 0,8 А [81]. [c.141]

Таким образом, упорядоченный блок структуры имеет в центре кристаллографическую ось 63 и представляет собой тригональную призму с (№, М )-0-октаэдрами в вершинах. Из вышесказанного следует, что существует очень сильное связывание внутри призм в 2-направлении (N1, Mg)-0-oктaэдpы связаны друг с другом через общие ребра карбонатная СОз-группа связывает два октаэдра вдоль 2 два тетраэдрически координированных атома ртути связывают соседние (вдоль оси г) карбонатные группы наконец, тригональ-но-призматические блоки связаны через общие ребра (колонки из октаэдров) вдоль 2. В результате образуется очень жесткий трубчатый каркас с крупными гексагональными туннелями (с1 = 13,6А) (рис.7). На основании этого минерал шиманскиит можно считать несиликатным цеолитом. [c.24]

В довольно сложной структуре Б-МаОз существует три типа кристаллографически неэквивалентных ионов металла, часть с КЧ 6 (октаэдр), а остальные с КЧ 7 (одношапочная тригональная призма). У последних седьмой ион кислорода значительно более удален от иона металла по сравнению с остальными шестью, находящимися в вершинах призмы (например, в Sm203 шесть кислородов характеризуются средним расстоянием 2,39А, а седьмой 2,73 А). На основании различия в плотности соеди- [c.254]

L-A скорбиновая кислота (I) представляет собой бесцветные призмы моноклиническсй системы, без запаха, с т. пл. 192° С (с разл.) она имеет [а 1л + 23 (1,69 , HgO) и 1а + 48° (0,85%, СНзОН)-Молекула L-аскорбиновой кислоты имеет плоскую конфигурацию, однако атом С(5) находится вне этой плоскости, что доказано кристаллографическими и другими измерениями [2, 3]. L-Аскорбиновая кислота хорошо растворима в воде, значительно хуже — в спирте [4], что видно из данных табл. 2. [c.20]

К моноклинной сингонии принадлежат следующие точечные группы симметрии ЬгРС, /,2 и Р. Одно из единичных направлений совпадает с Ьо или располагается по нормали к Р другим является любая линия, перпендикулярная к нему. Таким образом, единичные направления условно можно записать так одно-Ь множество . При установке координатными осями считаются единичные направления. Одно из них рассматривается как ось у. Два ребра, расположенных в плоскости, перпендикулярной к этой оси, принимают за оси х и г. Необходимо, чтобы на наблюдателя был обращен тупой угол р, тогда геометрические константы примут значения ао = Ьоф < о, Р Ф а, = 7 = 90° р > 90°. Численные значения кристаллографических констант а с и угол р. Наиболее обычные формы пинакоиды и ромбические призмы. Структуры минералов примерно такие же, как и у минералов ромбической сингонии. [c.58]

В сланцеватых породах концентрация микропор линейная, она значительно больше по сланцеватости, вследствие чего поток вещества к растущему кристаллу принимает плоскопараллельную форму. Установлена зависимость облика порфиробла- стов пирита от ориентировки их кристаллографических направлений к плоскости сланцеватости. Если [001] минерала перпендикулярно сланцеватости, то порфиробласт вырастает уплощенным параллельно ей. Если к сланцеватости перпендикулярно [ПО], то порфиробласт получает форму псевдотетра-гональной призмы, длинная ось которой параллельна сланцеватости. Когда к сланцеватости перпендикулярно [111] пирита, порфиробласт приобретает облик, близкий к кубическому (рис. 22). Сланцеватые породы как анизотропная среда имеют симметрию цилиндра, и во внешней форме порфиробластов этих пород сохраняются, по мнению И. И. Шафрановского, только элементы симметрии, которые являются общими и для среды, и для порфиробласта. В породах изотропных (например, березитах) облик порфиробластов пирита изометрический. [c.63]

Манганит. По рентгенометрическим исследованиям он относится к моноклинной сингонии, а по кристаллографическим данным — к ромбической. Это пример гиперморфии — проявления более высокой морфологической симметрии по сравнению с рентгеновской. Формы базопинакоид с 001 , призмы ромбические т 110 и ы 101 . Облик кристаллов призматический (S). [c.180]

Пироксены — многочисленная группа породообразующих минералов. Кристаллизуется в ромбической и моноклинных сингониях ромбические и моноклинные пироксены кристаллографически отличаются незначительно. На рис. 71 приведены кристаллы моноклинной сингонии ЬгРС. Формы пинакоиды — первый а ЮО и второй й 010 , призмы ромбические /п 110 , 111 и s lll . Облик кристаллов призматический (/), иногда псевдотетрагональный (2). Двойники (< ) образованы по авги-товому закону плоскость срастания и двойниковая плоскость (100) двойниковая ось перпендикулярна к (100) или (001). Кристаллы эгирина плоскопризматические, удлинены по [001] и сдавлены по [100], почти всегда представляют собой двойники по авгитовому закону. Спайность у авгита совершенная по ПО , угол спайности (4) около 90° (отклоняется от пря- [c.187]

Ограненные (кристаллографические) прггтинги и питтинги неправильной формы (анизотропно растущие в различно ориентированных зернах металла), как правило, являются травлеными. Они обнаружены на железе, углеродистых, низколегированных и нержавеющих сталях, никеле, алюминии, цинке, хроме. Форма кристаллографических питтингов соответствует правильным пирамидам, призмам, и сложным многогранникам, как правило, ограниченным низкоиндексными плоскостями кристаллической решетки, а тип огранки определяется пустотами кристаллической решетки, образовавшимися на начальных стадиях зарождения питтингов. [c.124]

Четкий сигнал ЭПР со сверхтонкой структурой, наблюдающийся при комнатной температуре, возникает при локализации ионов марганца в центре гексагональных призм [80, 87, 349, 442] —в кристаллографических позициях с достаточно высокой симметрией окружения. Следовательно, в процессе ионного обмена в случае магний-и барийзамещенных форм ионы марганца занимают кристаллографические позиции 5 . При введении ионов Мп-+ в литий- и калий-ионообменные формы в обмене принимают участие нелокализованные, находящиеся в больших полостях, доступные для молекул воды катионы. [c.139]

При электролизе растворов, содержащих ионы металла, на катоде выделяется новая твердая металлическая фаза. Твердые металлы представляют собой кристаллические тела, построенные из одинаковых элементарных ячеек, в узлах которых находятся частично ионизированные атомы. Такие атомы, располагаясь в определенном порядке, образуют пространственную решетку соответствующей кристаллографической системы. На рис. 34 показаны основные типы кристаллических решеток металлов. Как видно из рисунка, в простой кубической решетке атомы находятся в вершинах куба, в объемноцентрнрованной — в вершинах и в центре куба, в гранецентрированной атомы занимают места в вершинах и в центрах граней. В гексагональной решетке атомы расположены в углах шестигранной призмы. [c.140]

Ка уже упоминалось, кристаллы, имеющие комбинационные формы, встречаются часто. Простейшие формы любой кристаллографической системы — призма и пирамида. Куб, например, представляет собой призматическую форму правильной системы, а октаэдр — пирамидальную форму. Некоторые сочетания этих двух форм были показаны на рис. 6. Две простые комбинационные формы в тетрагональной системе показаны на рис. 10. На рис. 10,а и б показаны тетрагональные призма и бипирамида соответственно на 1рис. 10,е — тетрагональная призма, ограничиваю- [c.25]

Алюминат кальция впервые был получен Тороповым [6], затем обнаружен в электрокорунде Филоненко [4] и ею же изучен [121. Химический состав алюмината кальция или, иначе, гексаалюмината извести отвечает формуле СаО-бАЬОз (8,4% СаО 91,в% АЬОз). Кристаллизуется он в гексагональной системе, выделяется из расплава в виде шестиугольных пластинок, кристаллографически представляющих собой комбинацию базопинакоида с бипирамидой и реже — призмой. [c.222]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология