Микроскоп схема

Потенциально большими возможностями для исследования гетерогенных пятнистых поверхностей обладает также метод отражения электронов, в котором используется отражательный электронный микроскоп. Схема эксперимента показана на рис. 9. Потенциал изучаемой поверхности подбирается таким образом, [c.121]

Помимо электронографии, волновые свойства электронов (III 4 доп, 10) были использованы для конструирования электронных микроскопов. Схема простейшего прибора такого типа (электронного проектора) показана иа рис. ХП-31 в находящемся под высоким вакуумом стеклянном сосуде, на полушаровую часть которого нанесен экран из люминофора (А), располагаются кольцевой анод (б) и [c.296]

Рассмотрим, как с помощью метода электронной дифракции определяется структура тонких образцов в электронном микроскопе. Схема эксперимента представлена на рис. 14.13. [c.429]

К методу фазового контраста близок принцип действия интерференционного микроскопа, схему которого для прозрачных объектов составил в 1932 г. А. А. Лебедев. В этом микроскопе свет сначала делится на два пучка, а затем они воссоединяются. Каждый пучок света после разделения имеет свой путь. Один из них проходит через объект, а другой — мимо него. Луч, проходя через объект, испытывает фазовый сдвиг, который можно измерить. Так как величина фазового сдвига связана с плотностью структуры, то таким образом можно определить содержание сухого вещества в клеточных структурах. [c.44]

Рис. V. I. Принципиальная схема хода лучей а световом (а) и электронном (б) микроскопах

Принципиальная схема светового микроскопа представлена на рис. V. 1 а. Обычный микроскоп представляет собой двухступенчатый оптический увеличитель. В нем имеется система линз, называемая объективом 4, которая проектирует увеличенное изображение объекта S. Это промежуточное изображение 5 увеличивается другой системой линз — окуляром 6, через который ведет наблюдение исследователь. Объектив и окуляр помещены в тубусе микроскопа на одной оптической осн. Для устранения нежелательных дифракционных эффектов и обеспечения должной разрешающей способности предназначена система линз конденсора 2, благодаря которому пучок света от лампы / концентрируется в плоскости исследуемого объекта. Конечное изображение 7 регистрируется на фотопластинку 8. [c.248]

Схема распределения связующего, по данным исследований в световом и электронном микроскопе, показана на рис. 2-49. На поверхность частичек кокса выходят поры, избирательно сорбирующие низкомолекулярную часть связующего (в основном 7-фракцию). Избирательная сорбция связующего в зависимости от природы поверхности частичек усиливается при смешении и вальцевании смесей. [c.138]

ЭКК на ртути в растворе электролита измеряют на установке (рис. 44,а), состоящей из капиллярного электрометра, измерительной схемы и горизонтального микроскопа (катетометра). [c.71]

Рис. 11,5. Схема хода лучей в обычном микроскопе (а) и щелевом ультрамикроскопе (б)

Рис. II, 8. Схема хода лучей в электронном микроскопе

Рис. 56. Принципиальная схема люминесцентного микроскопа

Ультразвуковой микроскоп. В ультразвуковом микроскопе в качестве излучения используются ультразвуковые волны. Это позволяет наблюдать мельчайшие предметы и неоднородности в любой упругой среде, проницаемой для ультразвуковых волн (прозрачной и непрозрачной для света). Разрешающая способность микроскопа определяется длиной волны ультразвука и равна 10— 15 мкм. Принципиальная схема ультразвукового микроскопа приведена на рис. 57. [c.126]

Рис. 57. Принципиальная схема получения видимого изображения в ультразвуковом микроскопе

Рис. 60. Принципиальная схема растрового электронного микроскопа

Принципиальная схема растрового (сканирующего) электрон-ного микроскопа (РЭМ) показана на рис. 60. Пучок электронов [c.149]

Наиболее распространены просвечивающие электронные микроскопы. В них исследуемый объект просвечивают пучком электронов, создающим соответствующее изображение на экране или фотопластинке (рис. 24.3). У этих микроскопов наибольшая разрешающая способность, и с их помощью можно исследовать самые разнообразные объекты. Несмотря на внешнее сходство оптических схем, принцип получения изображения электронного микроскопа отличается от светового микроскопа. В последнем объект [c.394]

В 1903 г. Р. Зигмонди и Г. Зидентопф предложили оптический метод изучения систем, содержащих частицы коллоидных размеров. По этому методу, называемому ультрамикроскопией, наблюдается свет, рассеянный одиночными частицами. Этот метод можно сравнить с наблюдением за движением отдельных пылинок, попавших в солнечный луч в темном помещении. Схема предложенного Зигмонди и Зидентопфом щелевого микроскопа показана на рис. 67. Свет от дуговой лампы фокусируется линзами в системе, частицы которой рассеивают свет. Чтобы выделить небольшое поле зрения под микроскопом, используется раздвижная щель, позволяющая вводить в изучаемый объект пучок света высотой в несколько микрометров. В ультрамикроскопе Зигмонди и Зидентопфа оптическая ось микроскопа перпендикулярна вводимому в объект лучу света. Э. Коттон и А. Мутон в 1903 г. сконструировали прибор, в котором направление светового луча и оптическая ось микроскопа совпадают. Для обеспечения темного фона в их приборе используется эффект полного внутреннего отражения. [c.162]

Оптическая схема катетометра состоит из зрительной трубы и отсчетного микроскопа с осветительной системой (рнс. 180). Изображение штрихов милли- [c.423]

На рис. 56 показаны схемы структур твердых сплавов под микроскопом. Рис. 56, а отвечает случаю выделения кристаллов А, сцементированных эвтектикой структура эвтектики показана на рис. 56, б. [c.182]

Возможности для изучения коллоидных систем и высокомолекулярных веществ значительно выросли с изобретением электронного микроскопа. На рис. 104 даны общий вид и оптическая схема отечественного электронного микроскопа ЭМ-5. [c.319]

Электронные микроскопы по электронно-оптическим системам разделяются на электростатические и электромагнитные. Принципиальная оптическая схема электронных микроскопов аналогична схемам световых микроскопов с той лишь разницей, что оптические-элементы последних заменены электрическими элементами. Источником электронов является электронная пушка, состоящая из като- [c.319]

Рис. 104. Электронный микроскоп а — общий вид б — схема

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ - метод исследования топкой структуры вещества в интервале размеров 10 —10 см, основанный на примененнн электронного микроскопа. Наибольшее значение плюет просвечивающий электронный микроскоп, схема к-рого подобна схеме светового микроскопа (см. рис.). [c.477]

Благодаря том>, что группа белков, синтезируемых в ацинарных клетках поджелудочной железы, предназначена для секреции, мы можем судить о пути их передвижения от места синтеза к месту высвобождения. Этот путь можно проследить, сочетая ралиоавтографию с электронной микроскопией. Схема соответствующего эксперимента представлена на рис. 8-5. Если клетки кратковременно проинкубировать с [ Н]-аминокислотами (импульсное мечение), а затем различное время выращивать в нерадиоактивной среде, то новосинтезированные белки в первую [c.10]

Измерение скорости электрофореза выполняли в специально сконструированной кювете, схема которой дана на рис. 12.1. Рабочую стеклянную кювету 1 в виде прямоугольного парал-лепипеда с открытыми торцами длиной 20 мм и поперечным сечением 20x0,8 мм помещали между двумя сосудами 2 также прямоугольного сечения, изготовленными из оргстекда. Толщина стенок измерительной ячейки составляла 0,2 мм, что обеспечивало надежную визуализацию микрообъектов при работе с темнопольным микроскопом. Боковые емкости 2 в месте их сочленения с кюветой имели ряд отверстий диаметром 0,5 мм эти емкости прочно закреплялись на основании 3, в котором было высверлено отверстие для вхождения темнопольного объектива 4. Б нижнюю часть емкостей 2 помещали гель агар-агара 5, приготовленный на 1 н. растворе КС1 сверху заливали 0,1 и. раствор USO4 (б) и помещали медные электроды 7. Такая установка удобна в обращении в ней обеспечена герметичность сочленения боковых емкостей с измерительной камерой и возможность тщательной очистки последней после проведения исследований. На основании данных о подвижности частиц дисперсной фазы вычисляли -потенциал по формуле Гельмгольца — Смолуховского без учета поправки на поверхностную проводимость [59]. [c.202]

Эффективным средством идентификации параметров и автоматизированного построения моделей пористых сред являются вычислительные комплексы, оснащенные средствами автоматического анализа изображения (ААИ). Принципиальная схема одного из таких вычислительных комплексов показана на рис. 3.3. При помощи передающего телевизионного сканирующего устройства изображение объекта может быть введено в цветном или чернобелом варианте непосредственно с плоскости наблюдения во всех ее видах, т. е., например, с фокальной плоскости окуляра оптического микроскопа, с экрана электронного микроскопа, с экрана телевизора, а также фотографических репродукций и др. Соответственно в схему ААИ может быть включен оптический микроскоп, электронный микроскоп (просвечивающий, эмиссионный или растровый), приемное телевизионное устройство, эпидиаскоп и т. п. Скорость работы современных ААИ более чем на 5 порядков превышает скорость работы человеческого глаза при значительно более высокой чувствительности (свыше 200 точек на [c.125]

Ю. и. Дытнерским, Н. С. Орловым, Н. С. Снегиревой проведено сравнение результатов исследования ядерных мембран гидродинамическим методом, объединяющим пузырьковый метод и метод продавливания растворителя, и методом растровой электронной микроскопии. Принципиальная схема установки для определения параметров пористой [c.102]

Рис. 318. Схема микропечи для нагрева образцов при наблюдении окисления. под микроскопом

При определении гранулометрического состава загрязнений в масле методом фильтрования применяют беззольные бумажные фильтры Синяя лента или нит-ратцеллюлозные мембранные фильтры № 4. В первом случае пробу масла пропускают через фильтр в вакууме, фильтр просматривают под микроскопом в отраженном свете, а поля зрения выбирают, как правило, по схеме, изображенной на рис. 1,в. Из-за довольно большого размера пор у фильтров точность этого метода невелика. Как и при определении массы загрязнений, более точным является второй метод — с применением мембранных фильтров, имеющих размер пор 1—2 мкм. В этом случае пробы под микроскопом можно рассматривать как в отраженном, так и в проходящем свете, для чего фильтры соответственно закрашивают чернилами (до фильтрования) или осветляют репейным маслом (после фильтрования). При фильтровании масло проходит через воронку самотеком. Аналогичные мембранные филы1ры с порами размером от 0,5 до 12 мкм используют в США, причем для удобства измерения на фильтры наносят координатную сетку с расстоянием между линиями 3,1 мкм. [c.32]

Можно получать как одноступенчатые, так и двухступенчатые реплики. В первом случае реплику получают путем отложения материала непосредственно на образец, во втором — на, поверхность образца наносят пластический материал для предварительного отпечатка, воспроизводящего рельеф затем реплику сниыаюг с поверхности этого отпечатка и исследуют в микроскопе. Повышения контрастности реплики добиваются оттенением (отложение на объективе слоя материала с высокой рассеивающей способностью для электронов). Оттеняющий слой наносят под небольшим углом испарением материала в вакууме. Высокой контрастности достигаюг при использовании урана, вольфра(11а, золота, платины и других веществ. Иногда для оттенения применяют углерод. На рис. 136 дана схема двух основных способов получения углеродных реплик. На рис., 137 показана последовательность операций и возникновение изображения на экране при получении реплик с объектов, образованных контактирующими сферическими частицами. Это часто имеет место при исследовании кага лизаторов и носителей глобулярного строения [78]. [c.309]

Наиболее простым является щелевой ультрамикроскоп, схема которого иредставлеиа на рис. V. 3. В более совершенных приборах используются специальные присиособления для освещения объектов исследования. Нанример, вместо щелей, которые недостаточно используют источник света и направляют его лучи на объект только с одной стороны (благодаря чему искажается форма частицы), широкое ирименение иашли конденсоры темного поля, устанавливаемые в простом микроскопе вместо обычных конденсоров. [c.258]

Исследован механизм изнашивания углеродных материалов на основе графита и политетрафторэтилена при трении без смазки по модифиш<рованным металлическим поверхностям. Углеродные материалы были разработаны на полимер - олигомерных матрицах и содержали армирующие компоненты и смазки. Для модифицирования поверхностей трения применяли механические, химические и физико-химические методы создания заданных параметров микрорельефа и поверхностной активности. Триботехнические исследования проводили на машине трения типа УМТ по схеме вал-частичный вкладыш при нагрузке до Ю МПа и скорости скольжения до I м/с. Анализ фазового состава и строения поверхностей трения осуществляли методами растровой электронной и атомной силовой микроскопии. Газоабразивная обработка поверхностей трения приводит к формированию специфического рельефа с высотой микронеровиости 1-3 мкм. Химическое фосфатирование образцов из стали 45 образует мелкозернистую пленку фосфатов марганца и железа с размерами единичных фрагментов до 10 мкм. Обработка поверхности трения разбавленными растворами фторсодержащих олигомеров с формулой Rf-R , где Rf. фторсодержащий радикал, Rj - концевая фуппа( -ОН, -NH2, -СООН) вызывает заполнение микронеровностей рельефа и выглаживания поверхностей. [c.199]

Наиболее распространенным прибором для определения адсорбции газов статическим методом является прибор, получивший название весов Мак-Бэна. Схема прибора изображена на рис. 34. В стеклянной гильзе 2 на кварцевой пружине 3 подвешивают чашечку 4, в которую помещают предварительно взвешенное количество испытуемого адсорбента. Эту часть гильзы помещают в термостат, который не должен препятствовать наблюдению за поведением пружины. При впуске посредством кранов 5 и 6 газа или пара в гильзу масса адсорбента увеличивается пропорционально количеству поглощенного газа, вследствие чего кварцевая пружинка растягивается. Если пружинка предварительно прокалибрована по разновесам, то по ее удлинению, измеряемому катетометром или измерительным микроскопом, можно судить о привесе адсорбента и, следовательно, рассчитать удельную адсорбцию газа. Равновесное давление газа, если оно составляет доли миллиметра ртутного столба, измеряют манометром Мак-Леода (на рисунке не изображен) или же [c.112]

Измерения показали, что значения pH зависят от расстояния между исследуемым и индикаторным электродами, плотности тока, температуры и рНо. Расстояния измеряют либо с помошьн микроскопа, либо микрометра, к винту которого крепят индикаторный электрод (схема установки и кривые, полученные при электролизе 2,5 М раствора N1012, приведены на рис. ХХУ. 15). Аналогичный вид имеют зависимости, полученные и при применении микросурьмяного электрода. [c.308]

Журков с сотрудниками предлагают две схемы строения ориен-тированных аморфно-кристаллических полимеров (рис. VI. 11, VI. 12) [16]. Модель, представленная на рис. VI. 1, лучше соответствует электронномикроскопическим данным. Методом электронной микроскопии сравнительно хорошо наблюдаются длинные фибриллы с поперечными размерами порядка десятков нанометров, внутреннее же строение фибрилл, т. е. большие периоды, просматриваются плохо. Другая модель (рис. VI. 12) ближе к рентге-нографическим данным. Метод малоуглового рентгеновского рассеяния хорошо регистрирует чередование вдоль оси ориентации [c.199]

Суспензии и эмульсии с размером частиц в интервале 1 — 200 мкм изучаются простыми методами седиментации в так называемых седиментометрах. На рис. 89 показана схема седиментометра Фигуровского. В этом приборе к упругому стеклянному (или кварцевому) стержню 3 прикреплена на стеклянной нити 2 чашечка 1, на которой по мере оседания накапливается осадок суспензии. С помощью микроскопа по специальной шкале измеряется прогиб плеча 3. В процессе оседания частиц дисперсной фазы прогиб плеча вначале увеличивается быстро, затем Рис. 89. Седиментометр Фи-все медленнее и так до полного оседания. гуровского [c.309]

Для исследования кинетики коагуляции Б. В. Дерягиным и Н. М. Кудрявцевой был применен поточный ультрамикроскоп (по схеме, близкой к поточному ультрамикроскопу для аэрозолей Б. В. Дерягина и Г. Я. Власенко). С помощью поточного ультрамикроскопа можно определять за 2—3 мин численную концентрацию гидрозолей В1 лоть до 10 —10" частиц в 1 см другие способы счета частиц не позволяют измерять концентрацию больше 10 —10 чабтиц в 1 см При применении достаточно концентрированных золей с помощью поточного микроскопа можно наблюдать не только быструю, но и медленную коагуляцию, отвечающую малым значениям коэффициента е, не затрачивая для этого чрез ерно много времени. [c.267]

Взаимодействие света с веществом зависит от соотношения длины волны света и размеров частиц, на которые падает световой поток. Это взаимодействие происходит по законам геометрической оптики (отражение, преломление), если размеры объекта больше длины волны света. Если размеры частиц меньше половины длины волны света, то происходит рассеивание света в результате его дифракции. Область видимого света характеризуется длиной волн от 760 до 400 нм. Поэтому в молекулярных и коллоидных системах видимый свет рассеивается, а в проходящем свете эти растворы прозрачны. Наибо.льшей интенсивности рассеивание света достигает в коллоидных системах, для которых светорассеяние является характерной качественной особенностью. Обнаружение в растворе пути луча источника света при рассматривании раствора перпендикулярно к направлению этого луча позволяет отличить коллоидный раствор от истинного. На этом же принципе основано устройство ультрамикроскопа, в котором наблюдения проводят, в отличие от обычного микроскопа, перпендикулярно направлению проходящего через объект света. Схема поточного ультрамикроскопа Б. В. Дерягина и Г. Я. Власенко приведена на Рис. 10.6. Схема поточного ультрами-рис. 10.6. с помощью этого прибора кроскопа В. В. Дерягина и Г. Я. Вла-определяют концентрацию дисперс- сенко 1 — кювета 2 — источник света ных частиц в аэрозолях и коллоид- 3 — линза 4 — тубус микроскопа, ных растворах. [c.297]

Оптическая схема электронного микроскопа близка к схеме обычного светового. Катод, представляющий собой вольфрамовую проволоку, при накаливании испускает электроны. В результате разности потенциалов между катодом и анодом, равной нескольким десяткам киловольт, электроны со значительной скоростью движутся к аноду и проходят через отверстие б магнитную линзу. Линза фокусирует пучок электронов в плоскости объекта. Электроны, прошедшие сквозь объект, попадают во вторую магнитную линзу, которая создает в плоскости увеличенное изображение объекта. Чтобы сделать это электронное изображение видимым, в данной плоскости устанавливают флюоресцирующий экран. Получаемое видимое изображение объекта называют промеи<уточным. Часть электронов, несущих определенную часть общего изображения, проходит через отверстие в центре экрана и при помощи третьей магнитной линзы фокусируется в увеличенном виде в плоскости. В плоскости конечного изображения также имеется флюоресцирующий экран, превращающий электронное изображение в световое. Под флюоресцирующим экраном помещается кассета с обычной фотографической пластинкой, которую можно заэкспонировать. [c.131]

Возможность обнаруж,ения отдельных частиц зависит от контраста объекта относительно фона. Так, например, при дневном освещении мы не сможем невооруженным глазом видеть зажженную спичку на расстоянии 500 м. Однако ночью на темном фоне зажженная спичка будет четко видна как светящаяся точка. Именно на этом основано применение ультрамикроскопа, с помощью которого можно видеть частицы с линейными размерами 10—300 нм в виде светящихся точек. Ультрамикроскоп представляет собой обычный оптический микроскоп с высокой разрешающей способностью. Различие заключается в том, что коллоидный раствор или другую дисперсную систему рассматривают при боковом освещении на темном фоне. Луч света, который проходит через систему, не попадает непосредственно в глаз наблюдателя. Только отдельные коллоидные частички благодаря светорассеянию становятся видимыми как отдельные светлые точки на темном фоне. Схема ультрамикроскопа представлена на рисунке 98. С помощью мощного источника света и системы линз создают узкий пучок света, который проходит через коллоидный раствор. Для того чтобы в поле микроскопа можно было различать отдельные частички, концентрация их долл на быть незначительной, в противном случае свет, исходящий от отдельных частиц, со.тьется в сплошную светлую полосу. [c.393]

Электронооптический анализ основан на волновых свойствах электронов и делится на микроскопический, проводимый в электронном микроскопе, и дифракционный, изучающий атомно-кристаллическое строение вещества в электронографе или электронном микроскопе. В наиболее распространенных электронографах типа ЭГ-100 и электронных микроскопах типа ЭМВ-100 применяют электрические поля с ускоряющим напряжением У= = 40- 100 кВ. На рис. 45 показана принципиальная оптическая схема электронографа. В соответствии с уравнением де Бройля длина волны движущегося электрона определяется ПО уравнению [c.101]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология