Сканирующая электронная спектроскопия

Проводились сравнительные исследования в направлении повышения селективности и увеличения стабильности электродных систем на основе оксидов титана, рутения, марганца с применением современных методов исследования SEM, СТМ, РФА и др. Проведено изучение формирования селективных систем на подложках из оксидов рутения, титана, олова. При формировании селективных к реакции выделения кислорода электродов на основе комбинированной гальвано-пиролитической технологии в активное покрытие кроме основного компонента - диоксида марганца введены оксиды кобальта, что позволило увеличить селективность на 1% и повысить стабильность анода при электролизе разбавленных хлоридных растворов. На наноуровне методом сканирующей электронной спектроскопии (СТМ) выявлены изменения морфологии подслоя из оксидов рутения и титана за счет введения в нее дополнительно оксида олова. В целом, как изменение состава подслоя, так и активного слоя способствуют повышению селективных свойств электродов и их стабильности. [c.7]

Сканирующая электронная спектроскопия [c.220]

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) Электронная оже-спектроскопия (ЭОС) [c.12]

Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия (рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. Эти методы дают информацию о микроструктуре поверхности твердых электродов, о химическом составе поверхностного слоя, изменение которого могло произойти в результате необратимой адсорбции тех или иных компонентов раствора, о составе и структуре возникших на поверхности окисных пленок. Однако для изучения обратимых адсорбционных явлений на электродах эти методы не подходят. [c.80]

Можно сконструировать небольшой, компактный сканирующий электронный микроскоп таким образом, что его можно установить на вакуумных приборах и комбинировать с исследованиями поверхности методами электронной оже-спектроскопии (ЭОС), дифракции медленных электронов (ДМЭ) и ионного распыления. Однако следует отметить, что сканирующие туннельные микроскопы могут работать в воздушной среде и даже в жидкой, что открывает [c.369]

Измерения зависимости туннельного тока от напряжения смещения (11/(111) для каждой позиции острия напротив поверхности при постоянном расстоянии от нее дает в результате пространственное распределение плотности состояний. Поскольку вариацией напряжения смещения можно сделать доступными различные электронные состояния, то такой режим является методом электронной спектроскопии с высоким пространственным разрешением (часто называемым сканирующая туннельная спектроскопия, СТС). [c.372]

Сканирующая электронная микроскопия Электронный микрозонд Инфракрасная спектроскопия Элементный анализ Кислотность поверхности Потери при сгорании Термогравиметрический анализ Плотность [c.12]

Идентификация и количественная оценка промышленных цеолитов представляют определенные трудности. Мелкий размер кристаллов (0,01—20 мкм) и низкое двупреломление затрудняют диагностику цеолитов с помощью традиционных кристаллооптических методов и макроскопических признаков. Полезную информацию можно получить при использовании сканирующей электронной микроскопии, термографии, ИК-спектроскопии, ядерного магнитного резонанса, химико-аналитических тестов. Однако перечисленные методы лишь в отдельных случаях имеют самостоятельное значение и, как правило, лишь дополняют данные, полученные в результате рентгеновского анализа. [c.34]

При изучении разнообразных коллоидно-химических объектов широко используют методы сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии. Отметим перспективную методику приготовления реплик быстро замороженных образцов золей, позволяющую фиксировать во вра ени изучаемую картину. В исследованиях строения поверхности эффективно применяют такие современные физические методы, как Оже-спектроскопию, дифракцию медленных электронов, масс-спектрометрию вторичных ионов и др. [c.208]

В наноструктурных ИПД металлах и сплавах, как будет показано ниже в 2.1, экспериментальные исследования, проведенные с использованием различных, часто взаимно дополняющих методов, каковыми являются просвечивающая, включая высокоразрешающую, электронная микроскопия, рентгеноструктурный анализ, мессбауэровская спектроскопия, дифференциальная сканирующая калориметрия, свидетельствуют, что границы зерен носят неравновесный характер, обусловленный присутствием зернограничных дефектов с высокой плотностью. [c.61]

Размеры жидкокристаллических структур (несколько сотен ангстрем) требуют использования электронной микроскопии, а их природа (обычно периодическая) указывает на возможность применения малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Так же плодотворно используются некоторые другие методы дифференциальная сканирующая калориметрия, дилатометрия, поляризационная микроскопия, инфракрасная спектроскопия и круговой дихроизм. [c.208]

Электронная Оже-спектроскопия, в том числе сканирующий Оже-микрозонд [c.103]

Во втором методе [29—33] электроны, выброшенные из молекул в процессе фотоионизации, также направляются в анализатор энергий и там регистрируются. Однако в отличие от обычной ФЭ-спектроскопии в этом методе применяется переменный источник энергий. Анализатор установлен на регистрацию единственной заданной кинетической энергии электронов (обычно равной нулю, соответствующей пороговым электронам), энергия фотонов непрерывно изменяется при помощи сканирующего монохроматора. Полученный таким образом спектр представляет собой кривую скорости счета электронов в зависимости от энергии падающего излучения. Информация, полученная таким методом, во многих случаях идентична предоставляемой обычной ФЭС, но дополнительно метод [c.170]

Заметный прогресс в исследовании наноструктур начался с использованием сканирующих туннельных микроскопов (СТМ), сочетанием рентгеновской кристаллографии ЯМР-спектроскопии, ядерно-силовых микроскопов. Кроме того, широко используются и некоторые трад ици-онные методики, особенно электронная микроскопия. [c.4]

Спектроскопия Оже-электронов спектроскопия рентгеновских фотоэлектронов спектроскопия. характеристических потерь спектроскопия ионного рассеяния спектроскопия масс вторичных ионов термиче-скр1- и электронно-стимулированная десорбция Дифракция медленных электронов сканирующая э/юктронная микроскопия Дифракция медленных электронов спектроскопия характер.чстических потерь [c.151]

Наиболее важной характеристикой аналитического метода, используемого при изучении поверхности, является эффективная глубина действия, поскольку метод измерения должен соответствовать изучаемому явлению. Например, связывание с поверхностью, смачивание и катализ затрагивают лишь несколько слоев атомов, а при обработке поверхности закалкой вовлекаются от 10 до 1000 таких слоев. Вот типичные эффективные глубины действия для наиболее важных аналитических методов исследования поверхности рассеяние ионов низкой энергии — один-два слоя атомов, масс-спектрометрия вторичных ионов — зА, оже-спектроскопия — 20А, ионное травление в сочетании с SIMS — lOOA. Лазерная масс-спектрометрия, рамановский микроанализатор и сканирующий электронный микроскоп могут использоваться на глубинах от 1000 до 10 ООО А (т.е. вплоть до 1 микрона). Чем меньше эффективная глубина действия метода, тем [c.239]

Поверхности политетрафторэтилена, подвергнутые действию тлеющих разрядов, были охарактеризованы при помощи метода нарушенного полного внутреннего отражения, дифференциального нарущенного полного отражения, инфракрасной, рентгеновской, фотоэлектронной спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии и измерений угла контакта [350]. Содержание аморфного материала на поверхности политетрафторэтилена после испытаний на трение и износ определяли методом ИК-спектроскопии нарушенного полного отражения [351]. Этот же метод применяли и для исследования травленых натрием поверхностей политетрафторэтилена, используемых для связывания полиметановых субстратов [352] значительные различия между несвязанными и связанными образцами обнаружены в области 1650 см . В работе [353] в колебательном спектре политетрафторэтилена была обнаружена новая полоса поглощения при 14 см . В спектре спеченного политетрафторэтилена наблюдалась полоса поглощения при 277 см связанная с наличием цепей с изогнутой конформацией. Найдено, что основные полосы рамановского спектра при 292 и 312 см , запрещенные в ИК-спектроскопии, связаны со складчатыми цепями в кристаллических областях [354]. [c.511]

В работе исследованы основные закономерности взаимодействия паров дымящей азотной кислоты с антрацитом при комнатной температуре с целью установления роли азотной кислоты как реагента для получения соединения интеркалирования антрацита, нитрующего и окислительного агента, влияния воды на процесс химической модификации в системе "антрацит —HNO3", а также влияния модификации антрацита на процесс активации и свойства получаемых углеродных сорбентов. Показано, что азотная кислота выступает как реагент для получения соединения внедрения антрацита (подобно нитрату графита), нитрующий и окислительный агент. Образование соединений внедрения антрацита доказано прямыми и косвенными данными, полученными методами ИК-спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии, а также термическим расширением соединений внедрения антрацита в режиме термоудара. Как нитрующий агент и агент для получения соединения внедрения азотная кислота выступает только на начальном этапе процесса, когда концентрация нитроний-катиона на поверхности антрацита пропорциональна концентрации азотной кислоты, адсорбирующейся из газовой фазы. Установлено, что по мере протекания реакций распада азотной кислоты наблюдается накопление воды, что приводит к разбавлению азотной кислоты. На более позднем этапе процесса протекают в основном реакции окисления поверхности антрацита. С целью устранения влияния воды взаимодействие дымящей азотной кислоты с антрацитом изучено в присутствии дегидратирующего агента. При использовании концентрированной серной кислоты для связывания воды помимо дегидратации наблюдались реакции сульфирования антрацита. [c.122]

Все большее применение находит метод микрорентгеноспект-рального анализа (локальный микроанализатор), идея которого заключается в следующем. Образец с хорошо отполированной поверхностью облучается узким сканирующим электронным пучком диаметром около 1 мкм. Характеристическое рентгеновское излучение, испускаемое при облучении атомами образца, анализируется электронным логическим блоком. Подвергая такому исследованию поперечные сечения образцов, содержащие реагенты и продукт взаимодействия, удается изучить распределение компонентов и фаз в зоне реакции, установить геометрию фронта реакции и найти характер и последовательность превращений при твердофазном взаимодействии. В ряде случаев полезную информацию о механизме реакции дает применение метода гамма-резонансной спектроскопии (эффект Мессбауэра), а также методов инфракрасной и эмиссионной микроскопии [71]. [c.117]

Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) и энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия (EDAX) [c.458]

Экспериментальные установки обычйо сочетают проведение в одной и той же вакуумной камере Оже-спектроскопии и измерений дифракции электронов низкой энергии. В результате получается информация как о химическом составе поверхности, так и о ее атомной структуре. Для изучения геометрической структуры поверхности используют электронный сканирующий микроскоп. Принцип действия этого прибора аналогичен передаче телевизионного изображения, только здесь на исследуемый объект направляется сфокусированный пучок электронов, а детектируется интенсивность отраженных электронов, которая затем передается на экран электронно-лучевой трубки. Движение сфокусированного пучка электронов вдоль исследуемого образца синхронизовано с движением луча электронно-лучевой трубки, в результате чего на ее экране получается изображение изучаемой поверхности. Разрешение современных сканирующих микроскопов составляет 5—10 нм. [c.86]

Для оценки качества травленой поверхности единый критерий отсутствует. Поэтому пользуются несколькими различными по своей природе показателями. Микрошероховатость поверхности оценивают виз) ально с помощью микроскопов (оптического, металлографического, растрового, электронного сканирующего) или по светорассеянию, а также при помощи профилометров, профилографов. Для определения микромеханических свойств можно использовать методы микровдавливания, склерометрии, трибометрии или определять износостойкость поверхности. Физико-химические свойства легче всего оценивать по смачиваемости и окрашиваемости поверхности, а также по прилипанию липких лент и приклеиванию полосок материи желатином. Весьма детальные и ценные сведения о химическом состоянии поверхности пластмасс можно получить методом рентгенофотоэлектронной спектроскопии. [c.35]

Биофизические методы позволяют изучать динамическую организацию биомембран, получить представления об упаковке и движении липидных молекул в природных и модельных мембранах, их взаимодействии друг с другом и молекулами белков, исследовать фазовые переходы и другие процессы. К ним относятся дифракционные методы (рентгеновская дифракция, дифракция нейтронов), резонансные методы, метод электронной микроскопии, оптические методы (круговой дихроизм, дисперсил оптического вращения, абсорбционная спектроскопия, люминесценция, метод флуоресцентных зондов), метод дифференциальной сканирующей микрокалориметрии, метод моделирования и получения искусственных мембран и др. [c.203]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология