Рентгеновские лучи измерение интенсивности

Гамма-лучи представляют собой проникающие электромагнитные колебания с длиной волны приблизительно от 0,005 до 0,4 А и с энергией 0,05—5 Мэе. Они распространяются со скоростью света их проникающая способность гораздо выше, чем у самого жесткого рентгеновского излучения длина пробега в воздухе составляет несколько километров. Гамма-лучи в отличие от альфа- и бета-излучения ионизируют материю косвенно посредством электронов, которые при столкновении с фотонами гамма-излучения получают часть их энергии и отрываются от атомов. Эти электроны при столкновениях с атомами и вызывают ионизацию. Бета-распад часто сопровождается гамма-излучением. Методы определения и измерения интенсивности радиоактивного излучения основаны на его ионизирующем действии. На этом же явлении основаны и принятые единицы дозы разных видов излучения. [c.644]

Картины дифракции рентгеновских лучей частично кристаллических полимеров, представителями которых являются полиамиды, состоят из пиков высокой интенсивности, соответствующих кристаллическим областям, и гало, отвечающего аморфным областям полимера. Измерение площадей под соответствующими участками кривых распределения интенсивности позволяет определять степень кристалличности полимера. Однако точность этого метода ограничивается воз.можностью разделения участков кривых, соответствующих кристаллическим и аморфным областям. Степень кристалличности промышленных полиамидов обычно колеблется от 40 до 70%. [c.240]

Для образца со степенью ориентации 300—500 % получают рентгенограмму по методике, описанной в работе VI. 2. Полученную рентгенограмму фотометрируют на микрофотометре с помощью приставки, позволяющей вращать рентгенограмму вокруг центра в горизонтальной плоскости. На экваторе рентгенограммы выбирают интенсивную дугу, расположенную возможно ближе к пятну от первичного пучка. Вращая рентгенограмму, измеряют по визуальной шкале изменение интенсивности прошедшего через рефлекс пучка света, причем измерения проводят через каждые 5°. Поскольку почернение дифракционного пятна определяется не только рассеянием рентгеновских лучей упорядоченно расположенными областями, но и некогерентным рассеянием, то фон, им обусловленный, необходимо исключить. Распределение фона на пленке от центра к периферии определяют фотометрированием по радиусу рентгенограммы в направлении, в котором отсутствуют рефлексы, обусловленные когерентным рассеянием. Фотометрирование по кругу и меридиану обязательно проводят при одинаковой настройке прибора. Почернение собственно дифракционного пятна в каждой точке дуги Еп рассчитывают по формуле [c.194]

В объяснении аномальных свойств жидкой воды важную роль сыграло рентгеноструктурное измерение интенсивности рассеянных рентгеновских лучей как функции угла, образованного [c.409]

Рентгеновские счетчики. Для измерения интенсивности рентгеновских лучей используют три типа счетчиков [c.127]

Закон Брэгга можно легко получить с помощью схемы, представленной на рис. 5.2. Пусть когерентный пучок рентгеновских лучей зеркально отражается от параллельных кристаллических плоскостей, расположенных на расстоянии друг от друга. Из двух лучей, ход которых показан на рис. 5.2, нижний на пути выхода из образца проходит дополнительное расстояние AB =2d sin в. Если это расстояние равно целому числу длин волн пк, то отраженные лучи будут совпадать, по фазе и пропорциональный счетчик зарегистрирует максимум интенсивности. Если используется. высококачественный кристалл-анализатор, дифрагированный пучок получается довольно узким. Например, измеренная полуширина линии составляет при близительно 10 эВ при собственной полуширине 2 эВ. Рентгеновское излучение, длины волн которого не удовлетворяют закону Брэгга, поглощается в кристалле илп проходит сквозь него в его держатель. [c.191]

Рентгенографический метод определения степени кристалличности основан на измерении интенсивности рассеивания рентгеновских лучей при угле отражения 2ф = = 12,2° для кристаллических и аморфных областей [15, 16]. [c.109]

Существует хорошо разработанная система подсчета интенсивностей отраженных рентгеновских лучей, если известно положение атомов в решетке. Поэтому, если мы на основании каких-либо соображений можем сделать предположение о размещении атомов в ячейке, то правильность такого предположения можно проверить. Для этого рассчитывают интенсивность всех рефлексов, исходя из сделанного предположения о размещении атомов, и сравнивают с экспериментально измеренными интенсивностями пятен на рентгенограмме. Если совпадение есть, то выдвинутый нами в качестве предположения вариант расположения атомов в ячейке правилен, если совпадения нет — выдвинутый вариант неправилен. Следует сделать другое предположение [c.114]

Для определения серы был использован также рентгенофлуоресцентный метод, основанный на измерении интенсивности характеристичного излучения серы, возникающего при облучении анализируемого вещества потоком рентгеновских лучей. Для выделения характеристичного излучения серы используют сложные рентгеновские спектрометры кроме того, это излучение характеризуется малой проникающей способностью. Метод применен для определения серы в нефтепродуктах [725, 1448], тяжелых маслах [993], в твердых и жидких топливах [937, 994] в широком интервале концентраций от 2-10 до 0,1—1,2% [725]. [c.211]

Авиабензин Бром, свинец 2-10-2 10 Активация лучами рентгеновской трубки с Мо-антикатодом, измерение интенсивности В г ЛГ -линии [361] [c.167]

Количественный анализ измерения зависимости интенсивности пучка рентгеновских лучей от угла рассеяния (20) позволяет полу- [c.128]

На рис. 1 представлены результаты измерения зависимости интенсивности рассеяния рентгеновских лучей от величины угла рассеяния для образцов конденсационных структур, подвергавшихся ацеталированию в течение различных промежутков времени (от 6 до 120 часов). Логарифм интенсивности рассеяния отложен как функция логарифма угла. [c.105]

Аналогичными особенностями обладают многие дисперсные структуры, полученные из синтетических полимеров, например, конденсационные структуры поливинилформаля (ПВФ) относительно невысоких (60—70%) степеней ацеталирования [8]. В оводненном состоянии они обнаруживают развитую поверхность раздела порядка десятков квадратных метров на грамм [И] и из-за интенсивного рассеяния света представляются молочно-белыми. После высушивания они превращаются в однородные прозрачные полимерные стекла, практически лишенные пористости, о чем свидетельствуют измерения адсорбции [12] и исследования, проведенные методом малоуглового рассеяния рентгеновских лучей [13]. [c.331]

До сих пор измерения интенсивностей диффузного рассеяния рентгеновских лучей неупорядоченными сплавами проводились только для определения параметров ближнего порядка <х (К). Однако параметры ближнего порядка, как правило, не представляют значительного интереса, так как они сложным и неявным образом зависят от потенциалов мен атомного взаимодействия. Напротив, как было показано выше, исходная количественная информация об интенсивностях диффузного рассеяния в различных точках обратного пространства неупорядоченного сплава прямым и непосредственным образом связана с фурье-образом V (к) потенциалов межатомного взаимодействия. Таким образом, для проведения термодинамического анализа системы пет необходимости прибегать к сложной и трудоемкой процедуре определения параметров ближнего порядка. Для этого достаточно воспользоваться теоретическими результатами, изложенными в 10, и выражением. [c.168]

Такая работа, по-видимому, впервые была проведена С. В. Семеновской с сотрудниками для сплавов Ге — А1 [101, 102]. в работах [103,107] на основании измерений интенсивностей диффузного рассеяния в трех неэквивалентных точках обратного пространства неупорядоченного сплава [102] была рассчитана довольно сложная диаграмма равновесия системы Ге — А1. Новый подход, развитый в работах [99, 101 —103], по-видимому, открывает новые возможности в использовании рассеяния рентгеновских лучей для исследования термодинамики сплавов. Некоторые результаты этих исследований будут изложены в следующем параграфе. [c.168]

Три первых параметра могут быть определены в результате измерения интенсивности диффузного рассеяния рентгеновских лучей в трех неэквивалентных точках обратного пространства — /1 1 1 [c.173]

РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, дифракционный метод исследования атомно-молекулярного строения в-в, гл. обр. кристаллов, основанный на изучении дифракции рентгеновских лучей с длиной волны ок. 0,1 нм. Нек-рые задачи, вапр. определение положения части атомов в кристаллах относительно простого строения, можно решать с применением поликристаллич. образцов, однако по.чное определение структуры проводят на монокристаллах размером 0,1—0,5 мм. Использование полихроматич. излучения (метод Лауэ) позволяет получать сведения о симметрии кристалла и ориентировать его правильным образом. Для полного изучения структуры измеряют интенсивность максимально возможного числа рентгеновских дифракц. отражений с использованием монохроматич. излучения чем больше таких отражений, тем больше разрешение пра определении положения атомов. Обработка результатов измерений осуществляется на больших ЭВМ. По интенсивностям отра- [c.506]

Нейтронно-активационный анализ — метод точного определения следовых содержаний элементов как в самом угле, так и в любых его жидких, твердых и газообразных продуктах переработки. В основе его — измерение интенсивности и энергии (длин волн) -у-частиц и рентгеновских лучей, испускаемых радиоактивными изотопами в пробе после ее облучения нейтронами из реактора. С помощью ядерных детекторов в образце регистрируют спад радиоактивности пробы, т. е. энергию излучения квантов и интенсивности, определяя присутствующие в пробе элементы и их содержание. [c.68]

Точность этого метода непосредственно связана с точностью измерения интенсивностей рентгеновских лучей, что особенно трудно в области малых углов, когда точность редко превышает 20%. Тем не менее недавно было сообщено [46], что выполнена визуальная оценка интенсивностей с ошибкой до 1%, однако рентгенограмма не была опубликована. [c.221]

Измерение интенсивности линий А1 — Ка проводится на рентгеновском флуоресцентном спектрометре (ХКО — 3, ХКО — 5, фирмы Филипс) с хромовой и вольфрамовой трубками. Трубка с хромовым анодом лучше, так как в этом случае интенсивность флуоресцентного излучения у алюминия в 4 раза выше, чем с трубкой с вольфрамовым анодом [Б4А, 620, 11781. На трубки подают напряжение 40—50 кв, ток 20—50 ма. В качестве кристаллов анализаторов для разложения лучей в спектр используются пентаэритрит и этилен-диаминдитартрат. Детектор для измерения интенсивности спектральных линий представляет собой газопроточный пропорциональный счетчик с амплитудным анализатором (смесь 90% аргона и 10% метана). Рекомендуются особо тонкие пленки для окон пропорцио нальных счетчиков. [c.166]

Принцип, лежащий в основе измерения рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами, очень прост, как это видно из рис. 51. Узкий монохроматический пучок рентгеновских лучей пересекает очень тонкий образец, содержащий мельчайшие частицы. За исследуемым образцом располагается фотопленка или прибор типа счетчика Гейгера, регистрирующего рассеянное излучение. Перед пленкой помещают небольшой свинцовый поглотитель для предотвращения образования вуали под действием прямых, нерассеянных лучей. Рентгеновские лучи, рассеянные под малыми углами, образуют на фотопленке почернение, интенсивность которого уменьшается при удалении от центра. [c.91]

Для того чтобы получить данные о группировке содержимого в элементарной ячейке, необходимо измерять интенсивности рассеянных пучков рентгеновского излучения. И в методе с пленкой, и в методе со счетчиком кристалл движется во время измерений так, что точки о.р. пересекают сферу отражения с одной стороны до другой. Поскольку точки о. р. растягиваются по сфере отражения, интегральная интенсивность зависит частично от угла между направлением движения и поверхностью сферы при пересечении. Время, необходимое для пересечения точкой о.р. сферы, увеличивается по мере того, как угол приближается к нулю. Необходимо также объяснить различие в отражаемости рентгеновских лучей, электрический вектор которых перпендикулярен и параллелен плоскости отражения. Лорентцева и поляризационная поправки соответственно могут быть использованы для исправления наблюдаемой интенсивности отражения hkl следую- [c.390]

Определение показателя текстуры проводили рентгеновским методом. Ошибка измерений составляла 5—10 %. По полученным кривым распределения интенсивности отраженных рентгеновских лучей, представляющих функцию распределения плотности нормалей [002] кристаллитов в пространстве, определяли степень текстурированности материала двумя различными способами по интенсивности дифракционных линий и по их форме. Для слаботекстурированных материалов за показа- [c.27]

На рис. IV.5 приведены результаты первых экспериментальных измерений, выполненных Брэггами. Эти результаты показывают, что имеется определенный тип отражения, повторяющийся при значениях sin 9, соответствующих значениям множителя п= 1, 2, 3, который называется порядком отражения. Полученная картина показывает, что в пучке рентгеновских лучей, испускаемых рентгеновской трубкой, имеются колебания с меньшей и большей длинами волн, причем большей интенсивностью обладают рентгеновские лучи с большей длиной волны. [c.643]

В данном уравнении К представляет собой масштабный коэффициент, необходимый для того, чтобы привести экспериментальные данные (полученные в произвольном масштабе, зависящем от размера кристалла и интенсивности пучка рентгеновского излучения) к абсолютному масштабу рассеяния (величины /), используемому при определении расчетных структурных амплитуд (Fhfei) (или F ) из известных координат атомов Xj, yj, zj с использованием уравнения 11.2-7. Фактор А представляет собой коэффициент коррекции на поглощение рентгеновского излучения в соответствии с законом Бугера—Ламберта—Бера, который также должен учитьшать размер и характер (распределение сходных по симметрии граней) кристалла. Фактор Лоренца L компенсирует разницу в эффективных временах измерения для брэгговских отражений и зависит от брэгговского угла в и схемы экспериментальной установки. Р — поляризационный фактор, который позволяет учесть тот факт, что эффективность дифракции рентгеновских лучей зависит от поляризации падающего луча. [c.400]

РИС. 4-19. Б. Рентгенограмма, используемая при определении структуры гемоглобина. Дифракционная картина получена от кристалла дезоксигемоглобина человека кристалл вращали определенным образом вокруг двух разных осей, пропуская через него пучок рентгеновских лучей. Прп этом синхронно перемещалась и рентгеновская пленка. Наблюдаемая на рентгенограмме периодичность является следствием дифракции рентгеновских лучей на периодически расположенных атомах в кристалле. Расстояния рефлексов от начала координат (центра) обратно пропорциональны расстояниям между плоскостями атомов в кристалле. На этой фотографии (которая показывает только два измерения трехмерной дифракционной картины) рефлексы, расположенные на периферии, соответствуют расстоянию 0,28 нм. Измерив интенсивности рефлексов и определив фазы гармонических функций, необходимых для проведения обратного Фурье-преобразования, из полного набора аналогичных дифракционных картин можно установить структуру с разоещением 0,28 нм. Для дезоксигемоглобина человека полный набор должен включать примерно 27 ООО рефлексов (С любеаиого разрешения [c.309]

Методы определения хрома путем измерения интенсивности флуоресценции по линии СтКа, вызванной рентгеновскими лучами, применяют при анализах руд, горных пород, минералов, биологических объектов, металлов, сплавов. Интенсивность аналитической рентгеновской линии обусловлена концентрацией элемента, природой основы, в которой находится элемент, природой и концентрацией других элементов, присутствующих в пробе, и толпщной пробы [41. Измеренная критическая толщина слоя металлического хрома равна 0,003 мм для порошков она значительно выше [534, с. 2301. Теоретические значения предела обнаружения хрома по критерию Зст равны при определении в металлическом железе — 4,0-10 %, в бериллии— 1.0-10 % [4, с. 232]. Пределы обнаружения хрома в растворах 5 мкг/мл [534]. При определении хрома используют различные типы спектрометров с кристаллом Ъ1р, рентгеновской трубкой с У-анодом (50 кв, 30 ма) в качестве приемника излучения используют сцинтилля-ционный счетчик с кристаллом КаТ(Т1) или проточные пропорциональные счетчики. [c.97]

Рентгеноспектральное определение магния выполняется главным образом по вторичным рентгеновским спектрам (флуоресцентный метод). Для рентгеновского флуоресцентного определения используется ЙС-излучение магния. Интенсивность линии магния Ка измеряют на флуоресцентных спектрометрах. На трубку с вольфрамовым антикатодом подают напряжение 40—50 кв, сила тока 20—40 ма. В качестве кристаллов анализаторов для разложения лучей в спектр используются кристаллы фосфата аммония. Детектор для измерения интенсивности спектральных линий представляет собой газопроточный пропорциональный счетчик с амплитудным анализатором. [c.194]

Для определения влажности бумаги предложено применять метод, основанный на измерении ослабления рентгеновской флуоресценции [1а]. В этом методе оценивали соотношение интенсивностей рассеянного излучения, испускаемого исследуемым образцом и первичным источником рентгеновских лучей (W-ми-шень, FeKa- или СиКа-флуоресценция), Аксела [1а] сообщает [c.514]

Исследование малоуглового рассеяния рентгеновских лучей проводилось с помощью четырехщелевой малоугловой камеры (2 щели коллиматора и 2 щели приемника излучения). Регистрация рассеянных лучей осуществлялась ионизационным счетчиком Гейгера. Наличие двух щелей у приемника излучения позволяло освободиться от большей части паразитного рассеяния. Хотя остаточная интенсивность паразитного рассеяния была весьма мала по сравнению с интенсивностью истинного рассеяния, измерения производились таким образом, чтобы можно было внести соответствующую поправку. Измерения интенсивности проводились дважды в первом положении (рассеивающем) образец помещался позади щелей коллиматора, во втором (поглощающем) — перед коллиматором. Во втором положении измерялась интенсивность остаточного [c.104]

Так, строение поверхности и пористость угля определяют его поведение в любых технологических процессах (адсорбция, испарение, набухание, массоперенос, диффузия, горение). Они зависят от внешних условий, определяют многие реологические свойства угля. Длительное время для измерения внутренней поверхности и объема пор угольных объектов использовали методы волюмометрии (например, ртутная или гелиевая поро-метрия). Эти методы обладают двумя существенными недостатками — оказывают необратимое воздействие на образец н меют низкую точность, так как не характеризуют внутренние недоступные поры образца. Этих недостатков лишены методы малоуглового рассеяния рентгеновских лучей и нейтронов, в основе которых лежит измерение интенсивности рентгеновского или нейтронного излучения при различном угле рассеяния [79]. Эти методы не связаны с разрушением исследуемой пробы, позволяют оценить распределение пор по размерам, учитывают как открытые, так и внутренние поры. [c.81]

Количеств. Р. ф. а. смеси основан на зависимости отношения интенсивностей линий двух фаз т и (/ // ) от отношения концентраций этих фаз Ст/С,. Наиб, часто использ. т. н. метод внутреннего эталона, когда сравнивают два образца, в одном из к-рых конц. определяемой фазы rn( m) известна. К обоим образцам подмешивают выбранный для сравнения кристаллич. порошок, конц. к-рого соотв. Сп и Ся. Тогда, проводя измерения на дифрактометре при пост, интенсивности первичного рентгеновского луча, неизвестную конц. фазы m рассчитывают по ф-ле [c.506]

Большим периодом обычно называют величину d == XllQ, где Х — длина во.лны, а 20 — угол дифракции, соответствующий максимуму в распределении интенсивности малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Изучение больших периодов, в частности при различных температурах [1], представляет большой интерес, поскольку опо позволяет судить о различиях в степени порядка в структуре полимеров. Мы исследовали изменение большого периода в ориентированных волокнах полиэтилена низкого давления в области темие])атур от комн атной до 116°. Съемки рентгенограмм в больших углах показали, что степень ориентации кристаллитов в волокнах была весь-лш высокой и практически пе менялась после проведения температурных съемок, поскольку волокна в образце находились в натянутом состоянии. Максимальное отклонение осей цепей от оси волокна (рассеяние текстуры) не превышало 10—15°. Ориентированный образец волокон помещался в печку, установленную на малоугловой камере. Температура контролировалась с точностью до 2°. При данной температуре снималась вся кривая малоуглового рассеяния. Остальные условия эксперимента были такими же, как в работах [2, 3]. Съемки кривых рассеяния проводились в течение нескольких пос.тедовательных циклов нагревания и охлаждения одного и того же образца. Измерения повторялись многократно, и результаты хорошо воспроизводились. Кривые распределения интенсивности меридионального малоуглового рефлекса, получен ныо в цикле 1 при повышении температуры до 113°, приведены ira рис. 1, а нри понижении температуры до 20° — на рис. 2. При [c.176]