Вторичное изображение III

Ошибочная интерпретация структуры образцов может объясняться не только тем, что вещество изменяется под влиянием перегрева электронными лучами, но и некоторыми особыми свойствами электронно-микроскопического изображения, зависящими от физических условий самой электронной оптики к явлениям, которые вызывают ошибочную интерпретацию, относятся вторичное изображение, контрастная интерференция и швы границ первые два случая встречаются при кристаллическом материале. [c.280]

Фотопроекционные системы. Первичное изображение создается на экране ЭЛТ с высокой разрешающей способностью и малой яркостью, проецируется на фотоматериал, который обрабатывается одним 3 скоростных методов (за время от 3 до 30 с). Вторичное изображение, зафиксированное на диапозитиве, проецируется на экран. В системе имеются механические движущиеся элементы, в процессе работы расходуется материал носителя. [c.200]

В случае внутренней установки интерферометр располагается внутри оптической системы спектрографа между объективом коллиматора и п )измой. Свет от источника (/) направляется конденсором (2) на щель (< ). После коллиматора параллельный пучок падает на интерферометр (4). Интерференционная картина получается в главной фокальной плоскости объектива (5) камеры спектрографа. Этот объектив служит в данной установке проектирующим объективом, фокусное расстояние которого входит в формулу (7.3) линейной дисперсии. Основным преимуществом внутренней установки является то, что при ее осуществлении не требуется дополнительного высококачественного объектива. Однако установка интерферометра внутри спектрографа вносит дополнительную аберрацию и дает трудно устраняемые вторичные изображения при отражении на поверхностях. [c.150]

В отличие от фазового контраста в интерференционном микроскопе л<ивая клетка может иметь вид окрашенного препарата вследствие того, что на вторичное изображение объекта накладывается дополнительная световая волна, от взаимодействия с которой получается контрастное или цветное изображение. [c.44]

В работе [7] приводятся результаты обследования блоков вторичной перегонки бензина комбинированных установок АТ-6 и АВТ-6 по схемам, изображенным на рис. IV-3. [c.212]

На фиг. 143 схематически изображен испаритель для пленочного испарения вязких жидкостей, свободно стекающих по вертикальной поверхности нагрева. Поверхность нагрева образуется трубой 1, обогреваемой изнутри паром. По ача упариваемой жидкости, отвод концентрата и вторичных паров показаны стрелками. [c.234]

Коэффициент теплопередачи при конденсации вторичного пара с ростом вакуума уменьшается, как это явствует из диаграммы, изображенной на фиг. 188, Коэффициент теплоотдачи вторичного пара обычно значительно снижается вследствие загрязнения пара газами, выделяющимися из раствора при испарении, если не принять мер к полному удалению газов. Количество газа, которое необходимо удалить, определить нелегко, так как выделение газов обусловливается многи.чи обстоятельствами. Кроме того, обычно неизвестно количество газа, имеющегося в растворе. Очень часто еще при нахождении сырья -на складе или в процессе самого испарения имеет место протекание целого ряда хими ческих процессов. [c.273]

В нижней части схемы вычерчивается условное изображение датчиков, регуляторов и вторичных приборов КиА. Затем пунктирными линиями изображается связь между всеми элементам,и КиА, включая исполнительные механизмы на все приборы КиА составляется экспликация, каждому из них присваивается позиция, соответствующая спецификации К иА. [c.256]

Отвод тепла, выделяющегося в результате проведения реакций диазотирования в реакторе, изображенном на рис. 1П-7, осуществляется с помощью рубашки и выносного теплообменника. Чтобы ограничить вторичные реакции, скорость которых очень быстро возрастает при превышении оптимальных температур, необходимо [c.128]

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

Находящиеся вблизи стенок частицы жидкости медленно смещаются в поперечном сечении по направлению градиента давления, что приводит к формированию вторичного течения первого типа, изображенного на рис. 12. В середине трубы вторичное течение направлено наружу, к внешнему закруглению, а вблизи стенок — к внутреннему закруглению, т. е. к центру кривизны. Форма поперечного сечения оказывает сильное влияние на вторичное течение, что ясно видно на рис. 13, где показано поле скоростей. [c.131]

Близость величин скоростей обмена и восстановления означает, что обмен не является мед.ленной, вторичной реакцией. Здесь скорость, по-видимому, определяется реакцией (И), и поэтому механизм самого обмена может быть схематически изображен уравнением [c.188]

В живых организмах белки существуют не просто в виде длинных, гибких цепей более или менее хаотической формы. Белковые цепи закручиваются или распрямляются определенным образом, принимая специфические формы, необходимые для функционирования того или иного белка. Эта особенность структуры белков называется их вторичной структурой. Одной из важнейших и наиболее распространенных вторичных структур является ос-спираль, впервые установленная Лайнусом Полингом и Р. Б. Кори. Схематическое изображение спиральной структуры белка дано на [c.448]

Излучение, разложенное призмой 7 в спектр, отражается плоским зеркалом 9 и вторично проходит через призму 7. Сферическое зеркало 6 отражает излучение на плоское зеркало 0 и изображение спектра [c.52]

Растровая сканирующая электронная микроскопия. Растровый электронный микроскоп (РЭМ) — прибор, в основу работы которого положен телевизионный принцип развертки тонкого пучка электронов (или ионов) на поверхности непрозрачного исследуемого образца. Пучок электронов, падающий на поверхность образца, взаимодействует с веществом, следствием чего является возникновение целого ряда физических явлений (рис. 59). Регистрируя соответствующими датчиками то или иное излучение (например, вторичные электроны) и подавая сигналы на кинескоп, получают рельефную картину изображения поверхности образца на экране. [c.149]

Отражательный электронный микроскоп. На поверхность непрозрачного образца в отражательном микроскопе направляется под углом (tti) пучок электронов, который частично отражается и одновременно возбуждает вторичные излучения. В формировании изображения участвуют те электроны, которые отражаются от поверхности образца под углом наблюдения (аг), а также рассеян- [c.154]

Эмиссионный электронный микроскоп. В эмиссионном микроскопе изображение объекта создается электронами, испускаемыми поверхностью самого объекта. Эмиссия электронов с поверхности образца инициируется нагреванием последнего (термоэлектронная эмиссия), бомбардировкой поверхности электронами или ионами (вторичная электронная эмиссия) и облучением фотонами (фотоэлектронная эмиссия). Испускаемые поверхностью электроны собирательной линзой (иммерсионным объективом) ускоряются и направляются на экран. Вследствие того что разные участки поверхности объекта имеют различную эмиссионную способность, на экране возникают участки неодинаковой яркости, что и является изображением реальной поверхности. На яркость изображения влияет также и рельеф поверхности. [c.155]

В фокальной поверхности камерного объектива расположен фотометр, оптическая система которого (рис. 87,е) вторично строит изображение спектра перед окуляром. Фотометр позволяет ослаблять в случае необходимости любую из линий аналитической пары. Кроме того, можно сближать между собой в поле зрения аналитическую пару линий, что позволяет значительно повысить точность измерений. [c.122]

Кроме того, вместо двух вторичных обмоток в каждом трансформаторе можно сделать одну общую обмотку с нейтральным выводом. В результате принципиальная схема будет иметь нид, изображенный на рис. 79. Здесь также для уравновешивания полного сопротивления ячейки необходимо производить регулирование активной и реактивной составляющей, что достигается применением двух образцовых сопротивлений Rs, и причем Яз, =10/ ,. В две другие декады включены образцовые емкости С.,, и s причем JJ ==10С ,. Такой способ уравновешивания схемы равноценен регулировке с Применением магазина емкостей и магазина сопротивлений с двумя декадами в каждом. Декадные переключатели применяются, когда не требуется быстрого уравновешивания. Для быстрого уравновешивания используется плавная регулировка [c.129]

Рис. 49. Изображение вторичной (а) и третичной (6) структур молекулы белка (на схеме третичной структуры наглядно видно скручивание вторичной структуры в пространстве в а-спираль).

Приборы, построенные по схеме, изображенной на рис. 18.4, имеют некоторые недостатки. В длинной кювете проявляется вторичное поглощение, что приводит к искажению результатов, В таких случаях люминесценция, возникшая в передней части кюветы, ослабляется молекулами люминесцирующего вещества вследствие взаимного наложения спектров люминесценции и поглощения. При использовании ультрафиолетового участка спектра для возбуждения люминесценции наблюдаются ошибки из-за люминесценции материала кюветы. [c.362]

Схемы, представленные на рис. 18.5, имеют преимущества по сравнению со схемой, изображенной на рис. 18.4 1) меньше сказывается люминесценция материала кюветы 2) требования, предъявляемые к избирательности вторичных светофильтров, не очень строгие, граница скрещивания светофильтров может быть не очень четкой. [c.362]

Для проведения качественного анализа необходимы таблицы спектральных линий, атласы спектральных линий и спектропроектор. Атласы спектральных линий бывают двух типов атласы дуговых и искровых спектров железа и атласы спектральных линий железа и других элементов. Дуговые и искровые спектры железа применяют в качестве вторичного эталона длин волн. Первичным эталоном длин волн служит оранжево-красная линия криптона Кг 587,09 нм. В одном метре укладывается 1 650 763,73 длины волны в вакууме оранжево-красного излучения криптоновой лампы. Атласы спектральных линий выпускают применительно к каждому типу спектрографа. Чаще других применяют кварцевые спектрографы средней дисперсии ИСП-28, ИСП-30. Основу атласов составляет увеличенное в двадцать раз изображение спектра железа, что соответствует увеличению выпускаемых промышленностью спектропроекторов ПС-18 нли ДСП-1. В атласах дуговых и искровых спектров железа встык сфотографированы два спектра железа при разных выдержках. При большой экспозиции в спектре появляются малоинтенсивные линии, а при малых— отчетливо видны те линии, которые перекрываются в спектрах, снятых при больших выдержках. Увеличенное в двадцать раз изображение спектра железа имеет длину более двух с половиной метров. Поэтому его разбивают на отдельные участки, которые наносят на планшеты, в правом верхнем углу которых указан порядковый номер. Против каждой линии в спектре железа имеется стрелка с указанием длины волны. [c.666]

Для очистки сточных вод по первому варианту используют технологическую схему, изображенную на рис. 143. Схема включает следующие основные стадии механическая очистка с помощью решеток и песколовушек, усреднение стоков, первичное отстаивание и обработка осадка, аэробное окисление, вторичное отстаивание, транспортирование активного ила и возвратной воды, хлорирование очищенной воды и спуск ее в водоем. [c.407]

Узкая диафрагма Н служит пространственным фильтром излучения лазера. Излучение коллимируется линзой Ы и проходит через диффузионную ячейку С. Линзы Ь2 и ЬЗ действуют, подобно телескопу, сфокусированному на бесконечность (лучи показаны непрерывными линиями). Пластана Савара 8Р совместно с поляризатором Р и анализатором А разделяет волновой фронт, вызывая интерференцию. Фотоаппарат СА, расположенный за 8, снимает вторичное изображение ячейки с наложенными на него интерференционными полосами. [c.151]

Вторичное изображение получается вследствие введения в апертурную диафрагму объектива дополнительного или даже нескольких дифракционных отражений более высокого порядка, кроме нулевого дифракционного максимума в дентральном луче. Вследствие большой ошибки апертуры нескорректированных электронных линз в разных местах вдоль первичного изображения, полученного от центрального луча , образуется одно или несколько вторичных изображений кристаллическога объекта. Но в то время как первичное изображение на освещенном ярком фоне темное, вторичные изображения яркие на более темном фоне вследствие дифракции и ди- [c.280]

Пучок электронов, исходящий из катода К, превращается магнитной линзой практически в параллельный пучок электронов, пронизывающий рассматриваемый объект О и дающий его изображение па просвет. Объект расположен в непосредственной близости короткофокусной магнитной линзы Первичное изображение объекта, которое даёт эта линза, лежит в фокальной плоскости третьей магнитной линзы дающей сильно увеличенное вторичное изображение объекта на люмипеспирующем экране 8. Изображение, получаемое на экране, фиксируется фотографическими методами. Основное отличие электронного микроскопа от оптического состоит в замене окуляра, служащего в оптическом микроскопе для визуального наблюдения, проекпионной линзой и в малой апертуре (малом входном отверстии) копденсорной линзы. Большая апертура привела бы к слишком заметной аберрации. [c.201]

Реакции (изомеризации, циклизации) представленные на рис. 10. параллельно оси абсцисс, протекают на кислотных центрах, а изображенные параллельно оси ординат — на металлических цен — трах гидрирования—дегидрирования. Согласно этой схеме, н — гексан сначала дегидрируется на металлических центрах с образо — ванием н —гексена, который мигрирует к соседнему кислотному це1 тру, где протонизируется с образованием вторичного карбени — евого иона, затем изомеризуется в изогексен или циклизуется в мепилциклопентан с последующей изомеризацией в циклогексан (возможна циклизация изогексена сразу в циклогексан). Последний на металлических центрах дегидрируется с образованием конечного продукта — бензола. Возможны и другие маршруты образования ароматических углеводородов. [c.181]

Выделение жидкого аммиака из газовой смеси происходит во вторичном сепараторе 6. В теплообменнике 5 газовая смесь нагревается от О до 20°С. Далее газовая смесь сжимается до 35 МПа в циркуляционном поршневом или центробежном компрессоре 4. В данной схеме изображен многослужебный поршневой компрессор, в разных цилиндрах которого сжимается свежая азотоводородная смесь, циркуляционный газ и аммиак. Газовая смесь, подогретая в теплообменнике 10 до 180 °С, посту- [c.60]

Усилитель изображения состоит из фосфоресцирующего экрана и системы фотоувелпчения, дающей на вторичном экране резко усиленное изображение, которое можно, в свою очередь, наблюдать визуально или фотографировать. Стандартная медицинская установка имеет поле обзора диаметром 22,5 см, что достаточно для изучения большинства псевдоожиженных слоев. [c.130]

На рис. 94 изображен план установки. Установка занимает площадь 11 050 м , или 1,12 га. Аппаратура расположена по принципу поточности процесса. Трубчатые печи размещены на краю площадки, что уменьшает пожарную опасность. В первом ряду от печей расположены все ректификационные колонны — первая, вторая и вакуумная, за колоннами расположены конденсаторы и холодильники. При таком расположении горячие трубопроводы от нечей к колоннам и шлемовые лпнии большого сечения от колонн к конденсаторам имеют наивозможно меньшую длину. Аппараты, связанные с переработкой сернистых нефтей (стабилизатор, колонна вторичной перегонки и др.), вынесены на край установки, что позволило получить фактически единый план [c.166]

Для подобранных эквивалентных смесей вторичных эталонных топли устанавливают октановые числа и условную сортность нри помощи графика, изображенного на рис. XXI.14. [c.633]

Магвитографвческие дефектоскопы. Основной элемент в магнитографическом дефектоскопе - магнитная лента - выполняет двойную роль сначала служит индикатором поля дефекта, фиксируя это первичное, исходное поле в виде пространственного распределения остаточной намагниченности рабочего слоя, а затем сама становится источником вторичного, отображенного магнитного поля, которое, в свою очередь, считывается еще одним индикатором. Соответственно этому магнитографический контроль состоит из двух операций записи и считывания. Для первой операции необходимы устройства намагничивания (чаще всего электромагниты) и крепления ленты на изделии, для второй - считывающие устройства (собственно дефектоскопы). Возможно определение указанных процессов в едином устройстве (например, с использованием кольцевых лент или магнитных валиков, прокатываемых по изделию). В настоящее время успешно ведутся работы по замене магаитных лент многоэлементными электромагнитными преобразователями, позволяющими преобразовать топографию поля рассеяния дефекта сразу в оптическое изображение на экране видеоконтрольного устройства, лшнуя промежуточные операции загшси - считывания. [c.162]

И-500 (Япония). Просвечивающий электронный микроскоп обеспечивает предельное разрешение 0,14 нм при изображении плоскости кристаллической решетки и 0,3 нм по точкам имеет увсличе 1ие от 100 до 800 000 раз, работает при ускоряющем напряжении до 125 кВ. У микроскопа имеются приставки для охлаждения и нагревания до 800°С. Вместе с приставкой HSE-2 микроскоп мокнет работать и как сканирующий, при этом достигается разрешение в режиме растрового просвечивания 3 нм и режиме вторичной электронной эмиссии 7 нм. При использовании микроскопа совместно с многими рентгеновскими спектрометрами можно проводить микроанализ. [c.147]

JEM-IOO (Япония). Просвечивающий электронный микроскоп обеспечивает предельное разрешение 0,14 нм при изображении плоскости кристаллической решетки и 0,3 нм по точкам работает при ускоряющем напряжении до 100 кВ. Дает возможность получать микродифракцию с участка размером до 20 нм. Вместе с приставкой ASID-4D может работать и как сканирующий, при этом достигается более высокое разрешение, чем у предыдущего микроскопа в растрово-просвечивающем режиме 0,15 нм и в режиме вторичной электронной эмиссии 3 нм. [c.147]

Первичная структура молекул РНК фиксирована. В то же время ее вторичная структура потенциально весьма изменчива, но подчиняется двум ограничениям. Первое из них состоит в том, что никакое ребро типа Ь не может быть инцидентным более чем одной вер-щине, а, согласно второму, структура с ребрами типа Ь является плоской. Это означает, что если граф изображен таким образом, что вершины лежат на окружности, соответствуя по порядку ребрам, а ребра Ь изображены в виде хорд, то никакие два ребра Ь не [c.518]

В случае систем, изображенных на рис. 2.17,6 для принятия решения о выборе типа защиты нужно учесть уровень защитного тока, распределение тока по формуле (2.44), вторичные продукты электролиза и эксплуатационную надежность в связи с характером поляриза-цгюнных кривых по рис. 2.14. Для пояснения на рис. 2.18 показано относительное положение нестационарных и квазистационарных кривых 1(1 ) по отношению к критическому диапазону потенциалов для коррозионного растрескивания под напряжением. Очевидно, что нестационарные измерения кривых 1(1]) ведут к ошибочным выводам и что г.виду меньшего расстояния между областью защиты и стационарным потенциалом, меньшей плотности защитного тока и большего сопротивления поляризации более выгодна анодная защита [69]. [c.73]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология