Ячейки геометрия

Допустим, что атомы шарообразны. Как бы плотно шары ни прилегали друг к другу, между шарами всегда остается незанятое пространство. Если распределение шаров известно, то можно подсчитать ту долю пространства q, которая заполнена шарами, т. е. коэффициент компактности структуры. При гранецентрированной кубической решетке ГЦК элементарная ячейка структуры — куб, длину ребра ко-торого (параметр решетки) обозначим Ui. На каждый такой куб приходится 4 атома. Следовательно, на один атом приходится объем = = а /4. Из геометрии элементарной ячейки структуры ГЦК легко вывести, что радиус шара связан с параметром решетки уравне-VT [c.272]

В соответствии с этим структурное исследование можно разбить на два основных этапа 1) определение периодичности (размеров элементарной ячейки кристалла) из анализа геометрии дифракционной картины [c.53]

Соотношение между измеренной проводимостью раствора и его удельной проводимостью зависит от геометрии электролитической ячейки. Геометрию ячейки невозможно определить совершенно точно, а поэтому ячейки градуируют по какому-либо из принятых стандартных растворов (см. стандартные растворы для электропроводности). Постоянную ячейки С определяют из соотношения [c.155]

Переход Фредерикса. Характер влияния внешнего поля на нематик зависит от ряда параметров. Например, знака диэлектрической анизотропии Ае, деформационных модулей упругости нематика (нематик, как говорилось выше, подобно кристаллу и в отличие от жидкости обладает отличными от нуля деформационными модулями упругости), характера сцепления молекул нематика с поверхностями ячейки, геометрии опыта. Замечательным свойством переориентации структуры нематика под действием внешнего поля является пороговый (по полю) характер изменения структуры в поле, перпендикулярном поверхностям ячейки при планарной исходной ориентации нематика. Это означает, что в полях меньше критического изменения структуры нематика не происходит. И только по достижении критической величины поля структура нематика начинает претерпевать изменения. Сам же характер изменения таков, что непосредственно выше критического поля Ес эти изменения малы, однако быстро нарастают по мере превышения полем критического значения. [c.44]

Отметим, что полученные оптимальные решения фо° и зависят лишь от коэффициентов Л, , и в которые не входит внутренний эквивалентный диаметр эв, т. е. оптимальные решения не зависят от геометрии (конфигурации) ячейки по тракту внутреннего теплоносителя. Предварительное нахождение оптимальных относительных характеристик позволяет значительно упростить задачу оптимизации теплообменника и свести ее к нахождению одного из Re,- потоков и одного из эквивалентных диаметров каналов ы. [c.73]

Отметим, что геометрия элементарной ячейки должна быть оптимальной. Этому требованию удовлетворяет ячейка с минимальной стороной сг при поперечном обтекании. При продольном обтекании оптимальна ячейка в виде равностороннего треугольника со стороной а " , если выполняется условие а —о <0, или со стороной ст°" , если это условие не выполняется. [c.83]

Рис. 10.3. Элементарная ячейка в плоской геометрии

В плоской геометрии ячейку можно представить как блок единичного поперечного сечепия с размерами по оси. х [c.479]

Как уже отмечалось (гл. II, 3), полное структурное исследование кристалла можно разбить на два принципиально разных этапа. На первом из них решаются проблемы метрики решетки и симметрии кристалла определяются размеры элементарной ячейки (а следовательно, и число формульных единиц, приходящихся на ячейку), точечная и пространственная группа кристалла. Для решения этих задач привлекаются лишь данные о геометрии дифракционной картины — о направлениях дифракционных лучей, симметрии в расположении пятен на рентгенограмме и наличии или отсутствии пятен, отвечаюш их лучам с определенными индексами (правила погасаний). [c.82]

Интересно, что в первом приближении не зависит от г и геометрии решетки, т. е. от формы элементарной ячейки. [c.526]

После термостатирования ячейки в течение 10—15 мин закрывают шибер и измеряют сопротивления между контрольными электродами в сечениях J i — jfi — нижнем — н j j — 2 Р нем — Из-за различия геометрии [c.213]

Соотношение (XXX. 12) получается из соответствующей формулы аналитической геометрии путем замены направляющих косинусов индексами. В кубической сингонии все элементарные ячейки подобны, поэтому взаимное направление нормалей к атомным плоскостям не зависит от размеров ячейки, а только от ориентации соответствующих атомных плоскостей, то есть от кристаллографических индексов кк1). [c.368]

С точки зрения геометрии решетка кристалла состоит из элементарных ячеек, имеющих форму параллелепипедов. В результате трансляции элементарной ячейки в трех направлениях весь объем кристалла целиком заполнен ячейками. Отсюда следует, что симметрия элементарной ячейки должна отражать симметрию кристалла в целом. Длины ребер элементарной ячейки а, Ь, с и углы а, р, у при ее вершине называются параметрами ячейки или параметрами решетки. За единицу измерения вдоль ребер решетки принимают расстояния между узлами. В общем случае, когда а Ф Ь ф с, по каждой оси получается свой масштаб длины. О возможных значениях углов а, р, у будет сказано ниже. [c.238]

Еще более усложняется геометрия решеток, когда речь идет о химических соединениях, в которых соотношение атомов или ионов не равно 1 1. Рассмотрим решетку флюорита — СаРа. Ионы кальция располагаются в вершинах и центрах граней куба, образующего элементарную ячейку кристалла. Мысленно можно разделить этот куб на восемь кубиков меньшего размера с общей вершиной в центре большого куба (рис. 56). Тогда, как нетрудно видеть, ионы кальция разместятся в четырех из восьми вершин каждого маленького куба, причем так, что никакие два иона не находятся на одном ребре. Такие четыре иона, как известно, образуют тетраэдр, центром которого [c.119]

Имея подходящий кристалл и изучив свойства его элементарной ячейки с помощью пленочных методов, можно затем измерить интенсивности, укрепив кристалл в дифрактометре таким образом, чтобы была известна ориентация обратной решетки относительно геометрии дифрактометра. В этом случае ЭВМ будет знать, где находится каждое отражение hkl. На схеме типичного гониометра дифрактометра (рис. 17.24) показан диапазон движений при координировании дифрактометра и кристалла. На самом деле не слишком трудно установить кристалл вручную. Установку можно также осуществить, направляя беспорядочные отражения на дифрактометр и используя автоиндексирующую программу (описанную ранее). Этот метод находит все большее применение. Как только в счетчике зарегистрированы три отражения за счет подгонки углов х, Ф, ш и 20 при условии, что они корректно индексированы ( — кфк и т.д.), ЭВМ может рассчитать матрицу ориентаций (и постоянные ячейки) из этих данных ЭВМ может определить углы дифрактометра, соответствующие любым значениям h, к и I. Естествен- [c.396]

Наиболее четкая дифракционная картина, получаемая при максимальном упорядочивании (для монокристаллов), приводит к полной расшифровке структуры с определением межатомных расстояний внутри молекулы и между атомами соседних молекул, углов между связями, геометрии элементарной ячейки, распределения электронной плотности. При исследовании поликристаллов применяют фазовый рентгеноструктурный анализ, который ограничивается получением характерных дифрактограмм и определением меж-плоскостных расстояний для обнаружения и идентификации соединений. [c.200]

Рентгеноструктурный анализ распадается на две стадии. Сначала по геометрии расположения рефлексов на рентгенограмме определяют размеры и симметрию элементарной ячейки кристалла, число атомов или молекул в ячейке. Затем находят координаты атомов, занимающих элементарную ячейку. Для этого промеряются интенсивности всех рефлексов и рассчитывается распределение электронной плотности внутри ячейки. Сгустки электронной плотности указывают на положение атомов в ячейке и одновременно в молекулах. [c.61]

Второй этап структурного анализа является основным определение координат атомов в ячейке по интенсивности дифракционных лучей — задача несравненно более сложная и трудоемкая, чем нахождение параметров решетки и пространственной группы по геометрии дифракционной картины и законам погасаний. Прежде чем перейти к описанию способов решения этой задачи, тре- [c.73]

Однако при наличии в задаче нескольких ограничивающих поверхностей роль этого параметра во многом зависит от конкретной геометрии задачи. Рассмотрим, например, полость, изображенную на рис. 14.3.1, считая, что она заполнена чистой водой при температуре с = 0°С. Если 4 °С, т. е. 1, то вдоль холодной стенки полости возникает восходящее течение и развивается одноячеистая схема движения. Однако для любых 4>4°С 0 У <1, и между вертикальными границами полости располагается жидкость с максимальной плотностью, соответствующей температуре (т. Таким образом, изменение направления действия выталкивающей силы в рассматриваемой области происходит при 0 / <1. При этом в зависимости от соотношения между интенсивностью обратного течения и силами вязкости может возникнуть многоячеистый режим течения. При Я = 1/2 максимум плотности для кондуктивного температурного поля располагается посередине между вертикальными границами. Это характерно для любых значений и 1с, симметричных относительно т. е. для Я == = 1/2. При этом возникают симметричные ячейки, в которых жидкость вращается в противоположных направлениях. [c.329]

Второй этап структурного анализа является основным определение координат атомов в ячейке по интенсивности дифракционных лучей — задача несравненно более сложная и трудоемкая, чем нахождение параметров решетки и пространственной группы по геометрии дифракционной картины и законам погасаний. Прежде чем перейти к описанию способов решения этой задачи, требуется, во-первых, учесть различные побочные факторы, влияющие на интенсивность дифракционных лучей, во-вторых, найти формулы взаимосвязи между параметрами структуры и параметрами дифракционных лучей (их амплитудами и начальными фазами) и выяснить принципиальные возможности этих формул. [c.90]

Наименьшей ячейкой мембранного массообменного устройства является мембранный элемент, состоящий из напбрного и дренажного каналов, разделенных селективно-проницаемой перегородкой. Тип элемента определяется геометрией разделяющей поверхности (плоские, рулонные, трубчатые, волоконные) и организацией движения потоков газа (прямо-и противоточные, с перекрестным током, с рециклом разделяемой смеси и т. д.). Напорный канал элемента плоского типа образован селективно-проницаемыми стенками, ориентированными горизонтально или вертикально. В элементах трубчатого типа напорный канал ограничен внутренней поверхностью одной трубки или наружной поверхностью нескольких соседних трубок. Разделительная перегородка обычно состоит из собственно мембраны, пористой подложки и конструктивных деталей, обеспечивающих механическую прочность и жесткость. Массовые потоки в мембране и пористой подложке ориентированы по нормали к разделяющей поверхности. [c.10]

Вместе с тем, концепция фазовых проницаемостей применяется для расчетов процессов вытеснения нефти при различной геометрии области фильтрации и различных размерах расчетной ячейки, что заставило ввести коэффициенты охвата, сетки и т.п. [6, 22]. [c.14]

Четвертый тип масс-анализаторов — циклотронно-резонансный масс-анализатор с фурье-преобразованием (ИЦР-ФП-спектрометр или МСФП, масс-спектрометр с фурье-преобразованием), еще пока не получил широкого распространения в аналитической практике. Для разделения ионов используют ячейки различной геометрии на рис. 9.4-7,е изображена кубическая ячейка. Ячейка находится в магнитном поле В. Ионы образуются либо внутри ячейки, либо во внешнем ионном источнике. Ячейка состоит из двух расположенных напротив друг друга пластин-ловушек, двух возбуждающих пластин [c.277]

Имеется другой, до некоторой стенени вторичный эффект, который также бJtaгoпpuят твyeт з величснню вероятности нейтрону избежать резонансного захвата. Из-за физического разделения двух материалов нейтроны в процессе замедления нри прохождении резонансного интервала имеют меньшую вероятность столкнуться с ядрами горючего, и число резонансных иоглоще-пий, следовательно, сокращается. Этот эффект зависит главным образом от геометрии ячейки. [c.476]

Отметим, что использованная простая Агодель ячейки была введена лишь с целью выяснения влияния геометрии на вероятность избежать резонансного захвата и не была предназначена в качестве рабочей при практических расчетах. [c.490]

Поскольку измеряемое сопротивление Rx зависит от геометрии ячейки, размеров электродов и расстояния между ними, то практически всегда определяют константу ячейки v.lRx=lls, используя стандартный раствор с известным значением х. Так, например, в растворе КС1, содержащем в 1 кг 0,7453 г соли, при 18°С и=0,0122 См/м. Зависимость удельной электропроводности от концентрации в водных растворах некоторых электролитов представлена на рис. 15. При с О величина к стремится к удельной электропроводности чистой воды, которая составляет приблизительно 10 5 См/м и обуслоплена присутствием ионов Н3О+ и 0Н , возникающих в результате диссоциации воды 2Н2О 2 Н3О++ОН-. С ростом концентрации электролита и вначале увеличивается, что отвечает увеличению числа ионов в растворе. Однако чем больше ионов в растворе, тем сильнее проявляется ион — ионное взаимодействие, приводящее к замедлению движения ионов, а также к их ассоциации. Поэтому почти всегда зависимость удельной электропроводности от концентрации электролита проходит через максимум (рис. 15). [c.59]

Помимо типов связи кристаллы отличаются своей геометрией. Приведенная выше кубическая решетка хлористого натрия является простейшим примером. Уже кристалл s l построен по-другому он образует так называемую объемно-центрированную кубическую решетку. В вершинах куба, образующего элементарную ячейку, находятся одноименно заряженные ионы, скажем ионы СГ, а в центре куба — ион s+. В то же время этот центр может рассматриваться, как вершина другого куба, в вершинах которого находятся ионы цезия, а в центре — анион СГ. В этом варианте каждый ион окружен восемью (а не шестью, как в случае Na I) противоионами, т. е. координационное число равно восьми (рис. 55). [c.119]

В соответствии с этим структурное исследование можно разбить на два основных этапа 1) определение периодичности (размеров элементарной ячейки крис1ал-ла) из анализа геометрии дифракционной картины 2) определение относительных координат атомов в ячейке из анализа н н т е н с и в н о с т и дифракционных лучей. [c.52]

Отработаны методики контролируемого получения различных полиморфных модификаций глицина и исследована анизотропия их сжатия при действии гидроетати-ческого давления. Показано, что изменение параметров ячейки происходит в основном за счет изменения геометрии Н-связей. Установлена высокая устойчивость к механическому воздействию в мелышце чистого г лицина и снижение этой устойчивости в присутствии добавок, способных влиять на систему межмолекулярных водородных связей в глицине. [c.14]

Влияние геометрии ячейки на пиролиз битуминозного угля при его исследовании методом электронного спимо- вого резонанса. [c.53]

Разберемся подробнее в том, почему кристаллическая структура обычных бинарных солей определяется относительными размерами катиона и аниона. Решающим фактором, оказывающим влияние на число ближайщих соседей каждого иона, является геометрия их расположения. Рассмотрим, например, кристаллическую структуру типа СзС1 (изображенную на рис. 10.15), в которой каждый ион С5 окружен восемью ионами С1 . Подсчитаем критическую величину отношения радиусов катиона и аниона ( катип / янипн) при которой еще может осуществляться такая структура. Если анионы соприкасаются друг с другом и имеют радиус а, то длина ребра элементарной ячейки тако- [c.177]