Микроскопы также Световой микроскоп

Скорость всплывания пузырьков и их размер определяли также фотографическим методом. При фотографировании применялась боковая импульсная подсветка, дающая вспышку света через определенные промежутки времени. Пленки расшифровывались при помощи микроскопа МИР-12, соединенного с микрометрической насадкой. Цена деления шкалы наса. ки определялась объект-микрометром, Истинный диаметр пузырька определялся при помощи калибровочного графика, полученного путем фотографирования стальных шариков известного диаметра при том же способе подсветки, что п при фотографировании пузырьков. [c.20]

Наряду с изучением рассеяния света дисперсной системой в целом применяются также методы, основанные на регистрации рассеяния (дифракции) света на единичных частицах. Этот метод — ультрамикроскопия — имел большое значение в развитии коллоидной химии. Для наблюдения рассеяния света отдельными частицами применяются оптические системы с темным полем. К их числу относятся ультрамикроскопы, в которых интенсивный сфокусированный световой поток направляется сбоку на исследуемую систему, а также конденсоры темного поля, которые используются в обычных микроскопах для создания бокового освещения. Регистрация светящихся точек, хорошо видимых на темном фоне и представляющих собой свет, рассеянный (дифрагированный) отдельными частицами, позволяет определить концентрацию частиц дисперсной фазы, наблюдать флуктуации их концентрации и броуновское движение. Такие опыты, проведенные Перреном, Сведбергом и рядом других ученых, явились подтверждением правильности теории броуновского движения (см. гл. V) и молекулярно-кинетической концепции в целом. С. И. Вавиловым был разработан иной метод изучения броуновского движения. В этом методе производилась фотосъемка частиц дисперсной фазы, находящихся в броуновском движении. Перемещение частиц приводило к тому, что их изображения на пластинках имели вид размазанных пятен в полном согласии с теорией броуновского движения средняя площадь этих пятен оказалась пропорциональной времени экспозиции. В этом методе удается фиксировать одновременно несколько частиц, что облегчает получение необходимого для статистического усреднения большого количества экспериментальных результатов. [c.171]

Вместо этого способа освещения можно использовать и конденсоры специальной конструкции кардиоидный конденсор (рис. 10) и па-раболоидный конденсор (рис. 11), которыми заменяют конденсор в обычном микроскопе. Они также дают возможность освещать коллоидные частицы, в то время как непосредственное попадание света от осветителя в объектив микроскопа исключается. [c.36]

Существует еще много других физических методов исследования структуры молекул. Теснейшим партнером ИК-спектроскопии является спектроскопия комбинационного рассеяния света (КР). Структурную информацию получают также из микроволновых (МВ) спектров. В последние годы быстро развивается фотоэлектронная спектроскопия (ФЭС), основанная на анализе электронов, выбитых из вещества под действием излучения. Спектроскопия электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) в некотором смысле сходна с методом ЯМР, но основана на переориентации неспаренных электронов в молекуле. Помимо дифракции рентгеновских лучей используется дифракция электронов и нейтронов (электронография и нейтронография). Современные влектронные микроскопы позволяют увидеть> отдельные атомы. Каждый год появляются новые методы или модификации известных методов исследования структуры химических соединений. Наконец, в последние годы все шире применяются теоретические расчеты молекул методами квантовой химии. — Прим. перев. [c.27]

Предел увеличения в электронном микроскопе также определяется дифракцией электронов. Этот предел зависит от длины волн, эквивалентных данному потоку электронов, который в свою очередь зависит от их скорости. Последняя определяется напряжением электрического поля между катодом и анодом установки. Обычно применяемая разность потенциалов равна 10 в. Такой высокий потенциал используют для получения достаточно большой скорости электронов (чем эта скорость выше, тем меньше длина электронной волны и тем выше разрешающая способность электронного микроскопа). Указанному напряжению (10 в) соответствует длина волны 4- 10" мк (4- 10 ° см). Это в 100 000 раз меньше наиболее короткой волны видимой части спектра (для фиолетового света она равна 0,38 мк). Такая крайне малая величина длины волны, эквивалентная потоку [c.355]

Люминесценцию в сине-фиолетовых лучах видимого света можно наблюдать с помощью обычного микроскопа, установив на пути лучей синий стеклянный или жидкий светофильтр, пропускающий сине-фиолетовые лучи видимого спектра. Синие лучи, мешающие выявлению люминесценции, убирают желтым светофильтром, который помещают на окуляр микроскопа. В результате наблюдатель видит на темном фоне люминесцирующие объекты. Однако для микробиологических исследований наиболее удобен люминесцентный микроскоп, в котором люминесценция возбуждается сине-фиолетовыми лучами и ближним ультрафиолетом. Оптическая схема микроскопа МЛ-2 позволяет наблюдать объекты при освещении их как в проходящем, так и в падающем свете. Чаще свет, возбуждающий люминесценцию, направляется на препарат сверху, через объектив. При освещении объектов сверху (для возбуждения люминесценции) одновременно допускается освещение объектов снизу с помощью конденсора темного поля ОИ-13 или фазово-контрастного устройства. Люминесцентный микроскоп также позволяет исследовать объекты в видимой области спектра в проходящем и отраженном свете в темном поле. Устройство люминесцентного микроскопа и порядок работы даны в описании каждой конкретной модели и здесь не приводятся. [c.95]

Агрегатные серии Полам для проходящего света Микроскопы базируются на одном штативе, линза Бертрана размещена в тубусе. См. также табл. 4а [c.309]

С помощью микроскопа МИМ-8М можно проводить исследования в светлом поле при прямом и косом освещениях, а также в темном поле и поляризованном свете. [c.111]

Взаимодействие между частицами в смешанных дисперсных системах изучали методами, основанными на рассеянии света и микроэлектрофорезе. Эти методы описаны в работе [19]. Для определения свойств описанных здесь коллоидных систем были использованы также электронная микроскопия и атомно-абсорбционная спектроскопия. [c.68]

Ультрамикроскопические наблюдения также иногда позволяют судить о форме коллоидных частиц. Так, если частицы асимметричны (например, имеют форму палочек или листков), то, яркость рассеянного света будет зависеть от того, на какую из, плоскостей поверхности частицы попадут лучи падающего света. Такие частицы обладают переменной яркостью, т. е. мерцают, на темном поле зрения микроскопа. [c.42]

В последние годы создано большое число микроскопов, предназначенных для проведения исследований как в проходящем, так и отраженном свете, а также позволяющих проводить различные специальные исследования. [c.111]

Клеточная стенка анатомических элементов древесины, волокон технической целлюлозы и других волокнистых полуфабрикатов имеет сложное строение, связанное с распределением в клеточной стенке высокомолекулярных химических компонентов. Для изучения этих вопросов применяют, кроме световой, микроскопию в ультрафиолетовом и поляризованном свете, а также флюоресцентную микроскопию. Для исследования тонкого строения клеточной стенки - ультраструктуры (субмикроструктуры) используют главным образом электронную микроскопию (см. 5.4) с применением просвечивающих (ПЭМ) и растровых, или сканирующих, электронных микроскопов (РЭМ). Эти исследования имеют важное значение для понимания изменений, происходящих с анатомическими элементами древесины и другого растительного сырья, а также в клеточной стенке в процессах делигнификации и других процессах химической и химико-механической переработки древесины. [c.214]

А fio]. Для контроля поверхностей подложек также используются такие методы оптической микроскопии, как светоразделительная микроскопия, многолучевая интерференция и фазово-контрастная микроскопия (интерференция с использованием поляризованного света и двулучепреломляющей призмы). В этих методах для измерения толщины использованы принципы, описанные в гл. 1. В отличие от наблюдения колец на ступеньке пленкн, в них рассматривается вся подложка, в силу чего интерференционные кольца образуют контурную карту поверхности. [c.507]

Следует сделать важное замечание, относящееся к подсчету бактерий с помощью как эпифлюоресцентной микроскопии, ак и микроскопии в проходящем свете Растворы и другие чйатериалы, используемые в процессах окраски и фильтрации, сами могут содержать бактерии, которые будут уловлены на 1 1ембране или фильтре и подсчитаны. Действительно, бактерии огут расти в разбавленных растворах красителей при хране- йи. Поэтому весьма существенно, чтобы все растворы красителей, а также вода, используемая для любого разбавления, были предварительно отфильтрованы через мембраны. или 4>ильтры, имеющие те же размеры пор, что и используемые окончательном анализе. Стерилизация автоклавированием не позволяет избавиться от бактерий, и поэтому их можно подсчитать под микроскопом. Самое лучшее, что можно сделать,— это предварительно отфильтровать все растворы и затем хра- ить их в стерильных контейнерах, извлекая из них в стерильных условиях небольшие пробы для ежедневной работы. [c.218]

Л еталлографические исследования. Структуру гальванических осадков, т, е. размеры зерен и наличие посторонних включений, а также пор и трещин, исследуют с помощью металлографического микроскопа отраженного света на поперечных шлифах. Шлифы поперечного среза готовят следующим способом. Образец длиной 50—60 мм и шириной 10 мм армируют эпоксидной смолой. Грубой шкуркой снимают первые слои, после чего шлифование продолжают мелкой наждачной бумагой, затем на сукне с пастой ГОИ, и окончательно шлифуют мягкой шерстью. [c.139]

В дуговых лампах осциллографов, микроскопов, а также во многих других приборах, где требуется точечный источник света [c.125]

Характер свечения не зависит от X, но определяется спектральным составом возбуждающего света. При малых количествах TIX это явление можно наблюдать в люминесцентном микроскопе. При очень низких температурах, порядка —160°, хлорид таллия обладает синим свечением [758], но вряд ли такой способ наблюдения флуоресценции найдет применение в аналитической химии. Для нас важно то обстоятельство, что и растворы солей таллия способны флуоресцировать фиолетовым светом [56, 57, 170, 748]. Флуоресценция возбуждается только коротковолновыми ультрафиолетовыми лучами ( l<2500 А) она обусловлена гидратированными ионами таллия и может быть замечена даже в 10 -моляр-ных растворах [170]. Фториды вызывают тушение флуоресценции соли таллия в растворе [20]. Тущение вызывают также ионы Fe2, J" и ОН [56, 57]. [c.32]

В условиях насыщения газового пространства ячейки водяными парами рост пленки на сухом электроде, частично погруженном в электролит, может наблюдаться также в ряде случаев при включении поляризующего тока [33]. Если сухой электрод погрул ен в раствор, то без поляризации в отраженном свете хорошо видна граница между электродом и мениском. С включением катодного тока (ионизация кислорода в 57У КОН) происходит потемнение узкой зоны над мениском и распространение этой зоны со временем вверх по электроду. Одновременно на фоне этой темной зоны образуются сначала очень мелкие, а затем все более укрупняющиеся капли (линзы) жидкости. Можно предполагать, что темная полоса — это пленка жидкости. Картина, наблюдаемая в стационарном состоянии в поле микроскопа, схематически представлена на рис. 86, а. При увеличении поляризующего тока скорость распространения пленки возрастает. Выключение тока приводит к медленному исчезновению пленки. При повторном включении тока пленка вновь начинает распространяться по поверхности. Исследование других электрохимических реакций в кислых и щелочных растворах привело к следующим результатам [c.106]

Монохроматор. Для определения дисперсии двупреломления кристаллов с клиновидным краем можно использовать любой небольшой монохроматор. Микроскоп осве1цают светом из выходной щели монохроматора. Подходящий по форме кристалл, оптическая ориентировка которого предварительно была определена коноскопическим наблюдением в белом свете, помещают в центре поля и приводят в положение 45°. Свет из монохроматора направляют на кристалл таким образом, чтобы осветить клиновидный край, а также и толстую пластинку кристалла, которая проектируется при этом на крест нитей. Барабан, регулирующий длину волны света, устанавливают сначала на крайний красный конец спектра, а затем медленно вращают в обратном направлении, пока часть кристалла у креста нитей не будет в положении погасания. При этом отмечают порядок полосы разности хода п и длину волны Далее уменьшают длину волны света, пока кристалл вновь не будет в положении погасания, и отмечают длину волны для п 1)-й полосы разности хода. Эту операцию повторяют по всей длине спектра. Расчет дисперсии и ее графическое изображение проводятся тем же путем, который был описан выше. Метод линзы может быть применен для определения значения преломления для линии натрия 589 тр. или ртути 546 пщ, чтобы по значению дисперсии двупреломления определить величину двупреломления при различных длинах волн. [c.298]

Большинство мембранных фильтров изготовлено из целлюлозных материалов, и задержанные частицы остаются на поверхности фильтра. Они могут быть подсчитаны с помощью микроскопа в падающем свете. Если фильтр сделан прозрачным (путем пропитки оптическим маслом), можно воспользоваться и проходящим светом. Материал, из которого изготовлен фильтр, растворяется в подходящих органических растворителях (эфиры — апример, в этилацетате . кетоны — в ацетоне, метаиоле, пиридине и др.), поэтому частицы легко и быстро извлекаются. Мембранные фильтры изготавливают также из термостойких материалов, кислотостойких эпоксидных смол или поливинилхлорида, стойкого в среде некоторых ограничеоких растворителей. Фильтры могут применяться также для идентификации специфических материалов методом цветного пятна. Обычио эти тесты проводят на аммиак, кальций, галоиды, свинец, сульфат- и нитрат-ионы. Шлуни и Лодж [795] исследовали фильтрацию аэрозолей с помощью электронной микроскопии Баум и Рисс [63] и Фридрихе [282] описали многоступенчатый фильтр для последовательного отбора проб. [c.88]

Оптич. св-ва М. включают преломление, отражение и поглощение света, блеск, цвет, люминесценцию. Они также связаны с составом и структурой М. Преломление света наблюдается у прозрачных М. (кислородные и галогенные соед.) и характеризуется показателем преломления п. Отражение света наблюдается в большей степени у непрозрачных и полупрозрачных М. (металлы, интерметаллиды, халькогениды, оксиды и гидроксиды) н характеризуется коэф. отражения R. По величинам и и Л диагностируют М. под микроскопом в проходящем или отраженном свете. Свето-поглощение (оптич. плотность) характеризует как прозрачные (алмаз, горный хрусталь), так и полупрозрачные (сфалерит, сера) и непрозрачные (магнетит, золото) М. Блеск М., наблюдаемый визуально,-одна из форм светоот-ражения. Он бывает металлическим, полуметаллическим, алмазным, стеклянным, жирным, матовым и др. Цвет М. объясняется частичным поглощением видимого света и обусловлеи присутствием в структуре ионов-хромофоров в качестве видообразующих элементов или изоморфных примесей, а также структурными дефектами, газово-жидкими включениями и микроскопич. включениями окрашенных М. Нек-рые М. способны люминесцировать при облучении, нагревании, раскалывании, в результате трения. [c.88]

Следует также подчеркнуть, что объектив микроскопа, используемый для эпифлюоресцентного счета, должен обладать способностью пропускать максимальное количество света. Фазово-контрастные объективы с вделанными в них фазовыми пластинками, как правило, для этого непригодны. Среди объективов, предназначенных для микроскопии методом светлого поля, нужно выбрать тот, который имеет большую числовую апертуру. Однако сильное увеличение не только не нужно, пО даже нежелательно, поскольку оно влечет за собой снижение интенсивности изображения. Лучше пользоваться маломощными окулярами. По сравнению с обычной микроскопией флюоресцентная микроскопия так же, как и темнопольная, позволяет разглядеть клетки значительно меньших размеров, поскольку каждая клетка в этом случае представляет собой точечный источник света. Многие затруднения при эпифлюоресцентном счете, которые упоминаются в литературе [55, 108],. могут быть вызваны как ошибками при самом микроскопическом исследовании, так и тонкостями процесса мембранной фильтрации. Если соблюдены все предосторожности, то под. микроскопом мы увидим ярко светящиеся бактерии на совершенно черном фоне (рис. 8.3). [c.217]

Мезофазные сферы в момент их возникновения и при последующем росте, по данным световой микроскопии в поляризованном свете, а также дифракционного и рентгеноструктурного анализов, являются оптически одноосными положительными кристаллами гегсагональной системы. Показанные на рис. 2-4, а изгибы слоев приводят к тому, что на краях они перпендикулярны к касательной поверхности сферы. Это, по-видимому, способствует начальной коалесценции. В условиях относительно низкой подвижности мезофазы и случайной взаимной ориентации коалесцирующих сфер образования простой слоистой структуры не происходит. При этом возникают структуры, отличающиеся множеством дефектов упаковки слоев линейных, изгибов, нарушений непрерывности. Исследования профилей рефлексов (002) рентгенограмм мезофазы с учетом эффектов гьбсорбции и поляризации рентгеновских лучей, а также фактора рассеяния атомов углерода показывают, что средние значения межслоевого расстояния 002 равны примерно 0,350 нм [2-89]. Отдельные пачки слоев с разными значениями межслоевого расстояния имеют размеры до 2 нм. При нагревании сферы мезофазы могут расщепляться и приобретать относительно плоскую конфигурацию. То же происходит и при графитации мезофазы. Флуктуация межслоевых расстояний у графитирующейся мезофазы наивысшая. [c.46]

Вертикальный металломикроскоп МИМ-6 позволяет исследовать непрозрачные объекты в светлом и поляризованном свете, а также производить фотографирование структуры шлифов. Микроскоп МИМ-6 дает увеличение при наблюдении от 63 до 1425 раз, а при фотографировании — от 86 до 1416 раз. Как видно из рис. 234, микроскоп состоит из трех частей нижнего корпуса 1, осветительного устройства 6 и собственно микроскопа 3. На микроскопе находятся иллюминаторный 5 и визуальный 7 тубусы, предметный столик 4 и механизмы грубой 2 и тонкой 8 наводок на фокус. К микроскопу прилагается комплект объективов и окуляров для различных увеличений. [c.275]

Рентгеновские лучи (а также и другие богатые энергией лучи) могут, воздействуя на соответствующие вещества, вызывать выделение видимого света (явление рентгенолюминесцснции). Так, просвечивание рентгеновскими лучами в наше время широко применяется в медицине, в технике при контроле качества металлических изделий и т. д. Поскольку сами рентгеновские лучи не видимы глазом, то, чтобы сделать изображение видимым, на пути рентгеновских лучей устанавливаются особые экраны, покрытые с поверхности химическими препаратами (фосфорами), состоящими большей частью из сульфидов цинка и кадмия с различными активирующими добавками. Эти препараты способны под действием рентгеновских лучей выделять видимый свет, и благодаря этому проекция просвечиваемого объекта на экране становится видимой глазом. В кинескопах различного рода телевизионных установок, в электронном микроскопе и др. подобное же возбуждение происходит под действием направленного электронного луча. [c.557]

Макро- и микроструктура коксов оценивается с помощью световой микроскопии в основном в поляризованном свете, а также сканирующей и просвечивающей электронной микросконии. [c.55]

В настоящее время, когда описаны уже все основные составляющие вяжущих материалов, дальнейшее применение петрографии в этой области развивается по двум нaпpaвлe raям 1) использование накопленного материала для точной идентификации состава технических продуктов и организации непрерьлвного петрографического контроля и 2) разработка новых оригинальных методов микроскопического исследования в поляризованном свете, а также конструирование новых микроскопов и применение уже известных для решения некоторых принципиальных и важных в теоретическом и практическом отношении задач химии вяжущих материалов. , [c.121]

Микроинтерферометр Линника типа МИИ-4, предназначенный для непрозрачных объектов, имеет следующий ход лучей (рис. 55). Параллельный пучок лучей от коллиматора ра зделяется пластинкой 3 на два пучка одинаковой интенсивности. Пучок сравнения попадает на зеркало 7 и отражается вновь на пластинку 3. Другой пучок попадает на объект н также отражается отраженный пучок света несет информацию о состоянии отражающей поверхности. На пластинке 3 оба пучка соединяются снова в один пучок и интерферируют в фокальной плоскости линзы 4. Получаемую интерференционную картину наблюдают через окуляр. По профилю полос на интерференционной картине можно измерять глубину трещин, ступенек и т. д. Микроскоп МИИ-4 позволяет определять толщины от 0,03 до I мкм и фотографировать изображение. [c.123]

Поливинилспиртовые пленки применяются ц качестве разделительных слоев при формовании листовых материалов и изделий из ненасыщенных полиэфирных, меламиновых, эпоксидных смол, а также временных защитных покрытий различных поверхностей от загрязнения лаками и красками во время строительных и ремонтных работ [8]. Для придания защитным покрытиям водостойкости поливинилспиртовые пленки дублируют с пленками, изготовленными из сополимеров ВС с этиленом и полиэтилена [а. с. СССР 513998]. При этом поливинилспиртовый слой комбинированной пленки используется для приклеивания ее к защищаемой поверхности. Растянутые в одном направлении и окрашенные раствором иода в иодиде калия или парами иода пленки из ПВС линейно поляризуют проходящий сквозь них свет. Такие пленки применяются для изготовления поляризационных светофильтров (поляроидов), используемых в поляризационных микроскопах, электронных часах и т. п. Изменяя условия изготовления поляроидов, можно получить иоднополивинилспиртовые светофильтры, поляризующие свет не только в видимой, но и в близкой УФ-, а также в 14К-областях спектра [56, с. 83]. Для увеличения эластичности пленок и улучшения технологии получения поляроидов ПВС может быть заменен сополимерами ВС с 1 — 77о (масс.) винилпирролидона [а. с. СССР 834005]. [c.145]

Микроскопические методы обычно применимы для исследования состояния поверхности металла. С этой целью используется бинокулярный микроскоп, воспроизводящий объемную картину поверхности. При этом применяются светло-, темно- и косопольное освещение, фазовый контраст, а также поляризованный свет и ультрафиолетовые лучи. [c.223]

Структуру свеженапыленных пленок молибдена и ванадия, а также отожженных при температурах 600, 900, 1150° С исследовали методом поглощения света в области длин волн 350 —500 нм в случае молибденовых пленок, и 350—580 нм для пленок ванадиевых, а также методом электронной микроскопии. Спектрофотометрические измерения давали также информацию об образовании промежуточных фаз и установлении химических связей металлическая пленка — подложка. [c.16]

Степень прозрачности изделий из полипропилена определяется прежде всего размером сферолитов, на которых происходит рас-.-сеяние света. Если удается воспрепятствовать образованию крупных сферолитов путем быстрого охлаждения тонкой пленки, то получается прозрачное изделие, которое даже в поляризационном микроскопе не обнаруживает двойного лучепреломления, типичного для сферолптной структуры. Чем меньше скорость охлаждения — а она при плохой теплопроводности полипропилена в значительной степени зависит также и от толщины изделия, — тем крупнее сферолиты и ниже прозрачность изделия. На прозрачность оказывают влияние и другие факторы, от которых зависят размеры сферолитов, в частности величина молекулярного веса и стереоизомерный состав полипропилена. [c.118]

При ближайшем рассмотрении под электронным микроскопом было обнаружено, что светящимися элементами являются полусферы, закрывающие сверху углеродные филаменты, присутствующие также в избытке в фуллеренсодержащей саже. Сами углеродные филаменты, подобно пучкам оптических волноводов,свет не излучали в силу того, что каждый из них имеет сердцевину из более оптически плотного материала и оболочку из менее плотного, поэтому на границе происходит полное внутренне отражение. [c.156]

Принцип сравнения изображений частиц с кружками известной величины был применен к проекционному микроскопу Сетка наносилась непосредствен но на экран, состоявший из стеклянной пластины, покрытой слоем матового же латниа В качестве источника света применялась 250 ваттная ртутная лампа высокого давления с оранжевым нли зеленым фильтром Измерение числа и раз меров частиц производилось иа статистической основе причем весовое распре деление частиц по размерам определялось с одинаковой точностью во всем диа пазоне размеров Для этого во всех фракциях частиц сохранялся постоянным фактор точности У п (где (1 — средний размер а и — число частиц дан ной функции, подсчитанных на площади а) Было также установлено что ошиб ки, возникающие при сравнении частиц неправильной формы с кружками не значительны для частиц менее 76 мк (за исключением особенно вытянутых) и получено хорошее согласие между результатами мнкроскопирования и седимен тометрического анализа в жидкой среде для частиц диаметром 76—0 3 мк Предварительные опыты показали, что такая же методика применима и при ра [c.228]

Результаты, полученные большинством упомянутых авторов критически разобраны в целом ряде обзоров з2-зо g чение для промышленной гигиены обсуждено Уотсоном При сравнении всех этих результатов необходимо учитывать разпич ную плотность вещества аэрозолей Кроме того, как указывает Уотсон, обычно под диаметром частицы понимают ее характеристический размер, в то время как частицы пыли редко бывают сферическими и с помощью микроскопа нельзя получить полные све дения об их форме и структуре Измерения с помощью микро скопа, а также измерения пропускания света, дают, как правило завышенный размер частиц, по сравнению с размером, рассчитан ным по скорости оседания Уотсон подчеркивает, что инерционное н седиментационное осаждение частиц зависят от параметра dip 328 [c.328]

Нами была приготовлена серия растворов воды в четыреххлористом углероде, от предельно растворимого количества до 0,1 %, когда расслоение еще не наблюдалось. ИК-спектры этих растворов показывали незначительное увеличение интенсивности всех четырех наблюдаемых полос с ростом концентрации воды. При этом наблюдалось также усиление молекулярного рассеяния (конус Тиндаля) при использовании сфокусированного света ртутнокварцевой лампы ДРШ-250. Кроме того, при 60—100-кратном увеличении в поле зрения микроскопа МИК-1 эти частички уже были видны, и наблюдалось увеличение размеров и числа этих микрокапель воды при увеличении концентрации последней. Следует отметить, что нами могли быть обнаружены только микрокапли размером (2—8) [c.50]

Петрографический состав угля представляет собой информацию о степени метаморфизма, мацеральном составе и распределении минералов в исследуемом угле. Органическое вещество каменных углей, наблюдаемое под микроскопом в отраженном свете с масляной иммерсией, состоит из мацералов, различающихся между собой по цвету, показателю отражения, микрорельефу, морфологии, структуре и степени ее сохранности, а также по размерам, анизотропии и твердости. При количественном петрофафическом анализе мацералы углей объединяют в фуппы с близкими химико-технологическими свойствами. [c.10]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология