Флуоресценция поправка

Если влияние оказывают только два первых фактора, то в отличие от оптической спектроскопии в интенсивность флуоресценции при заданном составе пробы можно вносить расчетные поправки. [c.204]

Величина /о рассчитывается по измерению интенсивности флуоресценции раствора 4 при длине волны 355 нм, /о —по измерению интенсивности флуоресценции раствора 5 при длине волны 430 нм. Так как недиссоциированная форма нафтола имеет довольно значительную интенсивность флуоресценции при 430 нм, то при измерении следует вводить поправку 7 = /изм действительная интенсивность флуоресценции 2-нафтолят-иона при 430 нм I — интенсивность флуоресценции нафтолят-иона, полученная экспериментально А — интенсивность флуоресценции 2-нафтола в растворе 4 при длине волны 430 нм. [c.78]

Абсолютные значения квантовых выходов флуоресценции или фосфоресценции можно рассчитывать по данным измерений в одних и тех же произвольных единицах интенсивности поглощаемого и испускаемого света. Должны быть сделаны поправки на различия в пространственном и спектральном распределениях возбуждающего света и испускаемого излучения, необходимо также знать кривую спектральной чувствительности фотоприемника. Направленный возбуждающий пучок можно рассеять для сравнения с изотропным испускаемым излучением с помощью матовой поверхности или, лучше, с помощью белкового раствора, рассеивающую силу которого можно рассчитать. Процедура коррекции спектрального распределения испускаемого излучения может быть упрощена. Для этого испускаемое излучение образца и рассеянный возбуждающий свет надо последовательно направить на подходящее флуоресцирующее вещество, которое преобразует все падающее излучение в свой собственный спектр флуоресценции с постоянным [c.192]

Определение абсолютных квантовых выходов флуоресценции представляет собой довольно трудную задачу. Оно требует измерения поглощенных и испускаемых квантов во всей области частот с поправками на рассеянный свет, повторное поглощение и на эффекты преломления. На практике часто используют растворы веществ с известным квантовым выходом флуоресценции. Измеряют интенсивность флуоресценции известного и исследуемого раствора в совершенно идентичных условиях как функцию частоты. Строят кривые зависимости относительного числа излученных квантов от частоты. Площади под этими кривыми пропорциональны квантовому выходу флуоресценции. Зная соответствующее значение квантового выхода для стандарта, определяют величину квантового выхода флуоресценции исследуемого соединения. [c.62]

Определение абсолютных квантовых выходов флуоресценции представляет собой трудную задачу. Оно требует измерения поглощенных и испускаемых квантов во всей области частот с поправками на рассеянный свет, повторное поглощение и на эффекты прелом- ления. На практике часто используют растворы веществ с известным квантовым выходом флуоресценции и определяют квантовые выходы флуоресценции исследуемых соединений по отношению к известным со- [c.158]

Спектры флуоресценции, получаемые в виде зависимости сигнала фотоумножителя от частоты, называются кажущимися спектрами флуоресценции. Необходимо вводить поправку к наблюдаемому сигналу фотоумножителя для получения величин, которые пропорциональны числу квантов в секунду. (Это является главной [c.268]

Поправка на флуоресценцию за счет характеристического излучения F [c.23]

Если энергия Е характеристического рентгеновского пика элемента / в образце больше, чем кр элемента С, то следует учитывать вторичную флуоресценцию при введении поправок при определении концентрации элемента i. Поправка пренебрежимо мала, если Е— кр) больше 5 кэВ. Поправка на флуоресценцию необходима потому, что энергии рентгеновского излучения от элемента j достаточно для возбуждения вторично- [c.23]

Поскольку за счет флуоресценции интенсивность излучения элемента i всегда увеличивается, для поправки можно использовать следующее выражение [c.24]

Фактор флуоресценции Fi является обычно наименее важной поправкой в методе трех поправок, поскольку вторичная флуоресценция может и не происходить или концентрация j в уравнении (7.27) может быть мала. [c.25]

НО работать при низких ускоряющих напряжениях. При работе с низкими ускоряющими напряжениями будет уменьшаться также поправка на поглощение Лре и Лм (табл. 7.4). Хотя поправка на флуоресценцию уменьшается при малых углах 111, ошибка, связанная с членом Ри не увеличивается с увеличением угла выхода [140]. Следовательно, требование работы при низких Ео и больших значениях г з, рекомендуемое для уменьшения Л , остается в силе даже в тех случаях, когда требуется вводить большие поправки на флуоресценцию. [c.26]

Поправка на флуоресценцию за счет непрерывного рентгеновского излучения [c.26]

Точные вычисления /ф требуют значительного объема программ и затрат машинного времени. Поскольку этим эффектом во многих случаях допустимо пренебречь, в большинство программ для коррекции по методу трех поправок не включается поправка на флуоресценцию за счет непрерывного излучения. Она учитывается в таких полных процедурах коррекции, как OR [141] и разработанные в [142, 143]. [c.27]

Было проведено исследование поправки на флуоресценцию за счет непрерывного излучения, чтобы выявить случаи, когда этой поправкой можно пренебречь [144]. Авторы пришли к следующим заключениям [c.27]

Величиной поправки на флуоресценцию за счет непрерывного излучения нельзя пренебречь в тех случаях, когда f(%)> >0,95. Это соответствует случаям анализа рентгеновских линий элементов в легкой матрице, например анализа тяжелого компонента в окисле. [c.27]

Изменения ускоряющего напряжения и погрешности в значениях угла выхода, выходе флуоресценции и отношении скачка поглощения не оказывают существенного влияния на величину рассматриваемой поправки. [c.28]

Поправкой на флуоресценцию за счет непрерывного рентгеновского излучения можно пренебречь, когда [c.28]

Итерации продолжаются до тех пор, пока различие между вычисленными значениями не станет достаточно малым. На практике результаты в действительности зависят от выбора эталона, при анализе геологических образцов обычно выбираются эталоны, средний атомный номер которых почти такой же, как у образца. Тем самым уменьшается влияние атомного номера. Эффекты флуоресценции малы в силикатных породах и подобных материалах. Следовательно, конечная поправка представляет собой в основном поправку на поглощение. [c.37]

В методе Кобе необходимость использования поправочных факторов Z, А, F м фактора, обусловленного флуоресценцией, вызываемой непрерывным излучением, сведена к минимуму, поскольку близость значений энергий для /, и в приводит к отсутствию необходимости вводить поправку на поглощение А, а использование отношения /,//в — вводить поправку на атомный номер Z, Поправка F, обусловленная флуоресценцией под действием характеристического излучения, пренебрежимо мала в, большинстве случаев микроанализа биологических образцов, за исключением тех случаев, когда в матрице с низким Z присутствуют элемент с высоким значением Z (флуоресценция за счет непрерывного излучения). Константа ki определяется с помощью эталонов с известной концентрацией. [c.73]

Достоинство метода отношения Р/В в применении к биологическим материалам заключается в том, что различные поправки, используемые в методе трех поправок, играют значительно менее важную роль. Поскольку предполагается, что процентная доза характеристического рентгеновского излучения, поглощенного в образце, такая же, как и для излучения фона, фактор поглощения (Л) отпадает. В биологическом материале эффект атомного номера (Z) мал, и в любом случае им пренебрегают, так как он по предположению оказывает одинаковое влияние на пик н непрерывное излучение. Поскольку у биологического материала низкий атомный номер, эффект вторичной флуоресценции (F) мал и его можно рассматривать как поправку второго порядка. Как в [165], так и в [166] показано, что результаты измерения Р/В нечувствительны к эффективности детектора, флуктуациям тока пучка и неточностям коррекции живого времени. Кроме того, результаты измерения Р/В менее чувствительны к изменениям геометрии поверхности, часто [c.75]

Область, в которой флуоресценция пропорциональна концентрации флуоресцирующего вещества, обычно очень узка поэтому соотношение (с—с )/(а—Ь), где а — интенсивность флуоресценции для стандартного вещества, Ь — то же для соответствующего контрольного вещества, с — интенсивность флуоресценции для испытуемого вещества и ё — то же для соответствующего контрольного раствора, должно быть не менее 0,40 и не более 2,50. Поэтому необходимо построить рабочую кривую зависимости интенсивности флуоресценции с поправкой на контрольный раствор от концентрации. [c.55]

Содержание К, Са, Т1, Сг, Мп, Рс определяют с помощью кристалла 1лГ при 30 кв и 10 мка. Время набора информации 40 сек. экспериментальный дрейф не превышает 1 %. Подготовка образца для анализа заключается в из-, мельчении его до крупности <10 мкм, распределения ровным слоем навески 10—15 мг в алюминиевом тигле и запрессовке до плотного состояния. Полученную таблетку площадью 30 мм (й = 6 мм) напыляют в вакууме тонким слоем углерода. Таким же образом приготовляют и исследуют эталонные стандарты -1, 1В-1, ВСК-1, состав которых близок к лунным образцам. Фон учитывают обычным образом в измеренные значения относительной интенсивности вносят поправки на поглощение, флуоресценцию и атомный номер по методу [603]. [c.158]

Для расчета содержания элемента в измеренное отношение интенсивностей необходимо ввести поправки на атомное число г, поглощение А и флуоресценцию Р, т. е. [c.43]

Поправку на флуоресценцию (возбуждение излучения элемента А присутствующим в образце элементом В) рассчитывают из соотношения [c.44]

Перед тем как исследовать молекулярные свойства какой-либо новой полимерной системы даже на откалиброванном приборе, следует учитывать два дополнительных фактора деполяризацию и флуоресценцию. Поправку на деполяризацию можно сделать с помощью множителя Кабанна [35, 233]. Флуоресценцию можно уменьшить либо применением еще одного монохроматического фильтра, либо работая при больших длинах волн. В целом оба эти эффекта приводят к увеличению побочного рассеяния света. Другой способ уменьшить их влияние состоит в применении вертикально поляризованного света. [c.40]

Джонсон и Ричардс, помимо других факторов, обсуждали величину систематических ошибок, обусловленных следующими причинами поляризацией возбуждающего света, ориептацией и поворотом поляроида, расхождением пучка флуоресценции. Поправку на степень поляризации возбуждающего света рь можно вычислить по следующей формуле [c.280]

Измерение квантового выхода флуоресценции. Определение абсолютных квантовых выходов флуоресценции представляет собой трудную задачу. Оно требует измерения поглощенных и испускаемых квантов во всей области частот с поправками на рассеянный свет, повторное поглощение и на эффекты преломления. На практике часто используют растворы веществ с известным квантовым выходом флуоресценции и определяют квантовые выходы флуоресценции исследуемых соединений по отношению к известным соединениям. Необходимо работать с очень разбавленными растворами, когда избыточным поглощением возбуждающего света и самопо- [c.68]

Часто соединение, имеющее долгоживущую люминесценцию, также имеет и быструю флуоресценцию. Если выход последней уже определен обычным способом, то выходы фосфоресценции и замедленной флуоресценции при тех же условиях можно определить, не сравнивая с другим раствором. Отношение выхода замедленной флуоресценции к выходу быстрой флуоресценции вычисляется сравнением интенсивностей одного из главных максимумов в спектрах, которые идентичны по форме. Регистрируемый спектр испускания не надо исправлять, но следует сделать поправки на коэффициент фосфориметра и чувствительность прибора, при которой измеряются два спектра. [c.70]

Выходы долгоживущей флуоресценции и фосфоресценции определяются тем же методом, что и выходы быстрой флуоресценции, т. е. сравнением площади под исправленным спектром испускания с площадью под спектром быстрой флуоресценции стандартного соединения. Для получения соответствующей величины площади интенсивность долгоживущей люминесценции нужно разделить на коэффициент фосфориметра. Иногда соединение имеет и долгоживущую люминесценцию, и быструю флуоресценцию. Если квантовый выход последней уже определен обычным способом, отношение выхода замедленной флуоресценции к выходу быстрой флуоресценции можно вычислить по сравнению интенсивности одного из максимумов в спектрах, которые идентичны по форме. Измеряемый спектр испускания не надо исправлять по чувствительности фотоумножителя, но необходимо сделать поправки на коэффициент фосфориметра и чувствительности прибора, при которых измеряются оба спектра. [c.160]

Величина 1° рассчитывается по измерению интенсивности флуоресценции раствора № 4 при длине волны 355 нм, о — по измерению интенсивности флуоресценции раствора № 5 при длине волны 430 нм. Так как недиссоциированная форма нафтола имеет довольно значительную интенсивность флуоресценции при 430 нм, то при измерении / следует вводить поправку / изм — Л 111о), где Г — действительная интенсив- [c.169]

Значение учета фактора поглощения можно проиллюстрировать на примере анализа бинарных систем Ni—Fe и А1—Mg. В обеих системах атомные номера двух входящих элементов, настолько близки, что нет необходимости вводить поправку на атомный номер Z,-. Рассмотрим поглощение линии Nijf в Fe и А1к( в Mg. В обоих случаях вторичной флуоресценции не происходит, и можно не учитывать поправку Fi. Для обеих систем расчеты Ai = fix)/fi%) были проведены с использованием поправки Филибера — Данкамба — Хейнриха по уравнениям (7.9), (7.12)-(7.16). [c.14]

Поправочный фактор Ihith представляет собой отношение интенсивности излучения элемента вызываемого элементом / путем флуоресценции, к интенсивности излучения элемента i, возбуждаемого электронами. Общий фактор поправки получают суммированием флуоресценции элемента t, вызываемой всеми элементами / в образце. Наибольшее распространение получило выражение для фактора поправки lUilh, выведенное Ридом [138]. Для элемента t, флуоресцирующего под воздействием элемента / в образце, содержащем эти или дополнительные элементы, имеем [c.24]

Важность поправки на флуоресценцию можно продемонстрировать на примере бинарной системы Ее — Ni. В такой системе энергия характеристического излучения Nijf 7,478 кэВ больше, чем энергия возбуждения Ее /(-излучения, к = 7,11 кэВ. Поэтому генерируется избыточное количество квантов Ее д -излу-чения. Поправка на атомный номер Zi в такой системе меньше 1%, и ею можно пренебречь. Расчеты Fpe в сплаве 10 вес.% Fe — 90 вес.% Ni проводились по формулам (7.27) и (7.28). [c.25]

В табл. 7.4 указаны входные данные, используемые для расчета Fi. Величина fpe рассчитывалась для двух значений ускоряющих напряжений 30 и 15 кВ и для двух значений углов выхода 15,5 и 52,5°. Величина флуоресценции Ее, определяемая отношением / pe-Ni/Zpe, приведена в табл. 7.4. Она изменяется От 16,8 до 34,6% и увеличивается с увеличением угла выхода рентгеновского излучения и ускоряющего напрял<ения. Для уменьшения величины поправки на флуоресценцию желатель- [c.25]

Рек-линии вызывают флуоресценцию как Сгтс , так и Ука, причем Сгка возбуждается сильнее. Обычно желательно работать при низких ускоряющих напряжениях и больших углах выхода ф, поскольку при этих условиях величина 2у4 -поправки ближе всего к единице. [c.31]

Расчеты показали, что ощутимый эффект атомного номера 10% для Сг и Fe — двух элементов, атомный номер которых значительно выше среднего атомного номера образца. Поправка на атомный номер несколько меньше при 0 = 30 кэВ. Эффект флуоресценции мал, максимальная поправка изменяется от 2 до 3% для Сг. Хотя Еек-излучение сильно возбуждает rjiT -линию, эффект флуоресценции мал из-за относительно малого содержания Fe, всего 7,5 вес. %. Ясно, что поправка на поглощение является наиболее важной из трех. Необходимы поправки до 20% при о=15 кэБ и до 48% при о = 30 кэБ. Если угол был бы меньше 52,5°, то поправка на поглощение была бы еще больше. Желательно работать при малых fo, поскольку при этом поправка Ai уменьшается. Таким образом, анализ почти всех силикатов рекомендуется проводить при больших углах выхода рентгеновского излучения и низких ускоряющих напряжениях. [c.32]

Анализ образцов в виде тонкой фольги представляет собой простейшую аналитическую проблему. До некоторой степени микрорентгеноспектральный анализ образцов в виде тонкой фольги проще, чем анализ плоских массивных образцов. Когда образец очень тонкий, упругое рассеяние и потери энергии уменьшаются до такой степени, что эффекты атомного номера исключаются или в лучшем случае оказываются второстепенными. Поскольку сечения как упругого, так и неупругого рассеяния уменьшаются с увеличением энергии пучка, образцы в виде тонкой фольги лучше всего анализировать с помощью аналитического электронного микроскопа (АЭМ), который обычно представляет собой комбинацию просвечивающего и просвечивающего растрового электронных микроскопов, работающих при ускоряющем напряжении 100 кВ и снабженных рентгеновским спектрометром с дисперсией по энергии. В случае отсутствия АЭМ можно использовать РЭМ или рентгеновский микроанализатор, работающий при ускоряющем напряжении 40—60 кВ, хотя роль эффектов атомного номера в зависимости от состава фольги или ее толщины может стать значительной. Как поглощение, так и флуоресценция также становятся незначительными для тонкой фольги в зависимости только от толщины фольги и независимо от энергии пучка. Таким образом, при анализе образцов в виде тонкой фольги можно пренебречь всеми матричными эффектами — влиянием атомного номера, поглощением и флуоресценцией, па которые должна вводиться поправка при анализе массивных образцов. В результате анализ тонкой фольги можно провести ири помощи простого метода относительной чувствительности, [169, 170]. [c.57]

Поправка на флуоресценцию описывает возбуждение вторичного рентгеновского излучения элемента А за счет флуоресцентного излучения, испускаемого другим элементом, присутствующим в образце. Этот эффект является наиболее сильным, когда возбуждающее излучение имеет энергию, несколько превышающую энергию связи, соответствующую измеряемой линии, т. е. вблизи максимума сечения поглощения. Например, в образце, содержащем железо и никель, К-излучение никеля может возбуждать линию РеК , а в образце, содержащем медь и золото, линии АиЬа могут возбуждать линию СиКо. Поправка на флуоресценцию от характеристических линий зависит от атомного флуоресцентного выхода и доли возбуждающего элемента в образце. Для рентгеновских линий с энергиями менее [c.44]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология