спектры элементы, входящие в состав

Методика атомно-абсорбционного спектрального анализа заключается в том, что исследуемое вещество вводят в газовое пламя, одновременно пламя освещают светом с непрерывным спектром, например от лампы накаливания или от трубки с полым катодом (газоразрядная трубка, в спектре которой наблюдаются линии элементов, входящие в состав материала катода). В полученном спектре интенсивность света в области характеристических частот будет меньше интенсивности ближайших соседних участков спектра. Ослабление интенсивности в области характеристических частот измеряют при помощи фотоэлектрической установки. Между ослаблением интенсивности линии, характерной для данного элемента, и концентрацией этого элемента в исследуемой пробе наблюдается линейная зависимость. [c.244]

Принципиальная схема рентгеновского спектрометра. Первичное излучение рентгеновской трубки вызывает флуоресценцию элементов, входящих в состав пробы. Излучение флуоресценции проходит вдоль набора продольных плоскопараллельных пластин, падает на кристалл-анализатор и, отражаясь от него, разлагается в спектр. Отражающееся в различных направлениях излучение определенных длин волн регистрируется счетчиком, совмещенным с гониометром. Такая схема прибора основана на принципе рентгеновской дифрактометрии. Этот метод отличается от рентгеновской спектроскопии только тем, что в нем задаются длиной волны регистрируемого излучения, а строение кристалл-анализатора остается неизвестным. В рентгеновской же спектроскопии имеет место обратное. [c.204]

Кирхгоф показал, что для каждого элемента, разогретого в пламени горелки, характерен свой спектр. Таким образом, снимая спектр излучения химического элемента, Кирхгоф как бы снимал отпечатки пальцев такого элемента. Получив такую информацию, можно было решить и обратную задачу опознать элемент, входящий в состав неизвестного вещества. Прибор, используемый для определения элементов описанным способом, получил название спектроскопа (рис. 17). [c.102]

Коллектор примесей должен отвечать ряду требований, из которых наиболее важные — устойчивость при хранении простой эмиссионный спектр элементов, входящих в его состав возможность приготовления стандартов чистота по определяемым примесям, т. е. минимальный холостой опыт. В некоторых случаях таким условиям отвечает соединение основного компонента. Однако для улучшения пределов обнаружения основу лучше отделять и [c.196]

В эмиссионном анализе определение основано на измерении интенсивностей характерных спектральных линий спектров элементов, входящих в состав данного анализируемого вещества. [c.343]

При эмиссионном анализе определение основано на измерении интенсивности характерных спектральных линий спектра элементов, входящих в состав данного анализируемого вещества (см. книга I, Качественный анализ, гл. X, 4). [c.263]

В большинстве последних разработок используют плазменные источники для получения эмиссионных спектров элементов, входящих в состав элюента. [c.73]

Термодинамические расчеты показывают, что ири таких условиях равновесный состав газовых смесей характеризуется большим содержанием атомов элементов, входящих в состав пробы, и элементов окружающей атмосферы, а также большим содержанием двух-, трехатомных молекул, состоящих из тех же самых элементов. Чем больше энергия диссоциации двух-, трехатомных молекул, тем больше их содержание в смеси по сравнению с атомами. Чем выше температура, тем больше степень диссоциации этих молекул, поэтому стараются применять наиболее высокие температуры, если можно ожидать присутствие молекул с большими значениями энергий диссоциаций. Практика работ с высокотемпературными атомизаторами показала, что в газовых средах, даже нри наличии молекул с большими энергиями диссоциации, образуется достаточное количество атомов для получения спектров поглощения. Естественно, что поглощение тем сильнее, чем больше свободных атомов, [c.148]

Для качественного рентгенофлуоресцентного анализа важно, чтобы энергия полихроматического излучения (излучения различных длин волн) рентгеновской трубки была равна или превышала энергию, необходимую для выбивания /(-электронов элементов, входящих в состав анализируемой пробы. В этом случае спектр вторичного рентгеновского излучения содержит характеристические рентгеновские линии, длина волны которых соответствует приведенным в таблице данным. Избыточная энергия первичного излучения трубки (сверх необходимой для удаления /(-электронов) высвобождается в виде кинетической энергии фотоэлектрона. [c.781]

Принципиальная схема установки для рентгенофлуоресцентного анализа показана на рис. 33.3. Первичное излучение рентгеновской трубки / попадает на пробу 2, в которой возбуждается характеристическое вторичное рентгеновское излучение атомов элементов, входящих в состав пробы. Отражающиеся от поверхности пробы рентгеновские лучи самых разнообразных длин волн проходят через коллиматор 3 —систему из параллельных молибденовых пластин, предназначенную для пропускания параллельных идущих только в одном направлении лучей. Расходящиеся лучи других направлений поглощаются внутренней поверхностью трубок. Идущие от пробы лучи разлагаются в спектр, т. е. распределяются по длинам волн посредством кристалла-анализатора 4. Угол отражения лучей 0 от кристалла равен углу падения однако [c.783]

В интенсивность пиков ионов М + 1 и М -I- 2 вносят вклад изотопы всех элементов, входящих в состав исследуемого вещества. В масс-спектрах соединений, содержащих серу и кремний, интенсивность пиков М + 2 приближается к интенсивности пиков М + 1, так как у этих элементов значительное содержание изотопов 3 8 и (Приложение, табл. 1). [c.58]

В нормальных масс-спектрах легко идентифицировать пик, соответствующий молекулярному иону, который содержит наиболее распространенный изотоп каждого из элементов, входящих в состав данного соединения. Ионы большей массы соответствуют молекулярным ионам, которые содержат менее. распространенные изотопы элементов и пучки которых поэтому имеют меньшую интенсивность. [c.9]

Масс-спектрометрический метод позволяет установить природу многих элементов, входящих в состав изучаемого соединения. Усовершенствование метода возможно осуществить двумя путями. Во-первых, исследования масс-спектров могут охватить пики изотопов, которые, как указывалось выше, сопутствуют исходному молекулярному иону и интенсивность которых находится в опреде- [c.10]

В тех лабораториях, где имеется возможность применять метод масс-спектрометрии, следует попытаться определить молекулярную формулу изучаемого органического соединения по группе пиков в масс-спектре, расположенных в области молекулярного иона. Появление этих пиков связано с наличием вкладов в молекулярный ион разных изотопов элементов, входящих в состав определяемого соединения (разд. 4.2.2). Данные масс-спектров можно также использовать для того, чтобы определить наличие и число тех атомов в молекуле, которые дают необычно большие или очень малые вклады в интенсивность пиков, близких к молекулярному иону (разд. 4.2.2). [c.32]

Все элементы, входящие в состав органических природных веществ и материалов, имеют стабильные изотопы, спектры ЯМР [c.10]

Спектр фотонов, испускаемых твердым телом, состоит из двух частей первая определяется элементами, входящими в состав твердого вещества, а вторая характеризует его структуру. [c.213]

Спектры поглощения фотонов, как было уже показано выше, имеют ряд характерных экстремумов. Положение максимума поглощения зависит от природы элементов, входящих в состав твердого тела, и реагирующих веществ, а также от природы химических связей между этими элементами. Между максимумом и минимумом величина коэффициента поглощения может изменяться на три порядка. Отсюда следует, что возможно избирательное поглощение фотонов либо твердым телом, либо реагирующими веществами. [c.238]

Общая энергия, расходуемая в течение одного импульса тока низковольтной искры, почти такая же, как и при высоковольтной искре. В спектре низковольтной искры наблюдаются линии нейтральных атомов и линии ионов элементов, входящих в состав электродов. [c.183]

Вследствие того что элементы, входящие в состав молекулы, имеют различные изотопы, в масс-спектре присутствуют также слабые линии, которые отвечают ионизированным молекулам, содержащим малораспространенные изотопы. Например, при исследовании углеводородных соединений обычно появляется малый пик с массой на единицу большей, чем у основного пика (пик М- - ), который характерен для изотопов или Н, распространенность которых меньше, чем у основных изотопов и Ш. Молекулы, содержащие хлор и бром, дают заметные пики М- -2, поскольку изотопы этих элементов отличаются на две массовые единицы, и соответственно 24,2% и 49,5% их атомов представляют собой тяжелые изотопы. Изотопные пики иногда оказываются очень полезными для подтверждения предполагаемых молекулярных масс. [c.207]

В масс-спектре присутствуют линии не только однозарядных, но и многозарядных ионов Х + с зарядом I вплоть до 10, а также сложных ионов — ионизированных соединений типа Х% или Х Ут (где У — обычно атом элемента, входящего в состав основы им может быть также атом водорода, углерода или кислорода). При качественной расшифровке масс-спектра необходимо учитывать, что линия определяемо- [c.213]

При тех условиях, которые возникают в искровом промежутке во время разряда, твердое тело полностью разрушается и наблюдаемый масс-спектр является суммой масс-спектров отдельных элементов, входящих в состав твердого тела. [c.144]

Строение атома водорода. Сведения о том, как расположены в атоме электроны, были получены главным образом в результате исследования атомных спектров. Такие спектры получают, нагревая вещества до очень высокой температуры и разлагая излучение с помощью спектроскопа. Атомные спектры состоят из линий, расположенных в определенной последовательности. Спектр, полученный для данного вещества, характеризует элементы, входящие в состав этого вещества. Спектры легких элементов Н, Не и др., атомы которых имеют немного электронов, относительно просты, так как содержат мало линий. Спектры атомов, имеющих много электронов, очень сложны. [c.33]

Качественный спектральный анализ основан на изучении эмиссионного спектра исследуемого вещества. Задачей качественного анализа является обнаружение и идентификации элементов, входящих в состав анализируемого образца. Качественный анализ выполняют визуально или фотографическим методом. Последний имеет преимущество перед визуальным способом, так как фотографический снимок спектра охватывает щирокую область длин волн и представляет ценный документ, который может неоднократно проверяться и храниться длительное время. [c.9]

При фотографировании спектра паров пробы следует помнить о последовательности поступления элементов в пламя дуги. Фотографирование спектра горящей дуги с пробой на движущуюся фотопластинку дает представление о последовательности и продолжительности испарения элементов, входящих в состав исследуемого образца. Чтобы не упустить испарение труднолетучих элементов, спектр дуги фотографируют до полного испарения пробы. [c.9]

При выборе условий проведения качественного анализа образца желательно предварительно изучить скорость и последовательность испарения элементов. Для этого спектр горящей дуги во время испарения пробы из канала электрода фотографируют на движущуюся фотопластинку, т. е. перемещают кассету спектрографа с фотопластинкой через равные промежутки времени (15—20 с), не прерывая горения дуги в течение 60—120 с. Полученная спектрограмма дает представление о последовательности и времени испарения элементов, входящих в состав исследуемого образца. [c.57]

С изменением условий возбуждения меняется характер спектра, т. е. число спектральных линий, их почернение и ширина. Из того, что аналитические линии свободны от мешающих влияний со стороны атомного спектра, не следует, что они не будут совпадать с ионными линиями других элементов, входящих в состав анализируемого материала. Поэтому при дуговом и искровом возбуждении аналитические линии, свободные от мешающих влияний, необязательно являются одними и теми же линиями. [c.19]

В рентгеновских микроанализаторах электронно-оптическая система формирует электронный луч-зонд диаметром 1...2 мкм", направляемый на анализируемый образец, вернее в какую-то точку на анализируемом образце или зерно . Флуоресцентное излучение элементов, входящих в состав зерна, кристалл-анализатором разлагается в спектр, а детектором определяется интенсивность отдельных линий. Применение электронного зонда позволило решить ряд важнейших задач теоретического и практического характера найти распределение данного элемента по поверхности образца, определить состав отдельных участков поверхности и т. д., что имеет особое значение в металлургической промышленности, электровакуумной технологии, геохимии, биологии и т. д. [c.128]

При полном анализе, когда речь идёт об установлении перечня всех элементов, входящих в состав пробы, дело сводится к идентифицированию всех линий спектра пробы с линиями соответствующих элементов или же к установлению в полученном спектре наличия или отсутствия характерных чувствительных линий всех элементов, присутствие которых возможно или мыслимо в пробе. [c.155]

Иногда в качестве источника ультрафиолетовой радиации применяют электрическую дугу постоянного или переменного тока, возникающую между угольными или металлическими электродами. В процессе горения дуги происходит сильное разогревание электродов (до 4000° К), в результате чего в свечении дуги преобладает температурное излучение (до 90—95% всей излучаемой энергии). Спектр излучения дуги состоит из излучений кратера и разрядного промежутка. Эмиссионный спектр кратера соответствует примерно излучению черного тела при 3820° К, а излучение разрядного промежутка содержит сильные полосы циана (при 360—390 ммк) и линии элементов, входящих в состав электродов. Интенсивность излучения дуги довольно непостоянна, что ограничивает применение этого источника при точных фотометрических измерениях. [c.173]

Кристаллофосфоры, характеризующиеся нерекомбинационным (внутрицентровым) механизмом люминесценции, представляют собой обширный класс кристаллических веществ, которые различают ио природе матрицы, и в первую очередь по ее симметрии, и свойствам излучающего центра — иона, квазимолекулы, молекулы, комплекса, спектр люминесценции которых может характеризоваться структурой. Именно структурность спектра люминесценции обеспечивает селективность определения ряда элементов, входящих в состав излучающего центра кристаллофосфора. Поэтому следует обратить особое внимание на условия возникновения структурного спектра, т. е. на механизм люминесценции кристаллофосфоров, за исключением кристаллофосфоров, активированных хромом и РЗЭ. Люминесцентные свойства иона хрома обусловлены, по-видимому, электронным состоянием (3 ), характерным для его изоморфного состояния в кристаллофосфоре. В этом случае ион хрома аналогичен редкоземельным элементам, для которых характерны электронные переходы внутри сильно экранированного 4/-уровня [470]. [c.218]

Первой стадией анализа неизвестного образца является идентификация врисутствующих в нем элементов, т. е. качественный анализ. Качественный анализ часто считают простым, не заслуживающим внимания методом. Читатель найдет значительно больше ссылок на работы, посвященные количественному анализу, чем качественному, которым, за небольшими исключениями в литературе, пренебрегали [109]. Если элементный соста-в образца определен неверно, то очевидно, что бессмысленно говорить о точности окончательного количественного анализа. В качестве общего замечания следует отметить, что идентификацию основных элементов, входящих в состав образца, обычно можно проводить с высокой степенью достоверности, но при рассмотрении малых добавок или следов элементов могут возникнуть ошибки, если не уделить должного внимания проблема.м наложениия спектров, артефактам и мультиплетно-сти спектральных линий. Из-за различий в подходе к качественному анализу с помощью кристалл-дифракционного спектрометра и спектрометра с дисперсией по энергии эти устройства будут рассматриваться отдельно. [c.269]

Микроспектральное определение фосфора ведут непосредственно на шлифе в импульсной искре [164], Неэлектропроводные включения размером более 50 мк анализируют в импульсной искре при емкости рабочего конденсатора 0,01 мкф с микроэлектродами иа меди или платины толщиной 0,15—0,20 мм. Для определения элементов, входящих в состав включения, наряду со спектрами [c.72]

Эти фотоны могут поглощаться твердым телом. Следует обратить внимание на тот факт, что тормозная способность вещества по отнощению к фотонам не должна быть очень велика, хотя энергия последних мала их спектр поглощения обнаруживает определенный ряд максимумов и минимумов, и между двумя последовательными экстремумами изменения коэффициента поглощения могут отвечать нескольким порядкам величины. За пределами энергии 20 эв максимумы поглощения представляют собой так называемые границы поглощения , которые характеризуют природу элементов, входящих в состав мищени. Ниже 20 эв существуют дополнительные полосы поглощения, которые характеризуют структуру облученного твердого тела. Поглощение описываемых фотонов вызывает ряд явлений, с которыми мы уже ознакомились 1) образование иона и электрона с положительной энергией 2) образование возбужденных электронных состояний (свободных носителей тока, экситонов и т. д.) 3) образование фотонов. [c.213]

Я. Д. Райхбаум и сотр. [4] применили и усовершенствовали еще один прием повышения чувствительности, обусловленный увеличением и г/Л/ одновременно и реализуемый только при фотоэлектрической регистрации спектра [5—7]. Этот метод применим к порошкообразным пробам, если анализируемый элемент представлен в них малыми по размерам дискретными частицами. Во время анализа в источник вводили последовательно одну за другой частицы пробы и регистрировали фотоэлектрически интенсивность аналитической линии интересующего элемента, входящего в состав минерала. За время пребывания в разряде частицы минерала и. пустой породы сгорали полностью. Сигнал в виде вспышки аналитической линии возникал, естественно, только при сгоранир частицы минерала. О концентрации интересующего элемента или соответствующего минерала в пробе [c.23]

Часто в качестве внутреннего фона фигурируют молекулярные ионы, образовавщиеся при электронной ионизации молекул, состоящих из сочетания изотопов исследуемого элемента, входящего в состав анализируемого соединения. Подобные случаи широко распространены при анализах изотопов элементов, использующих в качестве рабочего соединения окислы. Например, при определении (Изотопного состава серы таким фоном являются ионы (5 Ю 0 ) +, накладывающиеся в масс-спектре на рабочую массу М66 (З Юг ). Тем не менее, зная природную распространенность изотопов кислорода (0 0,2%) и пренебрегая его малыми вариациями в природе, вводят необходимую поправку в окончательные результаты при регистрации (З /З ) [84]. Аналогичным способом учитывают влияние изотопа при определении изотопных отношений углерода [85]. Наложение на рабочий масс-спектр ионов, получившихся в результате многократной ионизации, для большинства исследований изотопной распространенности отсутствует такому процессу требуется избыточная энергия электронов при бомбардировке [90, 94] (например, для иона С0 + + необходимо иметь энергию электронов, равную 42,0 в). Подробный учет всех возможных погрешностей при расчете изотопных отношений кислорода при масс-спектрометрическом анализе приводит в своей работе Фишлер [91]. [c.145]

С точки зрениятеорииКронига—Петерсена трудно объяснить, например, полную идентичность структуры спектров поглощения ионов N1 в водной и спиртовой среде и атомов этсго элемента, входящих в состав аммиачного комплекса в аммиачном растворе. Можно, конечно, возразить на это, что в первых случаях ион N1 в растворе окружен атомами, образующими [c.168]

Подобные же заключения относительно качественного и количественного состава анализируемого вещества можно делать на основе рентгеновских вторичных (флуоресцентных) спектров, которые возникают при облучении анализируемого вещества не электронами, а рентгеновскими лучами более высокой энергии (т. е. более короткой длины волны), чем характеристическое рентгеновское излучение элементов, входящих в состав анализируё-мого образца (рентгеновский флуоресцентный анализ). Для воз-.буждения рентгеновской флуоресценции применяют рентгеновскую трубку с вольфрамовым анодом. При этом каждый возбуждаемый элемент в образце испускает излучение тех же самых частот, которые наблюдались бы, если он являлся анодом рентгеновской трубки. [c.143]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология