Остаточный спектр остаточная

Остаточным спектром (или остаточной частью спектра) оператора Т называется множество О (Г) значений X, для которых замыкание многообразия (Г — кГ) не совпадает с Я и которые не принадлежат 0 Т). Таким образом, остаточный спектр О (Г) есть множество всех тех точек из 0(7 ), которые не принадлежат 0(Т). [c.19]

Во введении обсуждается рещение этой задачи с помощью оценивания функции отклика на единичный импульс Оказывается, что такой подход неудовлетворителен как из-за того, что он требует оценивания слишком большого числа параметров, так и из-за того, что выборочные оценки при таком подходе имеют плохие статистические свойства Это происходит потому, что оценки соседних значений функции отклика на единичный импульс сильно коррелированы От этих трудностей можно избавиться, если перейти к оцениванию частотной характеристики с помощью анализа взаимных спектров. Показано, как можно получить хорошие оценки функций усиления и фазы с помощью метода стягивания окна, а также выводятся доверительные интервалы для этих функций Мы приходим к выводу, что, хотя анализ взаимных спектров и является иногда полезным исследовательским средством при оценивании характеристик линейных систем, все же конечной целью такой работы должно быть оценивание параметров некоторой модели методом наименьших квадратов, видоизмененным так, чтобы учесть корреляцию остаточных ошибок [c.186]

Вычисление выборочной оценки спектра остаточного шума [c.202]

Рис 10 10 Выборочные оценки спектра остаточных ошибок для данных о га [c.212]

Взяв от этого выражения преобразование Фурье, получим спектр -остаточных ошибок [c.255]

Резюме. Как и при анализе двумерных временных рядов, основной интерес для нас представляют различные виды спектральных оценок либо для случая, когда ряды находятся в одинаковом положении по отношению друг к другу, либо же когда некоторые из них являются входами, а остальные — выходами физической системы Если все ряды равноправны, то основной интерес представляет спектр множественной когерентности Кроме него, обычно вычисляют еще спектры частной когерентности и фазы для некоторых отобранных пар переменных Если же часть рядов представляет собой входы, а остальные ряды — выходы некоторой физической системы, то самая важная часть анализа заключается в оценивании частотных характеристик системы Другую важную выборочную оценку представляет собой спектр остаточных ошибок, описывающий шум в системе В этом случае спектр множественной когерентности интересен лишь постольку, поскольку ог него зависят доверительные интервалы для функций усиления и фазы Оценивание спектра множественной когерентности обсуждается в разд 114 5 Доверительные интервалы для функций усиления и фазы выводятся в разд 11.4 6 [c.258]

Случайная оценка, соответствующая выборочному спектру остаточных ошибок. Действуя так же, как и в разд 10 3 2, получаем случайную оценку, соответствующую выборочному спектру остаточных ошибок [c.263]

Я(,+,),(/)-Я(,+,)Л/)]Р- (11.4.38 Выборочный спектр остаточных ошибок имеет аналогичный вид (/) = С(,+. ) (/) - Я(,+1) I (/) С<,+ ), (/) -. .. [c.263]

Спектры остаточных ошибок [c.267]

Эта подпрограмма вычисляет функции усиления и фазы, полные и частные когерентности и спектры остаточных ошибок. Если [c.282]

При решении системы уравнений методом наименьших квадратов также могут получиться отрицательные значения неизвестных. В этом случае они заменяются нулями, а решение системы без соответствующих столбцов производится снова. Анализ невязок дает информацию об остаточном спектре, получающемся после вычета вклада всех компонентов. Невязка считается принадлежащей остаточному спектру, если она превышает величину соответствующего доверительного интервала (о . = D I ) = [АС А ]ц, Ц — значение i-критерия для доверительной вероятности Р). Необходимо, однако, иметь в виду, что статистически значимые невязки могут получаться не только при наличии неучтенных компонентов, но и в случае неточного задания калибровочных коэффициентов в данном уравнении. [c.81]

Газы, выделяющиеся со стеклянных стенок вакуумной системы, частично связаны с материалом, адсорбированным на поверхности, и с соединениями, растворенными в объеме материала. При комнатной температуре газ, растворенный в слоях, непосредственно примыкающих к поверхностному, и газ, адсорбированный на поверхности, откачиваются с большой скоростью если откачивание ведется несколько дней, скорость выделения газа падает и становится незначительной. Газ, растворенный в объеме стекла, может достичь поверхности лишь благодаря диффузии и будет выделяться с постоянной скоростью в течение очень большого промежутка времени. Нагревание стеклянных стенок ускоряет процессы десорбции и диффузии к поверхности, но из глубоко расположенных слоев стекла растворенный газ не выделяется даже при нагревании до 400° в течение нескольких часов. Повышенная скорость диффузии при более высокой температуре может увеличить переносимое количество адсорбированного газа к поверхностным слоям по сравнению с нагреванием при более низкой температуре. Нагревание снижает адсорбцию паров образца на стенках и уменьшает эффекты памяти в масс-спектрометре. В нашей практике работы на приборе с простой фокусировкой мы придерживаемся следующих температурных режимов в течение дня прибор работает при комнатной температуре (за исключением линии из системы введения образца в ионизационную камеру), что уменьшает выделение адсорбированного газа, а в течение ночи прибор нагревается до 200° для удаления образцов, адсорбировавшихся за целый день. Остаточное давление менее 10 мм рт. ст. может поддерживаться в течение длительного времени. Газы, растворенные в стекле и создающие остаточный спектр, представлены в основном водой, двуокисью углерода и кислородом. Диффузия гелия сквозь стекло также ограничивает величину предельного вакуума, достигаемого на стеклянных приборах. [c.145]

Алюминиевые слои в качестве материала для решеток были предложены 45 лет назад и к настоящему времени получили широкое распространение. Это объясняется хорошими отражательными свойствами алюминия в указанной области спектра, а также высокой структурной однородностью слоев, пластичностью, хорошей адгезией к стеклу и относительной простотой метода получения путем испарения в вакууме. Перед алюминированием стеклянную поверхность для повышения адгезии ее к алюминию тщательно очищают химическим способом, обрабатывают в тлеющем разряде и затем покрывают тонким слоем хрома. Далее наносят слой алюминия. Хорошее отражение слоя обеспечивается в основном высокой скоростью испарения. Благодаря этому уменьшается взаимодействие паров металла с остаточными газами и примесями. При соприкосновении алюминия с воздухом на поверхности образуется пленка окиси алюминия, которая обладает высокой твердостью и является главной причиной износа алмазных резцов. [c.77]

Метод исследование спектров остаточных лучей сплавов. [c.370]

Величина Gnn(f) — остаточный спектр выходного процесса y(i), остающийся после выделения из него линейной реакции на x(t). [c.106]

Функции 522-1 а.8уу.1 представляют собоя условные (остаточные) спектры процессов X2(t) и у[Ц соответственно после ис- [c.210]

Иными словами, 8уу., 2 есть условный (остаточный) спектр процесса y t) после вычитания из него оптимального линейного прогноза как по a i(0. так и по Посмотрим теперь, каким образом связаны друг с другом уравнения (8.8), (8.50) и <8.53). [c.210]

Имеется в виду, что для вычисления Н у по формуле (10.34) нужно всегда знать остаточный спектр (или взаимный спектр) -го входа по всем t)—1 входным процессам, тогда как нахождение Liy по формуле (10.23) требует знания остаточного спектра (и взаимного спектра) i-го процесса лишь по / — 1 предыдущим входным процессам. — Прим. перев. [c.259]

Эти уравнения представляют спектры в виде упорядоченной линейной комбинации остаточных спектров входных процессов. Например, при 7=4 имеем [c.267]

Спектры токов ТСД, т. е. зависимости j = f[T i)], обычно содержат один или несколько максимумов, причем их положение и направление тока в максимуме могут зависеть еще и от характера контакта электрета с электродами [175]. Для полярных полимерных пленок некоторые максимумы тока ТСД могут быть связаны с релаксацией остаточной (замороженной) поляризации (например, дипольно-групповой р-релаксацией и дипольно-сегментальной а-релаксацией). Изучение этих пиков, которые должны быть связаны с гетерозарядом, является основой так называемого электретно-термического анализа [2, с. 132— 167]. Кроме того, в спектре токов ТСД обнаруживаются пики, связанные с освобождением носителей, захваченных на ловушках в полимере в процессе зарядки электрета, и дрейфом этих носителей в поле электрета (р-пики или пики, связанные с релаксацией объемного заряда). Наконец, существенную роль в процессе релаксации заряда может играть собственная проводимость у полимерных пленок, и для выделения этой составляющей требуется параллельное исследование температурной зависимости проводимости полимерных пленок у = Т) и спектров токов ТСД. По спектрам токов ТСД можно оценивать и стабильность электретов из различных полимерных пленок. Очевидно, стабильность тем выше, чем при более высокой температуре расположен основной максимум тока ТСД. [c.196]

Если нужно записать протонные спектры образцов, содержащих менее нескольких миллиграммов исследуемого вещества, то при выборе растворителя необходимо учитывать положение в спектре сигналов остаточных протонов растворителя. Существуют три источника дополнительных сигналов в спектре остаточные протоны дейтерированиого растворителя, растворенная вода и другие растворенные примеси. Обьи- [c.55]

Рассеяние от образца трудно контролиро1вать, особенно если об(разец имеет грубый рельеф, например поверхность. излома. Чтобы избежать генерации характеристического рентгеновского излучения в диапазоне энергий, характерных для рассеянных электронов, поверхности, прилегающие к столику, полюсному наконечнику и стенкам камеры, можно покрыть угольным аквадагО М или листами бериллия. После того как все очевидные источники дополнительного )ВозбуждеН ИЯ сведены к минимуму, все еще может существовать остаточный спектр из отверстия. Этот спектр из отверстия можно вычесть из неизвестного спектра, но процедура сопряжена с риском, поскольку спектр фона может зависеть от рассеяния, от образца и от окружения образца и эталона. [c.244]

Ф1(/). Заметим, однако, что если /11(и) =к2 и), то фl(f) = ф2(f) и фазовый спектр не меняется в результате фильтрации Следовательно, если оба входных процесса подвергаются одинаковой фильтрации, то взаимный амплитудный спектр умножается на а спектр когерентности и фазовый спектр остаются неизменными. Остаточный спектр (гл. 10) для отфильтрованных данных изменится при фильтрации так же, как и автоспектр (/), т е остаточный спектр для отфильтрованных данных будет равен остаточному спектру для исходных данных, умноженному на [c.120]

Ниже приводится логическая схема для вычислительной программы FRQRSP, входными данными которой служат те же величины, что и для программы ROSSPE (Приложение П9 2) Выходная печать программы FRQRSP состоит из ковариаций (повторная проверка), сглаженных автоспектров для каждой из точек отсечения М, функций усиления и фазы, квадрата спектра когерентности и спектра остаточного шума, а также из приближенных верхних и нижних 95%-ных доверительных границ для функций усиления и фазы Графический выход состоит из графиков входных, выходных и остаточного спектров в логарифмическом масштабе, графика логарифма функции усиления в зависимости от логарифма частоты с верхними и нижними доверительными границами и графика фазовой функции в зависимости от частоты, причем для каждой из функций на одном и том же рисунке помещаются графики для всех используемых точек отсечения. [c.219]

Спектр остаточных ошибок. Чтобы вычислить спектр остаточных ошибок Ггг( ) в модели (114 1), необходимо найти их автоковариационную функцию. Действуя так же, как и в разд 113 2, находим, что автоковариационная функция процесса (() равна [c.255]

Ниже приводится логическая схема вычислительной программы MULTSPE , входными данными для которой служат выборочные оценки ковариаций двух входных рядов XI ( ), X2 t) и двух выходных рядов XS t), XA i). Программа вычисляет частотные характеристики НЪ, Н32, НА, НА2, связывающие эти ряды. Предусмотрен вывод на печать основных функций, но более важными являются графики этих функций Вывод на график состоит из всех автоспектров (в логарифмическом масштабе, в зависимости от частоты), обоих спектров остаточных ошибок (в логарифмическом масштабе, в зависимости от частоты), квадратов спектров всех полных и частных когерентностей и графиков всех функций усиления и фазы, причем для каждого спектра на одном рисунке строятся графики, соответствующие всем выбранным точкам отсечения [c.281]

Существование СзН в этих условиях было установлено косвенным путем по присутствию в спектре остаточных газов полос поглощения диацетилена (С4Н3). Единственным путем образования диацетилена при фотолизе пропиольальдегида является рекомбинация двух радикалов СзН, образующихся при фотолизе [2026]. [c.621]

Основной фоновый пик в спектре остаточного газа в большинстве масс-спектрометров соответствует окиси углерода с массой 28. Величина этого пика, как показали Кребл и Керр [405], прямо пропорциональна парциальному давлению кислорода в исследуемом образце образованием СО, возможно, объясняется окисление карбонизованной нити [229]. [c.121]

Масс-спектрометр используют не только для обнаружения течи, но и во многих других областях, например для изучения газов при очень малых давлениях. Масс-спектрометр секторного типа представляет собой удобную конструкцию, широко] используемую для решения различных задач [915]. Например, изучение диффузии гелия через стекло [1522], обезгаживание металлов [887]. Условия работы и системы напуска, позволяющие работать с очень малыми количествами образца, были описаны в гл. 5. Однако во многих случаях более пригодны другие типы масс-спектрометров. Эдвардс [568] рассмотрел применение различных типов масс-спектрометров в исследованиях высокого вакуума. В некоторых случаях большими преимуществами обладает омегатрон благодаря высокой чувствительности в сочетании с малыми размерами, простой конструкцией и возможностью работы при высокой температуре. Это делает его пригодным для исследования вакуумной аппаратуры, в которой Возможна высокая температура. Альперт и Бюритц [40] использовали омегатрон в качестве манометра для измерения давления (чувствительность сопоставима с чувствительностью ионизационного манометра) при исследовании остаточного давления, которое может быть получено в стеклянной аппаратуре. Омегатрон имеет то преимущество, что при его помощи можно провести анализ остаточных газов, причем вакуум ограничивается диффузией гелия через стеклянные стенки системы. Это было сделано в изолированной вакуумной системе. В исследуемом спектре остаточный пик гелия увеличивался с течением времени, а пик, отвечающий азоту, не изменялся. Альперт и Бюритц получили для Не ток 2-10 а, соответствующий парциальному давлению гелия 5-10 мм рт. ст. Омегатрон использовали также при очень низких давлениях для определения веществ, образующихся в вакууме при работе масляных диффузионных насосов, с целью установить, состоит ли остаточный газ из продуктов десорбции или образован при разложении масла диффузионных насосов [1676], При помощи этого прибора измерялось также выделение кислорода с поверхности, покрытой окислами бария, стронция и магния, под действием бомбардирующих электронов, как функция энергии и плотности бомбардирующих электронов [2125]. Из полученных результатов следовало, что имеет место двухступенчатое электронное возбуждение твердых веществ, связанное с диссоциацией. Некоторое количество кислорода выделяется при очень низких энергиях электронов, вероятно, благодаря десорбции. [c.496]

Функция Syy.r представляет условный (остаточный) спектр выходного процесса Syy, не зависящий от оптимальных линейных преобразований всех входов от X t) до x, t). Другими словами, Syy.T есть спектр помех1И на выходе системы y(t), на вход которой поступают процессы X (t),. .., Xr t). Таким образом, формула (10.67) иллюстрирует тот очевидный из физических соображений факт, что спектральная плотность помехи на выходе системы убывает по мере роста числа входных процес-сов >. [c.270]

Нек-рые красители цветного проявления негативной пленки поглощают лучи в тех зонах спектра, в к-рых они должны быть полностью прозрачны, что связано с заметным искажением цветопередачи в позитивном цветном изображении. В таких случаях применяют окрашенные, т. наз. маскирующие цветные компоненты, к-рые выравнивают излишнее спектральное поглощение красителя негатива. Примером маскирующей цветной компоненты может служить 1-(4 -фенокси-3-сульфофенил)-3-гепта-децил-4-фенилазопиразолон-5(Х1Х) для образования изображения из пурпурного красителя и желтой маски из остаточной компоненты. Аналогичная 4-арилазоза-мещенная цветная комнонента, производная 1-окси-2-нафтойной к-ты, является окрашенной компонентой для образования голубого красителя и оранжевой маски, компенсирующей вредное поглощение этого голубого пндоанилинового красителя в синей и зеленой зонах спектра. [c.387]

Исследованы [36] различные катионзамещенные формы фожазита. Состав образцов и содержание в них остаточной воды приведены в табл. 31. Обнаружено свечение молекул 8-оксихинолина при адсорбции на цеолитах. Очевидно, в поле поверхностных сил адсорбционных полостей происходит глубокое измененке электронного состояния этих молекул. На положение полос в спектре люми- [c.130]

Таким образом, линии однозарядных ионов (которые удобнее всего использовать в качестве аналитических) элементов от углерода до никеля оказываются закрытыми линиями ионов остаточных газов. Анализ зарядового распределения ионов этих элементов показал, что интенсивности линий одно- и двухзарядных ионов близки, что, по всей видимости, также связано с высоким остаточным давлением в области ионного источника. Высокая интенсивность линий двухзарядных ионов и отсутствие в спектре остаточных газов линий с нецелочисленными массами позволяет использовать в качестве аналитических линий двухзарядных ионов. Определению элементов с порядковыми номерами более 28 линии ионов остаточных газов не препятствуют, однако и в этом случае иногда возникает необходимость использования линий много-зарядных ионов из-за интенсивного фона на участке между линиями одно- и двухзарядных ионов основы, образующегося в ре-вультате перезарядки трехзарядных ионов основы на молекулах остаточного газа. [c.166]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология