Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Источники спектра

    Для выполнения спектрального анализа пробу вещества в виде порошка или раствора вводят в источник спектра (высокотемпературное газовое пламя, электрическая дуга, искра), где вещество превращается в пары и часто разлагается на отдельные атомы. [c.182]

    Наибольшее распространение получили электрические разряды специального типа (так называемый разряд в полом катоде), ширины линий испускания которых уже, чем ширины линий поглощения атомов. Последнее связано с тем, что атомы определяемых элементов находятся в атомизаторах при значительно более высоких температурах и давлении по сравнению с атомами тех же самых элементов, которые являются источниками спектров испускания. [c.143]


    Для получения полных спектров в ультрафиолетовом и видимом диапазоне применяют либо двулучевые сканирующие системы, либо многоканальные. Спектрометры обоих типов работают в рамках выполнения закона Бера и используют монохроматичное излучение источника. Принципиальная схема спектрометров включает полихроматический широкополосный источник спектра, монохроматор (в основном дифракционные решетки), кювету с исследуемым образцом, детектор, электронные устройства, а также компьютер для обработки и хранения данных. Кювета с образцом может располагаться либо [c.150]

    От анализируемой закиси-окиси урана квартованием отбирают пробу весом 5,5—6 г, которую прокаливают в муфельной печи при 800° в течение 30 мин. От этой пробы отбирают навеску в 5 г, в которую вводят носитель в количестве 150 лг. Носитель представляет собой смесь спектрально чистых окиси галлия и закиси-окиси урана в отношении (I 12) . Смесь тщательно растирают в агатовой ступке в течение 15 мин. От приготовленной смеси пробы с носителем отбирают навеску 250 ме. Применение носителей, по данным авторов [151 ], увеличивает интенсивность линий бора. Условия испарения пробы температура нагревания — 1800°, время установления этой температуры — 20 сек., продолжительность испарения при этой температуре — 20 сек. Наилучшая воспроизводимость анализа имеет место в случае, если электрод-приемник имеет форму, изображенную на рис. 58г. Источник спектра для анализа конденсата — дуга постоянного тока, сила тока — Ю а. Электрод с конденсатом служит анодом. Спектрограф ИСП-22, экспозиция— [c.364]

    Для проведения спектрального анализа концентрата р.з.э. последний наносят на торец графитового электрода, пропитанного 2%-ным раствором полистирола в бензоле. Источником спектра служит дуга переменного тока или искра. При искровом возбуждении спектра используется генератор ИГ-2 с параметрами контура 1=0,15 мгн, С=0,01 мкф. При дуговом возбуждении спектра используется генератор ПС-39, при силе тока 8—9 а. Дуговой промежуток — 2 мм. Лантан служит внутренним стандартом. Аналитические линии приведены в табл. 51. [c.370]

    Обратимся теперь к дискретному описанию свойств вещества — источника спектров. Вообще говоря, дискретные свойства вещества являются следствием постулатов квантовой механики, так как любая равновесная или квазиравновесная химическая система [c.229]


    Если не требуется определять следовые содержания элементов, то для общего качественного анализа металлических проб можно применять также искровое возбуждение спектров. Чтобы сделать разряд затухающим, в разрядный контур генератора (1 кВ, 50 мкФ, 100 мкГ) вводят относительно высокое омическое сопротивление (до 100 Ом). Наблюдаемый от такого источника спектр близок к дуговому, т.е. удобен для расшифровки. [c.399]

    В табл. 7.2 приведены основные данные для некоторых радиоактивных изотопов, применяемых в неразрушающем контроле качества. Некоторые виды излучений (тормозное, нейтронное) получаются путем облучения специально установленной с этой целью мишени. В отличие от электронных источников спектр излучения радиоизотопных однозначно определен радиоактивным веществом [c.279]

    Длина релаксации Ь быстрых нейтронов реактора или нейтронов от источника спектра деления в воде, графите, свинце и железе (г/см ) [1] [c.57]

    Чувствительность метода определения лития в рудах была повышена описанным приемом примерно на два порядка. Чувствительность и надежность метода определения возрастают с увеличением подачи пробы в разряд. Вместе с тем сгорание одной частицы пробы должно заканчиваться к моменту поступления в разряд следующей частицы. В противном случае соответствующие вспышки аналитической линии будут зарегистрированы как одна вспышка и возникнет обусловленная этим фактом ошибка анализа. Поэтому целесообразно пользоваться источниками, дающими наиболее короткие вспышки с крутым фронтом. По-видимому, перспективно применение плазменных источников спектра. С помощью этого приема может быть раздельно определено содержание различных минералов одного и того же элемента в пробе и дана количественная характеристика неоднородности распределения интересующего элемента по объему пробы. Если анализируемый элемент входит в два или несколько минералов в различных концентрациях, то каждому из минералов будет соответствовать характерная амплитуда и форма световых вспышек. При неоднородном распределении элемента по объему число вспышек, регистрируемых за время экспозиции, будет функцией места, из которого взята проба. [c.24]

    Как известно, до самого последнего времени преимущества спектральных аппаратов высокой разрешающей силы при попытках повысить чувствительность анализа недооценивались. Вполне естественно стремиться к увеличению разрешающей способности фотоэлектрических спектральных установок, предназначенных для работ и с любыми другими источниками спектра. Предел увеличения чувствительности задается здесь, в частности, собственной шириной и структурой аналитических линий и структурой континуума вблизи них. [c.24]

    В связи с переходом на точную фотоэлектрическую регистрацию спектра возникли специфические требования к источнику возбуждения спектра. Целесообразно использовать источники спектра, излучающие за время экспозиции максимальный полезный сигнал и минимальные электромагнитные помехи. Такие повышенные требования к точности фотоэлектрических методов анализа заставляют разрабатывать источники со значительно большим числом регулируемых и контролируемых параметров, чем это принято обычно, и жестко стабилизовать оптимальные значения этих параметров. В частности, стабилизируются следующие параметры электрического разряда в газах 1) форма и величина тока и напряжения в импульсе, а также фаза поджига активизированной дуги переменного тока 2) параметры зарядного и разрядного контура искрового разряда 3) напряжение на конденсаторе разрядного контура искрового импульсного разряда 4) геометрия межэлектродного промежутка и микрорельеф рабочего участка поверхно- [c.26]

    Наряду с термостатированием установки перспективно применение следящих систем, автоматически удерживающих аналитическую линию в заданном положении на выходной щели. Интересная следящая система к фотоэлектрическому стилометру предложена С. Л. Мандельштамом и реализована И. С. Абрамсоном и сотр. [31]. В основе ее лежит введенная в поле зрения прибора реперная шкала, положение и цена деления которой меняются с ростом температуры соответственно так же, как и положение и дисперсия спектра. Это дает возможность программировать положение заранее избранных аналитических линий и совмещать их с выходной щелью, управляя вращением столика с призмами сигналами световых импульсов реперной шкалы. Как показал наш опыт эксплуатации квантометра, целесообразно заменить такую шкалу спектром реперного источника со стабилизированной во времени интенсивностью узких спектральных линий, например спектром разряда в полом катоде. Ошибка совмещения вручную выходной щели и аналитической линии, излучаемой таким реперным источником спектра, составляет в благоприятных случаях 5 мк (ширина выходных щелей квантометра лежит в пределах 40—200 мк). [c.28]

    Затем строятся характеристические кривые для каждого столбца таблицы, как показано на рис. 129. Кривые, естественно, получаются смещенными одна относительной другой, так как спектры ослаблены различными отверстиями диафрагмы. Смещение кривых по оси абсцисс, отсчитанное от первой кривой, дает логарифмы относительной интенсивности, или относительную величину прозрачности отверстий промежуточной диафрагмы для данного источника спектра. [c.218]


    Если программа не использует всю вложенную информацию, это приведет к неэффективному использованию памяти и уменьшению надежности поиска. Если литература является основным источником спектров, алгоритм поиска должен учитывать потерю информации при переходе от измеренного к опубликованному спектру. [c.285]

    Представлены спектры из коллекции автора, а также из каталогов и других источников. Спектры и таблицы частот из различных источников тщательно обрабатывались, на основании чего приведе- [c.3]

    Опишите дуговые источники спектров, типы дуг, преимущества и недостатки этих источников нарисуйте схему питания активизированной дуги. [c.246]

    Опишите искровые источники спектра, типы искры, преимущества я недостатки этих источников спектра нарисуйте схему питания высоковольтной искры.  [c.246]

    При идентификации красителей по ИК-спектрам большое значение имеет доступность одного или более собраний стандартных спектров. Как уже рассматривалось, они необходимы, во-первых, непосредственно как стандарты при идентификации методом отпечатков пальцев и, во-вторых, как источники спектров самых различных типов красителей для распознавания спектрального типа путем сравнения и для обшего ознакомления. Требования к собраниям спектров при выполнении ими этих двух функций неодинаковы. Для первой функции собрание должно быть как можно обширнее, для второй — относительно небольшим. [c.214]

    В некоторых случаях при изучении спектров поглощения можно получить удовлетворительные результаты при замене источника, дающего сплошной спектр, на источник, спектр которого совпадает с исследуемым спектром, [c.152]

    В последнее время интерес к катодным частям тлеющего разряда непрерывно возрастает, что объясняется использованием последних в СВЧ-приборах (газоразрядные аттенюаторы и фазовращатели, детекторы и др.), а также в качестве источника спектров. Плазма отрицательного свечения (ОС) тлеющего разряда в отличие от плазмы положительного столба создается пучком электронов с высокой энергией, который формируется в области катодного темного пространства. Электроны пучка вызывают интенсивную ионизацию газа и возбуждают высокие уровни в спектре гелия [1, 2]. [c.118]

    Абсорбционная линия (линии) спектра поглощения определяемого элемента в пламени очень узкая и соответствует резонансной линии (линиям) этого элемента. Поэтому источник поглощаемого света должен обладать резкими яркими линиями, интенсивность которых постоянна во времени. В различных областях спектроскопии в качестве источников излучения спектра малолетучих элементов в течение многих лет применяют лампы с полым катодом. Такая лампа, содержащая катод из определяемого элемента, излучает узкие интенсивные характеристические линии. Источником спектра более летучих элементов (таких, как ртуть или щелочные металлы) служат разрядные лампы. [c.186]

    В настоящее время в качестве источников света для атомно-абсорбционного анализа наиболее часто используют различные газоразрядные источники, спектр испускания которых совпадает со спектром определяемого атома. В этом случае не представляет труда получить в спектре испускания линии с шириной, меньшей ширины спектральных линий определяемых атомов, поскольку атомы, как правило, находятся при высоких температурах, что приводит к уширению их энергетических уровней и соответственно спектральных линий. При работе выбирают в спектре испускания одну из линий, обусловленную переходом на основной уровень (резонансную линию), и определяют ослабление ее интенсивности при прохождении излучения через слой поглощающих атомов. Очевидно, что поглощать данную спектральную линию будут атомы, находящиеся в оснавном состоянии. [c.35]

    Следует отметить, что наиболее чувствительная линия не всегда оказы1 ается последней, так как на результат могут оказывать влияние такие факторы, как источник возбуждения, спектральная область. Например, последние линии серы, кислорода, азота и других газов расположены в акуумной ультрафиолетовой области спектра, а рубидия и цезия — в инфракрасной области спектра, что требует применения специальной аппаратуры. Для снижения предела обнаружения иногда следует применять вместо искрового источника спектра дуговой или наоборот. [c.649]

    Рекомендуемые условия анализа в 1 г образца закиси-окиси урана вводят 70 мг ВаСОз н 50 мг угольного порошка. Навеску пробы 25 мг помещают в электрод специальной формы (рис. 62). Источник спектра — генератор дугн переменного тока, сила тока— 18 а. Спектрограф —ИСП-51 с камерой УФ-85А с однолинзовой системой освещения щели. Аналитические линии А1 3944,03 А— Ва 3935,7 А. Градуировочные графики, построенные в координатах (А5, lg ), имеют прямолинейный вид в интервале концентраций 1 10 3 10 . [c.367]

    Для количественного изучения высокотемпературной кинетики реакции водорода с кислородом в ударных волнах также использовались другие оригинальные методы измерения ультрафиолетового поглощения ОН. Для исследования систем Нг—Ог, Ог—С2Н2 и Нг—О2—(СО или СО2) в аргоне при низком давлении в падающих ударных волнах во многих работах [38—45] в качестве источника спектра применялась висмутовая резонансная лампа. Длина волны резонансной линии излучения атомов висмута (А, = 3067,7 А) совпадает с длинами волн вращательных линий 2l0 и Я29 полосы поглощения Л22 (0,0) радикалов ОН. По сравнению с импульсным источником спектра ОН (рис. 2.3) в этом случае эффективный коэффициент поглощения Бафф меньще и хуже воспроизводится, но висмутовая лампа обеспечивает значительно большее отношение сигнал/шум и более высокую чувствительность. [c.138]

    Как уже было указано, важное преимущество хемилюминесценции как источника спектра состоит в том, что в спектре хемилюминесценции часто отсутствует перекрывание систем многих полос, которое с трудом поддается анализу. Один пример, где это преимущество имело решающее значение, связан с распознаванием видимой системы полос ВгС1 [104]. Протяженная система полос, оттененных в синюю часть спектра, наблюдалась при помощи спектрографа Басса — Кесслера в области от 6750 и по крайней мере до 9500А и обусловлена атомами Вг(2Рз/ ) и С1 или возникающими в ходе цепной реакции молеку- [c.341]

    Источники света. Обычно в качестве источника спектра ртути используется небольшая бактерицидная разрядная лампа (G.E.0Z4). Если в лампе поддерживается малый ток, то эмиссия весьма интенсивна и самопоглощение для линии 2537 А незначительно. Разрядные лампы высокого давления (Osram и G.E.AH4) непригодны в качестве источников излучения, так как давление паров ртути в них настолько велико, что происходит значительное самообращение резонансной линии. Лампы высокого давления дают чувствительность, составляющую всего 1/10 нормальной чувствительности, даже если они работают при малых токах. Недавно появились ртутные лампы с полым катодом, их характеристики весьма удовлетворительны,хотя и не превосходят характеристики более дешевых ламп типа OZ4. [c.122]

    Методы РДМ применимы при изучении относительно совершенных кристаллов, плотность дислокаций в которых не превосходит 105 мм . Эффективность методов, кроме причин, зависящих от особенностей рассеяния рентгеновских лучей отдельными объемами кристалла, определяется еще и геометрическими условиями эксперимента размером и формой источника, спектром применяемого излучения, расстоянием источник—кристалл и кристалл-—фотопластинка (счетчик). В связи с тем, что в большинстве случаев РДМ дает дифракционное изображение элементов структуры в натуральную величину или близких к ней размеров, микрорентгенограммы требуют обычно дальнейшего увеличения. Поэтому эффективность РДМ зависит также от разрешающей способности используемых фотоматериалов. В отечественных лабораториях используют обычно пластинки НИКФИ с эмульсией типа МК, имеющие разрешение не хуже 375 линий/мм. [c.373]

    Г. В. Большаков, В. С. В а та го, Ф. Г. Агрест, Ультрафиолетовые спектры гетероорганических соединений, Изд. Химия , 1969. Во вводном разделе книги охарактеризованы электронные спектры органических соединений, содержащих серу, азот, кислород и кремний. В атласе представлены 811 спектров поглощения индивидуальных соединений в средней и близкой ультрафиолетовой и видимой областях спектра, частично полученные авторами на приборах СФ-4, СФ-4А и Перкин Эльмер 402, частично взятые из литературных источников. Спектры приведены в координатах Ig е — Я (в пм), указан растворитель и в ряде случаев температура, при которой снят спектр. [c.95]

    Позже Гинн и сотр. (1968) исследовали системы руВГз и руВгС с помощью длинноволновых ИК-спектров и спектров комбинационного рассеяния, полученных при применении лазерного источника. Спектры соответствовали молекулярной симметрии С расположением связи Вг—Вг вдоль оси Сз. Отнесение частот валентных колебаний X—X и N—X показано в табл. 5.6. [c.119]

    В фотоактивационном анализе для воздействия на ядра элементов используются Кванты достаточно высокой энергии >1 Мэе). По энергетическому спектру источники уизлуче-ния делятся на две группы. К первой из них относятся источники, спектр которых является линейчатым и состоит из одной или нескольких моноэнергетических линий, а во вторую группу входят источники со сплошным спектром. [c.110]


Смотреть страницы где упоминается термин Источники спектра: [c.151]    [c.206]    [c.151]    [c.206]    [c.99]    [c.246]    [c.30]    [c.294]    [c.43]    [c.62]    [c.62]    [c.84]    [c.152]    [c.151]   
Смотреть главы в:

Физические методы анализа следов элементов -> Источники спектра




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте