Коэффициент отражения. Отражение света

Регистрирующие спектрофотометры этого типа позволяют записывать спектры поглощения и пропускания, а также измерять коэффициенты отражения различных образцов. Запись по всей длине видимого спектра может быть проведена несравненно в более короткое время, чем промер этого же участка спектра на спектрофотометре типа СФ-4. Приборы имеют двойной монохроматор, поэтому монохроматизация света здесь достаточно высока. Ширина входной и выходной щелей монохроматора изменяется во время работы прибора автоматически, соответственно дисперсии призм. Таким образом, при достаточно высокой монохроматизации вырезае.тся спектральный участок постоянного спектрального интервала. Источником освещения служит кинопроекционная лампа К-30. Рабочий диапазон приборов охватывает только видимую область спектра от 400 до 700 нм, и, следовательно. [c.84]

Свет, пройдя сквозь щель, входит в фотометр, прикрепленный к конденсатору томного поля, п разлагается стеклянной призмой. Один составной луч проходит через поляризатор к микроскопу, освещает половину поля зрения окуляра при отражении от образца. Другой составной компонент, который отражается под углом 90°, используется для сравнения, проходя через стеклянные фильтры с различной плотностью. Подвижная призма отражает сравниваемый луч под прямым углом, чтобы пропустить его через поляризатор и анализатор затем луч отражается в третий раз под прямым углом фотометрическим кубиком. Круговое поле окуляра разделяется на две полуокружности, одна из которых освещается лучом для сравнения, а другая—лучом отражения от образца. Интенсивность освещения обеих полуокружностей выравнивается и показание анализатора отмечается на градуированной шкале. Величина смещения, найденная при отсчете на шкале, от положения, соответствующего ну.левой интенсивности, в наира-влении к максимальной интенсивности и выраженная в процентах, принимается как мера отражения света и представляет собой показатель отражения. Это не следует смешивать с коэффициентом отражения, который является отношением света отражения от поверхности к сумме падающего света [82]. [c.93]

Теоретические основы спектроскопии 30 кратко изложены во введении. Экспериментальное оформление этого метода в принципе несложно, хотя получение воспроизводимых абсолютных значений коэффициентов отражения и других величин, характеризующих 30, всегда было трудной задачей. Поскольку изменения отражательной способности электродов в большинстве интересующих электрохимиков случаев малы, в электрохимических работах, как правило, измеряются относительные величины. Чаще всего измеряется интенсивность отраженного электродом света при нормальном или наклонном падении. В последнем случае используется поляризованный свет. К рассматриваемой группе методов относится и эллипсометрия. В данном обзоре, однако, мы рассмотрим лишь работы, в которых эллипсометрические измерения используются для получения спектрального распределения оптических констант исследуемых металла или пленки, что пока не является типичным для эллипсометрии применением. Методы, основанные на измерении интенсивности отраженного света, не требуют довольно дорогой и часто дефицитной оптики, необходимой для эллипсометрии, и легче модифицируются для быстрых измерений. [c.117]

В частности, при а=45° смещение можно связать с другой величиной, непосредственно измеряемой на эксперименте - коэффициентом эллиптичности отраженного света р, который равен [c.75]

Формула для коэффициента эллиптичности отраженного света в этом случае совпадает с формулой, полученной ранее Друде [4] [c.76]

Поскольку Х+у+2=1, только две из них должны быть определены, третья находится вычислением. Обычно величины X и у откладываются на диаграмме типа изображенной на рис. 5.5, но с использованием прямоугольных координат. Такая диаграмма представлена на рис. 5.7 и именуется диаграммой цветности по МКО (Международная комиссия по освещению). Яркость цвета характеризуется значением коэффициента отражения (количество света, отраженного от стандартного экрана из окиси магния, в % от количества падающего света). [c.140]

Величина R в уравнении (3) выражает коэффициент отражения образца, которое было бы при отсутствии отражения света поверхностью. Для некоторых образцов, таких, как ткань или матовая бумага, отражение света поверхностью незначительно и R будет примерно таким же, как и измеряемый коэффициент отражения. Для таких материалов уравнение (3) может быть использовано без изменений, как это и делалось многими исследователями [6, 7]. Некоторые виды образцов, как, например, красочные пленки, пластмассы и керамика, являются диэлектриками с определенным показателем преломления. Когда свет проходит через поверхность такого материала в глубь образца или выходит из него наружу, резкие изменения показателя преломления вызывают отражение части света. Поэтому для образцов, представляющих собой слой диэлектрика, в уравнение (3) должна быть внесена поправка, учитывающая влияние коэффициента отражения света от поверхностей слоя. [c.113]

Если Па/га = 1,5, то коэффициент отражения составляет 4%, и, следовательно, отражение от двух поверхностей приводит к потере 8% падающего излучения. В сложной оптической системе многократное отражение ведет к значительным потерям света. Эти потери могут быть уменьшены путем покрытия линз и окошек пленками с показателями преломления, промежуточными между показателями преломления воздуха и оптических деталей. При этом потери на отражение могут быть существенно снижены, несмотря на то что пленки увеличивают количество отражений [2]. [c.11]

Коэффициент отражения и коэффициент пропускания являются характеристиками, с которыми мы сталкиваемся в повседневной жизни. Критерии оценки этих величин для видимого света применимы также и к тепловому излучению. Полированные металлические поверхности имеют высокие коэффициенты отражения, а зернистые поверхности — низкие. Газы и жидкости обычно пропускают большую часть падающего на них излучения, хотя лшдкости способны отражать значительное количество энергии. Ввиду зависимости между а, т и р [см, уравнение (28, 1)] замечания, сделанные выше относительно изменения коэффициента поглощения с температурой, очевидно, применимы также к сумме коэффициентов светопропускания и отражения. [c.387]

График зависимости коэффициента отражения от угла падения света представл-фн на рис. 2.1. Как видно, потери на отражение начинают быстро расти при углах паде- Ния, превышающих 60°. При нак-"лонном падении, увеличиваются и потери на поглощение света в стекле за счет увеличения эффективной толщины образца г, которая определяется по формул,е [c.43]

В условиях термодинамического равновесия заселенность нижних уровней больше, чем верхних, т.е. N1 > N2, а значит Д V(v)> 0. Однако, если создать искусственно инверсную заселенность верхних уровней так, что М2> 1, то вместо поглощения волны в такой среде будет происходить ее усиление. Среда с инверсной заселенностью энергетических уровней называется активной. Создание такой среды является первым условием работы лазера. Второе условие работы лазера связано с необходимостью обратной связи между светом и излучающими атомами. Для этого рабочее вещество помещают между двумя зеркалами так, что часть излучаемой световой энергии все время остается внутри его, вызывая вынужденное излучение все новыми и новыми атомами. Одно из зеркал выполняют полупрозрачным, и через него выходит генерируемый пучок. Наконец, третье условие работы лазера заключается в том, что усиление излучения в рабочем веществе должно быть больше некоторого порогового значения, зависящего от коэффициента отражения полупрозрачного зеркала. [c.97]

Производственное освещение характеризуется количественными и качественными показателями. К основным количественным показателям относятся световой поток, сила света, освещенность, яркость, коэффициент отражения. [c.108]

При прохождении луча света через слой эмульсии, в которой коэффициенты отражения двух жидких фаз различны, часть света может поглощаться, а часть рассеиваться на новерхности шариков. На оба явления расходуется энергия луча, уменьшая проходящий свет. О размере частиц можно судить из данных о пропускании и рассеивании света. Теория одна и та же в любом случае. [c.146]

Серебро обладает высокой электропроводностью, отражательной способностью и химической устойчивостью, особенно при работе в щелочных растворах и большинстве органических кислот. Поэтому покрытие серебром получило применение главным образом для улучшения электропроводящих свойств поверхности токонесущих деталей в электротехнической и радиоэлектронной отраслях промышленности, для сообщения поверхности высоких оптических свойств (свежеполированное серебро имеет коэффициент отражения света около 99%), для защиты химической аппаратуры и приборов от коррозионного разрушения под действием щелочей и орга нических кислот, а также для декоративной цели с последующим оксидированием. Серебром чаще всего покрывают изделия из меди и ее сплавов. Для защиты от коррозии черных металлов серебрение не применяется. [c.422]

Золото — коррозионностойкий металл, не разрушается кислотами и щелочами и не окисляется даже при высокой температуре, в противоположность серебру не реагирует с сероводородом и другими серосодержащими соединениями, обладает хорошей тепло- и электропроводностью, не изменяющейся во времени даже в агрессивной среде. Полированная поверхность золота имеет высокий коэффициент отражения света. Недостатками чистого золота являются малая твердость и износостойкость. Для повышения физико-механических свойств золотые покрытия леги-, руют другими металлами. [c.424]

Блеск электролитических осадков оценивается путем визуального осмотра поверхности, а также на основе измерений интенсивностей зеркально-отраженного и диффузно-рассеянного света с помощью специальных приборов рефлектометров, фотометров. Количественно блеск поверхности может быть охарактеризован отношением интенсивностей зеркально-отраженного и падающего света. Критерием оценки блеска служит также коэффициент или процент зеркального отражения света от отражения серебряного нли алюминиевого зеркала, применяемого в качестве стандарта. [c.448]

Внутри шара находятся два экрана, предназначенные для предотвращения попадания света от образца непосредственно на фотоэлемент при измерении абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения — нижний экран — и пропускания—верхний экран (по методу Тейлора). Для включения экранов необходимо оттянуть рукоятку 6. [c.215]

Вначале записывают линию 100 %-го пропускания при нейтральном положении экранов относительно световых потоков при этом рукоятки 6 вдвинуты в шар. Затем вместо эталона к окну шара в рабочий поток помещают образец, измеряемый на отражение. Оттянув нижнюю рукоятку 6 до упора, экран ставят в положение, при котором прямой свет от образца не попадает на фотоэлемент. Последующая запись дает значение абсолютного коэффициента диффузного отражения образца по спектру. [c.215]

Образование на поверхности электрода оксидной пленки, а также адсорбция на ней ионов или органических молекул изменяет толщину поверхностного слоя с1 и его коэффициент преломления га, а следовательно, параметры отраженного света А и 1 з. Анализ этих изменений, который обычно выполняют с помощью ЭВМ по специально разработанным программам, позволяет рассчитать соответствующие изменения й и п в исследуемой системе и связать их с образованием на поверхности электрода адсорбционного или фазового слоя. Современная техника позволяет регистрировать увеличение величины с1, составляющее всего 0,02 нм, т. е. фиксировать адсорбированное вещество, начиная с заполнений поверхности 0— 0,05. Полученные эллипсометрическим методом данные по адсорбции на ртутном электроде анионов С1 , Вг и 1 , а также некоторых органических веществ находятся в хорошем согласии с результатами электрокапиллярных и емкостных измерений. Широкое применение эллипсометрический метод получил при изучении оксидных слоев на различных электродах. [c.182]

Необходимо отметить, что коэффициенты Френеля зависят только от свойств образца и величины угла падения, но не от характера первоначальной поляризации или времени. Из этого следует, что если в падающем луче света какая-либо составляющая равна нулю, она будет равна нулю также и в отраженном свете (рис. 9.7, а). [c.180]

Прежде всего, необходимо обеспечить очень высокую степень стабилизации питания источника света, постоянство чувствительности приемника и стабильный коэффициент усиления прибора. Иначе величина сигнала на выходе будет самопроизвольно изменяться и работа с прибором станет невозможной. Кроме того, яркость источника сплошного света не одинакова для разных участков спектра. Меняются также коэффициенты пропускания и отражения света оптическими деталями прибора и чувствительность большинства приемников света. Полосы поглощения атмосферных паров воды и СОг в инфракрасной области еще более осложняют картину. Поэтому при переходе от одного участка спектра к другому необходимо изменением ширины щелей монохроматора или регулировкой усиления установить достаточно большой отброс по шкале регистрирующего прибора для сигнала от самого источника света. Затем нужно зарегистрировать [c.304]

В видимой и ультрафиолетовой областях работают обычно с разбавленными растворами, общий объем которых составляет несколько миллилитров. В тех случаях, когда количество вещества ограничено, применяют многоходовые кюветы, в которых световой пучок многократно проходит через одну и ту же анализируемую пробу. По своему действию применение многоходовых кювет аналогично увеличению толщины слоя, но позволяет уменьшить количество вещества, взятого для анализа. Коэффициент отражения света от стенок такой кюветы должен быть достаточно высок, иначе происходит изменение формы полос поглощения и другие нежелательные явления. [c.331]

Дело в том, что трудно определить истинную величину оптической плотности анализируемой пробы. Результаты измерения зависят от характеристик прибора спектральной ширины щели, рассеянного света, скорости развертки спектра, отражения света окнами кюветы и поверхности самого образца и т. д. Поэтому для одних и тех же полос поглощения на разных приборах могут быть получены отличающиеся значения молярных коэффициентов погашения. Положение еще осложняется тем, что часто в литературе не приводятся подробные характеристики прибора и других условий, при которых определено значение е. [c.332]

Для большинства наблюдателей при сравнении двух белых поверхностей, обладаюнщх одним и тем же коэффициентом отражения света, поверхность, имеющая голубоватый оттенок, визуально воспринимается как обладающая заметно большей белизной, чем имеющая желтоватый оттенок. Эта особенность восприятия белизны наглядно проявляется нри подсипевании красок и других материалов с желтоватым оттенком. Введение небольшого количества синего пигмента, который равномерно распределяется на белой поверхности, имеющей желтоватый оттенок, в виде отдельных маленьких точек, вызывает пространственное аддитивное смешение желтых и синих световых потоков с получением ахроматического — белого отраженного света, и визуально белизна подсиненной поверхности резко возрастает. При этом синий пигмент повышает поглощение в желтой части спектра, и коэффициент отражения света снижается (рис. 16). Таким образом, сам по себе коэффициент отражения (яркость) белых пигментов количественно не характеризует визуально воспринимаемую белизну. [c.112]

При отражении от поверхности металла, свободного от пленки, как обычно, применимы уравнения Френеля с комплексным показателем преломления. Амплитуда юлны света в металле затухает пропорционально множителю ехр (-2пкг/ Л), где г - координата, отсчитываемая в глубь металла Поскольку коэффициент поглощения к(п = п - 1к) для большинства металлов равен по крайней мере единице, волна должна почти полностью угасать не далее, чем на расстоянии Л, а обычно еще раньше [121]. Коэффициент отражения г можно представить через отношение амплитуд р и изменение фазы Д (г = р ехр Д), причем обе эти величины могут быть определены с большой точностью. Тронстад и Фичем [129] измерили параметры отражения от чистой поверхности чистой жидкой ртути в атмосфере N2 как функции угла падения (р (рис. 26,а). Егер и сотр. [126] показали, что изменение потенциала золотого электрода вызывает значительное изменение отражения в той области, где нет поверхностных пленок (рис. 26,5), так что проникновением межфазного поля в металл прнебрегать нельзя (ср. [121]). [c.452]

Метод, который удобно использовать для областей сильного поглощения, основан па определении коэффициента отражения. Поскольку свет не проходит через среду, он не ослабляется. Однако вследствие того, что большинство диэлектриков имеет низкую отражательную способность (ниже 5%), достигкимая точность не очень высока. Коэффициент отражения / но отношению к воздуху описывается следующим выражением [c.214]

Значения коэффициента учитывающего отраженный свет от боковых светопроемов при комбинированном освещении [c.377]

Спектрофотометрия. Коэффициент отражения в зависимости от длины волны можно измерить с помощью спектрофотометра. На основании полученных данных строится график зависимости коэффициента отражения от длины волны виднхмой части спектра, что обеспечивает объективное физическое измерение цвета. Практически количество света, отраженного от окрашенного образца для каждой длины волны, определяют как процент света, отра-жеиного от стандартной белой поверхности, которая, как нолагают. диффузно отражает весь падающий на нее свет. [c.388]

Количество отложений на поверхности нагревательного элемента оценивают либо визуально, либо по коэффициенту отраженного света в приборе Al or Mark 8А TDR . [c.104]

Полирование —щопесс удаления с поверхности изделий малейших неровностей и сообщения ей блестящего, зеркального вида с высоким коэффициентом отражения света. Полирование производится на станках кругами и во вращающихся барабанах как перед покрытием поверхности металлом, так и после него, например после меднения, никелирования, хромирования. Полирование покрытий из мягких и дорогих металлов (серебро, золото) производится специальными ручными полировальниками.- [c.367]

Существенным недостатком серебряных покрытий является высокая чувствительность их к действию сероводорода и других соединений серы. В атмосфере, содержащей даже незначительное количество этих соединений, серебряные покрытия темнеют, покрываясь пленками сернистого серебра, которые снижают коэффициент отражения света и декоративные свойства. Для защиты серебра от потемнения изделия покрывают бесцветными лаками, тонкими слоями родия и палладия, подвергают оксидированию, лег ованию кадцием и палладием и др. [c.422]

Зеркально отраженный образцом и, параллельно, эталоном свет улавливается оптическим или фотоэлектрическим (фотоэлемент) прибором. Коэффициент отражения света (К, %) определяется как отношение Л = (/образцаДэталоиа) 100 эта ЛО И — серебряное или алюминиевое зеркало. [c.272]

Фазовоконтрастная микроскопия предназначена для исследования таких элементов микроструктуры, которые изменяют не интенсивность прошедшего или отраженного света, т. е. амплитуду его колебания (как обычно происходит), а лишь фазу его колебания. Изменение фазы колебания света разными участками объекта не может быть замечено глазом или заснято на фотопластинку. К числу таких объектов микроструктуры, называемых фазовыми , относятся при прохождении света через объект — ступеньки на поверхности, разнотолщинные участки, различие участков по коэффициенту свстопреломлеиия при отражении света от объекта — ступеньки на поверхности и различие участков по коэффициенту отражения света. Оптическая система фазовоконтрастного устройства микроскопа позволяет преобразовать фазовые ко- [c.122]

Другим перспективным методом изучения адсорбции органических соединений на электродах является метод модуляционной спектроскопии отражения (Дж. Фейнлейб, Р. М. Лазоренко-Ма-невич). Сущность этого метода заключается в следующем. Идеально плоский блестящий электрод освещается монохроматическим плоскополяризованным светом и одновременно поляризуется так же, как в импедансном методе [см. уравнение (1.17)]. В этих условиях отраженный свет содержит кроме постоянной составляющей R составляющую AR, которая периодически изменяется во времени с той же частотой ш, что и частота приложенного переменного напряжения. Отраженный свет поступает на фотоэлектронный умножитель, который трансформирует его в электрические сигналы, содержащие опять-таки постоянную и переменную составляющие, пропорциональные R и AR. Далее происходит параллельное усиление этих составляющих двумя независимыми усилителя.ми, причем коэффициент усиления AR приблизительно в 10 раз больше коэффициента усиления R. Наконец, оба усиленных сигнала поступают в смеситель, который сравнивает их и выдает сигнал, пропорциональный отношению AR/R. Отношение AR/R регистрируется в зависимости от среднего потенциала электрода ср при заданной длине волны монохроматического света (1) или в зависимости от Я, при ср= onst. [c.34]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология