Фокусировка фазовая

Введем дополнительное ограничение на распределение, а именно в расчет будем принимать только частицы, траектории которых лежат в угле расходимости 0. В этом случае основное предположение, на котором базируется теорема Лиувилля, нарушается и фактическая плотность становится ниже предела Лиувилля. В фазовом рассмотрении процесс уменьшения плотности тока становится непосредственно очевидным. Предельное значение угла расходимости соответствует предельному значению импульсной координаты фазового эллипса. Чем больше сжатие при фокусировке фазового эллипса по пространственной координате, тем больше разброс по импульсной координате и, следовательно, меньше доля частиц с траекториями внутри предельного угла расходимости. Для максвелловского распределения по скоростям практическое интегрирование может быть очень сложным. Так, Пирс для получения соотношения между действительным значением плотности тока и предельным значением Лиувилля брал действительное значение плотности тока в фокусе оптической системы. Проделав достаточно сложные вычисления, он получил следующие выражения для действительного значения плотности тока в плоскости изображения соответственно для одномерной и аксиально-симметричной линз [c.133]

Окуляр заменяют на вспомогательный и, перемещая тубус последнего, добиваются четкой фокусировки фазовой пластинки объектива. Она имеет вид темного кольца. [c.94]

Экспрессная рентгеносъемка поликристаллических образцов для проведения фазового анализа или для прецизионных измерений размеров элементарной ячейки может быть выполнена с помощью рентгеновской камеры для экспрессной съемки поликристаллов типа РКЭ. Камера обеспечивает фотографическую регистрацию дифракционной картины в двух угловых интервалах от 10 до 30° и от 60 до 86° по О. Экспрессность рентгеносъемки обеспечивается фокусировкой первичного пучка, выходящего непосредственно из фокуса рентгеновской трубки. Достаточно острая [c.128]

В случае фазовых объектов угол е мал, поэтому ширина полос в плоскости фокусировки практически равна Ь (фиг. 44, аиб). В случае когда поле интерференционных полос образуется за счет поворота зеркала М, мнимый клин наклонен под углом 0=60° [c.105]

Соображения, касающиеся мнимого клина, качественно можно распространить на фазовые объекты (разд. 3). В этом случае плоскость фокусировки практически параллельна оси р (оси со) и для получения оптимальных условий нужно определить положение этой плоскости, в котором она проходит через ось клина С (начало координат). Изменение интерференционного контраста /С (со, 2 = 0) и фазовой модуляции ф (о, z = 0) вдоль оси ш показано на отдельных графиках фиг. 41 и 42. Согласно (76а) и (766), при 2 = 0 [c.110]

В [425, с. 503/151] показано, как можно фокусировать акустическое поле на различных расстояниях от преобразователя и как изменять угол ввода. Отличие фокусировки с помощью ФР от фазовой фокусировки, принцип которой изложен в разд. 1.3.1, состоит в том, что в последнем случае фазы соседних элементов (зон) изменяются только на кИ. [c.99]

Для работы в качестве излучателя только поперечных волн секции с фазовым управлением монтируются на плексигласовом клине, как показано на рис. 10.41, а [1194]. При соответствующем фазовом управлении можно устранить влияние кривизны или использовать ее для изменения фокусировки. [c.242]

Уместно сделать некоторые замечания относительно применения обычной просвечивающей электронной микроскопии для исследования очень мелких частиц. Во-первых, аморфные носители, нанример аморфный углерод, имеют собственную зернистость при большом увеличении. Во-вторых, существует эффект фазового контраста, который в зависимости от когерентности пучка, условий его фокусировки и разрешения прибора может охватывать область от 0,5 до 5 нм. Намного удобнее применять кристаллические носители с высокой степенью совершенства структуры расщепленные образцы слюды, графита или молибденитов или чрезвычайно небольшие кристаллы окислов, например бериллия или магния. Для получения оптимального разрешения весьма существенно тщательно контролировать возможность загрязнения образца. [c.409]

Фазовая фокусировка потока электронов........ [c.5]

ФАЗОВАЯ ФОКУСИРОВКА ПОТОКА ЭЛЕКТРОНОВ 203 [c.203]

При экспериментальном осуществлении фазовой фокусировки сетки представляют собой часть двух противоположных стенок полого резонатора. Те электроны, которые проходят через этот [c.203]

Рис. 71. Фазовая фокусировка электронов. Горизонтальной стрелкой показано направление движения электронов

ФАЗОВАЯ ФОКУСИРОВКА ПОТОКА ЭЛЕКТРОНОВ 205 [c.205]

Конечное время пролёта электронов через рассматриваемый резонатор несколько усложняет картину фазовой фокусировки. Обозначим буквой величину [c.205]

Камера для экспрессной съемки поликристаллов РКЭ. Камера предназначена для съемки поликристаллических образцов при прецизионных измерениях параметров элементарной ячейки или при фазовом анализе. Быстрота съемки обеспечивается применением фокусировки первичного пучка, исходящего непосредственно из фокуса рентгеновской трубки. При этом достаточно острая фокусировка осуществляется только для узкого интервала углов отражения. [c.31]

Поперечная фокусировка в линейных ускорителях. Обычно фокусировка в линейных ускорителях необходима для того,- чтобы избежать большого увеличения размера пятна и угловой расходимости на его выходе, особенно, если он используется в качестве инжектора для синхротрона. В отличие от продольного движения, которое может быть описано с использованием техники фазового пространства, поперечное движение не описывается гамильтонианом, не зависящим от времени в течение одного радиального колебания. Причина этого различия заключается в том, что в первом порядке продольные колебания не зависят от поперечного движения, в то время как поперечные колебания непосредственно зависят от про [c.182]

Хотя силы уравновешиваются только для одного значения ф, это значение может быть выбрано так, чтобы предотвратить эллипсы для большинства значений ф от чрезмерного удлинения. Для электронов может быть использовано запрограммированное поле В , но для фокусировки ионов оно должно быть очень большим. Обычно для удержания частиц внутри линейного ускорителя служат магнитные квадруполи, но они, как правило, не уменьшают фазового-пространства на выходе. Однако хитроумным выбором квадрупольной фокусирующей системы и трудоемкими расчетами можно сконструировать систему, уменьшающую эффективную поперечную площадь фазового пространства. Такая программа для протонного линейного ускорителя была выполнена Смитом [27], который, добился того, что эффективная площадь фазового пространства, только ненамного превышает эффективную площадь фазового пространства для одной фазы инжекции. [c.184]

Поле интерференционных полос можно рассматривать также как интерференционную картину от фазового объекта, расположенного в сечении tm—tm и соответствующего мнимому клину (образованному плоскостями зеркала до поворота и после него. Подходящим фазовым объектом может быть, например, реальный очень тонкий двойной стеклянный клин, расположенный, как и зеркала интерферометра, под углом 0 относительно оптической оси (на фиг. 37, а он показал штриховыми линиями в сечении т — т)- Поскольку в данном случае рассматривается идеальный точечный источник света, излучающий незатухающие непрерывные волны, мнимую ннтерференцию можно наблюдать в любом сечении измерительного пучка. Следовательно, плоскость фокусировки может находиться в других сечениях, помимо сечения, показанного на фиг. 37, б. В случае реальных источников света, не обладающих указанными выше свойствами, мнимая область интерференции ограничивается окрестностью мнимого клина (или в других случаях— окрестностью фазового объекта), симметричной относительно оси вращения С. Этот вопрос будет подробно обсуждаться в дальнейшем. [c.97]

ПОСТОЯННОГО градиента коэффициента преломления в фазовом объекте. Точка С обозначает ось мнимого клина, соответствующую интерференционной полосе порядка 5 = 0, которая является также осью симметрии поля интерференционных полос, повернугого относительно оптической оси (оси г) на угол е/2. Интерференционные полосы получаются как пересечения пространственного интерференционного поля плоскостью фокусировки, которая в оптимальном [c.104]

Фазовый объект такого типа реализован в примере, приведенном в гл, 5, разд, 2.3, Температура в исследуемой среде между нагретой (<)оо-ЬАО/2) и охлажденной (Ооо —А /2) поверхностями, где градиент показателя преломления йп1йТ считается постоянным, уменьшается по линейному закону (фиг. 43). Поэтому линейный профиль температуры в рабочей части Т8 пропорционален профилю показателя преломления. Постоянный градиент показателя преломления в конечном итоге вызывает отклонение волновых фронтов т, которое можно рассматривать как влияние мнимого клина в дальнейшем он будет служить заменой фазового объекта, В плоскости изображения ti — объектив 2 дает изображения (суммирующихся) волновых фронтов, расположенных в плоскостях фокусировки — tm И tr—В фокальной ПЛОСКОСТИ // — // объектива Ьг отклонение е плоских волновых фронтов измерительного пучка проявляется как смещение е = е-/ (/ — фокусное расстояние г) изображений источника света в сравнительном г и измерительном т пучках (ср, такл<е фиг. 37), [c.113]

Поясним процесс образования интерференционного поля. Для этого представим себе волновые фронты, перпендикулярные направлению световых лучей. Волновые фронты измерительных лучей т изгибаются (ср. фиг. 7). На выходе из рабочей части они имеют плоскую форму, но наклонены под углом г относительно сравнительного пучка г. В сечении интерференционного поля плоскостью фокусировки tm — trn получается интерференционная картина, идентичная картине от мнимого клпна, эквивалентного фазовому объекту. Можно также представить, что отклоненный измерительный пучок, выходящий из рабочей части, приходит из точки Рт и является соответствующим продолжением пучка с плоскими волновыми фронтами (показанного на фиг. 44 штриховой линией). Следовательно, образуется интерференционное поле, соответствующее мнимому клипу между волновыми фронтами сравнительного г и наклонными волновыми фронтами цзмерительного т пучков. [c.116]

Цилиндрические фазовые объекты с осесимметричным распределением показателей преломления являются не столь важными, как двумерные, но также достаточно щироко распространены. Особенно часто цилиндрические объекты встречаются в приложениях оптических методов к газодинамическим задачам и при исследованиях пламен. Чтобы упростить расчеты, иредноложим, что параллельные измерительные лучи входят в модель перпендикулярно ее оси симметрии и проходят через фазовый объект без отклонений. Это справедливо для малых объектов или объектов, не имеющих больших местных градиентов показателя преломления. Такие условия свойственны фокусировке на плоскость симметрии, проходящей через ось модели Рт на фиг. 59). [c.148]

Экранируя зоны пьезопластины, от которых сигнал приходит в противофазе, или сдвигая фазу на кИ (путем переключения электродов), добиваются существенного увеличения амплитуды в точке В. На этом основана фазовая фокусировка. [c.84]

Наибольшее применение получили способы фокусировки криволинейной пьезопластиной активным концентратором) к линзой (рис. 1.56). Между искривленной поверхностью пьезопластины и плоской поверхностью изделия вводят акустическую задержку, которая также играет роль линзы. Кроме того, применяют фазовую фокусировку (см. разд. 1.3.1) [c.95]

Если намеренно изменять различия во времени пробега (длине пути прохождения) в отдельных зонах, то можно изменять звуковое поле, например фокусировать его. Для этого нужно только уменьшить разницу между крайней и средними зонами, например если сделать излучающую поверхность вогнутой. Данный способ используется в частности также и в линзе Френеля (рис. 3.11 [1498, 1499]). Фокусировку можно также получить, устранив излучение отдельных зон (зонная пластина, см. рис. 4,36, г [1279]). И, наконец, можно разбить весь излучатель на отдельные элементы. Если подвести к ним возбуждаюш,ее напряжение с различным запаздыванием, то звуковое поле тоже можно будет намеренно изменять (раздел 10.4.1, групповой излучатель с фазовым управлением). [c.85]

Механическое сканирование одним искателем может быть заменено секционированным излучателем (разделы 10.4.1 и 10.4.2). Линейный секционированный излучатель имитирует простое перемещение искателя, а излучатель с фазовым управлением также и поворот, причем одновременно возможна фокусировка, в том числе и варьируемая во времени (динамическая фокусировка). Это сделало возможным изображение движущихся структур в реальном масщтабе времени, например в медицине [766]. Однако применение такого способа при контроле материалов ограничивается наличием неровных поверхностей (волнистых, шероховатых), поскольку при этом звуковые поля отдельных секций секционированного излучателя искажаются. [c.308]

Созданы и многие другие приборы с изображением, основанные на фазоуправляемых секционированных излучателях для отклонения и фокусировки луча. Некоторые из них имеют один обычный преобразователь в качестве излучателя и систему секций в качестве приемника или же наоборот, а другие имеют два отдельных излучателя и приемника или систему секций и в качестве излучателя, и в качестве приемника. Фазовое управление осуществляется по аналоговой схеме или с помощью цифровой ЭВМ [1748]. [c.309]

Послойное наблюдение фазовых неоднородностей (свили, пузыри, включения) в прозрачных объектах методом фокусировки возможно с помощью теневого или Шлирен-метода. Наличие фадиента показателя прелом- [c.520]

Разрешение индивидуальных металлических атомов как в виде отдельных атомов, так и их кластеров находится на грани чувствительности просвечивающей электронной микроскопии (или даже за ее пределами). Теоретический анализ, проведенный Хашнмото и др. [23—25], показал, что для последовательности из нескольких атомов разрешение метода наклонного темного поля лучше, чем метода светлого поля. Конечно, для очень небольших агрегатов из нескольких атомов возникновение контрастности изображения полностью обусловлено эффектом фазового контраста, в то время как для больших частиц наблюдается дифракционный контраст. Флин и др. [26] рассмотрели, насколько фазовый контраст от таких атомных агрегатов определяется условиями фокусировки. В частности, оказалось, что связь между геометрическим расположением атомов-в агрегате и характером расчетного изображения существенно зависит от условий фокусировки и даже качественное соответствие между ними не обязательно. Очевидно, что интерпретацик> изображения, которое на первый взгляд показывает наличие кластера из нескольких атомов, следует принимать с большой осмотрительностью. Прежде всего необходимо детально исследовать изображение в зависимости от дефокусировки. Данное рассмотрение также показывает, что, поскольку речь идет об измерении размера частиц, зависящих от условий фокусировки, связь между истинным и кажущимся размером частиц при их [c.409]

При рассмотрении первого из перечисленных вопросов найдено решение трехфазной задачи о разрушении тонкой металлической пластины под действием поверхностного источника тепла. Определены законы перемещения фазовых границ плавления и испарения. На основе полученных результатов проведены оценки соотношения количеств газообразной и жидкой составляющих продуктов разрушения. Обсуждается зависимость диаметра кратера от фокусировки лазерного излучения. [c.17]

Особую разновидность диодов представляют собой магнетроны, применяемые для генерации электромагнитных волн сантиметрового диапазона. В магнетроне катод представляет собой никелевый цилиндр, покрытый оксидным слоем. Анод—толстый, круглый металлический диск, соосный с катодом, с цилиндрическим вырезом в центре и с прорезями, ведущими в резонансные полости (рис. 47). Параллельно оси катода и анода в магнетроне накладывают постоянное магнитное поле, завихряющее траектории электронов и приводящее электроны частично обратно на катод. При прохождении электронов в высокочастотном неременном поле между сегментами анода происходит, с одной стороны, фазовая фокусировка электронов (см. 54 гл. VII), а с другой—наведение на сегментах разрезного анода высокочастотных колебаний потенциала. Эта своеобразная обратная связь или, другими словами, взаимодействие между пучком вращающихся вокруг катода электронов и бегущей по секторам цилиндрического анода волной приводит к раскачиванию колебаний и к возможности генериро- [c.147]

Фазовая фокусировка потока электронов. Особый случай воздействия электрического поля на электроны в электровакуумных приборах представляет собой так называемая фазовая фокусировка электронного потока. Фазовая фокусировка достигается при прохождении равномерного прямолинейного потока. электронов через область переменного поля, в которой силовые линии совпадают с прямолинейной траекторией электронов. Допустим сперва, что электроны потока пробегают эту область за промежуток времени, во много раз меньший, чем период переменного поля, так что изменением напряжённости поля за это время можно пренебречь. Для наглядности предположим, что переменное поле создано между двумя сетками, расположенными перпендикулярно к траектории электронов и находящимися одна от другой на малом расстоянии и что разность потенциалов между. этими сетками изменяется во времени по закону 7= /ц51п шЛ [c.203]

Фазовая фокусировка электронов имеет в современной технике генерации колебаний- сверхвысокой частоты большое значение. Фокусированный по фазе поток электронов, встречая на своём яути второй резонатор, возбуждает в нём колебания потенциала. [c.205]

Все же метод с использованием алмазной кюветы имеет некоторые недостатки. Из-за малой площади поверхностей алмазов необходимо применять микроосветитель для фокусировки пучка. Сами алмазы сильно поглощают в области 1800— 2400 СЖ", поэтому в этой области с ними работать нельзя заметное же их поглощение в области 3000—3500 сж может маскировать слабые полосы, соответствующие колебаниям С—Н и N—Н. Как указывалось выше, полностью или частично от этого поглощения можно избавиться, используя сапфир или более тонкие алмазы. Спектры обычно следует записывать при минимальном давлении, которое уже дает прозрачный слой вещества, поскольку возможные для некоторых веществ фазовые переходы под влиянием давления могут вызывать неожиданные изменения в спектрах. Переходы такого типа не широко распространены, в большинстве случаев их влияние на спектр не является очень сильным или необратимым [45]. Другие возможные следствия давления, например сдвиги полос и изменения интенсивности, столь малы при небольших давлениях, что ими можно пренебречь [45]. [c.280]

Операции по юстировке шлирен-системы (и системы Рэлея) подробно описаны Ли Гроппером [11]. Особенно тщательная настройка оптики требуется при применении метода Арчибальда. Если изображение щели-источника плохо сфокусировано по фазовой пластинке, это может вызвать смещение базальной линии на седиментацион-ной диаграмме. При неправильной фокусировке изображения ячейки на экране фотокамеры могут возникать искривленные пики. На ранее приведенной схеме показана только одна шлирен-линза. Обычно, однако, ставятся две линзы — по обе стороны ячейки — так, чтобы через нее проходили параллельные лучи. [c.49]

Камера РКЭ НИИФ МГУ) (рис. 5) для экспрессной съемки поликристаллов предназначена для изучения поликристаллических образцов с целью обычного фазового анализа или прецизионных измерений параметров кристаллической решетки . Экспрессность съемки обгспечивается тем, что используется сравнительно широко расходящийся первичный пучок, исходящий из фокуса трубки При этом фокусировка осуществляется только для сравнительно небольшого интервала углов отражения . [c.125]

Как только был понят принцип фазовой устойчивости, в циклотроны стали вводить частотную модуляцию — сначала в Беркли, а затем и в других лабораториях. В настоящее время действуют по меньшей мере 18 циклотронов с частотной модуляцией (ЧМ) или синхроциклотронов, как их обычно называют (причем восемь из них — в США). Крупнейшие из этих машин находятся в Беркли, ЦЕРНе (Женева) и Дубне (близ Москвы), и все они ускоряют протоны до 600—700 Мэв 184-дюймовый ( 470 см) синхроциклотрон в Беркли можно использовать также и для ускорения. дейтронов (до 450 Мэв) и ионов гелия (до 900 М в) для этого используются сменные генераторы различных частот. Для ускорения протонов до 700 Мэв частота должна уменьшаться в течение каждого цикла примерно на половину своей начальной величины. В большинстве синхроциклотронов частотная модуляция осуществляется с помощью вращающегося конденсатора, включенного в контур генератора. Ясно, что для успешного ускорения ионы должны начинать свой путь по спирали в момент времени, соответствующий максимальной частоте (или почти в этот момент). Поскольку ионы захватываются на стабильные орбиты лишь в течение примерно 1 % длительности ВЧ-цикла, пучок состоит из последовательных импульсов. Поэтому ток пучка ионов в таких ускорителях меньше, чем в обычных циклотронах или в циклотронах с секторной фокусировкой. [c.362]

Из предыдущих рассуждений ясно, что амплитуды вертикальных колебаний делаются очень малыми в магнитных секторах с большим положительным п(> 1), а радиальные колебания значительно ослабевают в секторах с большим отрицательным (С — 1). Кольцевой магнит, собранный из чередующихся секций с большим положительным или отрицательным /г, обеспечивает жесткую фокусировку и как следствие — меньшую апертуру, допуская в то же время фазовую устойчивость для синхротронного ускорения возможность создания систем с жесткой фокусировкой была впервые указана Кристофилосом в 1950 г. и независимо открыта Курантом, Ливингстоном и Снайдером в 1952 г. [8]. Неприятным следствием больших значений п является существование многих резонансов, способных привести к потере пучка. В связи с этим интервал рабочих условий, при которых возможна устойчивая работа машины, довольно мал и, кроме того, необходим очень тщательный контроль целого ряда параметров [2, 3]. [c.368]

Чтобы высокочастотная ускоряющая система работала, она должна обладать фазовой устойчивостью, т. е. возмущения относительно синхронной фазы должны быть самокорректирующимися. Устойчивость колебаний в линейном ускорителе детально исследовал Слайтер 125]. Фазовую устойчивость в синхротроне еще раньше доказали Мак Миллан [17] и Векслер [34], а позднее с использованием гамильтоновог0 формализма изучали Твисс и Франк [33]. Курант, Ливингстон и Снайдер [5] обобщили анализ Твисса и Франка на синхротрон с сильной фокусировкой. [c.162]

В принципе для преобразования фазового пространства эмиттанса в соответствии с фазовым пространством аксептанса можно использовать линзы. Это уменьшит эффективную область фазового пространства, занятую частицами, и приведет к значительному уменьшению размеров вакуумной камеры. Однако существуют два важных ограничения на системы преобразования фазового пространства а) для увеличения размеров пучка требуются большие апертуры линз 6) трудность в достижении очень маленьких угловых расходимостей из-за аберрации. К тому же при конструировании ускорителей большое значение имеет не только эффективная площадь фазового пространства, но и его форма, ибо большие объемы вакуумной камеры требуют затрат значительных мощностей, тогда как угловая расходимость приводит к колебаниям размеров пучка. Ясно, что было бы более желательно менять форму аксептанса. Это возможно с помощью фокусировки переменными градиентами, которая для средней частоты бетатронных колебаний = 5 дает расстояние до стенок х К2, как показано на рис. 4.7. [c.180]

Заполнение фазового пространства в азимутально-симметричных ускорителях. Здесь рассмотрение будет ограничено поперечным фазовым пространством. Можно считать, что синхротронные колебания, связанные с продольным фазовым пространством, смещают равновесную орбиту и, таким образом, еще больше уменьшают полезную апертуру. При многооборотной инжекции можно предположить, что частота бетатронных колебаний и частота азимутального вращения не кратны одна другой. Таким образом, инжектируемое фазовое пространство в течение нескольких оборотов может пройти мимо инфлектора конечной длины и не задеть его, за это же время равновесная орбита сместится настолько, что эмиттанс пройдет мимо инфлектора. Пример, который будет рассмотрен, заимствован из исследований [32] для 12,5 Гэв протонного синхротрона с нулевым градиентом. Вертикальная фокусировка осуществляется краевым полем магнита, разделенного на квадранты. (Более подробное изложение этого дано в работе [15].) [c.202]

Необходимость специальных методов обработки изображений обусловлена тем, что объект состоит из легких атомов, не окрашенных солями тяжелых металлов красителя . В этом случае основной вклад в формирование изображения вносит не поглощение электронов атомами образца, а их торможение, изменяющее фазы электронов. Поэтому точно сфокусированное изображение в случае неокрашенных образцов не содержит структурной информации. Для визуального наблюдения легких атомов необходимо сделать серию снимков с различной фокусировкой, для того чтобы с помощью анализа на ЭВМ можно было выбрать фазово-контрастные изображения, отображаюн ие взаимное расположение легких атомов. [c.558]

Для получения фазового контраста необходимо, чтобы изображение кольца конденсора (иногда его называют фазовым кольцом) точно фокусировалось на фазовой пластинке. Этого достигают следующим путем. Конденсор и окуляр удаляют, после чего источник света устанавливают таким образом, чтобы он находился примерно по центру объектива, если смотреть вниз через тубус. Затем на столик помещают объект, окуляр вставляют на место, выбирают объектив с желаемым увеличением, ввинчивают его в тубус и фокусируют на объекте. Затем конденсор устанавливают так, чтобы изображение диафрагмы лампы было в фокусе на плоскости объекта (условия освещения Кёлера). Под окуляром помещают специальную линзу, называемую линзой Бертрана, с помощью которой можно видеть заднюю фокусную плоскость объектива, т. е. положение фазовой пластинки. Затем навинчивают требуемое кольцо конденсооа (для каждого объектива существует свое кольцо, поскольку размер кольца должен соответствовать размеру фазовой пластинки). Кольцо конденсора с помощью регулировочной ручки передвигают до тех пор, нока оно не будет концентрическим по отношению к фазовой пластинке. После этого обычно проводят окончательную фокусировку конденсора, для того чтобы изображение кольца конденсора точно совмещалось с фазовой пластинкой. Далее линзу Бертрана удаляют, после чего система готова к работе. [c.58]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология