Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Эмиссионный фотоэлектрические

    ИСТОЧНИКОВ света, выделение аналитических линий из спектра источника и регистрация относительных изменений интенсивности могут быть осуществлены более простыми средствами и более надежно, чем в эмиссионных фотоэлектрических установках типа квантометров . По сравнению с квантометрами отпадает необходимость применения громоздких спектральных приборов с большой линейной дисперсией, нужда в прецизионных устройствах для вывода и контроля положения аналитических линий относительно выходных щелей спектрометра, необходимость в высококачественных источниках света, сложных генераторах возбуждения спектров. [c.376]


    Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

    Все возрастающие требования к скорости и точности анализа обусловили внедрение в практику атомно-эмиссионного спектрального анализа фотоэлектрических способов [c.78]

    С 20-х годов XX в. начинает интенсивно развиваться количественный эмиссионный спектральный анализ благодаря использованию предложенного В. Герлахом (1924) метода гомологической пары линий. В качестве аналитического сигнала в этом методе использовалась относительная интенсивность спектральной линии определяемого элемента. С 1945 г. для измерения интенсивности спектральных линий стал применяться фотоэлектрический метод. Несколько раньше были сконструированы спектрофотометры с фотоэлектрической регистрацией интенсивности света для исследования и анализа растворов. Заметно прогрессирует метод фотометрии пламени, который в настоящее время стал иметь большое практическое значение. [c.11]

    Фотометр фотоэлектрический пламенный ПФМ. Этот прибор предназначен для количественного анализа элементов методом пламенной эмиссионной спектроскопии. В качестве горючего [c.195]

    Генератор с электронным управлением РЭУ-1. Для количественного анализа высокой точности специально разработан генератор с электронным управлением ГЭУ-1 с высокой стабильностью разряда. Этот генератор входит в комплект установок для эмиссионного анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра. Генератор можно с успехом применить для количественного анализа во всех случаях, когда требуется большая стабильность самого источника света. [c.72]


    Фотоэлектрический стилометр ФЭС-1. Для эмиссионного анализа в видимой области спектра промышленность выпускает фотоэлектрический прибор, рассчитанный на последовательное определение различных элементов в одном образце. Таким образом, этот прибор вполне аналогичен визуальному стилометру, но в нем применена фотоэлектрическая регистрация. [c.147]

    Важнейшее значение имеет также стоимость и доступность соответствующей аппаратуры. Так внедрение фотоэлектрического метода при количественном эмиссионном анализе ограничивается часто высокой стоимостью и малой доступностью аппаратуры, хотя по основным характеристикам фотоэлектрический метод обладает во многих случаях значительными преимуществами, особенно при серийных анализах. [c.154]

    Стеклянный спектрограф ИСП-51 предназначен для работы в видимой части спектра. Это универсальный спектральный трехпризменный прибор, предназначенный для целей эмиссионного, абсорбционного, люминесцентного анализов, для анализа по спектрам комбинационного рассеяния, пламенной фотометрии и т. п. Он комплектуется коллиматорами с фокусными расстояниями 300 и 600 мм и камерами 120, 270 и 800 мм, а также автоколлимационной камерой (/ = = 1300 мм). ИСП-51 может быть использован в качестве фотоэлектрического прибора. Для этой цели в комплекте с ним выпускают фотоэлектрические приставки ФЭП-1. Оптическая схема прибора приведена на рис. 30.6. [c.656]

    Все количественные методы атомно-эмиссионного анализа по способу регистрации спектров разделяют на визуальные, фотографические и фотоэлектрические. [c.675]

    При определении натрия в силикатных породах (гнейсах, гранитах, сиенитах) с содержанием не менее 10 % используют метод Аренса для концентрирования щелочных и щелочноземельных элементов с последующим определением натрия атомно-эмиссионным методом по линии 588,9 нм в воздушно-ацетиленовом пламени [424]. Пламенно-фотометрическая установка сконструирована на основе двойного стеклянного монохроматора ДМ. Фотоэлектрическое устройство состоит из фотоумножителя ФЭУ-17, выпрямителя ВВС-1 и зеркального гальванометра М-21. [c.156]

    При фотоэлектрическом эмиссионном анализе аналитические линии регистрируют с помощью фотоэлементов.. Результат анализа указывается на шкале измерительного прибора или фиксируется на ленте самозаписывающего прибора. [c.244]

    Нагибина И. М., Михайловский Ю.К. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионной спектроскопии. Л. Машиностроение, 1981. [c.426]

    Чугун. Метод фотоэлектрического спектрального анализа Чугун и сталь. Методы спектрографического анализа Порошок железный. Метод фотоэлектрического спектрального анализа Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа Кобальт Методы химико-атомно-эмиссионного спектрального анализа [c.821]

    Медь высокой чистоты. Общие требования к методам анализа Медь высокой чистоты. Методы атомно-спектрального анализа Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра [c.576]

    Наблюдение и изучение спектра производятся одним из четырех методов визуальным, фотографическим, фотоэлектрическим и термоэлектрическим. В эмиссионном спектральном анализе наиболее распространен фотографический метод. Этот метод позволяет за один прием получить полный спектр сложного материала. Каждый элемент имеет большое количество линий. Невозможно [c.178]

    Качественный анализ с использованием дуги постоянного тока. Спектрометрия с дугой постоянного тока является одним из наиболее чувствительных методов элементного анализа. Почти 70 элементов могут быть обнаружены одновременно при концентрации от млн до млрд- С целью проведения качественного анализа, использующего возбуждение дугой постоянного тока и фотоэлектрическую регистрацию, шкала длин волн на фотографической эмульсии должна быть калибрована. Для этого на верхней половине фотопластинок фотографируют эмиссионный спектр известного элемента (например, железа), а на нижней — эмиссионный спектр пробы. Как отмечали ранее, железо имеет очень богатый спектр в дуге, состоящий из большого числа линий, длины волн которых известны с достаточно высокой правильностью. Спектр железа служит в качестве калибровочной шкалы, с помощью которой можно идентифицировать спектральные линии химической пробы, определяя их длины волн. [c.710]

    При помощи приборов с фотоэлектрической регистрацией можна провести ряд определений в данном образце в течение нескольких минут с точностью около 2%. Сигнал на выходе детектора, в состав которого входит фотоумножитель, интегрируют с помощью специальных электрических цепей в течение 25—40 с. Затем измеряют интенсивность нужной линии, сравнивая результаты интегрирования для двух выбранных линий. Пользуясь калибровочными графиками, по значению отношения интенсивностей излучения находят концентрацию. Большинство серийных приборов позволяет выделить характеристические линии одновременно для нескольких элементов, так что оказывается возможным проводить многоэлементный анализ образца, регистрируя для каждого элемента отношения интенсивности для серии гомологических пар. В связи с этим эмиссионные спектрографы, использующие фотоэлектрическую регистрацию и снабженные устройствами для непосредственной выдачи результатов анализа, широко используются в промышленности для массовых анализов. [c.99]


    Разработана установка для атомно-эмиссионного анализа жидких проб с генератором индуктивно связанной плазмы в качестве источника возбуждения спектров. Генератор создан на основе серийного высокочастотного генератора. Мощность плазменного разряда 1,5—2,5 кВт. В состав установки, помимо источника возбуждения спектров, входят устройства фотоэлектрической и фотографической регистрации, а также автоматизированный микрофотометр. Установка снабжена мини-ЭВМ, что позволяет оперативно полу- [c.10]

    В Советском Союзе налажен выпуск приборов для эмиссионного спектрального анализа. Первый отечественный прибор ИСП-4 был создан в 1935 г. Массовый выпуск приборов, главным образом для удовлетворения нужд заводских лабораторий, был налажен сразу после Отечественной войны позднее появились и приборы для научных исследований, отличающиеся лучшими характеристиками. Очень большую роль в этом деле сыграл Государственный оптический институт в Ленинграде. Первый квантометр ДФС-10 был разработан и изготовлен в 1956 г. В семидесятые годы основными приборами для эмиссионного спектрального анализа стали кварцевый спектрограф ИСП-30, диффракционный спектрограф ДОС-13, позволяющий определять элементы со сложным спектром, квантометры ДФС-40 и ДФС-39. Выпускаются и другие приборы, отличающиеся хорошей оптической частью. Совершенствуются приемники света для приборов с фотоэлектрической регистрацией, фотоумножители и др. Тираж приборов, к сожалению, недостаточен. Квантометры не всегда снабжаются полноценной электронно-вычислительной машиной. [c.69]

    Вопрос о преимуществах фотографической или фотоэлектрической регистрации при обнаружении очень слабых спектральных линий в случае анализа достаточно однородных материалов нельзя считать практически окончательно решенным. Теоретически преимущество должно принадлежать фотоэлектрическим приемникам, квантовый выход которых на порядок и более превосходит эквивалентный квантовый выход фотографических эмульсий. Соответствующие расчеты, выполненные в работах [748, 429], указывают, что с помощью фотоэлектрической регистрации, производящейся в оптимальных условиях, можно обнаруживать в 3—5 раз менее интенсивные спектральные линии, чем с помощью фотографической регистрации. Оптимальные условия для фотоэлектрической регистрации в некоторых методах- спектрального анализа (эмиссионный анализ растворов методом пламенной фотометрии, атомно-абсОрбционный анализ и др.) часто реализуются непосредственно (в первую очередь благодаря высокой стабильности аналитического сигнала во времени), либо легко могут быть созданы с помощью простых технических средств (например, модуляции сигнала). Именно поэтому фотоэлектрическая регистрация широко применяется в перечисленных методах анализа, обеспечивая не только удобство, экспрессность и высокую точность определений, но и возможность обнаружения очень малых содержаний искомых элементов. (Правда, нет сравнительных экспериментальных данных, из которых следовало бы, что применение в этих методах анализа фотографической регистрации не может обеспечить достижения таких же или меньших пределов обнаружения.) [c.67]

    В анализе чистого кремния и его соединений широко используют эмиссионные спектральные методы для одновременного определения большой группы примесей, а также и отдельных примесей. Непосредственное определение примесей в кремнии на спектрографе средней разрешающей силы имеет обычную, относительно невысокую 10 %) чувствительность [35—37]. Применение спектрографа с высокой разрешающей силой лри анализе карбида кремния повысило на порядок чувствительность определения некоторых примесей [38]. Использование фотоэлектрического спектрографа в сочетании со специальным электронным вычислительным устройством [39] позволит повысить чувствительность прямого спектрального определения примесей не менее чем на два порядка. [c.36]

    На этом принципе построено большинство современных промышленных фотоэлектрических установок для спектрального анализа (при этом ошибка измерений, связанная с дрейфом чувствительности ФЭУ, не уменьшается и может даже возрасти). Измерение разности или отношения двух сигналов с помощью двух фотоумножителей сопряжено с определенными техническими трудностями. Предложены различные схемы дифференциального включения ФЭУ, позволяющие в той или иной мере успешно преодолеть эти трудности. В современных многоканальных фотоэлектрических установках для эмиссионного спектрального анализа, называемых кванто-метрами, применяется обычно метод накопления (интегрирования) сигналов в течение всего времени экспозиции [240, 873, 805]. [c.62]

    Измерения интенсивности спектральных линий в эмиссионном спектральном анлизе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. В первом случае приемником излучения служит глаз, во втором —фотоэмульсия, в третьем — фотоэлемент или фотоэлектронный умножитель (ФЭУ). Каждый метод имеет свои преимущества, недостатки и оптимальную область применения. [c.74]

    Рассказать о фотоэлектрических методах эмиссионной спектроскопии и привести припципиа,иьную схему прибора типа ФЭСА-6. [c.127]

    Проверяют градуировку шкалы длин волн 29 по линиям ртутного спектра. Длины волн эмиссионного спектра ртути помимо атласа спектральных линий можно найти в аттестате каждого прибора, где имеется таблица длин волн линий ртутной лампы, по которым проверяют градуировку шкалы при выпуске прибора. Сущность данной проверки заключается в том, что, наблюдая визуально или фотоэлектрически прохождение через щель определенной линии ртути при вращении рукоятки 19 (см. рис. 86) шкалы длин волн, останавливают это вращение как раз в тот момент, когда через щель проходит максимум линии, и сравнивают полученное показание шкалы с данными атласа или аттестата. [c.261]

    Эмиссионный спектральный анализ в настоящее время является одним из наиболее широко используемых методов определения малых содержаний Sb в металлах и их сплавах, горных породах, рудах, веществах высокой чистоты, полупроводниковых и многих других материалах I227, 287, 314, 369, 380, 398, 442, 635, 637, 681—683, 807]. Теоретические основы эмиссионного спект-зального анализа изложены в ряде руководств и монографий 209, 226, 349, 709, 936]. Основными преимуществами эмиссионного спектрального анализа являются универсальность, высокая чувствительность и вполне удовлетворительная точность. Большая производительность и экономичность делают его незаменимым при массовых анализах однотипных проб, особенно с использованием современных приборов с фотоэлектрической регистрацией спектров [501, 710]. К числу достоинств спектрального метода следует также отнести в большинстве случаев малое количество вещества, необходимое для проведения анализа, составляющее иногда сотые доли грамма. [c.77]

    Медь высокой чистоты. Метод эмиссионного спектрального анализа с фотоэлектрической регист-, рацией спектра  [c.823]

    Как указывает Захтлер [396], работа выхода. Вольта-потенциал, фотоэлектрическая эмиссия, эмиссионная микроскопия, электропроводность пленок, магнитные свойства малых частиц и ИК-спектры говорят о том, что хемосорбционная связь между металлом и адсорбатом очень похожа на объемную, причем силы связи различаются не более чем на 10%. При хемосорбции атом металла частично теряет металлические свойства отсюда — изменение электропроводности и намагничивания. Связь Ме—Ме частично разрывается и образуется связь с адсорбатом отсюда — легкая подвижность атомов металла на поверхности. Можно видеть, что все эти соображения близки к выводам из мультиплетной теории. [c.215]

    Для автоматизации производства необходимы контроль нераз-рущающими методами и широкое использование современных физических методов экспрессного анализа результаты анализа должны быть оформлены в виде электрических сигналов. К числу таких физических методов относятся эмиссионный спектральный анализ с фотоэлектрической регистрацией (квантометры, в том числе для вакуумной области спектра), рентгенофлуоресцентный метод также с использованием соответствующих квантометров, автоматические методы определения углерода,серы,кислорода, водорода и азота в металлах и сплавах. В первую очередь решаются задачи автоматизации анализа в кислородно-конверторном производстве стали, которое получило большое развитие. Мы уже говорили в начале книги, что плавка в этом случае длится 15—25 мин, а по ходу ее нужно получать информацию о составе жидкой стали, например о содержании углерода. Эту задачу в значительной степени решают вакуумные квантометры, позволяюш.ие определять в числе прочих элементов углерод, серу, фосфор. При анализе простых сталей определение трех названных элементов составляет 60—707о всех определений. Другое направление внедрения прогрессивных аналитических методов — автоматизация электросталеплавильного производства. Конечно, автоматизированные методы анализа нужны и доменному, и мартеновскому, и коксохимическому производствам, и горнорудным предприятиям. [c.144]

    Автоматизация многих отраслей металлургической промышленности, где для получения чистых и сверхчистых материалов широко используются чистые инертные газы, автоматизация технологического процесса самого газового производства требуют создания простых и быстрых методов контроля состава газовой среды. Методы должны быть использованы в цеховых условиях и обеспечивать достаточно высокую точность и чувствительность анализа. Этим требованиям отвечают так называемые экспрессные методы спектрального анализа газов. Оказывается, во многих случаях, особенно при анализе бинарных смесей газов, сложный спектральный аппарат может быть заменен подходящим монохроматическим фильтром Этот прием особенно широко используется в абсорбционной спектроскопии (см. гл, VI) и в некоторых случаях уже стал находить применение в эмиссионном спектральном анализе металлов. Возможность осуществления потока газа значительно упрощает вакуумную установку В свою очередь, выделение излучения соответствующей длины волны с помощью монохроматических фИ"1Ьтров благодаря увеличению светового потока позволяет использовать более простые фотоэлектрические установки р - [c.218]

    Подробные сведения о фотоэлектрических приемниках света — фотоэлементах и фотоумножителях, о происходящих в них процессах, о конструкциях и характеристиках отечественных фотоэлектрических приемников содержатся в монографии [754]. Основные принципы и способы применения фотоэлектрических приемников в эмиссионном спектральном анализе описаны в работах [240, 873]. Данные о новых фотоэлектрических приемниках и установках для спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией регулярно публикуются в специальной периодической научной печати, в настоящем изложении мы остановимся в основном лишь на тех вопросах фотоэлекрической регистрации в спектральном анализе, которые непосредственно связаны с возможностью обнаружения очень слабых аналитических линий в присутствии заметного фона. [c.61]

    Проверяют градуировку шкалы длин волн (рис. 39, а, 29) по линиям ртутного спектра. Для этого в комплекте прибора, как уже говорилось выше (стр. 99), имеется ртутная лампа. Длины волн эмиссионного спектра ртути можно найти в любом атласе спектральных линий, но, помимо этого, в аттестате каждого прибора имеется таблица длин волн линий ртутной лампы, по которым проверяют градуировку шкалы при заводском выпуске прибора. Сущность данной проверки заключается в том, что, наблюдая тем или иным путем (визуально или фотоэлектрически) прохождение через щель определенной линии ртути при вращении рукоятки (рис. 39, а, 19) шкалы длин волн, останавливают это вращение как раз в тот момент, когда через щель проходит максимум линии, и сравнивают полученное показание шкалы с данными атласа или аттестата. [c.103]


Смотреть страницы где упоминается термин Эмиссионный фотоэлектрические: [c.345]    [c.370]    [c.370]    [c.12]    [c.12]    [c.341]    [c.393]    [c.171]    [c.99]    [c.421]    [c.422]    [c.398]   
Основы аналитической химии Кн 3 Издание 2 (1977) -- [ c.223 , c.231 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Фотоэлектрический эф ект

гом эмиссионный



© 2025 chem21.info Реклама на сайте