Аналитическая линия ошибка анализа

В результате съемки было получено 40 рентгенограмм, одна из которых показана на рис, 45. По результатам измерений интенсивности отражений были построены градуировочные графики, примеры которых для Сз5 и СгЗ приведены па рис, 46, где [а оси ординат откладывалась массовая доля соответствующего минерала в эталонной смеси, выраженная в %, а на оси аб-сц[1сс — величины отношения интенсивности аналитических линий минерала и эталона — флюорита. С помощью этих графиков был проведен количественный фазовый анализ ряда клинкеров. Участок рентгенограммы одного из клинкеров с эталоном показан иа Рис. 47. Рентгенограмма смеси клинкера с эта- рис. 47. Относительная ошибка лоном (аналитические линии заштрихованы) измерений составляла 3%. [c.92]

При анализе сплавов магния [452] для определения используют аналитическую линию бериллия 3130,4 А, линией сравнения служит линия магния 3074,0 А. Градуировочный график строят в координатах концентрация бериллия (в %)—log отношения интенсивностей в пределах 0,0003—0,05% Ве. Относительная ошибка определения бериллия при содержании его в магнии 0,01—0,1% составляет, по данным Прейса, 6—8%, но при определении более низких концентраций ошибка увеличи вается. [c.95]

Спектральный анализ силикатов в большинстве случаев производят пз растворов. Силикат обычно сплавляют и плав переводят в раствор. Иногда рекомендуют [292] перед определением кальция отделять кремневую кислоту. Определение выполняется на приборах ИСП-22, ИСП-51 с использованием в качестве источника возбуждения плазменного генератора для повышения точности анализа (ошибка 2,5—3,5%). Аналитическую линию Са [c.133]

Методы полуколичественного и количественного спектрального анализа основаны на эмпирически установленной прямой зависимости между интенсивностью почернения спектральных линий на фотопластинке и количеством данного элемента в определенном интервале концентрации испытуемой пробы. В конечном итоге суть спектрального анализа заключается в визуальном или инструментальном (при помощи микрофотометра) сравнении на спектрограмме интенсивности почернения аналитической линии изучаемого элемента с интенсивностью почернения идентичной линии, полученной при спектрографии эталона с известным содержанием того же элемента. По результатам ф.ото-метрии строят градуировочный график, который показывает связь интенсивности линии анализируемого элемента с концентрацией этого же элемента в пробе. По графику определяют процентное содержание элемента. Предел допустимой ошибки спектрального метода, по данным многих авторов, не превышает 10%. [c.79]

Особое значение для хорошей воспроизводимости и точности метода имеет условие близости составов стандартных и анализируемых растворов, поскольку — как было уже показано — различия в остальных компонентах раствора могут вызвать существенные отклонения в измеренных интенсивностях, а отсюда — и концентрациях. Анализу нового типа образца предшествует подбор давления компонентов газовой смеси для нахождения оптимальных для данного определения условий опыта. Найденные условия должны оставаться строго постоянными как при работе со стандартными, так и с анализируемыми растворами это устраняет ошибки, вызванные различиями в условиях поступления и возбуждения соответствующего элемента в пламени. Когда концентрация определяемого элемента очень низка, используют его наиболее интенсивные (аналитические) линии при более же высоких концентрациях нужно работать с г другими, более слабыми линиями, или же прибегать к разбавлению анализируемого раствора. [c.355]

Чувствительность метода определения лития в рудах была повышена описанным приемом примерно на два порядка. Чувствительность и надежность метода определения возрастают с увеличением подачи пробы в разряд. Вместе с тем сгорание одной частицы пробы должно заканчиваться к моменту поступления в разряд следующей частицы. В противном случае соответствующие вспышки аналитической линии будут зарегистрированы как одна вспышка и возникнет обусловленная этим фактом ошибка анализа. Поэтому целесообразно пользоваться источниками, дающими наиболее короткие вспышки с крутым фронтом. По-видимому, перспективно применение плазменных источников спектра. С помощью этого приема может быть раздельно определено содержание различных минералов одного и того же элемента в пробе и дана количественная характеристика неоднородности распределения интересующего элемента по объему пробы. Если анализируемый элемент входит в два или несколько минералов в различных концентрациях, то каждому из минералов будет соответствовать характерная амплитуда и форма световых вспышек. При неоднородном распределении элемента по объему число вспышек, регистрируемых за время экспозиции, будет функцией места, из которого взята проба. [c.24]

Как показали исследования А. К. Виноградовой, Е. Б. Геркен и Л. М. Иванцова [27], дополнительная нестабильность относительной интенсивности аналитической линии вносится за счет неконтролируемого виньетирования излучения источника электродами и оптикой спектральной установки в процессе разрушения электродов разрядом и блуждания разряда по электродам. Излучение линий разной природы локализовано в различных зонах разряда. Поэтому возникновение непрозрачного экрана на пути световых лучей в различной степени ослабляет линии с различными потенциалами возбуждения. Эффект неконтролируемого избирательного виньетирования излучения источника может быть подавлен в значительной мере путем рационального выбора осветителя. А. К- Виноградовой и Л. М. Иванцовым [28] установлено, что лучшие результаты дает растровый осветитель. Особенно важно то, что осветители такого типа позволяют получить ту же ошибку анализа при менее строгой локализации положения источника относительно спектрального аппарата. Серийная фотоэлектрическая аппаратура пока укомплектована растровым осветителем со сферической оптикой. Более перспективные растровые осветители с цилиндрической оптикой известны только по опытным установкам [28]. [c.27]

При усреднении значения абсолютной интенсивности аналитической линии уменьшается ошибка анализа, вызванная нестабильностью источников света. [c.219]

Если фон под аналитической линией определяемого элемента не слишком интенсивен и нет опасности наложений соседних линий, то щель расширяют до 0,02—0,03 мм. Чем шире щель, тем меньшую ошибку в результаты анализа внесут микронеоднородности фотографической эмульсии. [c.237]

При предельно малых концентрациях определяемого элемента, когда линия видна не на всех спектрограммах, ошибка фотометрирования резко возрастает вследствие неточного выведения максимума линии на щель микрофотометра. Для исключения этой ошибки спектрограмму фотометрируют на микрофотометре МФ-4 при ширине щели 10 мкм (вместо обычных 100—200 мкм) и регистрограмму записывают на потенциометре ЭПП-09. В микрофотометре фотоэлемент заменен фотоумножителем ФЭУ-17, а потенциометр включен через катодный повторитель. Положение фона и максимума аналитической линии определяют по расстоянию от реперной линии. Сочетание этого приема с многократным последовательным фотометрированием высокой линии позволяет резко сократить ошибки фотометрирования и повысить чувствительность анализа на 1—1,5 порядка 293]. [c.122]

В методах анализа с фотографической регистрацией накопление результатов измерений осуществляют обычно двумя способами. Один способ заключается в фотографировании спектрограмм с высокой щелью спектрографа [100]. Полученные спектрограммы разбивают по высоте на несколько участков, в каждом из которых производят фотометрирование аналитической линии и фона. Затем результаты измерений усредняют. Этот способ сводится, по существу, к увеличению фотометрируемой площади, т. е. к уменьшению только регистрационной ошибки. Возможности способа лимитируются максимальной рабочей высотой щели спектрографа. Обычно удается разбить спектрограмму не более чем на 10 вертикальных участков и таким образом снизить ошибки и предел обнаружения линии примерно в 3 раза. [c.54]

Последний эффект достигается при условии правильного выбора частоты сканирования, отвечающего уровню флуктуаций в приемнике и частотному распределению флуктуаций в источнике света [748, 750]. Это положение иллюстрируется рис. 17 для дуги постоянного тока. (Аналогичная картина имеет место для дуги переменного тока н ряда других источ- ников.) Из рис. 17 видно, что величина флуктуаций в, источнике спадает с увеличением частоты, шум же в приемнике является белым и уровень его зависит от светового потока, падающего на приемник. Это обстоятельство дает возможность в каждом конкретном случае выбрать такую частоту сканирования, при которой флуктуации в источнике будут значительно меньше флуктуа ций в приемнике света. Таким образом, общая случайная ошибка анализа будет определяться в основном статистическими свойствами приемника излучения, т. е. будут созданы оптимальные условия для обнаружения слабых спектральных линий (см. 2.1.3). Следовательно, метод периодического, сканирования позволяет приблизиться к наименьшему пределу обнаружения аналитического сигнала, достижимому с помощью данного фотоэлектрического приемника. [c.64]

Анализ проводили методом 3 эталонов. Градуировочные графики имели наклон, близкий к 45°. Элементом сравнения при определении р. з. э., алюминия и меди служил иттрий или фон. Градуировочные графики для Fe, Mg, Si и Сг строили по абсолютным почернениям. Аналитические линии и пределы определяемых концентраций приведены в таблице. Чувствительность определений для Сг, Mg, Си на приборе ИСП-22 выше, чем на спектрографе КСА-1. Среднеквадратичная ошибка 15- 22%. [c.280]

Пример. При анализе на многоканальном приборе с фотоэлектрической регистрацией, для того чтобы определить ошибку анализа, связанную с нестабильностью самого источника света, нужно сначала определить общую ошибку, которую вносит регистрирующее устройство, спектральный аппарат и осветительная система. Для этого многократно определяют на приборе относительную интенсивность двух гомологических спектральных линий одного элемента и подсчитывают ошибку гп1. Затем в тех же условиях многократно определяют относительную интенсивность аналитической пары линий в одном образце или эталоне и подсчитывают ошибку этого измерения т. Искомую ошибку Ш2, связанную только с нестабильностью самого источника света, подсчитывают по формуле [c.258]

В метрологии измерения принято делить на прямые и косвенные (посредственные). В первом случае непосредственно измеряется интересующая нас величина, во втором случае —интересующая нас величина задается некоторой функцией от неиосредственно измеряемых величин. Анализ вещества представляет собой косвенное измерение, при котором интересующая нас концентрация вещества задается функцией таких непосредственно измеряемых величин, как титр, навеска пробы, почернение аналитических линий и т. д. При изучении аналитических ошибок эксперименты часто бывает удобно планировать так, чтобы сначала изучить ошибки прямых измерений с тем, чтобы затем, пользуясь методами математического анализа, определить ошибку, выраженную в процентах концентрации анализируемого компонента. [c.60]

Уравнение (3.36) обычно применяют в текущей аналитической работе для определения ошибки, выраженной в процентах концентрации, пользуясь экспериментально найденными значениями Sis- Например, если sas = 0,02, yb=i, то u = A,e%. Из приведенных выше соотношений следует, что для повышения точности нужно, с одной стороны, стремиться к увеличению у ж Ь, а с другой стороны, так выбирать аналитические пары линий, чтобы в середине интервала определяемых концентраций AS са О, так как в этом случае будет сведен к минимуму вклад, вносимый в общую ошибку анализа величиной Sy [60]. [c.64]

В том случае, когда анализу подвергаются пробы, переведенные в водные растворы, исключается микронеоднородность образца.. Если при этом аналитические пары выбраны так, чтобы при изменениях температуры возбуждения AS для одной аналитической пары линий увеличивалась, а для другой уменьшалась, то ошибки анализа будут отрицательно коррелированы i 2 < 0), и тогда, как это следует из (3.38), окажется возможным уменьшение ошибки воспроизводимости более чем в 1,4 раза. Экспериментальные данные, приведенные в [158], подтверждают это положение. [c.65]

Например, в эмиссионном спектральном анализе обычно при изучении воспроизводимости ограничиваются определением рассеяния разности логарифмов интенсивности аналитических линий от ее среднего значения, полученного при многократных повторных анализах пробы. При таком исследовании мы определяем ошибку воспроизводимости, которая дает нам информацию о точности анализа, но не получаем каких-либо дополнительных сведений о факторах, обусловливающих появление этой ошибки. В [146] было предложено при изучении воспроизводимости спектрального анализа строить диаграммы рассеяния, откладывая по координатным осям значения логарифмов интенсивности аналитических линий, полученные при повторных анализах пробы. На рис. 41 в качестве примера приведено шесть таких диаграмм при двух различных способах приготовления пробы. Очевидно, что ошибка воспроизводимости для разности логарифмов интенсивности линий будет определяться, вообще говоря, тремя факторами 1) степенью близости к единице углового коэффициента линии регрессии, [c.308]

Кайзер [30, 31] впервые предложил четкую формулировку понятия предела обнаружения элемента в спектральном анализе. По его критерию, при фотографическом методе анализа аналитическая линия может быть обнаружена на сплошном фоне спектра, когда разность почернений линии вместе с фоном и фона вблизи нее будет превышать максимальную ошибку измерения величины этой разности [c.202]

Описана методика спектрального определения гафния в двуокиси циркония в интервале концентраций 0,018—77,31% [28]. Образцы в виде раствора, подогретого до 80° С, наносят на торец графитового электрода и подсушивают при 120° С в течение 30 мин. Спектры возбуждают в дуге постоянного тока при 10 а и фотографируют в течение 30—50 сек дифракционным спектрографом. Аналитическими линиями служат Hf 2820 — Zr 2665 и Hf 2641 — Zr 2665 А при концентрации Hf меньше 1 % Hf 2683 — Zr 2754 и Hf 2898 — Zr 2833 А при концентрации Hf от 1 до 20% Hf 2822 — Zr 2700 и Hf 2683 — Zr 2700 А при концентрации Hf больше 20%. Ошибка анализа составляет 6—8% во всем интервале концентраций. По данным [29], определение гафния искровым методом можно проводить в растворах [c.421]

Определение гафния в металлических образцах. Как правило, при определении гафния в металлическом цирконии или сплавах последние переводят в соответствующие окислы или растворы [37, 40, 44, 55, 57]. Работ, посвященных определению гафния непосредственно в металлических образцах, сравнительно немного. Метод Гордона и Джекобса [46] пригоден и для определения гафния в металлическом цирконии. Приготовление литых стандартных образцов сплава циркония изложено в работе [59]. О. И. Никитина с соавторами [60] разработали методику определения 0,03—0,5% гафния в присутствии ЫЬ, 2г и Та в сталях. Образцами для анализа служили пробы литой стали в виде усеченной пирамиды. В качестве эталонов использовали пробы стали с известным содержанием указанных элементов. Спектры возбуждали конденсированной искрой от генератора ИГ-3 и фотографировали на спектрографе ИСП-28. Подставным электродом был медный, аналитические линии Н П 2683,7 — Ре 2635,8 А, ошибка определения 9,2%. [c.427]

Наиболее совершенные квантометры комплектуют электронно-вычислительными машинами, производящими все необходимые расчеты — проверку калибровки прибора, усреднение аналитического сигнала, определение концентрации по аналитическому сигналу, расчет ошибки анализа. Кроме этого, ЭВМ задает и контролирует порядок выполнения всех операций анализа по заранее составленной программе. Программа включает выбор аналитических линий, режим генератора, время обжига и время экспозиции, [c.156]

Входная щель квантометра подбирается с учетом величины сигнала, который хотят получить, помех, создаваемых фоном и соседними линиями, перемещения плазмы источника света. Поскольку катод фотоэлемента имеет зернистую структуру (как и фотопластинка), перемещение плазмы источника вызывает случайные изменения измеряемого сигнала, а значит, и увеличение ошибки анализа. Чем шире входная щель, тем больше световое пятно на катоде фотоэлемента создает аналитическая линия, тем, очевидно, меньше флуктуирует регистрируемый сигнал, так как происходит усреднение свойств фотокатода. Увеличивать входную щель можно до тех пор, пока соседние линии не начнут перекрывать линию анализируемого элемента. [c.201]

Выбор для характеристики работы источника степени постоянства отношения интенсивности дуговой и искровой линий обусловлено тем, что это отношение изменяется в значительно больших пределах, чем для двух линий с близкими потенциалами возбуждения. Следовательно, при определении ошибки, характерной для источника, роль ошибок, вызванных методом регистрации, может быть сделана пренебрежимо малой. Такого рода измерения не дают непосредственно ошибки, вносимой источником в анализ. Если метод анализа предусматривает измерение отношения интенсивностей составляющих однородного дублета, то ошибка в величине этого отношения при этом будет меньше (отвлекаясь от различия поступления в плазму анализируемого элемента и элемента сравнения) наоборот, при анализе по измерениям интенсивности только аналитической линии ошибка может оказаться больше, чем ошибка в измерении отношения дуговой и искровой линии меди. Однако можно утверждать, что при прочих равных условиях источник, дающий меньшую ошибку при измерении отношения интенсивкостей указанных линий меди, обеспечит и большую точность анализов. [c.72]

Спектр возбуждают разрядом низковольтной искры от генератора ДГ-2 при токе 3,5 о и токе питания трансформатора 0,3 а. В качестве противоэлект-рода используют медный электрод, заточенный на усеченный конус. Аналитическая линия Р 604, 305 НЛ1. Для сравнения берут линию N 594, 167 нм. Лучшая воспроизводимость достигается при большом введении фотометрических клиньев,ширине щелиО,06 лл и искровом промежутке 0,5 Стабильное излучение начинается после 30-секундного горения искры и продолжается 1,5—2 мин. Продолжительность анализа фосфористой бронзы 4—6 мин. Квадратичная ошибка единичного определения 20%, что вынуждает производить несколько независимых отсчетов. [c.149]

Эталоны для области концентраций 5-10 —5-10 % готовят сплавлением фосфора с мышьяком в запаянной ампуле под вакуумом при температуре 600° С. Около 40 мг растертой пробы помещают в кратер нижнего угольного электрода диаметром 4 мм и глубиной 4 мм. Электроды предварительно обжигают 60 сек. при токе силой 16 а. Спектры возбуждают при помощи генератора ДГ-2 (сила тока 16 а). Аналитический промежуток 2,5 мм. Продолжительность экспонирования 30 сок. Аналитические линии Р 253,4 и Р 253,6 нмг Чувствительность определения фосфора 5-10 %. Указанную чувствительность можно улучшить при анализе с предварительным концентрированием примесей. Для этого навеску пробы ( 1 г) помещают в испаритель, где окисляют мышьяк до АззОз и отгоняют последний. Химическая обработка повышает чувствительность определения почти в 10 раз, но средняя ошибка определений увеличивается с 10—15% до 20—25 отн. %. [c.151]

Основная ошибка качественного анализа заключается в пропуске или переоткрытии элементов. Пропуск элемента случается тогда, когда слабая аналитическая линия располагается либо на фоне интенсивной (или уширенной) линии другого элемента, либо на слишком интенсивном фоне. Переоткрьггие происходит в том случае, когда спекфальная линия приписывается не тому элементу. [c.401]

Скорость испарения определяемого элемента из электрода в большей или меньшей степени зависит от структуры сплава. Поэтому часто от термической обработки пробы зависит, насколько интенсивной окажется аналитическая линия при некотором содержании элемента. Чтобы избежать связанной с этим ошибки для количественного анализа применяют эталоны, прошедшие такую же термическую обработку, как и проба. Например, для точного анализа стали типа 38хМЮА выпускают три комплекта эталонов 1) из образцов после прокатки без дополнительной термообработки, 2) из образцов в состоянии закалки и 3) из образцов в состоянии отжига. [c.243]

Источником высокого напряжения служилЬ установка УРС-70. Для возбуждения спектра флуоресценции циркония использовали излучение серебряного анода. Рентгеновская трубка работала при напряжении до 55 ке и токе 10 ма. В качестве аналитической линии использовали /Гд -линию циркония в первом порядке отражения (X = 784,3 Х ). Интенсивность этой линии измеряли счетчиком и пересчетной схемой. Анализ проводили по методу, внешнего стандарта. Поступившие на анализ пробы разбавляли в 4—5 раз буфером (веществом, не содержащим циркония). На основе буфера были приготовлены эталоны с содержанием 0,2—20% двуокиси циркония. Точность определения циркония характеризуется средней арифметической ошибкой 6%. [c.191]

С помощью критерия (3) можно найти величину предела обна-руже] ия аналитического сигнала при любом значении холостого сигнала. Но для этого надо знать зависимость случайной ошибки результатов измерений сигнала от его величины (уравнение случайной ошибки). Экспериментальное установление подробной зависимости ошибки от величины сигнала во всем диапазоне его изменений для каждого метода анализа является весьма трудоемким и в большинстве случаев совсем необязательно. Дело в том, что выполненные до сих пор экспериментальные исследования различных методов анализа (например, химического [821, 1350], абсорбционного и рентгеноспектрального [939], радиометрического [938], эмиссионного спектрального [552, 290, 1069, 514]) выявили в основном одинаковый для всех методов характер зависимости случайной ошибки результатов измерений от величины измеряемого сигнала (см., например, рис. 6). В отсутствие наложений посторонней линии на аналитическую линию эта зависимость может быть аппроксимирована кривыми, приведенными на рис. 7, и объяснена, исходя из предположения, что абсолютная стандартная ошибка результатов измерений сигнала о = ]/ < аддит + мулы [c.20]

Так, если, как это часто бывает при анализе следов элементов (особенно распространенных и в случае предварительного концентрирования примесей), метод характеризуется большой величиной относительной ошибки (t) onst 0,15) и на спектрограммах холостой пробы присутствует сравнительно интенсивная аналитическая линия определяемого элемента (усредненные значения /д//ф > >0,2 — 0,5 в зависимости от особенностей метода), тогда безусловно необходимо пользоваться критерием (7). Для этого следует достаточно точно установить значения как Охол, так и u onst (последнее, например,-с помощью описанной выше процедуры). [c.29]

Рассмотрим следующий пример методом эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией спектров производится изучение влияния термообработки на результаты анализа. Заключение о влиянии термообработки будет сделано па основании сравнения двух средних значений разности почернений аналитических линий для двух частей одного п того же образца, одна из которых была подвергнута закалке, другая находится в равновесном состоянии. Из предыдущих опытов известно, что ошибка воспроизводимости для определения, сделанного по одной спектрограмме, равна 0 = 0,020. При плапировании эксперимента мы хотим выбрать число спектрограмм так, чтобы риск отбросить пулевую гипотезу (отсутствие влияния термообработки) тогда, когда она верна, был не более а = 0,10, а риск принять нулевую гипотезу, когда она неверна (под влиянием термообработки имеется расхождение, равное квадратичной ошибке воспроизводимости 6 = 0 = 0,02), был не более Р = 0,05. Под влиянием термообработки может быть как завышение результатов анализа, так и их занижение, поэтому мы должны воспользоваться двухсторонним критерием. Производя вычисления, получаем [c.336]

Присутствуюш,ие в растворе соли марганца оказьтвают влияние на интенсивность линий калия и натрия, присутствующих в том же растворе, что приводит к систематической ошибке. Величина погрешности зависит от концентрации соли марганца. В частности, при определении концентрации натрия погрешность связана с тем, что на излучение линии натрия накладывается излучение молекулярной полосы оксида марганца МпО. Особенно сказывается это влияние, если для анализа используется фильтровой пламенноэмиссионный спектрометр. Дисперсионные приборы на базе монохроматора, характеризующиеся большей селективностью, дают меньшую погрешность. В настоящей работе требуется выявить влияние марганца на результат определения концентрации натрия и калия и рассчитать относительную погрешность. Готовят две серии растворов сравнения, в одну из которых вводят, помимо солей натрия и калия, соль марганца в определенной концентрации. Измеряют интенсивность аналитических линий калия и натрия в спектрах всех растворов сравнения и в спектре контрольного раствора. Строят четыре градуировочных графика два —для растворов с добавкой соли марганца и два — для чистых растворов, содержащих только соли натрия и калия. Сопоставляя результаты определения концентрации натрия и калия в контрольном растворе по этим градуировочным графикам, делают выводы о влиянии марганца на результат определения. [c.234]

Измеренная интенсивность аналитической линии при рентгенофлуоресцентном анализе всегда состоит из суммы истинной интенсивности аналитической линии определяемого элемента и фона. Естественно, что при анализе малых содержаний определяемых элементов предъявляются повышенные требования к учету фона. При одинаковом времени счета относительная средняя квадратичная ошибка в определении интенсивности фона /ф будет больше, чем в определении суммарной интенсивности аналитической линии и фона /л+ф- При построении калибровочной зависимости по п точкам значение интенсивности фона будет также входить п раз. Поэтому чем точнее известен фон, тем точнее будет определена концентрация элементов в анализируемой пробе, что особенно важно при определении микропримесей. [c.210]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология