Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Титрование слабых оснований сильными кислотами (или наоборот)

    При титровании слабых кислот слабыми основаниями (или наоборот) кислотная часть кривой титрования отвечает титрованию слабой кислоты сильным основанием. Щелочная часть кривой титрования совпадает с кривой титрования слабого основания сильной кислотой. Для точки эквивалентности величину pH находят из уравнения константы гидролиза соли следующим способом. [c.270]


    Титрование слабых оснований сильными кислотами (или наоборот) 267 [c.267]

    Титрование слабых кислот сильными основаниями (ила наоборот) 261 [c.261]

    Титрование слабых кислот сильными основаниями (или наоборот) [c.261]

    При титровании водного раствора сильного протолиТа (кислоты или основания) другим сильным протолитом (основанием или кислотой) происходит процесс (X. 10), благодаря которому точка эквивалентности реакции совпадает с точкой нейтральности (pH = 7). При титровании водного раствора сильного протолита слабым протолитом или наоборот pH, раствора в точке эквивалентности не совпадает с точкой нейтральности (pH =/ 7). Значение pH в точке эквивалентности титрования можно определить по рассмотренным ранее зависимостям (III. 64), (III. 65), (III. 72), (III. 73). [c.243]

    Титрование оснований. Возможности кондуктометрического определения оснований различной силы и характер изменения электропроводности растворов при их титровании в обш,ем аналогичны рассмотренным для кислот. Отличие заключается только в том, что при нейтрализации сильных оснований электропроводность понижается менее резко, чем при нейтрализации сильных кислот, так как подвижность ОН пиже подвижности Н+, и, наоборот, избыток титранта вызывает более резкое повышение электропроводности. Следует также заметить, что плавный ход кривых вблизи точек эквивалентности, наблюдаемый при титровании слабых оснований (гидролиз образующихся солей), более заметен по сравнению с наблюдаемым для кислот такой же силы. Это объясняется тем, что при титровании- кислот в результате гидролиза в растворе " образуются гидроксильные ионы, а при титровании оснований — более подвижные водородные ионы. [c.82]

    Кондуктометрическим методом можно проводить титрование слабой кислоты слабым основанием или наоборот. Проводить этот процесс другими методами весьма затруднительно. На рис. 4-2 представлены кривые процесса титрования щавелевой кислоты раствором аммиака. Щавелевая кислота, подобно всем двухосновным кислотам, реагирует как эквимолярная смесь умеренно сильной и слабой кислот. [c.64]

    Рассмотрим, как изменяется кислотность или щелочность раствора при титровании в следующих случаях а) титрование сильной кислоты щелочью, б) титрование слабой кислоты щелочью, в) титрование слабого основания сильной кислотой, г) титрование слабой кислоты слабым основанием (или наоборот). [c.208]

    При этом следует учесть, что в случае титрования сильного основания сильной кислотой и наоборот или слабого основания слабой кислотой и наоборот конец титрования фиксируется при pH 7, при титровании сильного основания слабой кислотой — при pH > >7, при титровании слабого основания сильной кислотой— при [c.121]


    При нейтрализации слабой кислоты сильным основанием или, наоборот, сильной кислоты слабым основанием тепловой эффект нейтрализации может быть меньше или больше 57,1-10 дж. Степень диссоциации слабых кислот и оснований небольшая, и процесс титрования сопровождается диссоциацией слабой кислоты (основания) на ионы. Процесс же диссоциации разных электролитов имеет различный тепловой эффект диссоциации как по величине, так и по знаку. [c.28]

    В объемном анализе сильные и слабые кислоты титруют сильными основаниями, а сильные и слабые основания — сильными кислотами. Титрование слабых кислот слабыми основаниями (и наоборот) не применяется. [c.55]

    Нейтрализация слабой кислоты слабым основанием. Выше было показано, что при титровании слабой кислоты сильным основанием сужается интервал скачка на кривой в области кислотных значений pH. Наоборот, при титровании слабого основания интервал скачка уменьшается в щелочной области pH. [c.259]

    Итак, общее правило для титрования слабого или сильного основания слабой или сильной кислотой (или наоборот) таково если точка пересечения, определяющая эквивалентную точку, более чем на четыре логарифмических единицы лежит ниже основной линии [у > 10 ), ошибка титрования зависит от правильности отсчета показаний бюретки и величина ее меньше 0,1%. Если же точка пересечения отстоит от основной линии менее, чем на две логарифмические единицы (ij < 10), то даже наиболее совершенные методы определения конечной точки дадут при титровании ошибку более 1%  [c.151]

    Титрование по кислотно-основному методу. Титрование сильных и слабых кислот сильными или слабыми основаниями (и наоборот) связано с изменением концентрации ионов водорода в растворе  [c.39]

    Составляя подобным же образом таблицу изменения потенциала водородного электрода при титровании сильных кислот слабыми основаниями, слабых кислот сильными или слабыми основаниями (и наоборот) убедимся, что скачок потенциала р зко уменьшается с понижением степени диссоциации реагирующих кислот и оснований. Это обстоятельство отражено в уравнениях (76) и (96), поскольку в них входят константы диссоциации кислот и оснований. [c.42]

    Таким образом, если 10 н, растворы сильных кислот можно титровать сильными основаниями еще с достаточно большой точностью, то при титровании даже 0,1 и. растворов слабых кислот слабыми основаниями (и наоборот) приемлемо точные результаты получить невозможно из-за незначительной величины скачка потенциала. Поэтому в качестве титрантов следует применять наиболее сильные кислоты или основания и избегать титрования растворами слабых кислот или оснований. [c.42]

    При титровании слабых кислот сильными основаниями и наоборот, если константа диссоциации кислоты (или щелочи) не ниже 10 . [c.191]

    Точность определения конечной точки титрования зависит от степени изгиба кривой в точке эквивалентности, т. е., как было показано ранее, от величины константы диссоциации кислоты и основания и от концентрации раствора. Если сильная кислота титруется сильным основанием, то даже в случае сравнительно разбавленных растворов изменение потенциала в эквивалентной точке велико (ср. рис, 99), и конечную точку можно определить точно. Если берется слабая кислота и сильное основание или наоборот, то можно удовлетворительно определить конечную точку титрования, если только растворы не слищком разбавлены или если кислота или основание не слишком слабы (ср. рис. 100, /). Если с — концентрация титруемого раствора, а ка я кь — константы диссоциации слабой кислоты или слабого основания, титруемых соответственно сильным основанием или сильной кислотой, то при значении ска или скь, большем 10 , на кривой нейтрализации получается заметный излом, соответствующий конечной точке. Можно проводить потенциометрическое титрование, даже если ска или скь меньше 10 , но при этом получаются менее точные результаты (ср. рис. 100, //). Потенциометрическое титрование очень слабых оснований можно производить в сильно протоногенной среде (ср. рис. 102). Если титровать слабую кислоту слабым основанием или наоборот, то изменение pH в конечной точке никогда [c.537]

    Влияние воды. В уксусной кислоте вода ведет себя как слабое основание и стремится конкурировать за протоны с растворителем. Поэтому присутствие воды приводит к менее резкому изменению pH вблизи точки эквивалентности и затрудняет фиксацию конечной точки при кислотно-основном титровании. Допустимое количество воды зависит от вида титрования при титровании очень слабых кислот требуется практически полное отсутствие воды. Наоборот, при титровании оснований, являющихся относительно сильными в данном растворителе, не мешает присутствие даже 3% (по объему) воды. [c.293]

    При титровании сильными титрантами в водных растворах смесей кислот или оснований различной силы и солей, образованных катионами слабых оснований или анионами слабых кислот, последовательность протекающих при титровании реакций определяется суммой рКа(Ь) анализируемой кислоты (основания) и рАй(д) основания (кислоты), образующего анализируемую соль [9]. Если (рА + рКь) <14, сначала протекает реакция нейтрализации анализируемой кислоты (основания), а затем — реакция взаимодействия соли с титрантом, при условии (рАд + рА ) >14 -наоборот. [c.49]


    С другой стороны, не во всех случаях при взаимодействии эквивалентных количеств кислоты и щелочи получается нейтральный раствор. Это наблюдается только в том случае, когда взаимодействуют друг с другом сильная кислота и сильная щелочь и полученная соль не подвергается гидролизу (стр. 55, 25). При взаимодействии слабого основания с сильной кислотой или слабой кислоты с сильным основанием получается соль, подвергающаяся гидролизу, и, следовательно, среда раствора может быть кислой или щелочной. Так как задачей титрования в методе нейтрализации является определение момента, когда количество кислоты станет эквивалентно данному количеству щелочи (или наоборот), то практически в разных случаях приходится заканчивать титрование при различной концентрации водородных ионов (и гидроксильных ионов). [c.165]

    Точность измерения конечной точки титрования определяется степенью изгиба кривой, которая зависит от величины константы диссоциации (или произведения растворимости в случае осаждения) и концентрации титруемых ионов. Например, если сильная кислота титруется сильным основанием, то даже в разбавленных растворах изменение потенциала А достаточно велико. Для слабой кислоты и сильного основания (или наоборот) можно удовлетворительно определить конечную точку титрования только в достаточно концентрированных растворах. Как показывает расчет, заметный излом на кривой титрования наблюдается при значениях сКа или сКь Ю (с — концентрация титруемого раствора, Ка и Къ — константы диссоциации соответственно слабой кислоты или слабого основания). Принципиально возможно оттитровать раствор, если сКа, сКь < 10 , но ошибка определения при этом сильно возрастает. [c.68]

    Преимущества кондуктометрического метода сохраняются и ири анализе двухкомпонентных смесей оснований. Интервал значений р/Сь слабых оснований, которые могут дифференцированно титроваться в смесях с сильными основаниями, имеет те же значения, что и значения р/(а слабых кислот. Типичная кривая титрования смесей сильных и слабых оснований в общем аналогична кривой титрования смесей кислот, приведенной на рис. 15. Небольшое отличие заключается только в том, что понижение электропроводности раствора при нейтрализации сильного основания менее резкое, чем при титровании сильной кислоты, а повышение электропроводности от избытка титранта, наоборот, более сильное. [c.54]

    Анализ смесей основан на последовательном титровании кислот и солей слабых оснований. Условия благоприятны для анализа, так как ири титровании слабых кислот электропроводность раствора всегда довольно сильно повышается, а при титровании солей сравнительно мало изменяется и зависит только от подвижностей, участвующих в реакции ионов. При титровании смесей кислот сначала в реакцию вступают более сильные, затем более слабые для смеси солей, наоборот, сначала взаимодействуют соли более слабых оснований, затем соли более сильных. Каждая пара последовательно взаимодействующих веществ характеризуется суммой р/Са и р/Сь<12 или 16. В целом, при титровании всех многокомпонентных смесей согласно схемам, приведенным в табл. 3, происходит последовательная нейтрализация веществ, проявляющих все более и более слабые кислотные свойства. [c.62]

    Точные результаты могут быть получены 1) прн титровапи сильных кислот сильными основаниями и наоборот 2) при титровании слабых кислот сильными основаниями и наоборот (если константа диссоциации не ниже 1- 10 ) 3) лри титровании смссн кислот примерно равных концентраций, но различных по величине-констант диссоциации не менее чем в 100 раз 4) при титровании многоосновных кислот, если отношение констант диссоциации К1-.Кп=т. [c.59]

    Уравнения кривых титрования. В уравнении электронейтральности раствора концентрации всех ионов (кроме водородных и гидроксильных) заменяют на известные величины — концентрации электролитов или на значения концентраций анионов слабых кислот и катионов слабых оснований, выраженные соответствующими формулами. Кроме того, если титруют электролит или смесь электролитов, проявляющих кислотный характер, концентрацию гидроксильных ионов выражают через концентрацию водородных ионов, исходя из произведения активностей ионов воды. В случае титрования электролитов основного характера, наоборот, концентрацию водородных ионов выражают через концентрацию гидроксильных ионов. После этой замены проводят математическое преобразование и получают линейные уравнения той или иной степени, содержащие две неизвестные величины — концентрацию водородных (или гидроксильных) ионов и средний коэффициент активности одновалентных ионов. Например, уравнение кривой титрования слабых одноосновных кислот растворами сильных оснований представляется в следующем виде  [c.74]

    Растворы солей, образованньк катионами сильньк оснований и анионами слабьк кислот (и наоборот), можно титровать сильными кислотами (или основаниями). В этом случае нри действии титранта из соли вытесняется слабое основание (слабая кислота). В качестве примера приведем титрование хлорида аммония раствором гидроксида натрия и титрование ацетата натрия раствором хлористоводородной кислоты  [c.157]

    Нейтрализация слабых оснований — диэтиламина, моноэтаноламипа и гидразина, наоборот, вызывает повыщение электропроводности раствора. В случае титрования смесей, содержащих диэтиламин и моноэтанолампн в начале титрования на кривой наблюдается небольшой минимум. На участке кривой между первым и вторым изломами электропроводность раствора немного увеличивается, что характерно для взаимодействия ацетата с хлористоводородной кислотой. Избыток титранта вызывает сильное увеличение электропроводности раствора. Расчеты см. гл. VIII, 6. [c.179]

    Расчеты показали, что во всех случаях сначала происходит нейтрализация сильной кислоты, которая приводит к линейному понижению концентрации ионов водорода до первой точки эквивалентности. Затем, зависимости от суммы р/Са и р/Сь, протекают или сначала реакция нейтрализации слабой кислоты, а затем реакция вытеснения слабого основания из соли (р/Со и р/Сь 12), или, наоборот, сначала реакция вытеснения, а затем нейтрализации (р/Со + р/Сь 16). При этом изменение концентраций всех ионов носит такой же характер, как и при рассмотренных ранее случаях титрования двухкомпонентных смесей слабых кислот и [c.114]

    Наоборот, растворенные в уксусной кислоте алифатические амины становятся сильными основаниями. Вещества, которые в воде обладают ничтожно малым основным характером, такие как мочевина, оксимы и трифенилметанол, становятся в уксусной кислоте основаниями измеримой силы. Наиболее подходящим реактивом для титрования слабых оснований, например амщов и оксимов, которые невозможно определить титрованием кислотами в водном растворе, является уксуснокислый раствор хлорной кислоты. [c.40]

    М раствора уксусной кислоты. Однако между этой кривой и кривой титрования сильной кислоты сильным основанием имеются три существенных отличия. 1) Слабая кислота должна иметь более высокий начальный pH. Значение pH 0,100 М раствора НС2Н3О2 равно 2,89 (см. разд. 15,5, где для такого раствора вычислено [Н" ] = = 1,3 10 М). 2) В начальной стадии титрования кривая pH поднимается более круто, а вблизи точки эквивалентности, наоборот, более плавно, чем при титровании сильной кислоты. Чем слабее кислота, тем менее заметно изменение pH вблизи точки эквивалентности (рис. 16.5). 3) Значение pH в точке эквивалентности не равно 1. В рассматриваемом примере раствор в точке эквивалентности содержит 0,050 М Na iHjO, [c.120]

    При титровании слабых кислот сильными основаниями или наоборот получаются кривые, изображенные на рисунке 59, б. По мере прибавления титрованного раствора гидроксида натрия NaOH концентрация уксусной кислоты в растворе постепенно уменьшается. Поскольку электропроводность ацетата [c.406]

    По мнению Пиккеринга [12, с. 295] и других авторов [11], подходящим индикатором для титруемой системы является такой индикатор, который остается в кислотной форме (1п(1а) до тех пор, пока концентрация избытка кислоты составит не более 1% от ее исходной концентрации. И наоборот, при избытке основания не более 1 % от его первоначальной концентрации индикатор должен находиться в основной форме (1п(1в). Следовательно, при титровании сильных кислот и оснований необходимо, чтобы 10 /< в Д а(1пс1А) при титровании же слабых протолитов [c.53]

    Зависимости, наблюдающиеся при взаимодействии сильных кислот со смесями оснований и солей слабых кислот, аналогичны рассмотренным при взаимодействии сильных оснований со смесями кислот и солей слабых оснований. Ионные концентрационные зависимости при титровании двухкомпонентных смесей, состоящих из оснований различной силы и соли слабой кислоты (р/(о = 8), могут быть установлены из рис. 42, если р/Сь свободных оснований равна рКа свободных кислот. При этом изменение концентрации водородных ионов будет соответствовать изменению концентрации гидроксильных ионов и наоборот. Концентрации катионов свободного основания будут изменяться так же, как ко1щентрации анионов свободных кислот в кислых смесях. С другой стороны, изменение концентрации анионов соли носит такой же характер, как и изменение концентрации катионов соли слабого основания. Если в кислых смесях концентрация анионов соли остается постоянной, а катионов титранта увеличивается, то в рассматриваемых случаях остается постоянной концентрация катионов соли, а увеличивается концентрация анионов титранта. Рассмотренное ранее влияние гидролиза при титровании кислых смесей в такой же мере отвечает условиям титрования смесей оснований и солей слабых кислот. [c.120]


Смотреть страницы где упоминается термин Титрование слабых оснований сильными кислотами (или наоборот): [c.175]    [c.49]    [c.287]    [c.86]    [c.40]    [c.12]    [c.12]    [c.205]    [c.55]    [c.144]   
Смотреть главы в:

Количественный анализ -> Титрование слабых оснований сильными кислотами (или наоборот)




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Кислота слабые

Кислоты сильными основаниям

Кислоты сильных сильными основаниям

Кислоты слабых сильными основаниям

Кислоты слабых слабыми основаниям

Основание сильные

Основания и кислоты

Основания сильные, титрование

Основания слабые

Основания слабые, титрование

Слабов

Титрование кислот и оснований слабых кислот и оснований

Титрование кислот оснований

Титрование кислотами

Титрование основаниями

Титрование сильных кислот и оснований

Титрование сильных кислот сильными основаниями

Титрование слабых кислот

Титрование слабых кислот и оснований

Титрование слабых кислот сильными основаниями

Титрование слабых кислот слабыми основаниями

Титрование слабых кислот слабыми основаниями (или наоборот)



© 2024 chem21.info Реклама на сайте