Источники излучения видимого

Спектроскопия в видимой и ультрафиолетовой области. Прибор состоит из тех же узлов, что и при исследовании ИК-спектра. Источники излучения — лампы накаливания и разрядные трубки. Кюветы и призмы делают из веществ, пропускающих излучение. Для видимой области это стекло, для ближней ульт- [c.150]

В некоторых случаях в специальном режиме можно получить ИК-спектры испускания нагретых образцов и/или при использовании охлаждаемых детекторов (см. разд. 9.2.2). КР-спектры формируются при неупругом рассеянии света молекулами (см. рис. 9.2-1). Для возбуждения КР-спектров требуются монохроматичные лазерные источники в видимой или ближней ИК-областях, например, Аг+-лазер (488 нм) или К(1 АС-лазер (1,06 мкм). Комбинационное рассеяние относится к очень слабым эффектам. Только около 10 падаюш,его излучения претерпевает упругое рассеяние. Эта часть излучения формирует рэлеевскую линию, имеющую такую же частоту, что и возбуждающее излучение. Около 10 ° падающего излучения приводит к возбуждению колебательных или вращательных уровней основного электронного состояния молекул. Это является причиной потери энергии падающим излучением и вызывает сдвиг полосы в длинноволновую область по сравнению с рэлеевской линией (стоксов сдвиг). Антистоксовы линии с большей частотой, чем падающее излучение, можно наблюдать, когда рассматриваемые молекулы до взаимодействия с лазерным излучением уже находятся в возбужденных колебательных состояниях (при более высоких температурах) (рис. 9.2-2). При комнатной температуре антистоксовы линии слабее, чем стоксовы. Соотношение интенсивности стоксовых и антистоксовых линий является функцией температуры образца (почему ). [c.167]

Колебательная инфракрасная спектроскопия (ИК-спектроскопия) наряду с электронной спектроскопией в видимой и ультрафиолетовой области — один из важных источников информации о строении молекул. Для получения инфракрасных спектров поглощения используют специальные приборы — инфракрасные спектрометры. Принцип действия их сходен с принципом действия спектрофотометров. Однако для этой области спектра используются специфические источники излучения, специфические методы регистрации излучения и специальные материалы для призм и кювет. [c.155]

Некоторые вещества, имеющие особую молекулярную структуру, при облучении их видимыми или ультрафиолетовыми лучами становятся источниками излучения, т. е. люминесцируют. Люминесцентное свечение возникает в веществе при облучении его рентгеновскими и 7-лучами, бомбардировке электрически заряженными частицами (например, а- или -частицами) за счет энергии, освобождающейся при химической реакции, тепловой энергии и пр. По продолжительности свечения процессы люминесценции разделяют на флуоресценцию и фосфоресценцию, первая из которых исчезает с прекращением облучения, а вторая длится какой-то промежуток времени после облучения. При люминесцентной дефектоскопии материалов (63) используют в основном явление флуоресценции. [c.163]

Источник излучения. Если в приборе для видимой или УФ-области источник излучения работает обычно в области 0,2—0,4 или [c.203]

Фотоэлектроколориметр ФЭК-М имеет стеклянную оптику, прозрачную только для лучей видимого участка спектра. В качестве источника излучений служит лампа накаливания (вольфрамовая лампа), дающая излучение в видимой части спектра. Селеновые фотоэлементы чувствительны только к, излучениям видимого участка спектра. Следовательно, данный прибор пригоден для измерений в интервале 400— 700 нм. Кроме того, для работы в этом интервале прибор снабжен тремя светофильтрами с полушириной пропускания 80—100 нм (см. рис. 68) и поэтому его используют только при определении концентрации. Он непригоден для изучения спектров поглощения. [c.247]

Чаще всего применяют поглощение в УФ, реже в ИК области. В УФ области применяют приборы, работающие в широком диапазоне—от 200 нм до видимой части спектра, либо на определенных длинах волн, чаще всего на 280 и 254 нм. В качестве источников излучения применяются ртутные лампы низкого давления (254 нм), среднего давления (280 нм) и соответствующие фильтры. [c.91]

Прибор имеет два источника излучения лампу накаливания, дающую сплошной спектр испускания в видимой области, и ртутно-кварцевую лампу, дающую линейчатый спектр испускания в УФ- и видимой областях спектра. [c.74]

Неотъемлемой частью любого спектрофотометра является монохроматор— устройство, позволяющее получать излучение определенной длины волны (монохроматическое излучение). В качестве источника излучения применяется специальная лампа, дающая свет, содержащий набор квантов со всевозможными частотами в некотором диапазоне, белый свет. В зависимости от выбранного диапазона используют либо водородные лампы, дающие ультрафиолетовое излучение, либо лампы накаливания, излучающие в видимой области. Пучок света фокусируют с помощью специальной оптической системы и далее пропускают его через призму или дифракционную ре- 1д шетку, после чего направляют на узкую щель, которая в зависимости от угла поворота призмы или решетки вырезает из- 5-лучение определенной длины волны. [c.173]

Спектрофотометры СФ-4, СФ-4А, СФ-16 и СФ-26 имеют кварцевую оптику, что позволяет проводить измерения помимо видимой и ближней ИК-областей также в УФ-области спектра. В качестве источников излучений в них могут быть использованы три лампы со сплошным излучением водородная лампа для работы в УФ-области (200— 350 нм), вольфрамовая лампа для работы в видимой и ИК-областях и дейтериевая лампа, которая имеется только в спектрофотометрах СФ-16 и СФ-26 и позволяет проводить измерения в области 185— 200 нм, но для этого требуется полная эвакуация прибора или вытеснение воздуха азотом на всем оптическом пути. Ртутно-гелиевая лампа, имеющаяся в комплекте каждого из этих приборов, используется для проверки градуировки шкалы длин волн, так как она дает линейчатый спектр излучения. [c.79]

Спектрофотометр СФ-5 имеет стеклянную оптику и поэтому работает только в видимой и ближней ИК-областях спектра. В качестве источника излучений в нем используется только вольфрамовая лампа, а в качестве детекторов — те же фотоэлементы. [c.79]

В приборах другого типа (фотометр) раствор сравнения не нужен. Свет от источника излучения пропускают через ослабляющее световой поток устройство и, регистрируя его, добиваются совпадения его интенсивности с интенсивностью света, прошедшего через анализируемый раствор. Для ослабления светового потока сравнения можно использовать так называемый серый раствор, поглощающий всегда одинаковую часть проходящего через него видимого света (какой бы длины волны этот свет ни был), аналогично действующий серый клин или регулируемую диафрагму (в фотометре Пульфриха). При этом, разумеется, нужно строить градуировочную кривую зависимости поглощения от концентрации анализируемого раствора. [c.363]

Фотоэлектрический спектрофотометр СФ-4 (рис. 98) применяется для работы в видимой и ультрафиолетовой частях спектра. Свет от источника излучения — водородной лампы (газоразрядная трубка, наполненная водородом и снабженная катодом с подогреванием) или [c.255]

При работе в видимой и ближней ИК-областях спектра источником излучений служит обычная вольфрамовая лампа накаливания, дающая сплошной спектр. [c.234]

Спектрофотометр СФ-5 имеет стеклянную оптику и поэтому работает только в видимой и ближней ИК-областях спектра. В качестве источника излучений в нем используется только вольфрамовая лампа, а в качестве детекторов—те же фотоэлементы. Ртутная лампа, имеющаяся в комплекте каждого из этих приборов, дает линейчатый спектр и используется для проверки градуировки шкалы длин волн. Для уменьшения рассеянного излучения иа пути луча, выходящего из монохроматора, устанавливают светофильтры из стекла УФС-2 — при работе в области 320—380 нм, из стекла ОС-14 — при работе в области 590—700 нм. Таким образом, эти светофильтры не играют роли монохроматоров, как это осуществляется в фотоэлектроколориметрах. [c.257]

Общая конструкция ИК-спектрометра основана на тех же принципах, что и прибора, работающего в ультрафиолетовой и видимой областях спектра. Она включает источник излучения, диспергирующую систему (монохроматор) и регистрирующий элемент (детектор). Специфика ИК-излучения приводит к особенностям в устройстве каждого элемента. [c.203]

Источники излучения. Все используемые в оптической спектроскопии источники излучения являются излучателями непрерывного спектра. Для инфракрасной спектроскопии, а также для спектроскопии в видимой области, используют раскаленные излучатели для ультрафиолетовой спектроскопии — специальные газоразрядные лампы. Распределение интенсивности излучения по спектру для идеального термического излучателя описывается законом Планка для излучения энергии абсолютно черным телом. В широком диапазоне частот интенсивность излучения различна. Особенно мала она в самом конце длинноволновой области после прохождения максимума, ближе к концу коротковолновой области, интенсивность излучения быстро падает. Радиационные свойства излучателя и положение максимума интенсивности определяются температурой, химическим составом и состоянием поверхности этого излучателя. Испольчуемые в ультрафиолетовой области водородная и аейтериевая лампы характеризуются почти равномерным спектральным распределением энергии в интервале частот 33 ООО—50 ООО см ( 300—200 нм) [401. Сведения о наиболее часто используемых излучателях непрерывного спектра приведены в табл. 5.18. [c.235]

Область 4000—8000 А—видимая область. В качестве материала оптики используется стекло (кварц также прозрачен в этой области, но имеет меньшую дисперсию). В качестве источника излучения применяется вольфрамовая лампа, приемником излучения служит фотоэлемент. Обычно измерение спектров поглощения органических соединений в пределах 1850—10 000 А (в средней ультрафиолетовой и видимой областях) проводится на одном приборе, снабженном кварцевой оптикой, сменными источниками и приемниками излучения. [c.10]

Измерения оптической плотности О в ультрафиолетовой и видимой области проводятся на фотоэлектрических спектрофотометрах. Основными частями этих приборов являются источник излучения (лампа накаливания для видимой области, газоразрядная водородная или дейтериевая лампа ультрафиолетовой области), монохроматор, диспергирующая система которого основана на использовании кварцевой призмы или дифракционной решетки, кюветное отделение, в котором располагаются кюветы с исследуемыми веществами, приемное и фотометрическое устройство для сравнительной оценки интенсивности световых потоков /о и /, основанное на использовании фотоэлементов. [c.35]

Они позволяют работать в УФ-, видимой и ближней ИК-об-ластях спектра. Источниками излучения в УФ-области спектра (200—350 нм) являются водородная и дейтериевая лампы, в видимой и ближней ИК-областях (320—1100 нм)—лампа накаливания. Приборы имеют кварцевые кюветы для работы в УФ-области. В комплекты кювет входят прямоугольные кюветы— кварцевые с толщиной слоя 1 см и цилиндрические стеклянные с кварцевыми и стеклянными крышками. [c.25]

При регистрации ИК спектров источником излучения служит нагреваемый электрическим током стержень, а фотоприемником (детектором) - термопара (болометр). При регистрации видимых и ультрафиолетовых спектров источниками света обычно служат газоразрядная водородная лампа и лампа накаливания, а фотоприемниками - фотоэлементы или фотодиоды [c.464]

Радиац. датчики обычно состоят из чувствит. элемента, воспринимающего измеряемое давление, источника и приемника лучистой энергии и расположенного между ними экрана. Действие датчиков основано на зависимости от давления ннтенснвностн потока, поступающего от источника излучения к приемнику. При изменении давления чувствит. элемент вызывает пропорциональное перемещение экрана, управляющего интенсивностью потока. Нанб. распространены приборы, использующие видимый свет (оптич. датчики) либо проникающее у- или р-излучение. Источники излучения видимого света-лампы накаливания, ртутные точечные лампы высокого давления, лампы тлеющего разряда и др. жестких излучений-рентгеновские трубки, искусств, радиоактивные в-ва. Приемники видимого излучения - вакуумные и газонаполненные элементы с внеш. фотоэффектом, фотосопротивления, вентильные фотоэлементы с фотоумножителями жестких излучений - ионизац. камеры, счетчики Гейгера-Мюллера, пропорциональные, сцинтилляц. и кристаллич. счетчики. [c.646]

Вопрос о связи физико-химических свойств веществ и цветовых характеристик, определенных по спектрам отражения или поглощения (цветовые координаты, светлота, тон), актуален как с фундаментальной научной, так и с прикладной точки зрения. Цель работы - исследование корреляционной связи межд]/ совокупностью свойств нефтехимических систем и их цветовыми характеристиками Изу ены 17 легких и высокомолекулярных систем (углеводородные топлива, крекинг -остатки и т.д.). Цветовые характеристики указанных веществ определялись п разбавленных оптически прозрачных толуольных растворах по спектрам поглощения в видимом диапазоне.Запись спектра проводилась в диапазоне 380 -.760 нм. Координаты цвета X, У, 2), координаты цветности (х, у, г), цветовой тон (Л), насыщенност) (1 ) и светлоту ( ) определяли по стандартной методике МКО [2] при трех источниках излучения А, В и С [c.76]

При измерении спектров поглощения в ультрафиолетовой области в качестве источника света используется водородная (дейтеривая) лампа (200—350 нм), а кюветы для раствора вещества, призма и вся оптика в приборе должны быть изготовлены из кварца (обычное стекло непрозрачно для коротковолнового излучения). При работе в видимой области используют тот же прибор, но в качестве источника излучения применяют лампу накаливания (от 350 нм и далее), а кюветы могут быть изготовлены из обычного стекла. В качестве растворителей в УФ спектроскопии применяют вещества, не имеющие поглощения в исследуемой области спектра и не вступающие в химическое взаимодействие с растворенным веществом (см. табл. 1). Для измерения электронных спектров поглощения обычно используют сильно разбавленные растворы (10 —10" моль/л). [c.129]

Источник излучения. Если в приборе для видимой или УФ-области источник излучения работает обычно в области 0,2—0,4 или 0,35—0,8 мкм, то в ИК-спектрометре он должен перекрыть значительно больший интервал длин волн. Наиболее распространенные источники ИК-излучения — нагреваемые током до 1500—1800° С стержни из карбида кремния (глобар) или из окислов редкоземельных элементов (штифт Нернста). Электрическое сопротивление таких источников уменьшается с повышением температуры, поэтому необходимо использовать балластное сопротивление. Глобар и штифт Нернста дают мощное ИК-излучение, но оно приходится в основном на ближнюю ИК-область и быстро падает с увеличением длины волны. Изменение энергии источника с длиной волны компенсируется в спектрометре программированным раскрытием входной щели прибора. В длинноволновой части ИК-спектра интенсивность излучения этих источников становится недостаточной, и в области ниже 200 см применяют ртутно-кварцевые лампы высокого давления. [c.203]

Излучение сварочной дуги. Сварочная дуга является мощным источником излучений с различными длинами волн, в разной степени влияющих на человека, особенно на его зрение. Дуга излучает видимый свет, а также невидимый ультрафиолетовый и инфракрасный. Длительное облучение инфракрасными лучами может вызвать общую потерю зрения. При правильном подборе защнтшлх стекол инфракрасные лучи полностью поглощаются. Видимые световые лучи при кратковременном облучении действуют ослепляюще, а при длительном вызывают ослабление зрения. [c.322]

ПИИ с ее субмиллиметровым диапазоном волн. Меняя источник излучения, внутривидение увеличивает свои возможности, расширяет диапазон волн до миллиметровых, сантиметровых и даже многометровых. Как преобразовать такие излучения в оптически видимые изображения С помошью ультразвука, пьезокристаллов, непрерывного электронного усиления изображения, электронной эмиссии и многих других физических законов, используемых в широчайшей гамме инструментов внутривидения. [c.11]

Для неразрушающего контроля установки с преобразователями ионизирующих излучений в видимый свет оснащают телевизионной аппаратурой. Если в качестве источника излучений служит рентгеновский аппарат, то установки называют рентегенотеле-визионными. Телевизионные установки передают рентгеновское изображение на безопасное расстояние, позволяют усилить яркость и увеличить размер изображения дефектов. Телевизионное изображение можно записать на пленку. Схемы устройств пре- [c.240]

Если в упрощенной схеме фотометра лампу заменить на такой источник излучения. который может излучать монохроматический свет любой требуемой длины волны без применения фильтров, это и будет схемой спектрофотометрического детектора для ВЭЖХ. Описания достаточно сложных оптических схем такого источника излучения можно найти в большинстве руководств по ВЭЖХ. С помощью таких схем из широкого, непрерывного спектра излучения дейтериевой лампы (190—360 нм) и лампы видимого света (длина волны более 360 нм) с использованием голографической решетки вырезается более или менее узкая полоса УФ- или видимого излучения. Это излучение и попадает в сравнительную и рабочую кюветы, которые далее работают по той же схеме, по которой устроен фотометр. Различия между разными конструкциями спектрофотометрических детекторов вызываются более или менее удачными оптическими схемами, более узким или широким пучком монохроматического света, лучшей или худшей воспроизводимостью повторной установки той же длины волны. Различают также УФ-спектро-фотометрические детекторы, использующие в качестве источника излучения только дейтериевую лампу, и работающие в УФ-и видимом диапазонах — они дополнительно оснащаются лампой видимого света, [c.151]

Для измерения спектров используют спектральные приборы-спектрофотометры, осн. части к-рого источник излучения, диспергирующий элемент, кювета с исследуемым в-вом, регистрирующее устройство. В качестве источников излучения применяют дейтериевую (или водородную) лампу (в УФ области) и вольфрамовую лампу накаливания или галогенную лампу (в видимой и ближней ИК областях). Приемниками Излучения служат фотоэлектронные умножители (ФЭУ) и фотоэлементы (фоторезисторы на основе PbS). Диспергирующими элементами прибора являются призменный монохроматор или монохроматор с дифракц. решетками. Спектр получают в графич. форме, а в приборах со встроенной мини-ЭВМ-в графической и цифровой формах. Графически спектр регистрируют в координатах длина волны (нм) и(или) волновое число (см )-пропускание (%) и(или) оптич. плотность. Осн. характеристики спектрофотометров точность определения длины волны излучения и величины пропускания, разрешающая способность и светосила, время сканирования спектра. Мини-ЭВМ (или микро-процеесоры) осуществляют автоматизир. управление прибором и разл. мат. обработку получаемых эксперим. данных статистич. обработку результатов измерений логарифмирование величины пропускания, многократное дифференцирование спектра, интегрирование спектра по разл. программам, разделение перекрывающихся полос, расчет концентраций отдельных компонентов и т. п. Спектрофотометры обычно снабжаются набором приставок для получения спектров отражения, работы с образцами при низких и высоких т-рах, для измерения характеристик источников и приемников излучения и т.п. [c.397]

Когда пучок рентгеновских лучей попадает на поверхность кристалла, кванты рентгеновского излучения взаимодействуют (поглощаются и испускаются) с и L-электропами атомов. (Здесь предполагается некоторое знакомство с материалом, систематически изложенным в гл. IV и V). Подчеркнем, что интерференция связана не со свойствами внешних электронов, от которых зависят химические свойства изучаемых атомов, а с Z- и -электронами, расположенными во внутренних оболочках атомов. Другими словами, такое облучение не изменяет никаких свойств атомов, которые влияют на их химическое поведение. Некоторые кванты излучения проникнут в глубь кристалла и отразятся электронами атомов, расположенных во внутренних слоях решетки. Поэтому в отраженном луче окажутся волны, различающиеся по фазе, что приведет к интерференции отраженных волн. В этом и состоит отличие отражения рентгеновских лучей от отражения видимого света, происходящего только на внешней поверхности кристалла. Как и в картине, данной Гюйгенсом, каждый атом в кристалле можно принять за новый источник излучения, испускающий свет по всем паправлениям. Поэтому должны существовать паправлепия, по которым интерференции не иро-псходит. [c.26]

В спектрофотометрии УФ и видимой областей спектра применяются приборы с фотоэлектрической регистрацией — фотоэлектроколориметры и спектрофотометры. Широко используются фотоэлектроколорйметры марок ФЭК-56М, ФЭК-60, однолучевые спектрофотометры СФ-14, СФ-16, СФ-26, СФ-18. Приборы различаются по спектральным областям, в которых они работают, и по способу монохроматизации светового потока. Фотоэлектроколориметры пригодны только для видимой области спектра, и монохроматизация излучения осуществляется светофильтрами, обладающими избирательным пропусканием излучения в интервале длин волн 30—40 нм. Оба указанных фотоэлектроколориметра отличаются набором светофильтров, пропускающих излучение в разных областях спектра ФЭК-56М — в области 315—610, ФЭК-60—364—930 нм. Источником излучения в них является лампа накаливания, дающая сплошной спектр. Применяются приборы в основном для измерения свето-пропускания или светопоглощения жидких сред с помощью стеклянных кювет разного размера. Выбор кювет обусловливается интенсивностью окраски анализируемого раствора, его количеством и аналитической длиной волны. Спектрофотометры СФ-16 и СФ-26 позволяют провести более узкую монохроматизацию излучения с помощью монохроматоров, в которых диспергирующая призма разлагает сплошное излучение в спектр с интервалом длин волн 1—2 нм. [c.25]

Современные фотометрические детекторы работают как в УФ (200-400 нм), так и в видимой области спектра (400-700 им). Существуют детекторы с фиксированной длиной волны излучения (фотометрические) и переменной (снектрофотометрические). В фотометрических детекторах в качестве источника излучения, как правило, применяют ртутные лампы. Монохроматизация излучения в этих детекторах осуществляется с помощью светофильтров. В снектрофотометрических детекторах в качестве мопохроматизатора служит дифракционная решетка. При работе в УФ области в качестве источника излучения используют дейтериевую лампу, а в видимой области - вольфрамовую. [c.25]

Получение спектра с помощью фотодиодной матрицы [12] позволяет регистрировать весь спектр в диапазоне 190-800 нм, обраба-тьшать поступающий сигнал на компьютере и сочетать достоинства обоих методов регистрации. Нижний предел определяется качеством оптической системы и интенсивностью источника излучения, длинноволновая граница - чувствительностью детектора. Возможно [13] применение спектрометров в УФ- и видимой области, созданных на базе миниатюрных полупроводников и прецизионной кварцевой техники, в качестве детекторов в хроматографии, спектрофотометров с малым временем регистрации спектров, сенсоров и др. [c.186]

Ряд источников излучения имеет спектральные линии подходящей интенсивности, распределенные соответствующим образом в избранной спектральной области. Точные значения положения характерных линий кварцево-ртутной дуги — 253,7 302,25 313,16 334,15 365,48 404,66 и 435,83 нм. Шкалу длин волн можно также калибровать при помощи соответствующих стеклянных фильтров, которые имеют приемлемые полосы поглощения в видимой и ультрафиолетовой областях. Широко используются стандартные стекла, содержащие дидимий (смесь празеодима и неодима). Лучшим считается стекло, содержащее гольмий. Точные значения положения характерных максимумов фильтров из гольмиевого стекла — 241,5 1 281,5 1 360,9 1 и 536,2 3 нм. Фильтры из гольмиевого стекла можно получить из некоторых национальных учреждений и коммерческих источников. Эксплуатационные качества непроверенного фильтра должны быть установлены по отношению к фильтру, подвергнутому правильной проверке. [c.40]

Во флуорометрах и флуоресцентных спектрофотометрах используются различные источники излучения. Ртутные лампы относительно стабильны и излучают энергию в основном при дискретных длинах волн. Вольфрамовые лампы обеепе-ивают достаточно равномерное излучение по всей видимой [c.53]

Люминесцентная капиллярная дефектоскопия в России. Некоторые вещества, имеющие особую молекулярную структуру, при облучении видимыми или ультрафиолетовыми лучами сами становятся источниками излучения, т.е. люми-несцируют. Развитию люминесцентной дефектоскопии посвящено значительное количество работ, благодаря которым удалось повысить чувствительность метода, разработать методику и создать аппаратуру, пригодную для применения в заводских условиях. [c.591]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология