Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Почернение минимальное

    Например, работая в области нормальных почернений, имеем прямую пропорциональную зависимость между логарифмом относительной интенсивности спектральных линий и разностью их почернений. Коэффициентом пропорциональности, как видно из формулы (36), служит контрастность фотографических пластинок. Для того чтобы график оставался постоянным, необходимо добиться минимального изменения контрастности при переходе от одной фотографической пластинки к другой. Для этого надо строго стабилизировать все условия обработки фотографических пластинок. [c.268]


    Плотность почернения зависит от времени экспозиции и энергии излучения. В цеховых лабораториях заводов отрасли ее определяют приближенно при помощи ступенчатого клина плотности. Для этого берут полоску пленки и экспонируют ее в одинаковых условиях таким образом, чтобы примерно каждый последующий сантиметр пленки имел экспозицию больше, чем предыдущий. Например, 30 с, 1 мин, 1,5 мин и т. д. После обработки такая пленка имеет ряд полос разной плотности почернения. Калибровку клина производят в лаборатории, имеющей денситометр или микрофотометр. Разность между значениями плотности почернения двух соседних участков снимка называется контрастностью изображения. Минимальная разность почернений, которую способен различить глаз человека, составляет примерно 0,02—0,03 [78]. Влиянием этого фактора определяется предельная чувствительность радиографического метода. [c.126]

    Определяют предельное значение 8 =81 , т.е. минимальное почернение, которым ограничивается линейный участок характеристической кривой. [c.659]

    Минимальная выявляемая разность плотностей почернения A ) j между изображением дефекта и основным фоном снимка определяется рядом факторов, к числу которых относятся степень совершенства глаза оператора, яркость экрана расшифровочного оборудования и условия расшифровки, а также размеры и форма изображения дефекта. [c.58]

    Установлено, что глаз является наиболее чувствительным для яркости более 30 кд/м . В этих условиях можно различать разницу яркости около 0,14 кд/м , что обеспечивает обнаружение минимальной разности плотностей почернения = 0,006. При яркости экрана расшифровочного оборудования 30 кд/м 0,006. .. 0,02 (расстояние от глаза до экрана составляет 25 см). Меньшие значения соответствуют большим дефектам и малым отношениям длины дефекта к его ширине (до 20), а большие значения - малым дефектам и большим отношениям длины дефекта к его ширине (до 70). [c.58]

    При использовании такого оборудования с объемом памяти 90. .. 100 Мбайт может быть сформировано цифровое изображение с размерностью 5000 х 6000 х 12 бит, что соответствует сканированию пятном 35 мкм пленки размером 18 х 45 мм и нерезкости 0,035 мм. Эта нерезкость составляет 1/3 от нерезкости изображения на пленке при использовании низкоэнергетических фотонов. У этого оборудования размерность матрицы изображения, выводимого на дисплей, составляет 1024 х 1024 х 8 бит (256 уровней серого), что соответствует минимальному перепаду различной плотности почернения 0,06 при полном изменении плотности 1,5. [c.102]

    Большое влияние на результат анализа оказывает температура испарения. При низкой температуре испарение длится долго, значительная часть пробы впитывается телом электрода. Проба частично просачивается на наружную поверхность электрода и покрывает ее в виде смолистого или лакового отложения. При использовании таких электродов для съемки спектра получают низкие чувствительность и точность. При повышении температуры испарение протекает интенсивнее, незначительное количество пробы впитывается электродом и просачивается на наружную поверхность электрода. В результате этого повышаются чувствительность и точность анализа. При дальнейшем повышении температуры испарение протекает слишком бурно, часть примесей теряется вследствие их испарения и разбрызгивания пробы. Результаты анализа ухудшаются. Таким образом, оптимальная температура испарения зависит от летучести основы. В табл. 1 приведены значения разности почернений аналитических линий и фона и коэффициентов вариации в зависимости от температуры испарения основы машинного масла СУ, содержащего по 12 мкг/г железа, алюминия, меди и свинца, по 3 мкг/г олова, хрома и никеля в виде стеаратов и пальмитатов. Из данных, приведенных в табл. 1, видно, что для определения примесей металлов в масле СУ оптимальная температура испарения основы составляет 400 °С. При этом достигается для большинства элементов наибольшая интенсивность сигнала при минимальной погрешности анализа. [c.14]


    Оценка значения аан min производится по результатам многократной регистрации спектра эталона с минимальным содержанием определяемого элемента при условии, что аналитическая линия обнаруживается в каждом измерении. Под результатом измерения в этом случае понимается уже не разность отсчетов (например, почернений, фототоков) в месте расположения аналитической линии и рядом с ней, а только один отсчет на месте аналитической линии либо разность (отношение) между этим отсчетом и отсчетом для линии сравнения. В соответствующих координатах строится и градуировочный график. Если при этом в холостой пробе анализируемый элемент присутствует и его аналитическая линия в спектрах этой пробы отчетливо регистрируется, то установление предела обнаружения надо производить по полным критериям (3), (4), (6), (7) так, как это было описано ранее (с учетом сделанного выше замечания о том, что понимается в этом случае под результатом измерения). [c.30]

    Случай постоянства почернений фона при смене спектрального прибора. Для лучшего обнаружения слабых спектральных линий фон на спектрограммах должен находиться в сравнительно узкой области оптимальных значений почернения (в зависимости от рода аналитической задачи — в переходной области или в начале прямолинейного участка характеристической кривой фотоэмульсии см. 2.1.2). Если это требование хотя бы приблизительно выполняется при замене одного спектрального прибора другим (что обычно происходит на практике), то, вследствие слабой зависимости.а. от величина минимального обна- [c.71]

    Из выражения (34) следует, что в рассмотренном практически распространенном случае анализа, когда при переходе от одного спектрального прибора к другому почернения сплошного фона на спектрограммах сохраняются примерно постоянными, минимальная обнаружимая яркость излучения аналитической линии тем меньше, чем больше практическая разрешающая сила спектрографа. Так как 5д обычно пропорционально с, то и величина предела обнаружения элемента будет тоже уменьшаться с увеличением i np. [c.73]

    Минимальное почернение. изме- яемое непосредственно рядом с аналитической линией определяемого элемента со стороны длинных волк. [c.140]

    Минимальное почернение, измеряемое между линией Си 3068,9 и линией 3069,7 (второй минимум в сторону длинных волн от линии В1 3067,72). [c.140]

    А (0,002—0,05%) измеряют минимальное почернение фона на участке, ближайшем к аналитической линии со стороны [c.141]

    Однако на практике почернения этих линий обычно не бывают точно равны друг другу. Поэтому содержание определяемого элемента попадает между двумя значениями концентрации, относящимися к тем гомологическим парам, для которых разности почернений линий в спектре анализируемой пробы минимальны. Сравнением этих разностей можно не только установить, к какой гомологической паре линий ближе состав анализируемой пробы, но по возможности оценить интерполяцией промежуточную концентрацию. [c.50]

    Аналитическую ширину линии определяют с помощью микрофотометра. Вначале подбирают величину максимального почернения линии сравнения. Для этого щирину щели фотометра устанавливают минимально возможной, при которой, однако, еще можно получить хорощо измеряемое отклонение гальванометра. Затем с обеих сторон линии определяемого элемента выбирают такие две точки, для которых отклонения гальванометра равны минимальному отклонению гальванометра для линии элемента сравнения. Расстояние между этими двумя точками, отсчитываемое по барабану микрометра, перемещающего спектральную пластинку, равно аналитической щирине линии. [c.65]

    Находят в таблице пару величин 8а, 8ь с минимальными почернениями, для которой величина А8т)п еще не имеет тенденцию систематически уменьшаться. Таким образом, находят нижнюю границу почернений, для которых все разности (А5т)п одинаковы, т. е. оба почернения из пары лежат на линейном участке характеристической кривой.  [c.117]

    Отбирая почернения согласно п. 2, определяют предельное значение 8 = 81, т. е. минимальное почернение, которым ограничивается линейный участок характеристической кривой. [c.118]

    Величину Yu желательно рассчитывать как среднее из минимальных почернений, измеренных с обеих сторон линии. Если, однако, значение у велико (например, 2—3), то на одной ступеньке фильтра невозможно измерить почернения фона и линии. В этом случае почернение фона можно измерять на той ступеньке фильтра, которую используют для измерения почернений очень слабых линий, т. е. на ступеньке с высоким пропусканием. В то же время линию измеряют на ступеньке с более низким пропусканием. Из Yt+u вычитают величину Yu, скорректированную с учетом различного пропускания использованных ступенек фильтра (АУт). [c.121]

    В пределах некоторого интервала экспозиций (от Hi до Яг) существует приблизительно линейная зависимость. Ее наклон называют коэффициентом контрастности V Крутой наклон (высокие значения у) означает, что данный материал очень четко передает черный и белый тон, а серые тона, напротив, передает плохо. Его лучше использовать для регистрации шрифта, штриховых изображений, т. е. как репродукционный материал. Материалы с низкой контрастностью хорошо передают серые тона, они работают мягко и пригодны для получения полутоновых изображений. Значение экспозиции Не, при которой почернение 5 или цветовая плотность превышают на Д5 = 0,1 нижнее пороговое значение, соответствующее так называемой вуали, служит общепринятой мерой светочувствительности. Разность максимального и минимального значений почернения (контраст) отвечает, с точки зрения теории информации, максимальному отношению сигнал — шум. [c.365]


    Так как освещенность пластинки определяет ее почернение, следует добиваться таких условий, чтобы освещенность фона была как можно меньше, а освещенность линии как можно больше. Этого можно добиться правильным выбором ширины щели. Однако следует помнить, что при широких щелях уменьшается разрешающая способность. Значит, необходимо подбирать щель такой ширины, чтобы ширина линий была минимальной, а их освещенность максимальной. В наиболее благоприятных случаях эта щель близка к нормальной. [c.145]

    Сначала рассмотрим микрофотометр. Большинство приборов оснащены устройствами для установки нуля и полной шкалы. Нуль можно установить либо по нулевому пропусканию, либо в области максимального почернения измеряемой пластины. Пол ную шкалу можно установить по пропусканию в области, непосредственно примыкающей к измеряемой линии, по пропусканию в области минимального почернения, по пластине, свободной от эмульсии, или по пропусканию без пластины. В последнем случае необходимо тщательно следить за тем, чтобы оптика фотометра не расстроилась из-за смещения пластины требуется также, чтобы все время измерялась оптическая плотность меньше нулевой (т. е. чтобы измеряемый свет, проходящий через пластину, был всегда меньше, чем свет, проходящий без пластины).  [c.208]

    При регулировке микрофотометра надо учитывать два обстоятельства. Во-первых, важно ие как выполнены измерения, необходимо только, чтобы они были последовательными. При соответствующей методике любая разница между методами компенсируется характеристической кривой. Например, замечено, что установка нуля по максимальному почернению совпадает с результатами, полученными при уменьшенном почернении (т. е. с выражением в левой части формулы Халла). Любой способ установки полной шкалы вряд ли изменит форму начального участка характеристической кривой. Это важно учитывать, если, согласно теоретическим предположениям, экспериментатор ожидает получить кривую определенной формы. В этом случае выбирают подходящий способ настройки микрофотометра. Например, для изучения области осажденного серебра, возникшей при проявлении ионного изображения, подходит установка полной шкалы на участке пластины, не экспонировавшейся положительными ионами, т. е. по участку минимального почернения. Нуль также должен соответствовать области, заполненной осажденным серебром. [c.209]

    Во-вторых, способы, выбранные для настройки микрофотометра, должны легко и просто воспроизводиться. Так, если нет серьезных препятствий, предпочтительнее использовать настройку по пластине с удаленной эмульсией, чем по участку с минимальным почернением. Еще лучше было бы устанавливать полную шкалу вообще без пластины. [c.209]

    Область нормальных почернений начинается около 0,3—0,4 единиц оптической плотности. Таким образом, интервал почернений, в пределах которого ведутся фотометрические измерения, равен —2,0. Разность lg Н. —lg Я,, соответствующая точкам максимального В) и минимального (Л) почернения прямолинейной части характеристической кривой, называется широтой эмульсии. Широта эмульсии характеризует отношение максимального количества освещения к минимальному, которое может быть передано фотоэмульсии в прямолинейной части характеристической кривой. Из уравнения (4) широта эмульсии равна  [c.171]

    Для измерения почернения линий изображение спектра устанавливают перед щелью экрана, за которым стоит фотоэлемент. На экране виден увеличенный в 20 раз участок спектра. Выбрав в нем линию, микрометрическим винтом передвигают каретку в направлении, перпендикулярном щели. Когда центральная часть линии перекрывает щель, отсчет на шкале гальванометра приобретает максимальное значение (по шкале оптических плотностей или минимальное по шкале пропускания) отсчет записывают. [c.223]

    Находят в таблице пару величин с минимальными почернениями, для которых величина Д5 еще не обнаруживает тенденции к систематическому уменьшению, т.е. опреде-ляяют нижнюю границу линейного участка характеристической кривой (приблизительную). [c.659]

    Минимальная плотность почернения снимка не должна быть меньше предельных значений, установленных правилами конфоля. [c.77]

    Угловой коэффициент V прямой называют контрастным фактором, а константу / — инерцией фотопластинки. У пластинок с большим контрастным фактором малые изменения интенсивности линий сопровождаются большими изменениями почернения. Пластинки, используемые преимущественно для количественного спектрального анализа, называют /сонтрасгньш , или твердыми в отличие от мягких, контрастный фактор которых меньше. Инерция пластинки — мера ее чувствительности, т. е. она характеризует ту минимальную интенсивность, которой должна обладать линия, чтобы проявиться на пластинке. [c.365]

    Минимальное почернение, измеряемое непосредствегпю рядом с аналитической линией определяемого элемента со стороны коротких волн. [c.140]

    А (0,0009—0,0071%) (при повышенном содержании железа возможно налол<ение линий этого элемента на первую из указанных линий висмута и линию сурьмы). В качестве внутреннего стандарта используется фон, измеряется его минимальное почернение на участке, ближайшем к аналитической линии со стороны более коротких волн. [c.141]

    Действие перекиси водорода на соединения серебра вызывает эффекты, имеющие значение в фотографии. В щелочном растворе перекись водорода способствует проявлению скрытого фотографического изображения [232]. При анализе этого вопроса Мис [233], как и исследователи в старых работах, указал на структурную аналогию между перекисью водорода и таким веществом, как гидрохинон, сточки зрения фотопроявляющего действия. Сделан также [233] логический вывод, что активной частицей, обусловливающей проявляющее действие перекиси водорода, является ион пергидроксила однако интересно было бы доказать это положение путем применения экспериментальной техники, разработанной Джеймсом [234]. Перекись водорода непосредственно может вызвать также почернение фотоэмульсии это явление отмечено еще в 1842 г., и, поскольку оно достаточно чувствительно даже в отношении минимальных концентраций перекиси водорода, его используют в качестве метода для открытия следов перекиси водорода (см. стр. 68). Особое значение для понимания этого эффекта Рассела имело опровержение защищавшегося егде сравнительно недавно мнения, что отмеченное действие перекиси водорода обусловлено испусканием ею каких-то таинственных лучей или радиоактивности. [c.338]

    В этих опытах ка обоих приборах регистрировалн спектры одних и тех же образцов определяли времена экспозиции, при которых на спектрографе ИСП-28 получались почернения, лежащие в начале прямолинейной части характеристической кривой, а на ДФС-10 — минимальный регистрируемый сигнал. Результаты приведены в табл. 2. [c.34]

    Величины X и 7 можно также определить одновременно из соотношения АУт = (1/7)А5— у(.1у)АО (разд. 5.5.5). В этом случае ЭВМ должна найти пару величин х, 7, с использованием которых значения АУт, рассчитанные с помощью пар почернений, будут иметь минимальные отклонения от заранее известного значения АУт- Для этого ЭВМ вычисляет среднее значение стандратного отклонения аду. Пару величин х, 7, соответствующую минимальному значению огду , можно определить методом итераций. [c.164]

    Было показано, что в спектрографическом анализе линии х и г должны располагаться близко друг к другу по двум причинам. С одной стороны, при большом расстоянии между линиями возрастают фотографические погрешности, а с другой — параметры характеристической кривой (или кривой преобразованных почернений) быстро изменяются вне области длин волн 2500—3100 А. Последнее существенно усложняет методику анализа. В противоположность этому в случае измерения интенсивности линий с помощью фотоумножителей точность измерений не зависит от расстояния между линиями (разд. 5.10 в [1]). Поскольку между фототоком и интенсивностью света существует простое линейное соотношение, зависимость чувствительности фотоумножителей от длины волны в относительно широких пределах не играет роли. Поэтому различие в длинах волн линий аналитических пар может быть значительным. Зависимость от длины волны параметров фотоумножителя можно скомпенсировать соответствующим выбором динодных напряжений. Последние регулируют в соответствии с желаемой чувствительностью, которая зависит от возможного соотношения минимальных и максимальных величин интенсивностей измеряемой линии. Кроме того, фотоумножители обычно можно использовать в более широкой области длин волн, чем фотоэмульсии. Поэтому фотоум ножи- [c.251]

    В других работах в понятие предела чувствительности включают критерий надежности обнаружения. Так, автор работы [5] предлагает ввести два понятия граница обнаружения и граница определения . Под границей обнаружения понимается минимальная концентрация, которая еще может быть уверенно обнаружена (при этом разность почернений линия — фон должна быть в два—три раза больше квадратич-122 [c.122]

    Полуавтоматические микрофотометры. Поиск и установка нужной линии выполняется оператором, измерение линии и фона с регистрацией измеренных значений — полуавтоматическим микрофо- тометром. После измерения линии или фона и аналогово-цифрового преобразования результаты регистрируются на перфоленте [3] или вводятся в ЭВМ [4]. Построены системы с точечным сканированием спектра [5,6], а также с дальнейшим автоматическим выбором из этих поточечных отсчетов минимального и максимального почернения [7, с. 8, 49, 61 9—12]. Аналоговое устройство может сразу преобразовывать измеренные поточечно почернения в интенсивности [13]. В компараторе с лазерным дальномером измеряется и перфорируется не только почернение, но и координата линии [14]. [c.97]

    В отношении чувствительности пластинок необходимо ещё заметить следующее обозначения чувствительности по системе Шейнера, Винера, а также Хар-тера-Дрефильда, хотя и не могут непосредственно сравниваться между собой, но по существу характеризуют минимальную интенсивность света, необходимую, чтобы вызвать некоторое малое почернение на пластинке (например порог чувствительности и т. д.). [c.130]

    Рассматривая характеристическую кривую, приведенную на рис. 7, легко заметить, что она не проходит через начало коор- динат и начинает возрастать лишь с некоторого, определенного для каждого вида материала, значения экспозиции. Это означает, что фотографический слой нечувствителен к экспозициям, меньшим этой величины, и для каждого материала существует минимальное количество освещения (так называемый порог почернения), которое вызывает доступное измерению минимальноз почернение, обусловленное действием света .  [c.143]

    При центрифугировании под действием центробежных сил между слоем воздуха и раствором образуется граница, называС мая мениском. Вместе с тем происходит седиментация растворенных веществ, в результате чего образуется граница раздела между чистым растворителем и раствором белка, которая постепенно смещается ко дну ячейки. Поскольку всегда происходит диффузия высокомолекулярных частиц из раствора в растворитель, то граница раздела не представляет собой плоскости, а всегда несколько размыта. Естественно, что степень поглощения света при переходе от растворителя к раствору будет меняться хотя и круто, но постепенно, равно как и изменение концентрации седиментирующих молекул. Если через такую систему пропустить ультрафиолетовый свет, то это изменение концентрации может выразиться в неодинаковом почернении фотопленки по длине ячейки. В месте границы раздела будет происходить изменение степени почернения пленки от максимального для непоглощающего растворителя до минимального для поглощающего раствора (рис. 39, а). Определяя степень почернения путем микрофотомет-рирования, можно получить кривую распределения концентрации седиментирующего белка. Проведя такие измерения через определенные промежутки времени седиментации, можно получить кривую распределения концентрации вдоль радиуса ячейки. При этом обработка фотопленок, при использовании абсорбционных оптических систем, позволяет сразу получить интегральные кривые седиментации (рис. 39, б). Абсорбционные системы, снабженные кварцевой оптикой, используются чаще всего для исследования разбавленных растворов нуклеиновых кислот и их производных. [c.144]


Смотреть страницы где упоминается термин Почернение минимальное: [c.44]    [c.72]    [c.67]    [c.142]    [c.195]    [c.195]    [c.204]   
Аналитические возможности искровой масс-спектрометрии (1972) -- [ c.91 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Минимальная



© 2025 chem21.info Реклама на сайте