Основные характеристики спектральной линии

ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЛИНИИ [c.12]

Укажите три основные характеристики спектральной линии. [c.357]

Длина волны излучения К является основной величиной, с которой приходится иметь дело спектроскописту. Более логично было бы для характеристики излучения пользоваться частотами V = с1%, волновыми числами V = v/ o или круговыми частотами со = 2яv (с — скорость света в данной среде, Со — скорость света в вакууме). Эти величины определяются только свойствами источника, в то время как длина волны зависит от показателя прелом.ления среды. Частотами и волновыми числами обычно пользуются ири исследовании радио- и инфракрасного диапазонов. Изучение этих областей развивалось значительно позднее спектроскопии видимого и ультра-( иолетового излучения, для которых еще привычнее измерять длины волн, г не частоты. Все табличные данные в литературе приведены в длинах волн, а не в волновых числах. Это, в сущности, и определяет традицию употребления величины к как основной количественной характеристики спектральных линий. [c.12]

В СССР серийно выпускаются высокочастотные безэлектродные шариковые лампы ВСБ-2. Основные характеристики ламп приведены в табл. 6 Приложения 4. Ширина спектральных линий в рабочих режимах не более 0,005 им. Следует отметить, что параметры лампы стабилизируются после входа лампы в режим. Так, для шариковых ламп ВСБ-2 с ВЧ-возбуждением требуется предварительный прогрев в течение 10 мин. В условиях термостабилизации и правильного выбора режима генератора для лучших образцов ламп ВСБ-2 нестабильность излучения не превышает 1%. [c.147]

Основными характеристиками атомных спектральных линий являются [c.354]

Наблюдение спектра, в особенности фотометрирование спектральных линий является сложным психофизиологическим процессом. Достоверность измерений на основе зрительного восприятия зависит от многих факторов. К числу основных характеристик глаза как приемника света относятся аккомодация, адаптация, спектральная чувствительность и разрешающая способность (острота зрения). Разумеется, зсе эти характеристики субъективны, следовательно, субъективны и результаты анализа, получаемые данным методом. Хотя отношение максимальной яркости, наблюдаемой глазом, к минимальной, находящейся на пороге чувст- [c.409]

Эта часть работы производится на спектрографе ИСП-28 (ИСП-22) или ИСП-51 с камерой УФ-84. Для измерения положения спектральных линий используется измерительный микроскоп МИР-12 или компаратор ИЗА-2. Одной из основных количественных характеристик спектрального прибора является его угловая дисперсия и однозначно связанная с ней линейная дисперсия. [c.58]

Из числа традиционных источников света (дуга, искра, пламя), а также некоторых других источников, применяемых в последнее время при анализе чистых веществ, дуговые источники, особенно дуговой разряд между угольными электродами, являются самыми распространенными. Это объясняется как весьма низкими значениями пределов обнаружения большого числа элементов, так и возможностью применения дуги, в первую очередь угольной, для возбуждения спектров материалов с самыми разнообразными физико-химическими свойствами, в том числе тугоплавких и труднолетучих материалов. Исследованию дугового разряда и, в частности, его аналитических возможностей посвящено огромное количество работ. В настоящее время основные явления и закономерности дугового разряда можно считать достаточно твердо установленными, хотя ряд вопросов вследствие многообразия и сложности процессов, происходящих в этом источнике, до сих пор остается не выясненным. Не касаясь здесь подробной характеристики и многих особенностей дугового разряда, описанных в специальных монографиях [838, 980], рассмотрим главный интересующий нас вопрос—о связи интенсивности излучения аналитической спектральной линии с содержанием определяемого элемента в пробе и с параметрами источника света. Установив эту связь, можно уяснить пути оптимизации условий дугового анализа с целью достижения наименьших пределов обнаружения элементов. Основное внимание будет уделено угольной дуге в соответствии с ее большим практическим значением для определения следов элементов. [c.85]

Таким образом, условие частот Бора (5.65) позволяет найти основную характеристику квантового перехода — положение спектральной линии или полосы в шкале энергий переходов. [c.79]

Наиболее полные и удобные таблицы спектральных линий составлены коллективом известных советских спектроскопистов. В общей сложности таблицы содержат около 40 ООО линий в области 180—700 нм. Кроме основных таблиц в книге имеется и другой справочный материал, необходимый в аналитической работе список последних линий элементов, линии, находящиеся в дальней ультрафиолетовой области таблицы последовательности появлений линий при возбуждении в угольной дуге таблицы энергий ионизации, температур плавления и кипения элементов и их соединений, характеристики спектральных приборов и др. [c.176]

Наличие в светочувствительном слое желатины является основной причиной рассеяния ионов непосредственно при регистрации, что приводит к размытию краев спектральных линий. Уширение линий вызывается также наличием пространственного заряда, который образуется в период экспонирования пластинки из-за плохой электропроводности эмульсии. Во время больших экспозиций вблизи линий изотопов основы имеет место сильное увеличение вуали, что снижает предел обнаружения примесей в этой части пластинки, в ряде случаев для десятка близко находящихся масс. Все эмульсии, содержащие желатину, имеют плохие вакуумные характеристики из-за высокого содержания воды в ее слое. Это обстоятельство приводит к рассеиванию ионов и их перезарядке на пути к пластинке в анализаторах. Длительная откачка фотопластинок до высокого вакуума может привести к отслаиванию эмульсионного слоя. Пластинки с фоточувствительной эмульсией подвержены механическим повреждениям слоя, что осложняет их транспортировку, хранение и обращение с ними. [c.25]

ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ИСТОЧНИКОВ СВЕТА Интенсивность спектральной линии и температура плазмы [c.191]

Теория строения атома водорода, разработанная Бором (1913), сочетала ядерные представления с квантовой теорией. Она позволила установить основные законы движения электронов в атомах и связала их с природой образования спектральных линий. Очень существенным было принятие прерывности энергетических характеристик электронов атома, что соответствует их расположению слоями или оболочками вокруг ядра. Главное квантовое число характеризует номер электронной оболочки, в которой движется электрон, или его уровень энергии. [c.54]

Точность — важнейшая характеристика всякого аналитического метода, Определение содержания элемента по интенсивностям его спектральных линий, как и всякое измерение, делается с некоторой погрешностью. Рассмотрим основные источники погрешностей. [c.160]

Основными источниками систематических ошибок являются отличие состава эталонов от паспортных данных, несоответствие химического состава эталонов и проб (влияние третьих составляющих), несоответствие их формы и размеров, структуры, минералогического состава и других характеристик, что приводит к искажению интенсивностей спектральных линий. [c.255]

Медь является элементом, наиболее легко определяемым с помощью атомной абсорбции. Очень часто медь используют для проверки работы атомно-абсорбционных спектрофотометров, так как изменение характеристик прибора почти не влияет на результаты анализа меди. Чувствительность определения практически не зависит от тока лампы, а градуировочный график достаточно линеен вплоть до больших значений оптической плотности. Изготовление медных ламп со спектром, свободным от примесей, также не представляет затруднений. Влияние спектральной ширины щели на абсорбцию основной линии меди весьма незначительно вплоть до значений спектральной ширины щели 20 А. [c.102]

Как и в эмиссионном спектральном анализе, в спектроскопии комбинационного рассеяния наличие вещества в анализируемом растворе устанавливается по характерным линиям в спектре. Принадлежность линии тому или иному веществу определяется по разности волновых чисел рассматриваемой и возбуждающей линий, которая не зависит от волнового числа возбуждающего излучения, и по интенсивности линии комбинационного рассеяния. Данные по характеристикам спектра КР (комбинационного рассеяния) многих веществ имеются в соответствующих таблицах. Чувствительность анализа по спектрам КР не очень велика и не относится к числу преимуществ метода. Основным достоинством спектроскопии КР является возможность анализа сложных многокомпонентных смесей и веществ, близких по строению и составу. Методами спектроскопии КР анализируют смеси парафиновых и ароматических углеводородов, нафтенов, олефинов [c.136]

Основной характеристикой спектральной линии или участка спектра является их положение в спектре. Оно определяется длиной волны или частотой. При одноэлектронном переходе полоса поглощения характеризуется тремя основными параметрами максимальным значением коэффициента погашения бщах, частотой V, соответствующей вшах и эффективной шириной полосы 2а (рис. 2). Чем больше значе- [c.9]

В приложении III приводятся основные характеристики спектральных приборов, выпускаемых отечественной промышленностью. Эти приборы могут быть исполь зованы для решения большинства задач количественного спектрального анализа газов. При выборе спектрального прибора следует руководствоваться требованиями каждой конкретной задачи анализа. Спектры газов значительно беднее линиями, чем спектры металлов, поэтому в большинстве случаев нет необходимости использования приборов с большой дисперсией (за исключением изотопного спектрального анализа). И даже при анализе смесей газов в некоторых случаях, не в ущерб чувствительности анализа, могут быть использованы монохроматические фильтры, дисперсия которых значительно меньше, чем у самого примитивного спектрального прибора (см. 26). [c.97]

Идеальный детектор рентгеновского излучения должен быть небольшим, недорогим, простыгл в эксплуатации, он должен собирать большую часть рентгеновского излучения, испускаемого из образца, иметь разрешение лучше, чем собственная ширина измеряемой линии (несколько электронвольт), и обеспечивать быструю скорость набора спектральных данных без потерь информации. Ни кристалл-дифракционные спектрометры, ни 51 (Ь])-детекторы в отдельности не обладают всеми этими свойствами, но ири совместном использовании эти два устройства фактически взаимно дополняют друг друга. В табл. 5.2 содержится краткое сравнение основных характеристик обоих способов регистрации. Анализ табл. 5.2 по пунктам следует ниже. [c.256]

Особого внимания для оценки чистоты нефтепродуктов заслуживают методы дисперсионного анализа, основанные на их оптических свойствах поглощение, отражение и рассеяние света. Эти методы являются универсальными, бесконтактными, быстрыми, позволяющими исследовать труднодоступные объекты, не нарушая их исходного состояния [2, 3, 9, 39—50]. Оптические методы сводятся в основном к измерению следующих величин пропускания излучения в функции длины волны (спектральная прозрачность или мутнометрия) окраски рассеянного излучения (тиндалеметрия) отдельных отблесков рассеянного излучения (ультрамикроскопия или темнопольная микроскопия) поляризационных характеристик рассеянного излучения углового распределения рассеянного излучения (нефелометрия) уширения спектральной линии рассеянного излучения (гетеродинирование). [c.17]

Основными-достоинствами холодного ПК являются 1) возбуж-дениё узких спектральных линий с малым самопоглощением и са-мообращением 2) получение яркого свечения, стабильного в течение" длительного времени при использовании весьма небольших количеств вещества (до 10 г) 3) возможность регенерации ис-. следуемого вещества. Эти свойства обеспечивают широкое применение холодного ПК при исследовании сверхтонкой структуры [321], в качестве источников излучения в атомно-абсорбционной фотометрии [651], а-также в спектральных методах анализа изотопного состава. Имеющего важное значение для характеристики чистых веществ [228—233, 240, 244, 246, 353, 1371, 1219]. [c.178]

Основная характеристика спектра фотоэлектронов - ширина линии, которая определяется собственной шириной энергетического уровня, спектральной шириной источника облучения и разрешающей способностью анализатора. Собственная ширина линии излучения K(j для РФЭС составляет 1,0 эВ ( Л1) и 0,8 эВ (Mg), что с учетом разрешающей способности аппаратуры дает величину 1-1,4 эВ. Источники излучения, используемые в УФЭС, имеют гораздо более высокую монохроматичность (например, 1,2 10 эВ для Не ), что позволяет добиться высокого разрешения порядка 5 мэВ со специальной аппаратурой и 20 мэВ — с обычной). [c.47]

Диспергирующие системы [3—5]. Основная задача спектрального прибора — пространственное разделение лучей света с различной длиной волны. Поэтому одной из основных оптических характеристик прибора является дисперсия. Дисперсия прибора — величина, характеризующая степень пространственного разделения световых пучков в приборе при изменении длины волны. Угловая дисперсия — это отношение dffjdX, где ф — угол между лучами с длинами волн Я и Я + линейная дисперсия — это dllaX, где di — расстояние между изображениями в фокальной плоскости прибора спектральных линий с длинами волн Я и Я Я. Угловая и линейная дисперсия прибора связаны соотношением [c.70]

Поэтому для рассмотрения основных особенностей мессбауэровских переходов достаточно ограничиться магнитными дипольными и в меньшей степени электрическими квадрупольными переходами. Основной анализ характеристик квадрупольного и магнитного расш,епления спектральных линий будет проведен ниже для простейшего случая МЬпере-хода между уровнями /з и /г одинаковой четности. [c.55]

Представлены полученные на частоте 25.18 МГц с использованием методики вращения под магическим углом спектры высокого разрешения С ядерного магнитного резонанса ряда углеродных продуктов (графит, алмаз, стеклоуглерод, пироуглерод, фуллерены и фуллереновые сажи), а также промежуточных и конечных продуктов карбонизации полигетероариленов. Проведен анализ формы линии сигналов ЯМР. С помощью метода деконволюции получены спектральные характеристики основных структурных составляющих единиц исследуемых продуктов. С помощью программы расчета химических сдвигов проведено моделирование предполагаемых структурных единиц и расчет основных спектральных х )актеристик последних для ряда углеродных веществ, что позволяет высказать ряд предположений как о структуре (на уровне ансамбля атомов) углеродных продуктов, так и структурных последовательностях процесса карбонизации полимерньк веществ. [c.81]

Для выделения света определенной длины волны при фотохимических исследованиях в настоящее время в основном используют светофильтры. По принципу действия различают абсорбционные, интерференционные и дисперсионные светофильтры. Наибольшее распространение получили абсорбционные светофильтры стеклянные и жидкостные. Стеклянные светофильтры обладают по сравнению с другими рядом преимуществ, к которым в первую очередь следует отнести устойчивость к световым и тепловым воздействиям, а также однородность и высокое оптическое качество. Ассортимент цветных стекол достаточно широк и почти во всех случаях позволяет решать задачу предварительной монохроматизации или отсечения нежелательной (особенно коротковолновой) части спектра. Промышленность выпускает наборы оптического стекла (ГОСТ 9411-75) размером 80x80 мм или 40x40 мм. Комбинации из нескольких стеклянных светофильтров позволяют получать довольно узкополосные фильтры для всей видимой и ближней ультрафиолетовой части спектра. Принятые обозначения стеклянных светофильтров указывают спектральную область пропускания УФС — ультрафиолетовое стекло, ФС — фиолетовое стекло, ОС — синее стекло, СЗС — сине-зеленое стекло, ЗС — зеленое стекло, ЖЗС — желто-зеленое стекло, же — желтое стекло, ОС — оранжевое стекло, КС — красное стекло-, ПС — пурпурное стекло, НС — нейтральное стекло, ТС — темное стекло, БС — бесцветное стекло. Спектральные характеристики некоторых светофильтров приведены на рис. 5.13, а в табл. 5.1 указаны комбинации из стеклянных светофильтров для выделения наиболее ярких линий ртутного спектра. [c.247]

И продолжалось до 1957 г. [198, 226, 242, 271, 351], когда на высокочастотном крыле "VoH-KOHTypa был обнаружен перегиб от третьей компоненты [21]. Последующие работы были направлены на уточнение положения максимумов этих компонент - он-полосы жидкой воды [22, 39, 128, 140, 243, 349]. Однако, несмотря на всю тщательность проводившихся исследований, разброс получаемых разными авторами значений выходил за пределы ошибок, измерений [70]. Более того, отсутствие строгих количественных спектральных характеристик водородной связи и четких сведений о структуре воды в жидкой фазе [274] привело к тому, что отдельным компонентам -voH-KOHTypa разными авторами давались различные объяснения [140, 388]. Причиной столь долгих исканий при исследовании, казалось бы, такого простого объекта являются большая полуширина л>он-полосы и та высокая точность измерения спектра поглощения, которой задавались исследователи. Действительно, во всех работах основной задачей было как можно более точное измерение кривой поглощения образца. При этом наличие у кюветы окон, поскольку их прозрачность практически не имеет спектральной зависимости, учитывалось лишь путем проведения базовой линии (см. гл. VI, п. 1). Другими словами, в этих работах не учитывался спектральный ход отражательной способности слоя воды в кюветах, что при точных количественных измерениях недопустимо. [c.133]

Подробные сведения о фотоэлектрических приемниках света — фотоэлементах и фотоумножителях, о происходящих в них процессах, о конструкциях и характеристиках отечественных фотоэлектрических приемников содержатся в монографии [754]. Основные принципы и способы применения фотоэлектрических приемников в эмиссионном спектральном анализе описаны в работах [240, 873]. Данные о новых фотоэлектрических приемниках и установках для спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией регулярно публикуются в специальной периодической научной печати, в настоящем изложении мы остановимся в основном лишь на тех вопросах фотоэлекрической регистрации в спектральном анализе, которые непосредственно связаны с возможностью обнаружения очень слабых аналитических линий в присутствии заметного фона. [c.61]

Строение и физические свойства. Спектр испускания газообразного Ge l состоит из серии полос в областях 2847—3202 А 3354— 3496 А и 3461—3715 А. Наблюдаемые линии можно интерпретировать на основе переходов 2 -—1/2 (2847—3202 А) Л —где — основное состояние с расщеплением 975 см" . Силовая постоянная связи равна 2,2 10 дин -см . В табл. 11 приведены основные спектральные характеристики Ge l. [c.56]

Примером первого случая является измерение почернения линий, даваемых основным мета.плом и металлом — примесью при количественном эмиссионно-спектральном анализе. Примером второго являются данные о механической прочности и о содержании %) основных легирующих элементов для характеристики сорта стали. [c.36]