Интерференционные полосы равной толщины

N — число интерференционных полос равной толщины, характеризующих наличие клиновидности при контроле интерференционным методом. [c.96]

Рис. 1.5. Упругий двойник в кальците, возникающий при приложении сосредоточенной нагрузки. Видны интерференционные полосы равной толщины при косом проходящем свете. Толщина упругого двойника около 1 мкм и убывает по мере удаления от поверхности, где приложено сосредоточенное усилие. Длина и ширина упругого двойника составляют по несколько миллиметров

Наряду с описанными дифракционными явлениями в рефрактометрии используется интерференция света, происходящая при наложении широких световых пучков, в условиях, когда влияние диафрагм на распределение интенсивности света пренебрежимо мало. К подобного рода случаям относится интерференция световых волн, отраженных от противоположных поверхностей прозрачных пластин, или слоя жидкости, зажатой между пластинами. При этом различают два вида интерференционных полос полосы равного наклона и полосы равной толщины. [c.221]

Выражение (44.5) справедливо только тогда, когда лучи падают на зеркала 4 vi 7 перпендикулярно. Если же оба зеркала повернуть в одном направлении на малый угол е/2 вокруг осей, перпендикулярных плоскости рис. 44.1, то отраженные от них лучи отклонятся каждый на угол е н после прохождения через светоделительное зеркало 3 образуют между собой угол 2е. При этом, если посмотреть из центра выходной диафрагмы, то в монохроматическом свете на зеркалах будет наблюдаться явление, сходное с интерференционными полосами равной толщины, которые образовались бы при отражении лучей от двух плоскостей, установленных под углом е друг к другу расстояние между серединами этих полос будет равно Я/2е. Наличие этой интерференционной картины приводит к тому, что величина светового потока будет определяться уже не формулой (44.5), а новой. [c.331]

В приборе, где чувствительным элементом является длина волны, она же является и мерой длины таким образом, интерферирующие пучки, воспринимаемые прибором, несут в себе разность хода, пропорциональную измеряемому расстоянию и определяемую по интерференционной картине (полосам) в регистраторе. Разность хода между интерферирующими пучками может определяться по полосам равной толщины или равного наклона. [c.80]

Совмещают эти блики по горизонтали и по вертикали, регулировкой зеркала R . Затем, откидывая окуляр О3, можно заметить интерференционные полосы равной толщины. Хорошего качества изображения можно добиться, перемещая каретку, на которой укреплено зеркало R , вдоль оптической оси, т. е. изменяя разность хода. [c.147]

На рис., 28, а приведена одна из схем Фурье-спектрометра. Исследуемое излучение падает на входное отверстие интерферометра Майкельсона через выходное отверстие можно увидеть интерференционную картину полос равной толщины или полос равного наклона в зависимости от настройки интерферометра. Если зеркало интерферометра 5 параллельно изображению зеркала 8 , то можно видеть полосы равного наклона. Результирующая интенсивность на выходе прибора будет зависеть от разности хода Д, [c.51]

При прохождении лучей около поверхности тела возникает дифракция, и на экране на интерференционные полосы накладываются полосы от дифракции. Вследствие этого интерференционные методы применимы тогда, когда толщина пограничного слоя во много раз больше ширины дифракционной зоны (так, при Х---= = 0,5 мкм и расстояниях от точечного источника до кромки тела и от кромки тела до экрана, равных 0,5 м, координата первого максимума полосы дифракции равна 0,45 мм [42]). [c.418]

Как уже ранее говорилось, интерференционная картина соответствует полосам равной толщины. Полная аналогия наблюдаемых полос с полосами равной толщины соответствует такому положению, когда поверхность решетки перпендикулярна лучу, т. е. когда пучок, отраженный от зеркала, интерферирует с пучком, соответствующим нулевому порядку. Тогда искривление полос обусловлено отступлением поверхности решетки от плоскости. [c.147]

Полосы равной толщины возникают на поверхности пластины, освещаемой протяженным источником, если толщина пластины постепенно меняется от места к месту. Лучи и (рис. 95) выходящие из одной светящейся точки 1 и отраженные гранями пластины Р, собираются линзой L в точке А, являющейся изображением точки А на поверхности пластины. Лучи, выходящие из другой точки 2 источника, попадут в поле зрения линзы Ь (лишь отразившись от граней пластины Р в другой точке В) и поэтому в точку А не попадут. Следовательно, яркость изображения А точки А определяется значением разности хода лучей 5 и точно так же яркость изображения В точки В определяется разностью хода лучей 5 и 8 . При переменной толщине пластины разность хода соответственных лучей меняется главным образом в зависимости от толщины I (см. XI, 5). Таким образом, на поверхности пластины или в плоскости ее изображения можно наблюдать интерференционные полосы, каждая из которых соответствует геометрическому месту точек равной толщины пластины. Наблюдение полос равной толщины невооруженным глазом возможно лишь при малой толщине пластин, когда угол между интерферирующими лучами настолько мал, что они могут [c.222]

Оптическая схема трубки представлена на фиг. 80, а. Свет от источника 1 конденсором 2 направляется через щель 8 либо непосредственно, либо через светофильтр 4 на разделительную плоскопараллельную пластинку 7. Часть пучка света, отразившись от ее передней поверхности, проходит через компенсатор 6 и направляется к зеркалу 5, отражается от него и вновь проходит через компенсатор 6 к пластинке 7. Другая часть пучка света проходит через пластинку 7 и, отразившись от зеркала 11, вновь проходит через пластинку 7 и попадает на переднюю поверхность пластинки 7, где обе части пучка встречаются с определенной небольшой разностью хода и интерферируют. Объектив 8 проектирует интерференционную картину в виде полос равной толщины в плоскость сетки 9, где последние рассматриваются через окуляр 10. Зеркало И жестко связано с измерительным штифтом 12, который при измерении перемещает зеркало вверх или. вниз в зависимости от величины объекта, тем самым меняя разность хода между интерферирующими частями светового пучка. Обе пластинки б и 7 изготовляются одинаковой толщины и из одной и той же марки оптического стекла. [c.186]

Здесь 5 —разность хода (в длинах волн) интерферирующих лучей (равная координате У соответствующей точки интерференционной полосы), h — толщина кюветы, К — длина волны, — инкремент показателя преломления в системе полимер — растворитель, — градиент концентрации раствора в соответствующей точке (с абсциссой х). [c.433]

Весьма интересным, с точки зрения эксперимента, является наблюдение и расчет интерференционных явлений в слабо расходящихся парах Кн1 и Км- Эта интерференция относится к полосам равной толщины, т. е. разность фаз, отвечающая наблюдаемым при этом периодическим изменениям интенсивности, связана с величиной АА согласно (3.37). [c.63]

Здесь будет уместно дополнить сопоставление двух типов маятникового решения полос равной толщины и побочных максимумов, которое было рассмотрено в разделе 3.3. Очевидно, гиперболические полосы на секционных снимках не могут быть отнесены к указанным двум типам. Действительно, согласно (6.33)—(6.35) аргумент функции Бесселя/о входящей в выражение (6.40), для поля интенсивности интерференционной картины будет [c.165]

Второй тип контраста — амплитудный контраст определяется степенью взаимодействия различных участков образца с проходящими электронами. Амплитудный контраст в просвечивающей электронной микроскопии щироко используют при исследовании различных элементов внутренней структуры твердофазных материалов достигаемое при этом разрещение заметно меньше, чем при фазовом контрасте, и составляет около 1 нм. Взаимодействие электронов с веществом обусловлено различиями как в элементном составе разных участков облучаемой области (это позволяет исследовать размеры и форму составляющих образец наночастиц, включения другой фазы в наблюдаемые частицы или вариации элементного состава без образования вторых фаз), так и в ориентации кристаллических фрагментов относительно направления падающего электронного пучка. Это позволяет изучать малоугловые границы внутри зерен (контрастируя их изменением ориентации образца), а также различать механически напряженные участки частиц, что в свою очередь позволяет непосредственно наблюдать (по окружающей их области искаженной структуры) протяженные дефекты кристаллического строения вещества, такие как дислокации или дефекты упаковки. Контраст на электронномикроскопическом изображении также может быть связан с интерференционными эффектами, например, с широкими полосами равной толщины на клиновидных краях зерен образца или полосами Френеля по границам зерен. Амплитудный контраст (как и фазовый) существенно зависит от положения фокуса объективной линзы, при точном фокусе он минимален, а при удалении от этого положения наблюдается контрастирование изображения с [c.247]

При использовании метода полос равного хроматического порядка вместо монохроматического источника света используется источник белого света, что во много раз увеличивает интенсивность света, падающего на интерферометрические пластины. Интерференционная картина наблюдается на параллельных пластинах с малым воздушным зазором. Подготовка пластины с пленкой, толщина которой измеряется, производится следующим образом часть подложки экранируется плотно прижатой фольгой, после чего путем вакуумного напыления на подложку осаждается тонкая пленка. Затем фольга снимается, и на подложке остается ступенька, равная толщине пленки. После этого на измеряемую пленку напыляется непрозрачный слой серебра с коэффициентом отражения 92—94%, который точно повторяет рельеф ступеньки. Высота ступеньки является измеряемой толщиной пленки. На вторую стеклянную пластинку осаждается частично прозрачный слой серебра. Обе пластинки сжимаются специальным зажимом и освещаются параллельным пучком белого света. Получающаяся при этом в воздушном зазоре интерференционная картина проектируется ахроматической линзой на щель спектрографа. [c.252]

Наиболее точные измерения толщины пленки производятся на самих пленках. В основе таких методов лежат оптические и гравиметрические измерения, а также поглощение и эмиссия рентгеновского излучения. Наибольшую точность обеспечивает многолучевая интерферометрия, и в зависимости от используемого метода можно получить точность в пределах 1 или 2 нм. Для проверки толщины пленки можно использовать метод Фи-30, который заключается в нанесении отражающего покрытия поверх ступеньки осажденной пленки и в измерении серии интерференционных полос. Толщину пленки можно измерить также, делая срезы плоских кусков смолы, на которые было нанесено покрытие, и измеряя толщину слоя металла с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Погрешность этого метода зависит от того, насколько точно под прямым углом к металлическому слою можно сделать срез смолы н фотографии среза. Простой метод точного определения толщины пленки и размеров зерна был описан недавно в [307]. Было установлено, что в линейных агрегатах латексных сфер материал покрытия накапливается только на свободной поверхности сфер. Увеличение толщины поперечного по отношению к линейному агрегату диаметра сферы будет равно удвоенной толщине пленки, в то время как толщина диаметра, параллельного агрегату, будет соответствовать толщине пленки. С помощью такого метода были измерены толщины пленок, полученных при различных способах их нанесения, с точностью 2 нм. Толщину пленки можно оценить по цветам интерференции илп в случае углерода по плотности осадка на белой керамической плитке. [c.214]

Исследуемый образец помещают в положении под углом 45° на столик микроскопа, поляризатор и анализатор которого установлены на темноту. В окуляр микроскопа вводят откалиброванный клин так, чтобы его медленное (с большим показателем преломления) направление было параллельно быстрому (с малым показателем преломления) направлению образца. По мере продвижения клина через щель окуляра можно наблюдать изменение цвета интерференционных полос в сторону уменьшения двойного лучепреломления (рис. 75) до полного погашения. В этот момент двойное лучепреломление клина равно и противоположно по знаку двойному лучепреломлению образца, который называют скомпенсированным. Запаздывание определяют по градуированной шкале, лежащей в плоскости перекрестия окуляра. Измерив толщину образца, можно вычислить его двойное лучепреломление по уравнению (22) или найти его по диаграмме, аналогичной рис. 75. В случае полного погашения уравнение (22) сводится к виду [c.121]

Определите толщину слоя (в миллиметрах), при которой получаются интерференционные полосы, изображенные на рис. 4-15. При каком волновом числе толщина слоя равна десяти длина.м волн [c.129]

При рассмотрении под микроскопом в скрещенных поляризаторах волокон с ориентированными молекулами видны интерференционные цвета, которые наиболее ярки, когда оси волокон расположены под углом 45 к направлениям поляризации. Это явление обусловлено разностью показателей преломления для двух главных направлений поляризации (вдоль и поперек оси волокна). Интенсивность интерференционных цветов по шкале Ньютона определяется разностью между этими показателями преломления (двулучепреломлением) и толщиной волокна (подробные сведения можно найти в книгах по оптике кристаллов [22,24]). Эффект двулучепреломления может быть выражен как отставание Н световой волны одной компоненты поляризации (той, которая имеет направление, связанное с более высоким показателем преломления) от световой волны другой компоненты поляризации Я равно п —n t, где и п ,—показатели преломления, t—толщина волокна. Отставание можно измерить, если поместить на пути луча компенсатор типа Бабине или Берека [24], который компенсирует отставание света, прошедшего через волокно, соответствующим регулируемым эффектом противоположного направления. Картина, наблюдаемая при рассмотрении волокна под микроскопом с применением компенсатора Бабине, представлена на рис. 48 темные интерференционные полосы смещены в том месте, где они пересекают волокно все экспериментальные измерения сводятся к измерению максимального смещения, которое наблюдается в центре (в наиболее толстой части) волокна смещение пропорционально отставаниро, которое может быть рассчитано непосредственно из калибровочной константы прибора. Если известна толщина волокна, которая для волокон с круглым поперечным сечением может быть измерена при помощи микроскопа, то легко найти величину двулучепреломления. [c.246]

Необходимо также иметь в виду, что интерференционные эффекты типа линий равной толщины, отвечающие параметрам Хо и Хь могут привести к ошибкам в индицировании наблюдаемых полос. Периоды подобных полос согласно (3.109), (10.18) составляют десятки и сотни микрон, т. е. имеют тот же порядок величин, что и линии муара. Поэтому требуются дополнительные [c.289]

Здесь п — число элементов, а I — толщина наиболее тонкой пластинки. Обычно толщину I выбирают равной (5 -ь 30) А,/ц. При этом нежелательные полосы пропускания могут быть отфильтрованы с помощью абсорбционных или интерференционных фильтров. [c.250]

Изгибы кристаллической фольги приводят к тому, что в некоторых участках будет точно выполняться условие Вульфа—Брэгга и в светлопольном изображении эти участки имеют вид темных полос изгибных экстинк-ционных контуров. В случае кристалла переменной толщины (например, у края фольги или на наклонной границе зерен могут наблюдаться полосы, рис. 20.10, связанные с интерференцией электронов—толщинные экстинкционные контуры или интерференционные полосы равной толщины). [c.445]

В случае тонких двойников в прозрачных кристаллах имеется дополнительная возможность — регйстрация перемещения интерференционных полос равной толщины в процессе движения клиновидного двойника. Толщина двойника h в районе локализации интерференционного максимума п-то порядка пропорциональна длине волны падающего света [36] и может быть записана в виде [c.108]

В [234, 235] предложена и реализована простая однопучковая оптическая схема (рис. 1.16), имеющая определенные преимущества в сравнении с существующими аналогами. Принцип действия лазерного интерферометра коротко состоит в следующем. Излучение Не—Ne лазера, сформированное в плоскопараллельный пучок, направляется на поверхность масляной капли, толщина которой меняется в процессе эксперимента вследствие трения пристенных слоев жидкости или газа. Изображение капли, модулированное интерференционными полосами равной толщины (рис. 1.17), несущими информацию о ее профиле, регистрируется в отраженном свете фото- или телекамерой. При помощи специально разработанного интерфейса с соответствующим программным обеспечением [236 ] видеосигнал может вводиться в компьютер для обработки. Для определения трения достаточно иметь интерферограммы капли в два момента времени и знать физические свойства набегающего потока и использующегося масча. В практических измерениях для повышения точности определения Су нередко применяют достаточно [c.59]

Исследуемый образец накладывается на стеклянные пластинки толщиной 0,8—1 мм в виде слоя толщиной около 0,1 мм. Такая полоска ориентируется по отношению направления рентгеновских лучей так, что продолжение оси камеры должно точно пересекать поверхность образца подобно тому, как это делается при установке образцов в рентгеновском спектрографе Сигбана. Угол излучения (падения), образуемый пластинкой с падающим лучом, должен быть равным углу отражения, и поэтому любая интерференция должна быть отрегулирована в каждом отдельном случае. Преимуще.ство этого метода заключается в том, что ширина интерференционной полосы не зависит от строения или неоднородного распределения интенсивности в первичном луче. Соблюдение всех этих условий имеет особенно большое значение для надежного измерения величин частиц и одновременно для определения характера искажений в структуре. [c.273]

Таким образом, объектами исследования являются белковые зоны в микрополиакриламидном геле с поперечным сечением в виде правильного (диаметр около 200 мкм) или несколько деформированного круга. Измеренный интерферометрически показатель преломления материала геля оказался равным 1,485 0,005, Показатель преломления белка приблизительно равен 1,59. Микрогель погружают в смесь глицерина и бензилового спирта с показателем преломеления, равным 1,485, Эта смесь пропитывает гель полностью, что можно заметить, рассматривая образец в интерференционный микроскоп. Погруженный гель помещается под прямым углом к интерференционным полосам. Если показатель преломления жидкой среды равен показателю преломления геля, то интерференционная картина в присутствии геля не должна искажаться. Однако обычно показатели преломления среды и геля не совсем совпадают, и интерференционная картина внутри геля претерпевает некоторое смещение (рис. 4). Это смещение (разность оптического пути в геле по отношению к оптическому пути в иммерсионной среде) зависит от толщины геля и той небольшой разницы, которая существует между показателями преломления геля и иммер- [c.287]

Разности оптических путей в этом случае равны 0110о-%, Ог/Оо-К и >з/йо-Я, где Оо — расстояние между интерференционными полосами на графике, а Я — длина волны. Если толщина белковой зоны везде одинакова, а концентрация белка по всей зоне постоянна и если столбик геля имеет правильную цилиндрическую форму, то расчет содержания белка в белковой зоне, производимый на основании регистрации по линии А—В—С, сделать очень легко. Однако если белковая зона имеет линзообразную форму или поперечное сечение не является правильной окружностью, а белок внутри зоны распределен неравномерно, то приходится делать 3—4 записи вдоль геля. Тогда мы получим распределение количества белка по всей зоне. В этом случае количество белка в белковой зоне можно будет посчитать простыми методами графического интегрирования. [c.290]

Ниже приведем пример анализа 0,02 мкг альбумина. Интерференционная картина состояла из 2 полос — очень сильной и очень слабой. Поперечное сечение геля имело форму правильной окружности с диаметром 230 мкм. Края зоны толщиной 110 мкм были строго параллельны. Расстояние между полосами по результатам регистрации равнялось 79 мм. Оптическое сме-щенйе белковой зоны в центре геля было 14 мм при длине волны 546 нм (0,546 мкм). Таким образом, разность оптических путей составляла 14/79-0,546 мкм = 0,097 мкм. Показатель преломления альбумина приблизительно равен 1,60, а показатель преломления иммерсионной среды— 1,485. Таким образом, 0,097 = йб(1>60—1,485), откуда мы находим, что de = 0,097/0,115= == 0,84 мкм. Это означает, что каждый мкм белковой зоны содержит 0,84/230 мкм белка. Объем зоны равен я -115 -110 мкм. Таким образом, зона содержит я-115 -110-0,84/230 мкм белка. Если плотность белка будет 1,3, то количество белка составит [c.291]

Действие абсорбционных светофильтров основано на том, что при прохождении света через тонкий слой вследствие поглощения происходит изменение величины и спектрального состава проходящего светового потока. Абсорбционные светофильтры имеют небольшую прозрачность (Т = 0,1) и довольно широкую полосу пропускания (ДЯ = 30 нм и более). Характеристики интерференционных светофильтров значительно лучше. Светофильтр состоит из двух тончайших полуцрозрачных слоев серебра, между которыми находится слой диэлектрика. В результате интерференции света в проходящем пучке остаются лучи с длиной волны, равной удвоенной толщине диэлектрического слоя. Прозрачность интерференционных светофильтров составляет Т — 0,3...0,8. Эффективная ширина пропускания обычно не превышает 5... 10 нм. Для еще большего сужения полос пропускания иногда пользуются системой двух последовательных интерференционных светофильтров. [c.64]

В последнее время были разработаны светофильтры, избирав тельное действие которых основано на явлении интерференции света. Поглощающие интерференционные светофильтры, пропускающие узкие спектральные полосы, полуширина которых составляет 100—150 А, изготовляются из двух тонких полупрозрачных параллельных металлических (обычно в случае видимой области спектра серебряных) пленок, разделенных слоем диэлектрика толщина которого определяет длины волн полос пропускания. Металлические пленки наносятся путем испарения в вакууме. Свет с длиной волны Хд пропускается тогда, когда расстояние между отражающими поверхностями равно / 2п, где п—показатель преломления диэлектрика. Помимо максимума при часто- те соответствующей длине волны Х , имеют место полосы пропускания для всех длин волн, отвечающих где тп—любое целое число [24]. Максимальное нроцускание этих узкоцолоспых [c.652]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология